JPH03140494A - 片面メッキ装置 - Google Patents

片面メッキ装置

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JPH03140494A
JPH03140494A JP27612589A JP27612589A JPH03140494A JP H03140494 A JPH03140494 A JP H03140494A JP 27612589 A JP27612589 A JP 27612589A JP 27612589 A JP27612589 A JP 27612589A JP H03140494 A JPH03140494 A JP H03140494A
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JP
Japan
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plating
plated
liquid
peripheral wall
valve body
Prior art date
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Pending
Application number
JP27612589A
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English (en)
Inventor
Yasuhiko Sakaki
榊 泰彦
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EEJA Ltd
Original Assignee
Electroplating Engineers of Japan Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は片面メッキ装置、つまり例えば半導体用のウ
ェハのような板状のメッキ対象物の片面だけにメッキを
施すのに好適なメッキ装置に関する。
〔従来の技術〕
従来のウェハ用メッキ装置としては、例えば、特公昭6
0−58799号公報、特開昭62−297413号公
報あるいは特開昭64−49244号公報等に示される
ようなものが知られている。
〔発明が解決しようとする課題〕
これらの公報から理解できるように、ウェハのメッキに
おいては、如何にして均一なメッキを得るか、特にメッ
キ液中の気泡のメッキ対象物への付着を如何に解消する
かという点が大きな問題の一つとなっている。
この点について特開昭62−297413号公報のもの
はそれなりに工夫を施しているが、メッキ液上向噴射方
式、つまりメッキ液を上方へ向けて噴射・流動させる方
式であるため、装置全体が可なり複雑になるなどの点で
必ずしも十分とは言えない。結局、気泡の問題について
は、特開昭64−49244号公報に示されるようなメ
ッキ液下向噴射方式、つまりメッキ液を下方へ向けて噴
射・流動させる方式がより優ることになる。
しかし、メッキ液下向噴射方式の場合にはメッキ対象物
がメッキ槽の「底」を形成することになるので、この「
底」となるメッキ対象物に対する液密性の付与をどのよ
うに解決するかということが、装置全体が複雑になるか
簡単になるかという点、あるいはメッキ処理時の操作性
という点等で、その実用性の良否を大きく左右すること
になる。
したがって、この発明は、ウェハのような板状のメッキ
対象物の片面にメッキ液下向噴射方式でメッキ処理を施
すについてメッキ対象物への液密性の付与を簡単に行え
るようにすることを目的とし、またメッキ液下向噴射方
式の気泡問題についての優位性及び噴射方式のメッキ処
理時間についての優位性をより秀れたものにすることを
目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
このような目的は、板状のメッキ対象物を載置するため
の載置手段及び載置手段上のメッキ対象物の周囲を一定
の隙間をおいて囲繞する周壁を備えてなり、且つ周壁に
は、気体の圧入・排出により膨張・収縮することにより
メッキ対象物の周縁全体に密着・分離自在となる弁体が
設けられてなる片面メッキ装置(第1発明)により達成
され、また第1発明の片面メッキ装置に関し、周壁に下
方傾斜の噴射ノズルが形成されており、周壁とメッキ対
象物とで形成するメッキ槽に対しメッキ液が斜め下方に
向けて噴射されてなる片面メッキ装置(第2発明)によ
り達成され、さらに第1発明乃至第2発明の片面メッキ
装置に関し、電極棒を絶縁体で被覆してなり、絶縁体の
先端部分に上下方向に摺動自在であり且つ常時下方に付
勢された防液カバーが取り付けられてなるカソード電極
を複数有し且つ、これらのカソード電極が上下動するよ
うにされてなる片面メッキ装置(第3発明)により達成
される。
〔作  用〕
第1発明の片面メッキ装置によれば、メッキ対象物を載
置手段上に載せて弁体を気体の圧入により膨張させるだ
けという構造的にも操作的にも非常に簡単なもので確実
な液密性をメッキ対象物に付与することができる。
また、第2発明の片面メッキ装置によれば、メッキ液が
下方傾斜の噴射ノズルから斜め下方に向けて噴射される
ので、メッキ液のメッキ対象物に対する流動接触がより
広く且つ滑らかになり、それだけ気泡の付着が少なくな
ると共にメッキ処理時間の短縮化も図られることになる
また、第3発明の片面メッキ装置によれば、第1発明乃
至第2発明の片面メッキ装置の構成における前記作用を
より有効に達成せしめることができる。つまり、カソー
ド電極の電極棒が絶縁体及び防液カバーにより確実にメ
ッキ液より遮断されるようになるので、電極棒へのメッ
キ金属の付着・蓄積がなく、メッキの不均一化の原因と
なる電界集中やメッキ金属の無駄な消費を有効に防止で
きるものである。
〔実 施 例〕
以下、この発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
この実施例による片面メッキ装置1は、第2図に示され
るような円形の半導体用のウェハをメッキ対象物Mとし
その片面にメッキ処理を施すためのもので、第1図及び
第2図に示すように、周壁2及び底壁3を有する槽本体
4に載置手段5及びカソード、アノードの画電極6.7
を設けてなる。
載置手段5は、槽本体4内においてメッキ対象物Mを載
置するためのもので、メッキ対象物Mの周縁近辺を点接
触で3点支持するように3個が対称に槽本体4内におい
て設けられている。この載置手段5は、メッキ対象物M
の裏面が電気的な導通性を持つ場合には、後述のカソー
ド電極6を省略してカソード電極とすることも可能であ
る。
