JPH03263708A - 非還元性誘電体磁器組成物 - Google Patents
非還元性誘電体磁器組成物Info
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- JPH03263708A JPH03263708A JP2063664A JP6366490A JPH03263708A JP H03263708 A JPH03263708 A JP H03263708A JP 2063664 A JP2063664 A JP 2063664A JP 6366490 A JP6366490 A JP 6366490A JP H03263708 A JPH03263708 A JP H03263708A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
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- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
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- H01G4/1245—Ceramic dielectrics characterised by the ceramic dielectric material based on zirconium oxides or zirconates containing also titanates
-
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- C04B35/49—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on zirconium or hafnium oxides, zirconates, zircon or hafnates containing also titanium oxides or titanates
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は非還元性誘電体磁器組成物に関し、特にたと
えば積層セラミックコンデンサなどに用いられる非還元
性誘電体磁器組成物に関する。
えば積層セラミックコンデンサなどに用いられる非還元
性誘電体磁器組成物に関する。
(従来技術)
積層セラミックコンデンサを製造するには、まず、その
表面に内部電極となる電極材料を塗布したシート状の誘
電体材料が準備される。この誘電体材料としては、たと
えばBaTiOsを主成分とする材料などが用いられる
。この電極材料を塗布した誘電体材料を積層して熱圧着
し、一体化したものを自然雰囲気中において1250〜
1350℃で坑底して、内部電極を有する誘電体磁器が
得られる。そして、この誘電体磁器の端面に、内部電極
と導通する外部電極を焼き付けて、積層セラミックコン
デンサが製造される。
表面に内部電極となる電極材料を塗布したシート状の誘
電体材料が準備される。この誘電体材料としては、たと
えばBaTiOsを主成分とする材料などが用いられる
。この電極材料を塗布した誘電体材料を積層して熱圧着
し、一体化したものを自然雰囲気中において1250〜
1350℃で坑底して、内部電極を有する誘電体磁器が
得られる。そして、この誘電体磁器の端面に、内部電極
と導通する外部電極を焼き付けて、積層セラミックコン
デンサが製造される。
したがって、内部電極の材料としては、次のような条件
を満たす必要がある。
を満たす必要がある。
fa) 誘電体磁器と内部電極とが開時にttt威さ
れるので、誘電体磁器が焼成される温度以Lσ)融立を
有すること。
