JPH03263708A - 非還元性誘電体磁器組成物 - Google Patents

非還元性誘電体磁器組成物

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JPH03263708A
JPH03263708A JP2063664A JP6366490A JPH03263708A JP H03263708 A JPH03263708 A JP H03263708A JP 2063664 A JP2063664 A JP 2063664A JP 6366490 A JP6366490 A JP 6366490A JP H03263708 A JPH03263708 A JP H03263708A
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porcelain
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芳明 河野
Nobuyuki Wada
信之 和田
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    • H01G4/1236Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on zirconium oxides or zirconates
    • H01G4/1245Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on zirconium oxides or zirconates containing also titanates
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    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は非還元性誘電体磁器組成物に関し、特にたと
えば積層セラミックコンデンサなどに用いられる非還元
性誘電体磁器組成物に関する。
(従来技術) 積層セラミックコンデンサを製造するには、まず、その
表面に内部電極となる電極材料を塗布したシート状の誘
電体材料が準備される。この誘電体材料としては、たと
えばBaTiOsを主成分とする材料などが用いられる
。この電極材料を塗布した誘電体材料を積層して熱圧着
し、一体化したものを自然雰囲気中において1250〜
1350℃で坑底して、内部電極を有する誘電体磁器が
得られる。そして、この誘電体磁器の端面に、内部電極
と導通する外部電極を焼き付けて、積層セラミックコン
デンサが製造される。
したがって、内部電極の材料としては、次のような条件
を満たす必要がある。
fa)  誘電体磁器と内部電極とが開時にttt威さ
れるので、誘電体磁器が焼成される温度以Lσ)融立を
有すること。
ib+  酸化性の高温雰囲気中g=おい′ζも酸化さ
れず、しかも誘電体と反ibないこと。
このような条(1条溝足°づる電極材料Jしζ゛は、r
J金、金、パラジウムあるいはどれらの合金などのよう
な負金属が用いられ”ていた。
E2かし7ながら、これもの電極材料は優れた特例を有
する反面、高価であった。そのため、積層セラミックコ
ンデンサにajめる電極材料費の割−0一番ま30〜7
0バーセ:/トにも達し、製造1ストl昇させる最大の
要因となっていた。
負金属以外に高融点をも一゛)ものとしてNi、Fe、
Co、W、Moなどの卑金属があるが、これらの卑金属
は高温の酸化性雰囲気中では容易に酸化されてしまい、
電極とL7でσ)役11を果たさtt(なっ−こしまう
、モθ)ため、これらの卑金属る6稙層セラFQ 7ク
コソ)′ンサσ)内部電極とL7で使用するためには、
誘電体磁器とともに中性または還元性雰囲気中で焼成さ
れる必要がある。し、かL2ながら、従来の誘電体磁器
利料では、このような還元性雰囲気中で焼成するとWL
、<還元され−ζし圭い、゛1′1体化し、イ′しまう
という欠点かあ、)六・1゜このような欠点を党服イー
るために、たとえば特公昭57 425889公報に示
されるように、チタン酸バリウム固溶体において、バリ
ウムザイト/チタンシイトの比を化学量論比より過剰に
し7た誘電弾材ネ:1が考え出された。ごQ)ような講
電体拐1・′1を使用することG、″よって、還元性雰
囲気中で焼成L7ても半導体化しない誘電体磁器を得る
