JP3069321B2 - データベースプロセッサ診断方法 - Google Patents

データベースプロセッサ診断方法

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JP3069321B2 JP9358723A JP35872397A JP3069321B2 JP 3069321 B2 JP3069321 B2 JP 3069321B2 JP 9358723 A JP9358723 A JP 9358723A JP 35872397 A JP35872397 A JP 35872397A JP 3069321 B2 JP3069321 B2 JP 3069321B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、データベース処理
を行うプロセッサの診断方法、特にプロセッサの診断の
効率化の向上に関する。
【0002】
【従来の技術】データベースプロセッサの動作確認の試
験は、データベースプロセッサが持つ各機能を実際に実
行し、その実行結果によって合否の判定を行っている。
試験者は、このような試験を行うためには入出力を伴う
各機能を実行する際の入力用のテストデータ(以下、単
に「入力データ」という)及び機能の実行による出力結
果と比較するためのテストデータ(以下「期待値」とい
う)を予め用意しておかなければならないが、従来で
は、具体的には次のような準備及び手順で試験を行って
いた。これを図6に示したフローチャートを用いて説明
する。
【0003】まず、試験者は、実際の試験をする前にテ
ストデータすなわち入力データ及びその入力データに基
づき実行した際に出力値として期待される期待値を機能
毎に事前に用意する。試験を行う機能がN個あるとする
と、N組のデータを作成しておく。
【0004】そして、試験を行う全機能のうち試験対象
となる最初の機能のテストデータをデータベースプロセ
ッサに投入してその機能を実行させ(ステップ10,2
1)、その実行結果を得る(ステップ22)。そして、
この実行結果である出力データと当該機能用の期待値と
を比較し(ステップ23)、その比較した結果、一致し
た場合を合格と判定し(ステップ24,25)、一致し
ない場合を不合格と判定する(ステップ24,26)。
【0005】この試験を各機能について連続して行う
(ステップ30,40)。全機能の実行終了後(ステッ
プ30)、全機能において合格と判定された場合にその
試験されたデータベースプロセッサは、最終的に合格と
判定され(ステップ50,60)、一つでも不合格とな
った機能があれば、結果的に不合格と判定される(ステ
ップ50,70)。
【0006】このように、従来では、各機能の試験を個
々に行って、その各試験の結果によってデータベースプ
ロセッサの合否の判定をしていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来で
は、試験を行う機能毎にテストデータと期待値とを予め
用意しておかなければならなかったため、試験の準備に
多大な労力を要していた。もし、2個のデータ(群)の
結合機能など複数個のデータ(群)を入力とする機能の
試験を行うような場合又は複数個のデータ(群)を出力
するような場合は、複数のテストデータ又は複数の期待
値を用意する必要があり、試験の準備のための労力は更
に増大してしまう。更に、試験のために多くのデータを
用意するということは、それだけディスクスペースも消
費してしまうことになる。
【0008】また、データベースプロセッサは、本来的
に大量のデータを扱うが、従来においては比較処理によ
る合否判定を機能毎に行っていたため、多大な比較処理
時間のために最終的な判定結果を得るまでに多くの時間
を要してしまう。
【0009】このように、従来のデータベースプロセッ
サの診断方法では、試験を行うための準備のみならずデ
ータベースプロセッサの実際の実行においても多大な時
間を要してしまい、時間効率のよいデータベースプロセ
ッサの診断を行うことはできなかった。
【0010】本発明は以上のような問題を解決するため
になされたものであり、その目的は、診断を行う前準備
の労力削減及び効率的な診断を行うことのできるデータ
ベースプロセッサ診断方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】以上のような目的を達成
するために、第1の発明に係るデータベースプロセッサ