周壁2は、載置手段5上のメッキ対象物Mの周囲を一定
の隙間Sを置いて完全に囲繞するべく筒状にして形成さ
れており、メッキ対象物Mと共に実質上のメッキ槽8を
形成するものである。つまり、メッキ対象物Mを底とし
周壁2を側壁として実質上のメッキ槽8が形成されるも
のである。
具体的には、周壁2に気体Eの圧入・排出により膨張・
収縮することでメッキ対象物Mの周縁全体に密着・分離
自在となる弁体10が固設されており、この弁体10が
メッキ対象物Mの周縁全体に密着することにより液密な
メッキ槽8が形成されるようになっている。このような
弁体10は柔軟性を持つ素材、例えば耐薬品性のゴムの
ようなもので作るのが好ましい。
そして、周壁2中にはメッキ液通路11が形成されると
共に、このメッキ液通路11に連通させて下方傾斜の噴
射ノズル12が複数形成されており、この噴射ノズル1
2を介してメッキ槽8にメッキ液りが矢示Aのような噴
射流を形成するようにして噴射供給されるようになって
いる。
さらに、メッキ槽8中のメッキ液りを各メッキ対象物M
ごとのメッキ処理終了後に図示せぬメッキ液管理槽へ回
収するために、回収通路13が底壁3に形成されている
。そして、この回収通路13には、前述の弁体lOと同
様に気体Eの圧入・排出により膨張・収縮する補助弁体
14が設けられている。つまり、この回収通路13は、
メッキ対象物Mへのメッキ処理中は膨張した補助弁体1
4が回収通路13の内壁15に密着することにより塞さ
がっているが、メッキ処理終了後には弁体10が気体E
の排出により収縮するのに伴っての補助弁体14の収縮
によりメッキ液管理槽に連通ずるようになっている。こ
のような回収通路13を設けたのは、メッキ対象物Mの
裏面をメッキ液管理槽からのメッキ液蒸気などに対し遮
断するためである。尚、図中の13sは回収通路13に
連通ずるメッキ液排出路で、メッキ処理の終了後に残液
を管理槽に回収するためのものである。
カソード電極6は、電極棒17を絶縁体18で被覆して
なるもので、絶縁体18の先端部分に上下方向に摺動自
在であり且つ常時下方に付勢された防液カバー19が取
り付けられている。そして、防液カバー19は、常時下
方に付勢されていることにより、電極棒17がメッキ対
象物Mに当接する状態になった際に、メッキ対象物Mに
押接する状態になり、電極棒17をメッキ液りから確実
に遮断するように働く。したがって、メッキの不均一化
の原因となる電界集中やメッキ金属の無駄な消費に結び
つく電極棒17へのメッキ金属の付着・蓄積が確実に防
止されることになる。このカソード電極6は、載置手段
5に対応させて、つまり載置手段5と電極棒17とによ
りメッキ対象物Mを挟持する状態となるようにして対称
に3個設けられるもので、3個のカソード電極6.6.
6は、支持フレーム20により全体が同時に上下動する
ようになっている。そして、下降したカソード電極6の
電極棒17の先端は、位置決めピン21により載置手段
5に対し位置決めされるようになっている。
アノード電極7は、メッキ対象物Mに相似する形状とさ
れた網状のもので、メッキ対象物Mの上方に所定距離離
して配置されている。
この片面メッキ装置1によるメッキ処理は以下の通りで
ある。
先ず、メッキ対象物Mを載置手段5上に載せ、次いで、
弁体10に気体Eを圧入して弁体10をメッキ対象物M
の周縁全体に加圧状態で密着させ液密なメッキ槽8を形
成する。この際、補助弁体14にも気体Eが圧太し回収
通路13が閉じることにより、メッキ液管理槽からのメ
ッキ液蒸気などに対しメッキ対象物Mの裏面が遮断され
る状態になる。
次いで、カソード電極6を下降させて電極棒17の先端
をメッキ対象物Mに押接させる。この際、防液カバー1
9は、その下方への付勢力によりメッキ対象物Mに押接
し、電極棒17の先端をメッキ液りに対し遮断するよう
になる。
それから、噴射ノズル12より一定の噴射圧を以てメッ
キ液りを矢示Aの如き噴射流を以てメッキ槽8に噴射さ
せ、メッキ処理を行う。噴射ノズル12より噴射される
メッキ液りは、このメッキ処理中を通じ、矢示Aの如き
噴射流を形成して常に一定の流速を以てメッキ対象物M
のメッキ面に流動接触しつつ上昇し、アノード電極7よ
りやや上の位置を液面として周壁2を越えてメッキ槽8
の外へ流れ出し図示せぬ回収手段によりメッキ液管理槽
へ回収されることになる。
このような片面メッキ装置1の長所は、メッキ対象物M
を載置手段5上に載せて弁体10を気体Eの圧入により
膨張させるだけという構造的にも操作的にも非常に簡単
なもので確実な液密性をメッキ対象物Mに付与すること
ができるという点である。そして、このような長所は、
装置全体の簡略化という長所に結び付くものであり、ま
たメッキ処理操作における操作性の向上、例えばメッキ
対象物Mのセットが非常に簡単であるというような操作
性の向上にも結び付くものである。
また、このような片面メッキ装置1には、メッキ液りが
下方傾斜の噴射ノズル12から斜め下方に向けて噴射さ
れるので、メッキ液りのメッキ対象物Mに対する流動接
触がより広(且つ滑らかになり、それだけ気泡の付着を
少なくでき、より均一なメッキ処理が行えると共に、メ
ッキ処理時間の短縮化も図れるという長所がある。
〔発明の効果〕
この発明に係る片面メッキ装置は、以上説明してきた如
く、気体の圧入・排出により膨張・収縮する弁体により
メッキ対象物に液密性を付与するようにしてなるものな
ので、構造的にも操作的にも非常に簡単なもので確実な
液密性をメッキ対象物に付与することができ、装置全体
の簡略化及びメッキ処理操作性の向上を図れるという効
果があり、またメッキ液が下方傾斜の噴射ノズルから斜
め下方に向けて噴射されるので、メッキ液のメッキ対象
物に対する流動接触がより広く且つ滑らかになり、それ
だけ気泡の付着が少なくなってより均一なメッキ処理が
行えると共にメッキ処理時間の短縮化も図れるという効
果があり、さらにカソード電極の電極棒が絶縁体及び防
液カバーにより確実にメッキ液より遮断されるようにな
るので、電極棒へのメッキ金属の付着・蓄積がなく、メ
ッキの不均一化の原因となる電界集中やメッキ金属の無
駄な消費を有効に防止できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、片面メッキ装置の概略半断面図、そして 第2図は、片面メッキ装置の一部断面を含む概略平面図
である。 1−・−片面メッキ装置 2−・・−・−周壁 5°°゛載置手段 6・−・−力ソード電極 8、・−・・−メッキ槽 IO・−・−弁体 12−・−・噴射ノズル 17・−・−電極棒 18−・−−−−−一絶縁体 19−−−−一防液カバー M−−−−一メッキ対象物 S−・−隙間 L−・−・−・・メッキ液