れるので、誘電体磁器が焼成される温度以Lσ)融立を
有すること。
ib+ 酸化性の高温雰囲気中g=おい′ζも酸化さ
れず、しかも誘電体と反ibないこと。
れず、しかも誘電体と反ibないこと。
このような条(1条溝足°づる電極材料Jしζ゛は、r
J金、金、パラジウムあるいはどれらの合金などのよう
な負金属が用いられ”ていた。
J金、金、パラジウムあるいはどれらの合金などのよう
な負金属が用いられ”ていた。
E2かし7ながら、これもの電極材料は優れた特例を有
する反面、高価であった。そのため、積層セラミックコ
ンデンサにajめる電極材料費の割−0一番ま30〜7
0バーセ:/トにも達し、製造1ストl昇させる最大の
要因となっていた。
する反面、高価であった。そのため、積層セラミックコ
ンデンサにajめる電極材料費の割−0一番ま30〜7
0バーセ:/トにも達し、製造1ストl昇させる最大の
要因となっていた。
負金属以外に高融点をも一゛)ものとしてNi、Fe、
Co、W、Moなどの卑金属があるが、これらの卑金属
は高温の酸化性雰囲気中では容易に酸化されてしまい、
電極とL7でσ)役11を果たさtt(なっ−こしまう
、モθ)ため、これらの卑金属る6稙層セラFQ 7ク
コソ)′ンサσ)内部電極とL7で使用するためには、
誘電体磁器とともに中性または還元性雰囲気中で焼成さ
れる必要がある。し、かL2ながら、従来の誘電体磁器
利料では、このような還元性雰囲気中で焼成するとWL
、<還元され−ζし圭い、゛1′1体化し、イ′しまう
という欠点かあ、)六・1゜このような欠点を党服イー
るために、たとえば特公昭57 425889公報に示
されるように、チタン酸バリウム固溶体において、バリ
ウムザイト/チタンシイトの比を化学量論比より過剰に
し7た誘電弾材ネ:1が考え出された。ごQ)ような講
電体拐1・′1を使用することG、″よって、還元性雰
囲気中で焼成L7ても半導体化しない誘電体磁器を得る
ことができ、内部電極−二してJ゛−ツケル2(どの卑
金属を他用した積層セラ元ツク、“2ンデンザの製造が
可能となった。
Co、W、Moなどの卑金属があるが、これらの卑金属
は高温の酸化性雰囲気中では容易に酸化されてしまい、
電極とL7でσ)役11を果たさtt(なっ−こしまう
、モθ)ため、これらの卑金属る6稙層セラFQ 7ク
コソ)′ンサσ)内部電極とL7で使用するためには、
誘電体磁器とともに中性または還元性雰囲気中で焼成さ
れる必要がある。し、かL2ながら、従来の誘電体磁器
利料では、このような還元性雰囲気中で焼成するとWL
、<還元され−ζし圭い、゛1′1体化し、イ′しまう
という欠点かあ、)六・1゜このような欠点を党服イー
るために、たとえば特公昭57 425889公報に示
されるように、チタン酸バリウム固溶体において、バリ
ウムザイト/チタンシイトの比を化学量論比より過剰に
し7た誘電弾材ネ:1が考え出された。ごQ)ような講
電体拐1・′1を使用することG、″よって、還元性雰
囲気中で焼成L7ても半導体化しない誘電体磁器を得る
ことができ、内部電極−二してJ゛−ツケル2(どの卑
金属を他用した積層セラ元ツク、“2ンデンザの製造が
可能となった。
(発明が解決しようとする課題)
過年山エレクトo−=、クスの発展に伴い電子一部品の
小型化が急速に進行し5、積層セラ4ツクコンyンザも
小型化Q)傾向が頴−杵にな、ってきた。禎層セシミソ
クユjンデンサを小型化する方法とし−ζは、−船的に
誘電体層を菌膜化することがIAIられているが、10
.iJm以Fのよ−)な薄膜になると、1・つの層中に
存在イる結晶粒の数が減少し、信頼P1が低下してしま
う。
小型化が急速に進行し5、積層セラ4ツクコンyンザも
小型化Q)傾向が頴−杵にな、ってきた。禎層セシミソ
クユjンデンサを小型化する方法とし−ζは、−船的に
誘電体層を菌膜化することがIAIられているが、10
