JP3207999B2 - 情報処理装置の試験システム - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置の試験シ
ステムに関し、特に本発明は、情報処理装置の機能試験
を効率的に行うことができる情報処理装置の試験システ
ムに関するものである。近年、情報処理装置は大型化し
試験のためのプログラムも巨大になり、実行時間も膨大
となってきている。そして、この試験プログラムは、試
験用や保守用に共用されるため、試験時間が限られてい
る保守試験では、試験内容を広く浅くといった内容に制
御することが必要になっている。

【０００２】また、実行結果の確認も膨大となり、効果
的な試験が要求されるとともに、正常に実行されたこと
を容易に判断できるように制御することが必要となって
きている。

【０００３】

【従来の技術】従来、複数の試験プログラムにより情報
処理装置の機能試験を行う場合には、各テスト単位に分
割した試験プログラムを順番にローディングして実行し
たり、試験に必要な試験プログラムをカタログとして登
録し、カタログに指定された試験プログラムのみを実行
したりして、試験用と保守用に共用される試験プログラ
ムを選択していた。

【０００４】また、各テスト単位に機能分割した複数の
テスト項目から構成された試験プログラムにより機能試
験を行う場合には、試験プログラムを順番に制御しなが
ら実行し、各テストプログラムごとに終了のメツセージ
を出力し、試験を行っていた。そして、共通的にテスト
の実行環境を変化させて、繰り返し実行する場合には、
各試験プログラムは、実行条件に従って、実行された
り、実行されなかったした。

【０００５】図９は上記した試験プログラムをカタログ
として登録し、機能試験を行う従来技術を示す図であ
る。同図において、１０はオペレータが起動指示等を与
える人手操作部であり、人手操作部１０は全試験プログ
ラムの起動指示を与えたり、任意に試験プログラムの指
定して、試験プログラムの起動制御を行う。また、指定
の時間で試験が打ち切られるように、試験時間の指定等
を行って試験プログラムの起動制御を行うこともでき
る。

【０００６】１２はカタログ情報に基づき試験プログラ
ムを順次ローディングするローディング制御部、１３，
１４はｍ項のテスト項目から構成される１〜ｎの試験プ
ログラムであり、各試験プログラム１３，１４は初期設
定部１３０，１４０とテスト１項目１３１，１４１〜テ
ストｍ項目１３３、１４３から構成されている。１５は
カタログデータであり、カタログデータ１５には、任意
に選択した試験プログラムを自動的に実行するための起
動制御データにより、事前に試験プログラム名等が設定
されている。また、１６はメモリ域であり、試験プログ
ラムはメモリ域１６の試験プログラム域１７にローディ
ングされる。

【０００７】同図において、人手操作部１０でオペレー
タが試験プログラムの起動を指示すると、人手操作部１
０で指示された試験プログラム、あるいは、カタログデ
ータ１５で指示された試験プログラムがメモリ域１６の
試験プログラム域１７に設定される。設定された試験プ
ログラム１７は、実行とローディングが繰り返し行わ
れ、情報処理装置の機能試験が行われる。

【０００８】図１０は前記した各テスト単位に分割され
た試験プログラムを順番に制御しながら実行し、各試験
プログラムごとに終了のメッセージを出力して試験を行
う従来技術を示す図である。同図において、２０は試験
プログラムであり、試験プログラム２０は共通部２００
とテスト１項目２０１〜テストｍ項目２０４と後処理部
２０５から構成されている。共通部２００は、テストに
共通な制御処理として、汎用レジスタの初期化や制御レ
ジスタの設定等の初期設定を行う。テスト１項目２０１
〜テストｍ項目２０４は試験の対象となる命令あるいは
機能である。後処理部２０５は終了判定を行い終了メッ
セージを出力する。

【０００９】試験プログラム群２１は試験プログラム２
０を複数集めたものであり、モニター部２１０と、試験
１プログラム２１１〜試験ｎプログラム２１５と、後処
理部２１６から構成されている。モニタ部２１０では、
試験１プログラム２１１〜試験ｎプログラム２１５の実
行制御と、テストの実行環境（複数モード）の設定制御
とを行っている。後処理部２１６では、モニター部２１
０で設定されている実行環境をモニターの実行環境に戻
すためのリカバリー処理を行う。

【００１０】同図において、情報処理装置の機能試験を
行う場合には、試験プログラム群２１のモニター部２１
０で実行環境の設定を行い、試験１プログラム２１１〜
試験ｎプログラム２１５を実行する。各試験プログラム
２０においては、共通部２００で、上記したように汎用
レジスタの初期化や制御レジスタの設定を行い、テスト
１項目２０１〜テストｍ項目２０４のテストを実行す
る。そして、後処理部２０５において、テストが正常に
終了した場合には、正常終了メッセージを１ラインづつ
出力し、異常があればエラー終了メッセージを出力す
る。