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、板状のメッキ対象物を載置するための載置手段
    及び載置手段上のメッキ対象物の周囲を一定の隙間をお
    いて囲繞する周壁を備えてなる片面メッキ装置であつて
    、 周壁には、気体の圧入・排出により膨張・収縮すること
    によりメッキ対象物の周縁全体に密着・分離自在となる
    弁体が設けられていることを特徴とする片面メッキ装置
  2. (2)、周壁に下方傾斜の噴射ノズルが形成されており
    、周壁とメッキ対象物とで形成するメッキ槽に対しメッ
    キ液が斜め下方に向けて噴射されることを特徴とする請
    求項(1)記載の片面メッキ装置。
  3. (3)、電極棒を絶縁体で被覆してなり、絶縁体の先端
    部分に上下方向に摺動自在であり且つ常時下方に付勢さ
    れた防液カバーが取り付けられてなるカソード電極を複
    数有し且つ、これらのカソード電極が上下動するように
    なっていることを特徴とする請求項(1)乃至請求項(
    2)いずれか記載の片面メッキ装置。
JP27612589A 1989-10-25 1989-10-25 片面メッキ装置 Pending JPH03140494A (ja)

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JPH03140494A true JPH03140494A (ja) 1991-06-14

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ID=17565141

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20180087136A1 (en) * 2011-06-30 2018-03-29 Jx Nippon Mining & Metals Corporation Method of producing high-purity erbium

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