.iJm以Fのよ−)な薄膜になると、1・つの層中に
存在イる結晶粒の数が減少し、信頼P1が低下してしま
う。
それゆえに、この発明のj二たる目的は、還元性雰囲気
中で焼成しても半導体化せず、しかもこれを用いること
によって積層セラaソクコンデンザを小型化することが
できる、非還元性誘電、体磁器組成物を堤供することで
ある。
中で焼成しても半導体化せず、しかもこれを用いること
によって積層セラaソクコンデンザを小型化することが
できる、非還元性誘電、体磁器組成物を堤供することで
ある。
〈課題を解決するための手段)
この発明は、その主成分が13a、(:a、Mg。
Sr、Ce、TiおよびZ「の各酸化物からなり、次の
一般式、(I) a +−e −a−++−os r
g Ca lIM gnceo)q(T+i−、Zrp
)Ozで表され、1、 m、 n、 o、 pおよ
びqが、0.05$ff$0.30.0゜O05$rn
:$0.22.0゜0005$n$0.05.0.00
05$o$Q。02、Q<p≦0.20.1.002$
Q$1.03の関係を満足し、前記主成分100モル%
Cご対し2て、Mn、Fe、Cr、・Coの各酸化物を
MnGz 、Few G、、Crz o、、Co01:
!:表したとき、各酸化物の少なくとも〜lji類が0
.02〜2.0むル%添加された、非還元性誘電体磁器
組成物である。
一般式、(I) a +−e −a−++−os r
g Ca lIM gnceo)q(T+i−、Zrp
)Ozで表され、1、 m、 n、 o、 pおよ
びqが、0.05$ff$0.30.0゜O05$rn
:$0.22.0゜0005$n$0.05.0.00
05$o$Q。02、Q<p≦0.20.1.002$
Q$1.03の関係を満足し、前記主成分100モル%
Cご対し2て、Mn、Fe、Cr、・Coの各酸化物を
MnGz 、Few G、、Crz o、、Co01:
!:表したとき、各酸化物の少なくとも〜lji類が0
.02〜2.0むル%添加された、非還元性誘電体磁器
組成物である。
(発明ω効鉗)
この発明Cごよれば、還元性雰囲気中で焼成しても還元
されず、半導体化しない非還元性誘電体磁器組成物を得
るこLができる。したがっ“ζ、この非還元性誘電体磁
器組成物を用い°(磁器積層コンデン9を製造すれば、
電極材ネ・1とL/て卑金属を用いることができ、積屑
セフミック:]ンダンザのコス]ダウンを図ることがで
きる。
されず、半導体化しない非還元性誘電体磁器組成物を得
るこLができる。したがっ“ζ、この非還元性誘電体磁
器組成物を用い°(磁器積層コンデン9を製造すれば、
電極材ネ・1とL/て卑金属を用いることができ、積屑
セフミック:]ンダンザのコス]ダウンを図ることがで
きる。
また、この非還元性誘電体磁器組成物を用いプ(・磁器
では、従来の誘電体組成物を用いた場合に比べで、モの
結品わを小さり4″ることかできる。しまたが、って、
積層セラらツクコンデ:/すを製造するときに、誘電体
層を薄膜化しても、4従来の積層セラ壽ツクコンデンサ
のよ・うに層中に存在する結晶粒の景が少なくならない
。したがって、信頼性が高く、しかも小型化6J能な積
層セラミックコンデンサを得ることができる。
では、従来の誘電体組成物を用いた場合に比べで、モの
結品わを小さり4″ることかできる。しまたが、って、
積層セラらツクコンデ:/すを製造するときに、誘電体
層を薄膜化しても、4従来の積層セラ壽ツクコンデンサ
のよ・うに層中に存在する結晶粒の景が少なくならない
。したがって、信頼性が高く、しかも小型化6J能な積
層セラミックコンデンサを得ることができる。
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点