【００１１】また、試験プログラム群２１には、３試験
プログラム２１３のように、モニター部２１０が設定し
たテストの実行環境で動作可能かどうかを判定する実行
判定部２１４を備えたものがあり、実行不可能な環境の
場合には、実行されずに次の試験プログラムに行く。そ
して、上記のように各試験プログラムが実行されると、
後処理部２１６はモニター部２１０の実行環境に戻すた
めのリカバリー処理を行う。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】大型の情報処理装置を
試験するための巨大なプログラムの場合、従来例で説明
したように、すべての試験プログラムを順番に試験する
制御方式では実行時間が膨大となり、時間的な制約があ
る場合に問題となっていた。また、図９で説明した試験
プログラムを任意に指定する方式の場合や、時間指定に
よる打ち切り方式では、試験内容に沿った細かい試験が
できず、テスト漏れが発生するといった問題が生じてい
た。

【００１３】また、図１０に示したように、複数のテス
ト項目数から構成されるテストプログラムを順番に実行
し、各テストプログラムごとに終了メッセージを出力す
る方式では、大型の情報処理装置を試験する膨大なテス
トプログラムを必要とする場合、実行結果のメッセージ
確認が膨大となり、正常に実行されたことを容易に判断
できないといった問題が生じていた。

【００１４】特に、実行環境を変化させて繰り返し実行
する場合、前記した３試験プログラム２１３のように、
実行環境に応じて実行されたり、実行されない試験プロ
グラムがあると、正しく各テストプログラムの実行結果
を判断することができないといった問題が生じていた。
本発明は上記した従来技術の欠点を考慮してなされたも
のであって、本発明の第１の目的は、試験効率と試験精
度の向上を図ることができる情報処理装置の試験システ
ムを提供することである。

【００１５】本発明の第２の目的は、試験用や保守用に
共用される膨大な試験プログラムに対して、用途に応じ
て試験プログラムの実行を制御し、時間的な制約下にお
いて、効果的な情報処理装置の試験を行うことができる
情報処理装置の試験システムを提供することである。本
発明の第３の目的は、膨大なテストプログラムに対し
て、正常に実行されたことを容易に判断することができ
る情報処理装置の試験システムを提供することである。

【００１６】

【課題を解決するための手段】図１、図２は本発明の原
理図である。図１において、１は試験プログラムの実行
許容時間を指示する指示手段、２は許容時間内で実行で
きるテスト項目を算出するテスト項目算出手段、３はテ
スト項目算出手段２で算出されたテスト項目数で試験プ
ログラムを終了させる制御手段、４は指定手段により指
定された許容時間で実行できる各試験プログラムの割り
当て時間を算出する試験時間算出手段、５は複数の試験
プログラムの実行を制御する実行制御手段、６はテスト
項目算出手段により算出されたテスト項目のみを（結合
して）ローディングするローディング制御手段である。

【００１７】また、図２において、７は各テスト項目の
実行ごとにカウントを行い、正常終了したテスト項目数
をカウントするカウント手段、８はカウント手段７のカ
ウント値とテスト項目数を比較する比較手段、９ａはカ
ウント手段７のカウント値を収集する収集手段、９ｂは
収集手段９ａにより収集されたデータを実行結果情報と
して出力する出力手段である。

【００１８】上記課題を解決するため、本発明の請求項
１の発明は、図１に示すように、情報処理装置の機能を
試験プログラムにより試験する情報処理装置の試験シス
テムにおいて、試験に要する許容時間を指定する指定手
段１と、指定手段１により指定された時間内で実行でき
る許容テスト項目を算出する試験項目算出手段２と、試
験項目算出手段２により算出されたテスト項目数で試験
プログラムを終了させる制御手段３と、試験項目算出手
段により算出されたテスト項目のみを結合してメモリ域
にローディングするローディング制御手段６とを設けた
ものである。

【００１９】本発明の請求項２の発明は、図１に示すよ
うに、情報処理装置の機能を試験プログラムにより試験
する情報処理装置の試験システムにおいて、試験に要す
る許容時間を指定する指定手段１と、複数の試験プログ
ラムの優先順位に基づき、指定手段１により指定された
時間内で実行できる各試験プログラムの割り当て時間を
算出する試験時間算出手段４と、試験時間算出手段４に
より割り当てられた時間内で実行できる許容テスト項目
を算出する試験項目算出手段２と、試験項目算出手段２
により算出されたテスト項目数で各試験プログラムを終
了させる制御手段３と、試験項目算出手段により算出さ
れたテスト項目のみを結合してメモリ域にローディング
するローディング制御手段６と、複数の試験プログラム
の実行を制御する実行制御手段５とを設けたものであ
る。

【００２０】本発明の請求項３の発明は、図２に示すよ
うに、情報処理装置の機能を試験プログラムにより試験
する情報処理装置の試験システムにおいて、複数のテス
ト項目からなる試験プログラムを実行する際、各テスト
項目の実行ごとにカウントを行い、正常終了したテスト
項目数をカウントするカウント手段７と、試験の最後
に、上記カウント手段７のカウント値とテスト項目数を
比較する手段８とを設けたものである。

【００２１】本発明の請求項４の発明は、図２に示すよ
うに、情報処理装置の機能を試験プログラムにより試験
する情報処理装置の試験システムにおいて、複数のテス
ト項目からなる試験プログラムを実行する際、各テスト
項目の実行ごとにカウントを行い、正常終了したテスト
項目数をカウントするカウント手段７と、カウント手段
７のカウント値を収集する収集手段９ａと、上記収集手
段により収集されたデータを実行結果情報として出力す
る出力手段９ｂとを設けたものである。

