JPH08183659A - 非還元性誘電体磁器組成物 - Google Patents
非還元性誘電体磁器組成物Info
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- JPH08183659A JPH08183659A JP6327305A JP32730594A JPH08183659A JP H08183659 A JPH08183659 A JP H08183659A JP 6327305 A JP6327305 A JP 6327305A JP 32730594 A JP32730594 A JP 32730594A JP H08183659 A JPH08183659 A JP H08183659A
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Abstract
気焼成でも還元せず、内部電極の卑金属粉末粒子も酸化
せず、高い比誘電率と優れた絶縁性を有し、かつ誘電率
の温度変化率が広い温度範囲で小さく、静電容量のエー
ジングレート及び誘電正接も小さい極めて経済性の高い
非還元性誘電体磁器組成物を得る。 【構成】金属元素のモル比による組成式が100BaT
iO3 +xMgO+yMnO(0.50≦x≦8.0
0、0.05≦y≦0.50)で示される主成分に、Y
2 O3 、SiO2 と、Li2 O又はB2 O3 のモル比に
よる組成式がaY2O3 +bLi2 O+cSiO2 、又
はaY2 O3 +bB2 O3 +cSiO2 (10≦a≦6
0、10≦b≦60、30≦c≦80、a+b+c=1
00)で示される添加物を含有する。
Description
ッケル(Ni)を主成分とする内部電極を有する積層型
磁器コンデンサの非還元性誘電体磁器組成物に関するも
のである。
その表面に内部電極が印刷形成されたシート状のBaT
iO3 を主成分とする誘電体を、複数枚積層するととも
に各シートの内部電極を交互に並列に一対の外部接続用
電極に接続し、これを焼結一体化することにより形成さ
れており、このような積層型磁器コンデンサは、近年の
エレクトロニクスの発展に伴い、小型化が急速に進行す
る電子部品の各種電子回路に多用されるようになってき
ている。
電体材料は、1250℃〜1350℃の高温で焼結する
必要があり、この材料を積層型磁器コンデンサの誘電体
として使用した場合、内部電極は前記誘電体の焼結温度
にて溶融することなく、かつ酸化することがない高価な
貴金属であるパラジウム(融点1555℃)またはその
合金を使用する必要があり、特に静電容量が大きいもの
では内部電極の構成枚数が大となり、コスト高になると
いう問題があった。
容積効率が高く、誘電的特性に優れ、かつ高信頼性にあ
るにもかかわらず、価格面がその発展に大きな障害とな
っていた。
えばニッケル(Ni)等を使用することが試みられてい
るが、前記卑金属を内部電極として使用すると、チタン
酸バリウム(BaTiO3 )等からなる誘電体と卑金属
内部電極とを同時焼結する際、前記卑金属が酸化するこ
となく金属膜として焼結できる条件は、Ni/NiOの
平行酸素分圧が1300℃において約0.03Paであ
ることから、それ以下の酸素分圧でなければならず、こ
の場合、BaTiO3 またはその固溶体からなる誘電体
は、一般に前記酸素分圧下では還元されて絶縁性を失
い、その結果、積層型磁器コンデンサとしての実用的な
誘電特性が得られなくなるという欠点を有していた。
有する積層型磁器コンデンサ用の非還元性誘電体磁器組
成物として、塩基性酸化物である(Ba、Ca、Sr)
Oを酸性酸化物であるTiO2 に対して化学量論比より
過剰にしたチタン酸バリウム固溶体(Ba、Ca、S
r)TiO3 から成る非還元性誘電体磁器組成物が、特
公昭57−42588号公報等に提案されている。
晶は、酸素八面体(ペロブスカイト)構造の中心に位置
するBイオンに対して、Bイオンより大きい酸素に対し
て12配位をとるAイオンが化学量論比より過剰である
場合、結晶格子が酸素原子を強く引きつけ、還元され難
いことが知られており、前記非還元性誘電体磁器組成物
は、この化学量論比のずれに立脚し、誘電体の非還元性
を向上させたものであるが、誘電率の温度変化率が大き
く、誘電特性が低下するという課題を有していた。
で、その目的は、1150℃〜1250℃における酸素
分圧が3×10-8〜3×10-3Paの雰囲気で焼成して
も還元されず、また内部電極として使用するニッケル
(Ni)等の卑金属粉末粒子も酸化せずに金属膜として
焼結し、高い比誘電率と優れた絶縁性を有し、かつ誘電
率の温度変化率が広い温度範囲にわたって小さく、誘電
正接も小さい極めて経済性の高い非還元性誘電体磁器組
成物を提供することにある。
磁器組成物は、金属元素として、Ba、Ti、Mg、M
n、Y、Siと、LiあるいはBを含有する複合酸化物
であって、これらの金属元素の内、Ba、Ti、Mg、
Mnのモル比による組成式を、100BaTiO3 +x
MgO+yMnOと表したとき、BaTiO3 100モ
ルに対するモル比を表すx、yが、0.50≦x≦8.