は、以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう
。
は、以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう
。
(実施例)
まず、原料として、純度99.8%以上のBaC03、
S r COs + Ca CO31M g COs
。
S r COs + Ca CO31M g COs
。
CeO2、’I’+ Ot、Zr0t、MnO2、Fe
,cro□、Cooを準備した。これらの原料を(B
a 、t−、−、−03rg Can Mgn ceo
)q (Tf+−pZrp)Osの組成式で表され、
1、m、n、O,p+ Qが別表に示す割合となるよ
うに配合して、配合原料を得た。この配合原料をボール
旦ルで湿式混合し、粉砕したのち乾燥し、空気中におい
て1100℃で2時間仮焼して仮焼物を得た。この仮焼
物に有機バインダ、分散剤および消泡剤よりなる混合水
溶液を15重量%添加し、50重量%の水とともに、ボ
ールミルで混合、粉砕してスラリーを調整した。
,cro□、Cooを準備した。これらの原料を(B
a 、t−、−、−03rg Can Mgn ceo
)q (Tf+−pZrp)Osの組成式で表され、
1、m、n、O,p+ Qが別表に示す割合となるよ
うに配合して、配合原料を得た。この配合原料をボール
旦ルで湿式混合し、粉砕したのち乾燥し、空気中におい
て1100℃で2時間仮焼して仮焼物を得た。この仮焼
物に有機バインダ、分散剤および消泡剤よりなる混合水
溶液を15重量%添加し、50重量%の水とともに、ボ
ールミルで混合、粉砕してスラリーを調整した。
このスラリーをドクターブレードに流して、グリーンシ
ートを底形した。このグリーンシートを積み重ね、熱圧
着後打ち抜いて、直径10韻、厚さl amの円板を得
た。得られた円板を空気中において500℃まで加熱し
て有機バインダを燃焼さセタノチ、酸素分圧が3×10
−1′〜3×10−1゜aimのHz Nt−空気ガ
スからなる還元雰囲気炉中において1250〜1350
℃で2時間焼成し焼結体を得た。得られた焼結体の両主
面に1n−Ga合金を塗布して特性測定用試料とした。
ートを底形した。このグリーンシートを積み重ね、熱圧
着後打ち抜いて、直径10韻、厚さl amの円板を得
た。得られた円板を空気中において500℃まで加熱し
て有機バインダを燃焼さセタノチ、酸素分圧が3×10
−1′〜3×10−1゜aimのHz Nt−空気ガ
スからなる還元雰囲気炉中において1250〜1350
℃で2時間焼成し焼結体を得た。得られた焼結体の両主
面に1n−Ga合金を塗布して特性測定用試料とした。
得られた試料について、静電容量(C)および誘電正接
(tanδ)を自動ブリフジを用いて1kHz、、IV
、□の条件で測定した。また、絶縁抵抗(R)は、高絶
縁計によって500Vの直流電圧を2分間印加したのち
の値を測定した。絶縁抵抗は、25℃および85℃の値
を測定し、それぞれの抵抗率の対数(fogρ)を算出
した。さらに、試料の結晶粒径は、試料表面の電子顕微
鏡観察によって評価した。そして、これらの測定結果を
別表に示した。
(tanδ)を自動ブリフジを用いて1kHz、、IV
、□の条件で測定した。また、絶縁抵抗(R)は、高絶
縁計によって500Vの直流電圧を2分間印加したのち
の値を測定した。絶縁抵抗は、25℃および85℃の値
を測定し、それぞれの抵抗率の対数(fogρ)を算出
した。さらに、試料の結晶粒径は、試料表面の電子顕微
鏡観察によって評価した。そして、これらの測定結果を
別表に示した。
次に、各&1lfi、の限定理由について説明する。
(Bad−11−am−n−oS rIICaea M
gn Ceo )q (T r l−p Z rp)
03において、試料番号1のように、ストロンチウム量