【００２２】

【作用】図１において、指定手段１により試験に要する
許容時間を指定すると、テスト項目算出手段２は指定手
段１により指定された時間内で実行できるテスト項目を
算出する。制御手段３はテスト項目算出手段２により算
出されたテスト項目数で試験プログラムを終了させる。
このため、上記した許容時間内で情報処理装置の機能試
験を行うことができる。

【００２３】また、試験プログラムが複数ある場合、試
験時間算出手段４は、各試験プログラムの優先順位等に
基づき、上記許容時間内で実行できる各試験プログラム
の割り当て時間を算出する。テスト項目算出手段２は上
記割り当て時間で実行できるテスト項目数を算出し、制
御手段３はテスト項目算出手段２により算出されたテス
ト項目数で試験プログラムを終了させる。実行制御手段
５は上記のようにテスト項目が算出された複数の試験プ
ログラムの実行を制御する。

【００２４】ローディング制御手段６はテスト項目算出
手段２により算出されたテスト項目のみをメモリ域にロ
ーディングしたり、また、上記のように算出された複数
の試験プログラムのテスト項目のみを結合してメモリ域
にローディングする。これにより、メモリ域にはテスト
項目算出手段２により算出されたテスト項目のみがロー
ディングされ、ローディング時間を節約することができ
る。また、テスト項目算出手段２により算出された複数
の試験プログラムのテスト項目を結合してローディング
することにより、複数の試験プログラムを一度にローデ
ィングすることが可能となる。

【００２５】図２において、複数のテスト項目からなる
試験プログラムを実行する際、カウント手段７は正常終
了したテスト項目数をカウントする。そして、試験の最
後に、上記カウント値とテスト項目数を比較手段８によ
り比較する。これにより、各テスト項目が正常に終了し
たか否かを容易に知ることができる。また、収集手段９
ａは上記カウント手段７のカウント値を収集し、出力手
段９ｂは、収集されたカウント値を実行結果情報として
出力する。

【００２６】本発明の請求項１の発明においては、上記
のように、試験に要する許容時間を指定する指定手段１
と、指定手段１により指定された時間内で実行できる許
容テスト項目を算出する試験項目算出手段２と、試験項
目算出手段２により算出されたテスト項目数で試験プロ
グラムを終了させる制御手段３とを設けたので、指定さ
れた許容時間内で試験プログラムの実行が可能となり、
試験効率の向上を図ることができる。また、試験項目算
出手段により算出されたテスト項目のみを結合してメモ
リ域にローディングするローディング制御手段６を設け
たので、許容時間内で実行できる複数の試験プログラム
を一度にローディングすることができ、繰り返し実行さ
れる試験プログラムにおいては、ローディング時間を節
約することができる。このため、試験効率の向上を図る
ことができる。

【００２７】本発明の請求項２の発明においては、試験
に要する許容時間を指定する指定手段１と、複数の試験
プログラムの優先順位に基づき、指定手段１により指定
された時間内で実行できる各試験プログラムの割り当て
時間を算出する試験時間算出手段４と、試験時間算出手
段４により割り当てられた時間内で実行できる許容テス
ト項目を算出する試験項目算出手段２と、試験項目算出
手段２により算出されたテスト項目数で各試験プログラ
ムを終了させる制御手段３と、試験項目算出手段により
算出されたテスト項目のみを結合してメモリ域にローデ
ィングするローディング制御手段６と、複数の試験プロ
グラムの実行を制御する実行制御手段５とを設けたの
で、指定された許容時間で複数の試験プログラムの実行
が可能となり、情報処理装置の機能を広く、浅く試験す
ることができる。また、実行時間に制限がある試験に対
応できるため、試験効率の向上を図ることができる。ま
た、許容時間内で実行できる複数の試験プログラムを一
度にローディングすることができ、繰り返し実行される
試験プログラムにおいては、ローディング時間を節約す
ることができる。

【００２８】本発明の請求項３の発明においては、複数
のテスト項目からなる試験プログラムを実行する際、各
テスト項目の実行ごとにカウントを行い、正常終了した
テスト項目数をカウントするカウント手段７と、試験の
最後に、上記カウント手段７のカウント値とテスト項目
数を比較する手段８とを設けたので、ハードウェアの障
害等により実行されないテスト項目が発生した場合、確
実に実行の結果を把握することができ、試験の精度を向
上させることができる。

【００２９】本発明の請求項４の発明においては、複数
のテスト項目からなる試験プログラムを実行する際、各
テスト項目の実行ごとにカウントを行い、正常終了した
テスト項目数をカウントするカウント手段７と、カウン
ト手段７のカウント値を収集する収集手段９ａと、上記
収集手段により収集されたデータを実行結果情報として
出力する出力手段９ｂとを設けたので、複数の試験プロ
グラム等から構成される膨大な試験プログラムを実行し
たり、実行環境の設定制御により繰り返し実行した場合
であっても、容易に実行結果を判断することができ、試
験の効率を向上させることができる。

【００３０】

【実施例】図３は本発明の第１の実施例を示す図であ
り、同図は指定した許容時間内で試験プログラムの実行
を可能とした実施例を示している。同図において、３０
は試験操作部であり、試験操作部３０は人手操作部３０
０を備え、人手操作部３００の諸操作により、指定時間
データ３０１が指定される。