診断方法は、データベースプロセッサが持つデータ入出
力を伴う複数の機能を連続して実行し、機能実行の出力
結果に基づきデータベースプロセッサの合否の判定を行
うデータベースプロセッサ診断方法において、機能の試
験のために用いる入力用テストデータとしては、データ
ベースプロセッサにおいて連続して実行する機能のうち
最初に実行する先頭被試験機能の試験のために用いるも
のを少なくとも生成し、かつ、機能の実行による出力結
果と比較するために用いる期待値としては、データベー
スプロセッサにおいて連続して実行する機能のうち最後
に実行する最終被試験機能の試験のために用いるものの
みを生成し、先頭被試験機能以外の機能においては、直
前の機能の実行による出力結果を入力用テストデータと
して利用し、最終被試験機能の出力結果と生成した期待
値との比較結果により各機能の試験の合否を一括して判
定するものである。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて、本発明の
好適な実施の形態について説明する。
【0013】図1は、本発明に係るデータベースプロセ
ッサ診断方法を実施可能なホスト計算機の構成例を示し
たブロック図である。図1(a)に示したホスト計算機
は、CPUなどにより構成される基本処理装置1、磁気
ディスク装置などにより構成される外部記憶装置2、主
記憶装置(メモリ)3、マウス、キーボード、ディスプ
レイなどにより構成される入出力装置4及び診断対象と
されるデータベースプロセッサ5をシステムバス6に接
続した構成を有している。また、図1(b)に示したホ
スト計算機は、図1(a)とデータベースプロセッサ7
の構成のみが異なっている。図1(a)のデータベース
プロセッサ5は、汎用的なプロセッサにファームウェア
を搭載して形成されているが、図1(b)のデータベー
スプロセッサ7は、データベース処理専用のプロセッサ
として製造された装置である。このデータベースプロセ
ッサ7には、データベース主処理装置8、ローカル主記
憶装置9、ローカル外部記憶装置10及びデータの並べ
替え機能を専用して行うハードウェアソータ等特定処理
を専用的に行うデータベース処理装置11とが搭載され
ており、それぞれ内部バス12に接続されている。図1
(c)に示したホスト計算機は、図1(b)と基本的に
は同じ構成を有しているが、データベース処理装置11
がシステムバス6に接続されている点で異なっている。
このように、データベースプロセッサは様々な形態で形
成されるが、本実施の形態の診断方法は、図1に示した
構成以外にもデータベース処理を実行することができる
種々のプロセッサにおいて実施可能である。
【0014】本実施の形態におけるデータベースプロセ
ッサ診断方法は、従来例と同様に複数の機能を連続して
実行することでデータベースプロセッサの動作確認をす
るという内容の試験を実施する。各機能は、データの入
出力を伴うものであり、試験のために用いる入力データ
としては1乃至複数のデータ(群)を使用する。また、
入力データに基づく実行の結果として1乃至複数のデー
タ(群)を出力する。本実施の形態において特徴的なこ
とは、入力データとしては、データベースプロセッサに
おいて上記複数の機能Kn(n=1,2,・・,N)の
うち先頭被試験機能すなわち最初に実行する機能K1
試験のために用いるものを少なくとも生成し、かつ、機
能の実行による出力結果と比較するために用いる期待値
としては、最終被試験機能すなわち最後に実行する機能
Nの試験のために用いるもののみを生成することであ
る。この期待値ENは、最後に実行される機能KNの出力
データONを構成するデータ(群)に応じて1乃至複数
のデータ(群)で構成される。そして、機能K1以外の
機能K2〜KNにおいては、直前の機能K1〜KN-1の実行
による出力結果を入力データとして利用し、機能KN
出力結果と生成した期待値ENとの比較結果により各機
能K1〜KNの試験の合否を一括して判定することであ
る。このように、比較処理を正常時には最後の1回のみ
とすることで、大量のデータを扱うデータベースプロセ
ッサの試験全体における処理時間の短縮を図ることがで
きる。更に、生成するテストデータを大幅に削減するこ
とができる。
【0015】次に、本実施の形態におけるデータベース
プロセッサ診断方法について図2に示したフローチャー
トを用いて説明する。
【0016】まず、試験者は、試験をする前に機能K1
の試験のための入力データI1を事前に生成しておかな