00、0.05≦y≦0.50で示される主成分に対し
て、前記金属元素の内、Y、Siと、LiあるいはBの
モル比による組成式を、aY2 O3 +bLi2 O+cS
iO2 あるいはaY2 O3 +bB2 O3 +cSiO2 と
表したとき、モル比を表すa、b及びcが、10≦a≦
60、10≦b≦60、30≦c≦80、a+b+c=
100で示される添加物を仮焼後、前記主成分に対して
1〜4wt%含有させるものである。
0BaTiO3 +xMgO+yMnOと表わしたとき、
BaTiO3 100モルに対するMgOのモル比xを、
0.50≦x≦8.00としたのは、xが0.50より
小さい場合には絶縁抵抗が低く、xが8.0より大きい
場合には、比誘電率が小さい上に、絶縁抵抗も低くなる
からであり、xは1.0〜2.0がより望ましい。
nOのモル比yを、0.05≦y≦0.50としたの
は、yが0.05より小さい場合には絶縁抵抗が低く、
yが0.50より大きい場合には、エージングレートが
大きくなるからであり、yは0.1〜0.2がより望ま
しい。
を、aY2 O3 +bLi2 O+cSiO2 (a+b+c
=100)と表したとき、Y2 O3 のモル比aを、10
≦a≦60としたのは、aが10より小さい場合には絶
縁抵抗が低く、aが60より大きい場合には、比誘電率
が小さくなり、焼結性が低下し、絶縁抵抗も低いからで
あり、aは20〜40がより望ましい。
bを、10≦a≦60としたのは、bが10より小さい
場合には容量の温度特性が悪くなり、bが60より大き
い場合には、比誘電率が小さくなるからであり、bは2
0〜40がより望ましい。
80としたのは、cが30より小さい場合には焼結性が
低下し、cが80より大きい場合には、比誘電率が小さ
くなるからであり、cは30〜50が望ましい。
としたのは、含有量が1重量%より小さい場合には焼結
性が低下し、含有量が4重量%より大きい場合には、比
誘電率が小さくなるからであり、とりわけ前記含有量は
1.5〜2.5重量%がより望ましい。
粒径は1.5μm以下であることが望ましい。これは、
BaTiO3 の平均結晶粒径が1.5μmよりも大きく
なると絶縁抵抗が低くなり、容量の温度変化率の絶対値
が大きくなる傾向にあるからである。
が1.2以下であることが望ましく、1.2を越えると
絶縁抵抗が低くなる傾向にある。
下の手順により得られる。先ず、BaCO3 粉末、Ti
O2 粉末を混合後、所定温度にて固相反応させてBaT
iO3 粉末を合成し、粒径1.5μm以下に微粉砕す
る。
i2 CO3 粉末あるいはB2 O3 粉末を所定の割合にな
るように秤量して混合後、所定温度にて仮焼して添加物
を得る。
MnCO3 粉末、MgO粉末に、前記添加物をそれぞれ
所定の割合になるように秤量し、分散剤、分散媒ととも
にボールミルにて混合し、原料スラリーを調整する。そ
して、このスラリーに有機バインダー、可塑剤を加え、
十分に撹拌した後、ドクターブレード法によりフィルム
状に成形する。得られたフィルムを積み重ねて熱圧着し
た後、所定形状に切断する。最後にこの成型体を、酸素
分圧を3×10-8〜3×10-3Paに制御し、キャリア
ガスを窒素ガスとした雰囲気中、1150〜1250℃
の温度にて焼成する。
MnO及びMgOはアクセプタ準位を形成するものであ
り、これらを添加することにより3×10-8〜3×10
-3Paの低い酸素分圧下で焼成する際に生ずる酸素欠陥
により形成されるドナー準位電子を、MnOおよびMg
O添加により形成されるアクセプタ準位で再結合せし
め、誘電体磁器の半導体化を抑制し、高い絶縁性を保持
するものである。
るいはB2 O3 は焼結助剤として働くとともに、粒界成
分として存在し、磁器の耐還元性、信頼性を向上させ
る。
することから、MnO量を限定することによりエージン
グレートの小さい誘電体磁器組成物が得られる。
を、実施例に基づき詳細に説明する。先ず、出発原料と
して純度99%以上のBaCO3 粉末とTiO2 粉末を