【００３１】３２は試験プログラムであり、試験プログ
ラム３２は制御テーブル部３３とテスト部３４から構成
されており、制御テーブル３３にはテスト項目毎に実行
の有無を示す実行ビット３３０と、実行時間３３１が登
録され、各テスト項目は優先順位の高い順序で並べられ
ている。また、テスト部３４は初期設定部３４０と実行
制御部３４１とテスト１項目３４２〜テストｍ項目３４
４から構成されている。

【００３２】テスト部３４の初期設定部３４０では、前
記したように汎用レジスタや制御レジスタの初期設定が
行われ、実行制御部３４１では、制御テーブル部３３の
実行ビット３３０に基づき、テスト１項目３４２〜テス
トｍ項目の実行制御を行う。３１は試験項目算出部であ
り、試験項目算出部３１は時間データ処理部３１０、減
算部３１１、判定部３１２および実行ビット設定部３１
３から構成されており、制御テーブル部３３に設定され
ている実行時間３３１と人手操作部２００の指定時間デ
ータ３０１に基づき、実行ビット３３０の実行の有無を
設定する。

【００３３】次に本実施例の動作を説明する。試験操作
部３０の人手操作部３００で指定時間データ３０１を指
定してシステムを起動すると、試験項目算出部３１の時
間データ処理部３１０は、まず、制御テーブル部３３の
実行ビット３３０を無効状態に初期設定する。次に、時
間データ処理部３１０は制御テーブル部３３のテスト項
目の実行時間を上から順に取りだし、減算部３１１は指
定時間データ３０１の指定時間からテスト１項目の時間
を減算する。

【００３４】判定部３１２は減算部３１１の減算結果を
判定し、減算された指定時間の値＝

〔０〕になったか否
かを判定する。判定結果が

〔０〕でない場合には、実行
ビット設定部３１３において、制御テーブル３３のテス
ト１項目の実行ビット３３０を有効状態に設定し、時間
データ処理部３１０で制御テーブル部３３の次のテスト
２項目の実行時間を取りだす。そして、上記と同様、減
算部３１１で指定時間からテスト２項目の時間を減算
し、判定部３１２で減算された指定時間の値＝

〔０〕に
なったか否かを判定し、指定時間内であれば、制御テー
ブル３３の次のテスト２項目の実行ビット３３０を有効
状態に設定する。

【００３５】以下、同様に減算された指定時間から各テ
スト項目の実行時間３３１を減算していき、各テスト項
目の実行時間の和が指定時間外になると、判定部３１２
はテスト部３４に起動をかけ、試験を開始する。テスト
部３４においては、初期設定部３４０で汎用レジスタや
制御レジスタの初期設定を行い、実行制御部３４１で、
制御テーブル部３３の実行ビット３３０が有効状態であ
った試験項目について制御テーブルの順番に実行制御を
行う。

【００３６】以上のように、本実施例においては、指定
された時間内で実行できるテスト項目を自動的に選定し
ているので、許容時間内で情報処理装置の機能試験を行
うことが可能となり、試験効率の向上を図ることができ
る。図４は本発明の第２の実施例であり、本実施例は試
験プログラムの優先順位に基づき各試験プログラムの実
行時間を割り当て、割り当てられた時間に基づきテスト
項目を選定して指定時間内に情報処理装置の機能試験を
行えるようにした実施例を示している。

【００３７】同図において、４０は試験操作部であり、
第１の実施例と同様、試験操作部４０は人手操作部４０
０から構成され、人手操作部４００の諸操作により、指
定時間データ４０１が指定される。４２は試験プログラ
ム群であり、試験プログラム群４２は優先順位テーブル
部４７、試験プログラム実行制御部４６および試験１プ
ログラム４３〜試験ｎプログラム４４から構成されてい
る。優先順位テーブル部４７は、試験１プログラム４３
〜試験ｎプログラム４４の実行情報を示すテーブルであ
り、試験プログラムの実行の有無を示す実行ビット４７
０、各試験プログラムの優先順位４７１および各試験プ
ログラムの総テスト時間４７２が登録されている。

【００３８】試験プログラム実行制御部４６は、優先順
位テーブル部４７の実行ビット４７０に従い、試験１プ
ログラム４３〜試験ｎプログラム４４の実行制御、繰り
返し制御、実行環境の設定等を行う。試験１プログラム
４３〜試験ｎプログラム４４は制御テーブル部４３０〜
４４０とテスト部４３１〜４４１から構成されており、
制御テーブル部４３０〜４４０には、図３に示したよう
に、各テスト項目の実行時間が設定され、また、実行ビ
ットを登録する領域が設けられている。テスト部４３
１，４４１は、図３に示したように、初期設定部と実行
制御部と各テスト項目から構成されている。

【００３９】４１は総試験時間算出部である。総試験時
間算出部４１は指定された時間に対し指定時間内での実
行可能な試験プログラムとテスト項目を算出する制御部
であり、優先順位テーブルから各試験プログラム割当時
間の算出と制御を行う試験時間算出部４１１と、割り当
てられている試験時間内でのテスト項目数を算出し、制
御テーブル部４３０，４４０の実行ビットを設定する試
験項目算出部４１２と、割り当てられた時間内で実行可
能か否かを判定する判定部４１３から構成されている。