ことができ、内部電極−二してJ゛−ツケル2(どの卑
金属を他用した積層セラ元ツク、“2ンデンザの製造が
可能となった。
(発明が解決しようとする課題) 過年山エレクトo−=、クスの発展に伴い電子一部品の
小型化が急速に進行し5、積層セラ4ツクコンyンザも
小型化Q)傾向が頴−杵にな、ってきた。禎層セシミソ
クユjンデンサを小型化する方法とし−ζは、−船的に
誘電体層を菌膜化することがIAIられているが、10
.iJm以Fのよ−)な薄膜になると、1・つの層中に
存在イる結晶粒の数が減少し、信頼P1が低下してしま
う。
それゆえに、この発明のj二たる目的は、還元性雰囲気
中で焼成しても半導体化せず、しかもこれを用いること
によって積層セラaソクコンデンザを小型化することが
できる、非還元性誘電、体磁器組成物を堤供することで
ある。
〈課題を解決するための手段) この発明は、その主成分が13a、(:a、Mg。
Sr、Ce、TiおよびZ「の各酸化物からなり、次の
一般式、(I) a +−e −a−++−os r 
g Ca lIM gnceo)q(T+i−、Zrp
)Ozで表され、1、 m、 n、  o、  pおよ
びqが、0.05$ff$0.30.0゜O05$rn
:$0.22.0゜0005$n$0.05.0.00
05$o$Q。02、Q<p≦0.20.1.002$
Q$1.03の関係を満足し、前記主成分100モル%
Cご対し2て、Mn、Fe、Cr、・Coの各酸化物を
MnGz 、Few G、、Crz o、、Co01:
!:表したとき、各酸化物の少なくとも〜lji類が0
.02〜2.0むル%添加された、非還元性誘電体磁器
組成物である。
(発明ω効鉗) この発明Cごよれば、還元性雰囲気中で焼成しても還元
されず、半導体化しない非還元性誘電体磁器組成物を得
るこLができる。したがっ“ζ、この非還元性誘電体磁
器組成物を用い°(磁器積層コンデン9を製造すれば、
電極材ネ・1とL/て卑金属を用いることができ、積屑
セフミック:]ンダンザのコス]ダウンを図ることがで
きる。
また、この非還元性誘電体磁器組成物を用いプ(・磁器
では、従来の誘電体組成物を用いた場合に比べで、モの
結品わを小さり4″ることかできる。しまたが、って、
積層セラらツクコンデ:/すを製造するときに、誘電体
層を薄膜化しても、4従来の積層セラ壽ツクコンデンサ
のよ・うに層中に存在する結晶粒の景が少なくならない
。したがって、信頼性が高く、しかも小型化6J能な積
層セラミックコンデンサを得ることができる。
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点
は、以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう
(実施例) まず、原料として、純度99.8%以上のBaC03、
S r COs + Ca CO31M g COs 
CeO2、’I’+ Ot、Zr0t、MnO2、Fe
,cro□、Cooを準備した。これらの原料を(B 
a 、t−、−、−03rg Can Mgn ceo
 )q (Tf+−pZrp)Osの組成式で表され、
1、m、n、O,p+  Qが別表に示す割合となるよ
うに配合して、配合原料を得た。この配合原料をボール
旦ルで湿式混合し、粉砕したのち乾燥し、空気中におい
て1100℃で2時間仮焼して仮焼物を得た。この仮焼
物に有機バインダ、分散剤および消泡剤よりなる混合水
溶液を15重量%添加し、50重量%の水とともに、ボ
ールミルで混合、粉砕してスラリーを調整した。
このスラリーをドクターブレードに流して、グリーンシ
ートを底形した。このグリーンシートを積み重ね、熱圧
着後打ち抜いて、直径10韻、厚さl amの円板を得
た。得られた円板を空気中において500℃まで加熱し
て有機バインダを燃焼さセタノチ、酸素分圧が3×10
−1′〜3×10−1゜aimのHz  Nt−空気ガ
スからなる還元雰囲気炉中において1250〜1350
℃で2時間焼成し焼結体を得た。得られた焼結体の両主
面に1n−Ga合金を塗布して特性測定用試料とした。
得られた試料について、静電容量(C)および誘電正接
(tanδ)を自動ブリフジを用いて1kHz、、IV
、□の条件で測定した。また、絶縁抵抗(R)は、高絶
縁計によって500Vの直流電圧を2分間印加したのち
の値を測定した。絶縁抵抗は、25℃および85℃の値
を測定し、それぞれの抵抗率の対数(fogρ)を算出