混合した後、1150℃の温度で固相反応させてBaT
iO3 粉末を合成し、粒径1.5μm以下に微粉砕し
た。
Li2 CO3 粉末あるいはB2 O3粉末を表1及び表2
の割合になるように秤量して混合した後、1000℃の
温度にて仮焼し、添加物を作製した。
TiO3 とMnCO3 粉末、MgCO3 粉末に、前記添
加物をそれぞれ表1及び表2の割合になるように秤量
し、公知の分散剤、分散媒とともにボールミルにて混合
し、原料スラリーを調製した。
ー、可塑剤を加え、十分に撹拌した後、ドクターブレー
ド法によりフィルム状に成形し、このフィルムを積み重
ねて熱圧着した後、切断して縦10mm、横10mm、
厚さ0.5mmの積層体を作製した。
-8〜3×10-3Paとなるように制御し、キャリアガス
を窒素ガスとして1150〜1250℃の温度で2時間
焼成した。かくして得られた焼結体の上下両面に、In
−Ga合金を塗布して電気特性測定用電極を形成し、評
価試料を作製した。
置した後、周波数1.0kHz、入力信号レベル1.0
Vrmsにて静電容量および誘電正接を測定し、静電容
量から比誘電率を算出した。その後、50Vの直流を1
分間印加し、そのときの絶縁抵抗を測定した。
ても前記同様の条件にて静電容量および誘電正接を測定
し、+25℃での静電容量に対する各温度での静電容量
の変化率を算出した。
処理した後、25℃で放置し、1時間後の静電容量に対
する10時間後の静電容量の変化率(エージングレー
ト)を算出した。但し、絶縁抵抗は静電容量C(μF)
と絶縁抵抗R(MΩ)との積CR(MΩ・μF)で表わ
した。
物の含有量が1重量%未満の試料番号14、15、4
6、47では、焼結性が低下し、絶縁抵抗が低く、逆に
4重量%を越える試料番号20、52では、比誘電率が
低い傾向にあると共に、絶縁抵抗が低くなる。
い試料番号21、26、53、58は、絶縁抵抗が低く
なり、aが60より大きい試料番号24、56では、比
誘電率が小さくなり、絶縁抵抗が低くなる。
bが10より小さい試料番号22、54では、比誘電率
の温度特性が悪く、bが60より大きい試料番号25、
57では、絶縁抵抗が低く、温度特性が悪い。
い試料番号23、24、25、55、56、57は、焼
結性が低下し、絶縁抵抗が低く、cが80より大きい試
料番号26、58は比誘電率が小さい。
料番号1、33では、絶縁抵抗が低く、逆に8モル%を
超える試料番号6、38では比誘電率が低い。また、M
nO量が0.05モル%を下回る試料番号8、40では
絶縁抵抗が低く、0.5モル%を超える試料番号13、
45ではエージングレートが大きい。
れも比誘電率が2500以上で、誘電正接(tanδ)
も2.5%以下、絶縁抵抗が1000MΩ・μF、比誘
電率の温度変化率が±15%以下、エージングレートが
1.5%以下と優れた特性を示している。
は、前記詳述した実施例に限定されるものではない。
器組成物は、焼成温度が1150〜1250℃の範囲
で、酸素分圧がNi/NiOの平行酸素分圧以下の焼成
条件で焼成しても、比誘電率、誘電正接、絶縁抵抗、比
誘電率、静電容量のエージングレート等の温度特性にお
いて優れた特性を示すものであることから、ニッケル
(Ni)等の卑金属を主成分とする内部電極を用いた積
層型磁器コンデンサ用として好適な実用性に優れた非還
元性誘電体磁器組成物である。
Claims (2)
- 【請求項1】金属元素として少なくともBa、Ti、M
g、Mn、Y、Li及びSiを含有する複合酸化物であ
って、前記金属元素の内、Ba、Mg、Mnのモル比に
よる組成式を 100BaTiO3 +xMgO+yMnO と表したとき、BaTiO3 100モルに対するモル比
を表すx、yが 0.50≦x≦8.00 0.05≦y≦0.50 で示される主成分に対して、前記金属元素の内、Y、L