【００４０】次の本実施例の動作を説明する。試験操作
部４０の人手操作部４００で指定時間データ４０１を指
定してシステムを起動すると、総試験時間算出部４１の
試験時間算出部４１１は、優先順位テーブル部４７を参
照して、実行ビット３３０が有効なものについて、各試
験プログラムの優先順位と各試験プログラムを実行する
に必要な総テスト時間４７２を読み出し、優先順位と総
テスト時間に基づき各試験プログラムの割り当て時間を
算出する。

【００４１】例えば、試験時間算出部４１１は優先順位
の高い順に、各試験プログラムの総テスト時間を割り当
てていき、割り当てられた総テスト時間の和が指定時間
データ４０１を越えると、指定時間を越えた試験プログ
ラムの割当時間を総テスト時間の和が指定時間を越えな
いように割り当てる。試験項目算出部４１２は、各試験
プログラムについて、制御テーブル部４３０〜４４０を
参照して、各テスト項目の実行時間を読み出し、図３で
説明したように、試験時間算出部４１１により割り当て
られた試験時間から各テスト項目の実行時間を減算す
る。

【００４２】判定部４１３は上記減算結果を判定し、減
算された指定時間の値＝

〔０〕になったか否かを判定す
る。判定結果が

〔０〕でない場合には、上記試験プログ
ラムの制御テーブル４３０，４４０の実行ビットを有効
状態に設定し、上記処理を各テスト項目の実行時間の和
が指定時間外になるまで繰り返す。以下、同様に優先順
位の順番に各試験プログラムの各テスト項目の実行ビッ
トを設定し、判定部４１３は試験プログラム実行制御部
４６に起動をかける。

【００４３】試験プログラム実行制御部４６は、優先順
位テーブルの実行ビットを参照して、実行ビットが有効
な試験プログラムについて、優先順位の順番に実行制
御、繰り返し制御等を行う。各試験プログラム４３〜４
４は試験プログラム実行制御部４６により実行が指示さ
れると、第１の実施例と同様、制御テーブル部４３０，
４４０を参照して実行ビットが有効なテスト項目につい
てテストを実行し、情報処理装置の機能試験を行う。

【００４４】以上のように、本実施例においては、試験
プログラムの優先順位に基づき各試験プログラムの実行
時間を割り当て、割り当てられた時間に基づきテスト項
目を選定して指定時間内に情報処理装置の機能試験を行
えるようにしたので、指定された指定時間内に複数の試
験プログラムの実行が可能となり、情報処理装置の機能
を広く、浅く試験することができる。

【００４５】図５は本発明の第３の実施例であり、本実
施例は総試験時間算出部の情報に基づき、試験プログラ
ムを順次ローディングする実施例を示している。同図に
おいて、５０は図３、図４に示したものと同様の試験操
作部、５１は図４に示した総試験時間算出部、５２はロ
ーディング制御部であり、ローディング制御部５２は総
試験時間算出部の情報に基づき試験プログラム内の初期
設定部と実行指定のテスト項目をメモリ域に順次ローテ
ィングする。

【００４６】５３〜５４は試験１プログラム〜試験ｎプ
ログラムであり、各試験プログラム５３〜５４は、図３
に示したように、制御テーブル部と、初期設定部５３０
〜５４０とテスト１項目５３１，５４１〜テストｍ項目
５３３，５４３等から構成されている。また、５５はメ
モリ域であり、メモリ域５５には試験プログラムをロー
ディングする試験プログラム域５５０が設けられ、試験
プログラム域５５０には初期設定部域５５１とテスト項
目域５５２が設けられている。

【００４７】次に本実施例の動作を説明する。第２の実
施例で説明したように、試験操作部５０で指定時間デー
タを指定してシステムを起動すると、総試験時間算出部
５１は優先順位テーブル部を参照して、各試験プログラ
ムの割り当て時間を算出し、割り当てられた試験時間か
ら各試験プログラムの各テスト項目の実行ビットを設定
する。

【００４８】各試験プログラムのテスト項目の実行ビッ
トが設定されると、ローディング制御部５２は試験１プ
ログラム５３〜試験ｎプログラム５４の内、実行指示の
ある試験プログラムの初期設定部をメモリ域５５の初期
設定部域５５１にローディングし、テスト１項目５３
１，５４１〜テストｍ項目５４１，５４３の内、実行指
示のあるテスト項目をメモリ域のテスト項目域５５２に
ローディングし、実行指示のある試験プログラムを順
次、実行する。

【００４９】本実施例においては、上記のように、指定
された許容時間内で実行できる試験プログラムのテスト
項目を選定し、ローディングを行うようにしたので、指
定された時間内での試験の実行が可能になるとともに、
不要な試験プログラムのテスト項目をローディングする
必要がないので、ローディング時間を節約することがで
きる。

【００５０】図６は本発明の第４の実施例であり、本実
施例は実行指示のあった試験プログラムを結合してメモ
リ域にローティングし、実行する実施例を示している。
同図において、６０は図３、図４に示したものと同様の
試験操作部、６１は図４に示した総試験時間算出部、６
２は結合制御部であり、結合制御部６２は処理部６２０
とローディング部６２１から構成され、実行指示のある
試験プログラムの結合と、メモリ域へのローディングを
行う。