ければならない。また、直前の機能の出力結果以外に更
に入力データを必要とする機能(例えば、結合機能)の
場合にはその入力データを事前に生成しておく。なお、
機能K1の試験に複数のデータ(群)が必要となる場合
も想定しうるが、便宜上入力データI1と表すことにす
る。すなわち、機能K1に対する入力データは、複数の
データ(群)で形成されている場合もありうるが、本実
施の形態においては、まとめて入力データI1と表す。
他の機能K2〜KNについても同様に入力データI2〜IN
と表すことにする。
【0017】更に、試験者は、機能KNの期待値ENを予
め生成しておく。但し、厳密には期待値ENを出力デー
タONとの比較処理時までに生成しておけばよい。
【0018】以上の準備が終了すると、入力データI1
をデータベースプロセッサに投入することで機能K1
実行させ(ステップ101)、データベースプロセッサ
からその実行結果である出力データO1を読み出す(ス
テップ102)。続いて、次の機能K2を実行させるが
(ステップ103,104)、この際、機能K1の出力
データO1と必要に応じて事前に用意しておいた入力デ
ータI2をデータベースプロセッサに投入する。なお、
出力データO1〜0Nも複数のデータ(群)で構成される
場合もあり得るが、入力データI1〜INと同様、便宜上
まとめて出力データO1〜0Nと表すことにする。この場
合、機能K2〜KNは、直前の機能K1〜KN-1の出力デー
タO1〜0N-1の全部又は一部のみを入力データI2〜IN
として使用することになる。
【0019】機能K2を実行してデータベースプロセッ
サからその実行結果である出力データO2を読み出す
(ステップ105)。機能K2が最後の機能でなければ
次の機能K3を試験の対象とし(ステップ106,10
7)、上記処理(ステップ104,105)を繰り返し
実行する。そして、機能Knが最後の機能KNとなったと
き、このときの出力データONと期待値ENとの比較を行
う(ステップ106,108)。この比較をした結果、
一致すれば、各機能の試験は全て正常に終了したと判断
し、試験対象とされたデータベースプロセッサは、正常
であると判定する(ステップ109,110)。すなわ
ち、本実施の形態においては、最終結果(出力データO
N)が期待値ENと合致すれば、途中の出力結果(出力デ
ータO1〜0N -1)も正しいと判断している。
【0020】一方、比較処理の結果、一致しない場合に
は、試験されたデータベースプロセッサは、不合格と判
定されるが、どの機能の実行時に障害が発生したかは、
この時点ではわからない。そこで、異常が発生した機能
を特定するために異常発生箇所検出処理を実行する(ス
テップ111)。この処理について図3に示したフロー
チャートを用いて説明する。
【0021】異常が発生した機能は、実行とは逆の順番
で検出する。すなわち、最初は期待値EN-1を生成して
(ステップ121,122)、機能KN-1の出力データ
N-1と期待値EN-1との比較を行う(ステップ12
3)。比較した結果、一致したとすれば、機能KN-1
での各機能K1〜KN-1の試験は、正常であると判断でき
るので、機能KNの試験で異常が発生したと特定するこ
とができる(ステップ124,125)。一方、一致し
なければ、機能K1〜KN-1のいずれかに異常箇所が含ま
れていると判断することができる。この場合、更に、1
つ前の機能に戻り(ステップ124,126)、上記処
理を繰り返し行う(ステップ122〜124,)。これ
によって、異常が発生した機能を特定することができ
る。なお、この検出方法では、最初に異常が発生した機
能のみしか検出することはできないが、この検出処理を
繰り返し行えば、全ての異常が発生した機能を検出する
ことはできる。
【0022】図4及び図5は、機能の内容及び各機能で
扱われる入出力データ(群)の例を示した図である。図
4(a)に示した機能の例では、2次元データをそれぞ
れ含む2つのテーブル(データ群)を縦方向につなげて
おり、図4(b)に示した機能の例では、2つのテーブ
ルを横方向につなげており、図5(c)に示した機能の
例では、2つのテーブルのうち横方向(行)のデータが
一致する行を抽出している。上記処理に当てはめると、
図4(a)が機能K1、図4(b)及び図5(c)が機
能K2〜KNであり、テーブル3,5が直前の機能K1
N-1の出力データO1〜ON-1、テーブル2,4,6が
別途用意した入力データI1〜INとみなすことができ