i、Siのモル比による組成式を aY2 O3 +bLi2 O+cSiO2 と表したとき、モル比を表すa、b及びcが 10≦a≦60 10≦b≦60 30≦c≦80 a+b+c=100 で示される添加物を仮焼後、前記主成分に対して1〜4
重量%含有させたことを特徴とする非還元性誘電体磁器
組成物。 - 【請求項2】金属元素として少なくともBa、Ti、M
g、Mn、Y、B及びSiを含有する複合酸化物であっ
て、前記金属元素の内、Ba、Mg、Mnのモル比によ
る組成式を 100BaTiO3 +xMgO+yMnO と表したとき、BaTiO3 100モルに対するモル比
を表すx、yが 0.50≦x≦8.00 0.05≦y≦0.50 で示される主成分に対して、前記金属元素の内、Y、
B、Siのモル比による組成式を aY2 O3 +bB2 O3 +cSiO2 と表したとき、モル比を表すa、b及びcが 10≦a≦60 10≦b≦60 30≦c≦80 a+b+c=100 で示される添加物を仮焼後、前記主成分に対して1〜4
重量%含有させたことを特徴とする非還元性誘電体磁器
組成物。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP32730594A JP3250932B2 (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | 非還元性誘電体磁器組成物 |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH08183659A true JPH08183659A (ja) | 1996-07-16 |
JP3250932B2 JP3250932B2 (ja) | 2002-01-28 |
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JP32730594A Expired - Fee Related JP3250932B2 (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | 非還元性誘電体磁器組成物 |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3250932B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002075054A (ja) * | 2000-08-29 | 2002-03-15 | Kyocera Corp | 誘電体磁器組成物 |
WO2004038743A1 (ja) * | 2002-10-28 | 2004-05-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 積層セラミックコンデンサの製造方法 |
-
1994
- 1994-12-28 JP JP32730594A patent/JP3250932B2/ja not_active Expired - Fee Related
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US6947276B2 (en) | 2002-10-28 | 2005-09-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Process for producing laminated ceramic capacitor |
JPWO2004038743A1 (ja) * | 2002-10-28 | 2006-02-23 | 松下電器産業株式会社 | 積層セラミックコンデンサの製造方法 |
JP4622518B2 (ja) * | 2002-10-28 | 2011-02-02 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサの製造方法 |
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