【００５１】６３〜６４は試験１プログラム〜試験ｎプ
ログラムであり、各試験プログラム６３〜６４は、図３
に示したように、制御テーブル部と、初期設定部６３０
〜６４０とテスト１項目６３１，６４１〜テストｍ項目
６３３，６４３等から構成されている。また、６５はメ
モリ域であり、メモリ域６５には試験プログラムをロー
ディングする試験プログラム域６５０が設けられてい
る。

【００５２】次に本実施例の動作を説明する。第２の実
施例で説明したように、試験操作部６０で指定時間デー
タを指定してシステムを起動すると、総試験時間算出部
６１は優先順位テーブル部を参照して、各試験プログラ
ムの割り当て時間を算出し、割り当てられた試験時間か
ら各試験プログラムの各テスト項目の実行ビットを設定
する。

【００５３】各試験プログラムのテスト項目の実行ビッ
トが設定されると、結合制御部６２の処理部６２０は、
試験１プログラム〜試験ｎプログラム６３〜６４の内、
実行指示のある試験プログラムについて、初期設定部と
実行指示のあるテスト項目を結合する。ローディング部
６２１は結合された試験プログラムをメモリ域６５の試
験プログラム域６５０にローディングし、ローディング
された試験プログラムが実行され、情報処理装置の機能
試験が行われる。

【００５４】本実施例においては、上記のように、指定
された許容時間内で実行可能な試験プログラムのみを結
合することにより、一度に試験プログラムをローティン
グすることができる。このため、繰り返し実行される試
験に際してローディング時間が節約できるとともに、実
行時間に制限がある試験に対して効果的に対応すること
ができる。

【００５５】図７は本発明の第５の実施例を示す図であ
り、本実施例は、複数のテスト項目数から構成される試
験プログラムを順番に実行する際、正常に実行されたこ
とを容易に判断することができるようにした実施例を示
している。同図において、７０は試験プログラムであ
り、図１０に示した従来例と同様、試験プログラム７０
は共通部７００、テスト１項目７０１〜テストｍ項目７
０４および後処理部７０５から構成されている。

【００５６】７２はカウンタ制御部であり、カウンタ制
御部７２は実行カウンタ７２０とカウント部７２１から
構成されている。次に本実施例の動作を説明する。ま
ず、試験プログラムの共通部７００でテストに共通な制
御処理として汎用レジスタの初期化や制御レジスタの設
定を行い、テスト１項目７０１〜テストｎ項目７０４を
実行する。テスト１項目７０１〜テストｎ項目７０４
は、各テスト項目の終了ごとにカウンタ制御部７２のカ
ウント部７２１にアクセスし、実行カウンタ７２０は正
常に終了したテスト項目数をカウントする。

【００５７】テストｎ項目までのテストが終了すると、
後処理部７０５は終了判定を行う。すなわち、試験プロ
グラム７０が正常に終了した場合、実行カウンタ７２０
のカウント値と、テストプログラム７０に格納されてい
る正解カウント値を比較する。そして、実行カウンタ７
２０のカウント値と試験プログラム７０に設定されてい
る正解カウント値が一致せず、異常があれば、エラー終
了メッセージを出力する。

【００５８】本実施例においては、上記のように、実行
カウンタ７２０により正常に終了したテスト項目数をカ
ウントし、正解カウント値と比較しているので、テスト
項目数の不足がハードウェアの障害等により発生して
も、確実かつ容易に実行の結果を判断することができ
る。図８は本発明の第６の実施例を示す図であり、本実
施例は、第４の実施例に示した実行カウンタによりカウ
ントされた各試験プログラムのカウント値を編集して、
編集結果を出力する実施例を示している。

【００５９】同図において、８０は試験プログラムであ
り、試験プログラムプログラム８０は共通部８００と、
テスト１項目８０１〜テストｍ項目８０４と、後処理部
８０５と、収集部８０６とから構成され、共通部８０
０、テスト１項目８０１〜テストｍ項目８０４と、後処
理部８０５は図１０に示した従来例および第４の実施例
のものと同様であり、本実施例においては、実行カウン
タの値を収集する収集部８０６が設けられている。

【００６０】８１は試験プログラム８０を複数集めた試
験プログラム群であり、試験プログラム群は、モニタ部
８１０と試験１プログラム８１１〜試験ｎプログラム８
１５と、後処理部８１６と、編集部８１７から構成され
ており、モニタ部８１０、試験１プログラム８１１〜試
験ｎプログラム８１５、後処理部８１６は図１０に示し
た従来例のものと同様であり、本実施例においては、実
行結果情報を編集して出力する編集部８１７が設けられ
ている。

【００６１】８２はカウンタ制御部であり、カウンタ制
御部は実行カウンタ８２０とカウント部８２１から構成
され、第４の実施例と同様、正常に終了したテスト項目
数をカウントする。次に本実施例の動作を説明する。情
報処理装置の機能試験を行う場合には、試験プログラム
群８１のモニター部８１０で実行環境の設定を行い、試
験１プログラム８１１〜試験ｎプログラム８１５を実行
する。