した。さらに、試料の結晶粒径は、試料表面の電子顕微
鏡観察によって評価した。そして、これらの測定結果を
別表に示した。
次に、各&1lfi、の限定理由について説明する。
(Bad−11−am−n−oS rIICaea M
gn Ceo )q (T r l−p Z rp) 
03において、試料番号1のように、ストロンチウム量
lが0.05未満の場合、磁器の焼結性が悪く、誘電率
が6000以下と小さくなる。また、試料番号25のよ
うに、ストロンチウム量lが0.30を超えると、焼結
性が極度に悪くなり好ましくない。
さらに、試料番号2のように、カルシウム1mが0.0
05未満であれば、磁器の焼結性が悪く、誘電率が60
00以下となり、誘電正接が5. 0%を超える。一方
、試料番号24のように、カルシウムamが0.22を
超えると、焼結性が極度に悪くなり好ましくない。
また、試料番号3のように、マグネシウム量nがo、o
oos未満であれば、磁器の焼結性が悪く、誘電率が6
000以下と小さくなる。一方、試料番号23のように
、マグネシウム量nが0゜05を超えると、誘電率が1
000以下と小さくなる。
試料番号4のように、セリウム量0が0.0005未満
であれば、磁器の結晶粒径が3μmを超えてしまい、I
Iセラミックコンデンサにした場合、誘電体層を薄膜化
することができず好ましくない。一方、・試料番号22
のように、セリウム量0が0.02を超えると、還元性
雰囲気中で坑底したとき磁器が還元され、半導体化して
絶縁抵抗が大幅に低下し好ましくない。
試料番号5のように、ジルコニウム′Mpがoの場合、
誘電正接が5.0%以上と大きくなる。
方、試料番号21のように、ジルコニウムIpが0.2
0を超えると焼結性が低下し、誘電率が6000以下、
誘電正接が5.0%以上となって好ましくない。
試料番号6のように、(B a I−、−6−M−0S
rgCaa Mgn Ceo )のモル比qが1.00
2未満では、還元性雰囲気中で坑底したときに磁器が還
元され、絶縁抵抗が低下してしまう。一方、試料番号2
0のように、モル比qが1.03を超えると、焼結性が
悪くなり好ましくない。
また、試料番号7のように、添加物としてのMn0z 
、F ez 03 、Crt 03 、Cooの添別置
が0.02モル%未満の場合、85℃以上での$i!!
縁抵抗が小さくなり、高温中における長時間使用の信頼
性が低Fする。一方、試料番号18゜19のよう番こ、
これらの添加物の量が2.0セル%を超えるよ、誘電正
接が5,0%以にとなっこ好まし7くない。
それに刻して、この発明の非還元性誘電体磁器組成物を
用いれば、還元性雰囲気中で坑底しても還元されず、絶
縁抵抗ω劣化の少ない誘電体磁器を得ることができる。
したがって、山部電極の科料としてニソb・ルなどの卑
金属を使用することができ、積層セラミツダニ1ンデン
サのニゴストダウンを図ることができる。
さらに、結晶粒径が3μn1以1Jと小さく、胱電体順
を薄膜化しでも誘電体層間に結晶粒が多く春作するため
、信頼性の高い誘電体磁器を得るこ2゜ができる。また
、誘電体磁器を薄膜化することができるため、積層セラ
迅ツクコンデンサを小型化することができる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 その主成分がBa,Ca,Mg,Sr,Ce,Tiおよ
    びZrの各酸化物からなり、次の一般式(Ba_1_−
    _l_−_m_−_n_−_oSr_lCa_mMg_
    nCe_o)_q(Ti_1_−_pZr_p)O_3 で表され、l,m,n,o,pおよびqが、0.05≦
    l≦0.30 0.005≦m≦0.22 0.0005≦n≦0.05 0.0005≦o≦0.02 0<p≦0.20 1.002≦q≦1.03 の関係を満足し、前記主成分100モル%に対して、M
    n,Fe,Cr,Coの各酸化物をMnO_2,Fe_
    2O_3,Cr_2O_3,CoOと表したとき、各酸
    化物の少なくとも一種類が0.02〜2.0モル%添加
    された、非還元性誘電体磁器組成
JP2063664A 1990-03-13 1990-03-13 非還元性誘電体磁器組成物 Expired - Lifetime JPH0734326B2 (ja)

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