る。
【0023】このように、本実施の形態によれば、デー
タベースプロセッサが正常の場合には比較処理を最後に
1回だけ行えばよいので、診断に要する処理時間を大幅
に削減することができる。特に、データベースプロセッ
サにおいては、多次元で構成される大量のデータ群を扱
うことが想定しうるが、機能毎に比較処理をN回行う従
来の方法と比べるとこの処理時間を短縮できるという点
で、非常に有効である。
【0024】また、データベースプロセッサが正常の場
合には、最後の機能KNの比較処理のために用いる期待
値ENと最初の機能K1の入力データI1とを最低限用意
すればよいので、テストデータを生成する労力を大幅に
削減することができる。また、テストデータ量の削減に
伴い、データベースプロセッサの診断に必要なディスク
スペースを大幅に削減することができる。
【0025】なお、本実施の形態においては、機能K1
の試験のための入力データI1と機能KNのための期待値
Nなどによる1組のテストデータを生成して、1回の
試験のみを行うようにしている。データベースプロセッ
サの試験の場合、図4及び図5に示したように、大量の
データを扱うので異常が正常と誤認される偶然性は極め
て低いと考えられるが、テストデータの組を更に生成し
て複数回の試験を行うようにすれば、更に診断結果の信
頼性を向上させることができる。
【0026】
【発明の効果】本発明によれば、データベースプロセッ
サが正常の場合には比較処理を最後に1回だけ行えばよ
いので、診断に要する処理時間を大幅に削減することが
できる。また、データベースプロセッサが正常の場合に
は、最後に実行する機能の比較処理のために用いる期待
値と最初に実行する機能の入力データとを最低限用意す
ればよいので、テストデータを生成する労力を大幅に削
減することができる。また、テストデータ量の削減に伴
い、データベースプロセッサの診断に必要なディスクス
ペースを大幅に削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係るデータベースプロセッサ診断方
法を実施可能なホスト計算機の構成例を示したブロック
図である。
【図2】 本実施の形態におけるデータベースプロセッ
サ診断方法を示したフローチャートである。
【図3】 本実施の形態における異常発生箇所検出処理
を示したフローチャートである。
【図4】 本実施の形態における機能の内容及び各機能
で扱われる入出力データ(群)の例を示した図である。
【図5】 本実施の形態における機能の内容及び各機能
で扱われる入出力データ(群)の例を示した図である。
【図6】 従来のデータベースプロセッサ診断方法を示
したフローチャートである。
【符号の説明】
1 基本処理装置、2 外部記憶装置、3 主記憶装
置、4 入出力装置、5,7 データベースプロセッ
サ、6 システムバス、8 データベース主処理装置、
9 ローカル主記憶装置、10 ローカル外部記憶装
置、11 データベース処理装置、12 内部バス。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06F 11/22 - 11/26

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 データベースプロセッサが持つデータ入
    出力を伴う複数の機能を連続して実行し、機能実行の出
    力結果に基づきデータベースプロセッサの合否の判定を
    行うデータベースプロセッサ診断方法において、 機能の試験のために用いる入力用テストデータとして
    は、データベースプロセッサにおいて連続して実行する
    機能のうち最初に実行する先頭被試験機能の試験のため
    に用いるものを少なくとも生成し、かつ、機能の実行に
    よる出力結果と比較するために用いる期待値としては、
    データベースプロセッサにおいて連続して実行する機能
    のうち最後に実行する最終被試験機能の試験のために用
    いるもののみを生成し、 先頭被試験機能以外の機能においては、直前の機能の実
    行による出力結果を入力用テストデータとして利用し、 最終被試験機能の出力結果と生成した期待値との比較結
    果により各機能の試験の合否を一括して判定することを
    特徴とするデータベースプロセッサ診断方法。
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