【００６２】各試験プログラム８０においては、試験プ
ログラムの共通部８００でテストに共通な制御処理とし
て汎用レジスタの初期化や制御レジスタの設定を行い、
テスト１項目８０１〜テストｎ項目８０４を実行する。
テスト１項目８０１〜テストｎ項目８０４は、各テスト
項目の終了ごとにカウンタ制御部８２のカウント部８２
１にアクセスし、実行カウンタ８２０は正常に終了した
テスト項目数をカウントする。

【００６３】テストｎ項目までのテストが終了すると、
後処理部８０５は終了判定を行う。すなわち、試験プロ
グラム８０が正常に終了した場合、実行カウンタ８２０
のカウント値と、試験プログラム８０に格納されている
正解カウント値を比較する。そして、実行カウンタ８２
０のカウント値と試験プログラム８０に設定されている
正解カウント値が一致せず、異常があれば、エラー終了
メッセージを出力する。

【００６４】さらに、収集部８０６は実行カウンタ８２
０のカウント値を実行結果情報として所定の領域に格納
する。また、試験プログラム群８１には、３試験プログ
ラム８１３のように、モニター部８１０が設定したテス
トの実行環境で動作可能かどうかを判定する実行判定部
８１４を備えたものがあり、実行不可能な環境の場合に
は、実行されずに次の試験プログラムに行く。

【００６５】上記のように各試験プログラムが実行され
ると、後処理部８１６はモニター部２１０の実行環境に
戻すためのリカバリー処理を行う。編集部８１７は収集
部８０６により試験プログラムごとに格納されている実
行カウンタ８２０の値を所定の形式に編集し、モニター
部８１０の設定制御が完了後、実行結果情報として出力
する。

【００６６】本実施例においては、上記のように、各試
験プログラムの実行カウンタの値を収集部において所定
の領域に格納しておき、編集部８１７において、所定の
形式に編集して出力しているので、膨大な試験プログラ
ムの場合であっても、また、実行環境の設定制御により
試験プログラムを繰り返し実行しても、容易に実行の結
果を判断することができる。

【００６７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、以下の効果を得ることができる。 請求項１の発
明においては、試験に要する許容時間を指定する指定手
段と、指定手段により指定された時間内で実行できる許
容テスト項目を算出する試験項目算出手段と、試験項目
算出手段により算出されたテスト項目数で試験プログラ
ムを終了させる制御手段とを設けたので、指定された許
容時間内で試験プログラムの実行が可能となり、試験効
率の向上を図ることができる。また、試験算出手段によ
り算出されたテスト項目のみを結合してメモリ域にロー
ディングするローディング制御手段を設けたので、許容
時間内で実行できる複数の試験プログラムを一度にロー
ディングすることができ、繰り返し実行される試験プロ
グラムにおいては、ローディング時間を節約することが
できる。また、実行時間に制限がある試験に効果的に対
応できるため、試験効率の向上を図ることができる。
請求項２の発明においては、試験に要する許容時間を
指定する指定手段と、複数の試験プログラムの優先順位
に基づき、指定手段により指定された時間内で実行でき
る各試験プログラムの割り当て時間を算出する試験時間
算出手段と、試験時間算出手段により割り当てられた時
間内で実行できる許容テスト項目を算出する試験項目算
出手段と、試験項目算出手段により算出されたテスト項
目数で各試験プログラムを終了させる制御手段３と、複
数の試験プログラムの実行を制御する実行制御手段とを
設けたので、指定された許容時間で複数の試験プログラ
ムの実行が可能となり、情報処理装置の機能を広く、浅
く試験することができる。

【００６８】また、実行時間に制限がある試験に対応で
きるため、試験効率の向上を図ることができる。さら
に、試験算出手段により算出されたテスト項目のみを結
合してメモリ域にローディングするローディング制御手
段を設けたので、許容時間内で実行できる複数の試験プ
ログラムを一度にローディングすることができ、繰り返
し実行される試験プログラムにおいては、ローディング
時間を節約することができる。また、実行時間に制限が
ある試験に効果的に対応できるため、試験効率の向上を
図る ことができる。 請求項３の発明においては、複
数のテスト項目からなる試験プログラムを実行する際、
各テスト項目の実行ごとにカウントを行い、正常終了し
たテスト項目数をカウントするカウント手段と、試験の
最後に、上記カウント手段のカウント値とテスト項目数
を比較する手段とを設けたので、ハードウェアの障害等
により実行されないテスト項目が発生した場合であって
も、確実に実行の結果を把握することができ、試験精度
の向上を図ることができる。 請求項４の発明におい
ては、複数のテスト項目からなる試験プログラムを実行
する際、各テスト項目の実行ごとにカウントを行い、正
常終了したテスト項目数をカウントするカウント手段
と、カウント手段のカウント値を収集する収集手段と、
上記収集手段により収集されたデータを実行結果情報と
して出力する出力手段とを設けたので、複数の試験プロ
グラム等から構成される膨大な試験プログラムを実行し
たり、実行環境の設定制御により繰り返し実行した場合
であっても、容易に実行結果を判断することができ、試
験の効率を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理図である。