lが0.05未満の場合、磁器の焼結性が悪く、誘電率
が6000以下と小さくなる。また、試料番号25のよ
うに、ストロンチウム量lが0.30を超えると、焼結
性が極度に悪くなり好ましくない。
gn Ceo )q (T r l−p Z rp)
03において、試料番号1のように、ストロンチウム量
lが0.05未満の場合、磁器の焼結性が悪く、誘電率
が6000以下と小さくなる。また、試料番号25のよ
うに、ストロンチウム量lが0.30を超えると、焼結
性が極度に悪くなり好ましくない。
さらに、試料番号2のように、カルシウム1mが0.0
05未満であれば、磁器の焼結性が悪く、誘電率が60
00以下となり、誘電正接が5. 0%を超える。一方
、試料番号24のように、カルシウムamが0.22を
超えると、焼結性が極度に悪くなり好ましくない。
05未満であれば、磁器の焼結性が悪く、誘電率が60
00以下となり、誘電正接が5. 0%を超える。一方
、試料番号24のように、カルシウムamが0.22を
超えると、焼結性が極度に悪くなり好ましくない。
また、試料番号3のように、マグネシウム量nがo、o
oos未満であれば、磁器の焼結性が悪く、誘電率が6
000以下と小さくなる。一方、試料番号23のように
、マグネシウム量nが0゜05を超えると、誘電率が1
000以下と小さくなる。
oos未満であれば、磁器の焼結性が悪く、誘電率が6
000以下と小さくなる。一方、試料番号23のように
、マグネシウム量nが0゜05を超えると、誘電率が1
000以下と小さくなる。
試料番号4のように、セリウム量0が0.0005未満
であれば、磁器の結晶粒径が3μmを超えてしまい、I
Iセラミックコンデンサにした場合、誘電体層を薄膜化
することができず好ましくない。一方、・試料番号22
のように、セリウム量0が0.02を超えると、還元性
雰囲気中で坑底したとき磁器が還元され、半導体化して
絶縁抵抗が大幅に低下し好ましくない。
であれば、磁器の結晶粒径が3μmを超えてしまい、I
Iセラミックコンデンサにした場合、誘電体層を薄膜化
することができず好ましくない。一方、・試料番号22
のように、セリウム量0が0.02を超えると、還元性
雰囲気中で坑底したとき磁器が還元され、半導体化して
絶縁抵抗が大幅に低下し好ましくない。
試料番号5のように、ジルコニウム′Mpがoの場合、
誘電正接が5.0%以上と大きくなる。
誘電正接が5.0%以上と大きくなる。
方、試料番号21のように、ジルコニウムIpが0.2
0を超えると焼結性が低下し、誘電率が6000以下、
誘電正接が5.0%以上となって好ましくない。
0を超えると焼結性が低下し、誘電率が6000以下、
誘電正接が5.0%以上となって好ましくない。
試料番号6のように、(B a I−、−6−M−0S
rgCaa Mgn Ceo )のモル比qが1.00
2未満では、還元性雰囲気中で坑底したときに磁器が還
元され、絶縁抵抗が低下してしまう。一方、試料番号2
0のように、モル比qが1.03を超えると、焼結性が
悪くなり好ましくない。
rgCaa Mgn Ceo )のモル比qが1.00
2未満では、還元性雰囲気中で坑底したときに磁器が還
元され、絶縁抵抗が低下してしまう。一方、試料番号2
0のように、モル比qが1.03を超えると、焼結性が
悪くなり好ましくない。
また、試料番号7のように、添加物としてのMn0z
、F ez 03 、Crt 03 、Cooの添別置
が0.02モル%未満の場合、85℃以上での$i!!
縁抵抗が小さくなり、高温中における長時間使用の信頼
性が低Fする。一方、試料番号18゜19のよう番こ、
これらの添加物の量が2.0セル%を超えるよ、誘電正
接が5,0%以にとなっこ好まし7くない。
、F ez 03 、Crt 03 、Cooの添別置
が0.02モル%未満の場合、85℃以上での$i!!