【図２】本発明の原理図（続き）である。

【図３】本発明の第１の実施例を示す図である。

【図４】本発明の第２の実施例を示す図である。

【図５】本発明の第３の実施例を示す図である。

【図６】本発明の第４の実施例を示す図である。

【図７】本発明の第５の実施例を示す図である。

【図８】本発明の第６の実施例を示す図である。

【図９】従来例を示す図である。

【図１０】従来例を示す図である。

【符号の説明】

１ 指示手段 ２ テスト項目
算出手段 ３ 制御手段 ４ 試験時間算
出手段 ５ 実行制御手
段 ６ ローディン
グ制御手段 ７ カウント手
段 ８ 比較手段 ９ａ 収集手段 ９ｂ 出力手段 ３０，４０，５０，６０ 試験操作部 １０，３００，４００ 人手操作部 １２ ローディン
グ制御部 １５ カタログデ
ータ １６，５５，６５ メモリ域 １７，５５０，６５０ 試験プログ
ラム域 ２０，３２，８０，７０ 試験プログ
ラム ２１，４２，８１ 試験プログ
ラム群 １３，２１１，４３，５３，６３，８１１ 試験１プロ
グラム ２１２，８１２ 試験２プロ
グラム ２１３，８１３ 試験３プロ
グラム １４，２１５，４４，５４，６４，８１５ 試験ｎプロ
グラム １３１，２０１，３４２，５３１，５４１ ６３１，６
４１， ７０１，８０１ テスト１項
目 １３２，２０２，３４３，５３２，５４２ ６３２ ６
４２， ７０２，８０２ テスト２項
目 ２０３，７０３，８０３ テスト３項
目 １３３，２０４，３４４，５３３，５４３ ６３３，６
４３， ７０４，８０４ テストｍ項
目 ２００，７００，８００ 共通部 ２１６，７０５，８１６ 後処理部 ３０１，４０１ 指定時間デ
ータ ３１，４１２ 試験項目算
出部 ３１０ 時間データ
処理部 ３１１ 減算部 ３１２，４１３ 判定部 ３１３ 実行ビット
設定部 ３３，４３０，４４０ 制御テーブ
ル部 ３３０，４７０ 実行ビット ３３１ 実行時間 ３４，４３１，４４１ テスト部 ３４０，５３０，５４０，６３０，６４０ 初期設定部 ３４１ 実行制御部 ４１，５１，６１ 総試験時間
算出部 ４１１ 試験時間算
出部 ４６ 試験プログ
ラム実行制御部 ４７ 優先順位テ
ーブル部 ４７１ 優先順位 ４７２ 総テスト時
間 ５２ ローディン
グ制御部 ５５１ 初期設定部
域 ５５２ テスト項目
域 ６２ 結合制御部 ６２０ 処理部 ６２１ ローディン
グ部 ７２，８２ カウンタ制
御部 ７２０，８２０ 実行カウン
タ ７２１，８２１ カウント部 ８１０ モニタ部 ８１７ 編集部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−53653（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−73328（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−39047（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−297114（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−164942（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G06F 11/22 - 11/277

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 情報処理装置の機能を試験プログラムに
   より試験する情報処理装置の試験システムにおいて、 試験に要する許容時間を指定する指定手段と、 指定手段により指定された時間内で実行できる許容テス
   ト項目を算出する試験項目算出手段と、 試験項目算出手段により算出されたテスト項目数で試験
   プログラムを終了させる制御手段と、試験項目算出手段により算出されたテスト項目のみを結
   合してメモリ域にローディングするローディング制御手
   段 とを備えたことを特徴とする情報処理装置の試験シス
   テム。
2. 【請求項２】 情報処理装置の機能を試験プログラムに
   より試験する情報処理装置の試験システムにおいて、 試験に要する許容時間を指定する指定手段と、 複数の試験プログラムの優先順位に基づき、指定手段に
   より指定された時間内で実行できる各試験プログラムの
   割り当て時間を算出する試験時間算出手段と、 試験時間算出手段により割り当てられた時間内で実行で
   きる許容テスト項目を算出する試験項目算出手段と、 試験項目算出手段により算出されたテスト項目数で各試
   験プログラムを終了させる制御手段と、試験項目算出手段により算出されたテスト項目のみを結
   合してメモリ域にローディングするローディング制御手
   段と、 複数の試験プログラムの実行を制御する実行制御手段と
   を備えたことを特徴とする情報処理装置の試験システ
   ム。
3. 【請求項３】 情報処理装置の機能を試験プログラムに
   より試験する情報処理装置の試験システムにおいて、 複数のテスト項目からなる試験プログラムを実行する
   際、各テスト項目の実行ごとにカウントを行い、正常終
   了したテスト項目数をカウントするカウント手段と、 試験の最後に、上記カウント手段のカウント値とテスト
   項目数を比較する手段とを備えたことを特徴とする情報
   処理装置の試験システム。
4. 【請求項４】 情報処理装置の機能を試験プログラムに
   より試験する情報処理装置の試験システムにおいて、 複数のテスト項目からなる試験プログラムを実行する
   際、各テスト項目の実行ごとにカウントを行い、正常終
   了したテスト項目数をカウントするカウント手段と、 カウント手段のカウント値を収集する収集手段と、 上記収集手段により収集されたデータを実行結果情報と
   して出力する出力手段とを備えたことを特徴とする情報
   処理装置の試験システム。