縁抵抗が小さくなり、高温中における長時間使用の信頼
性が低Fする。一方、試料番号18゜19のよう番こ、
これらの添加物の量が2.0セル%を超えるよ、誘電正
接が5,0%以にとなっこ好まし7くない。
それに刻して、この発明の非還元性誘電体磁器組成物を
用いれば、還元性雰囲気中で坑底しても還元されず、絶
縁抵抗ω劣化の少ない誘電体磁器を得ることができる。
用いれば、還元性雰囲気中で坑底しても還元されず、絶
縁抵抗ω劣化の少ない誘電体磁器を得ることができる。
したがって、山部電極の科料としてニソb・ルなどの卑
金属を使用することができ、積層セラミツダニ1ンデン
サのニゴストダウンを図ることができる。
金属を使用することができ、積層セラミツダニ1ンデン
サのニゴストダウンを図ることができる。
さらに、結晶粒径が3μn1以1Jと小さく、胱電体順
を薄膜化しでも誘電体層間に結晶粒が多く春作するため
、信頼性の高い誘電体磁器を得るこ2゜ができる。また
、誘電体磁器を薄膜化することができるため、積層セラ
迅ツクコンデンサを小型化することができる。
を薄膜化しでも誘電体層間に結晶粒が多く春作するため
、信頼性の高い誘電体磁器を得るこ2゜ができる。また
、誘電体磁器を薄膜化することができるため、積層セラ
迅ツクコンデンサを小型化することができる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 その主成分がBa,Ca,Mg,Sr,Ce,Tiおよ
びZrの各酸化物からなり、次の一般式(Ba_1_−
_l_−_m_−_n_−_oSr_lCa_mMg_
nCe_o)_q(Ti_1_−_pZr_p)O_3 で表され、l,m,n,o,pおよびqが、0.05≦
l≦0.30 0.005≦m≦0.22 0.0005≦n≦0.05 0.0005≦o≦0.02 0<p≦0.20 1.002≦q≦1.03 の関係を満足し、前記主成分100モル%に対して、M
n,Fe,Cr,Coの各酸化物をMnO_2,Fe_
2O_3,Cr_2O_3,CoOと表したとき、各酸
化物の少なくとも一種類が0.02〜2.0モル%添加
された、非還元性誘電体磁器組成
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2063664A JPH0734326B2 (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 非還元性誘電体磁器組成物 |
DE1991613838 DE69113838T2 (de) | 1990-03-13 | 1991-03-08 | Nichtreduzierbare, dielektrische keramische Zusammensetzung. |
EP19910103610 EP0446814B1 (en) | 1990-03-13 | 1991-03-08 | Nonreducing dielectric ceramic composition |
US07/902,784 US5202814A (en) | 1990-03-13 | 1992-06-24 | Nonreducing dielectric ceramic composition |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2063664A JPH0734326B2 (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 非還元性誘電体磁器組成物 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03263708A true JPH03263708A (ja) | 1991-11-25 |
JPH0734326B2 JPH0734326B2 (ja) | 1995-04-12 |
Family
ID=13235839
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2063664A Expired - Lifetime JPH0734326B2 (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 非還元性誘電体磁器組成物 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0446814B1 (ja) |
JP (1) | JPH0734326B2 (ja) |
DE (1) | DE69113838T2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5510305A (en) * | 1993-06-15 | 1996-04-23 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Non-reducible dielectric ceramic composition |
JP3698952B2 (ja) * | 2000-03-31 | 2005-09-21 | 三星電機株式会社 | 誘電体磁器組成物とそれを用いた磁器コンデンサ及びその製造方法 |
JP4506084B2 (ja) * | 2002-04-16 | 2010-07-21 | 株式会社村田製作所 | 非還元性誘電体セラミックおよびその製造方法ならびに積層セラミックコンデンサ |
CN107056290B (zh) * | 2016-11-04 | 2021-01-19 | 西安交通大学 | 一种调控铁电陶瓷居里温度的方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60131707A (ja) * | 1983-12-19 | 1985-07-13 | 株式会社村田製作所 | 非還元性温度補償用誘電体磁器組成物 |
JPS6119005A (ja) * | 1984-07-05 | 1986-01-27 | 株式会社村田製作所 | 非還元性誘電体磁器組成物 |
JPH0821266B2 (ja) * | 1987-03-11 | 1996-03-04 | 株式会社村田製作所 | 誘電体ペ−スト |
-
1990
- 1990-03-13 JP JP2063664A patent/JPH0734326B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-03-08 EP EP19910103610 patent/EP0446814B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-03-08 DE DE1991613838 patent/DE69113838T2/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0734326B2 (ja) | 1995-04-12 |
EP0446814A2 (en) | 1991-09-18 |
DE69113838T2 (de) | 1996-06-20 |
DE69113838D1 (de) | 1995-11-23 |
EP0446814B1 (en) | 1995-10-18 |
EP0446814A3 (en) | 1993-03-10 |
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