JPH022522A - Tftパネルの製造方法 - Google Patents

Tftパネルの製造方法

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JPH022522A
JPH022522A JP63146881A JP14688188A JPH022522A JP H022522 A JPH022522 A JP H022522A JP 63146881 A JP63146881 A JP 63146881A JP 14688188 A JP14688188 A JP 14688188A JP H022522 A JPH022522 A JP H022522A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、アクティブマトリックス型液晶表示素子に使
用されるTFTパネルの製造方法に関するものである。
〔従来の技術〕
アクティブマトリックス型液晶表示素子に使用されるT
FTパネルは、透明基板面に多数の透明画素電極を縦横
に配列形成するとともに、前記基板面に各画素電極とそ
れぞれ対応させて、各画素電極をそれぞれ駆動する多数
の薄膜トランジスタ(T P T)を配列形成したもの
で、各画素電極はそれぞれこの画素電極を駆動する薄膜
トランジスタのソース電極に接続されており、また各薄
膜トランジスタのドレイン電極およびゲート電極は、画
素電極の列間を通して基板面に形成されたデータライン
およびゲートラインにつながっている。
ところで、上記TFTパネルは、1つ1つの画素電極を
それぞれ薄膜トランジスタで駆動するものであるために
、その製造過程においていずれかの薄膜トランジスタに
断線が発生すると、このトランジスタに接続されている
画素電極が駆動できない不点灯の電極となってしまうと
いう問題をもっている。
このため、従来から、各画素電極ごとにそれぞれ2個以
上の薄膜トランジスタを配設して、1つの画素電極を複
数の薄膜トランジスタで駆動するようにしたTFTパネ
ルが考えられている。
第4図は、1つの画素電極を2個の薄膜トランジスタで
駆動するTFTパネルの回路を示したもので、図中aは
画素電極、Tは薄膜トランジ・スタであり、この薄膜ト
ランジスタTは各画素電極aごとに2個ずつ配設されて
おり、この2個ずつのトランジスタのソース電極Sはそ
れぞれ同じ画素電極aに接続されている。また、DLは
データライン、GLはゲートラインであり、各トランジ
スタTのドレイン電極りはそれぞれデータラインDLに
つながり、各トランジスタTのゲート電極Gはそれぞれ
ゲートラインGLにつながっている。
そして、このTFTパネルにおいては、1つの画素電極
aに2個のトランジスタTを接続しているために、その
製造過程において1つの画素電極を駆動する2個のトラ
ンジスタTのうちの一方に断線が発生しても、他のトラ
ンジスタTによって画素7u極aを駆動することができ
るから、画素電極aが不点灯の電極となってしまうこと
はほとんどなく、したがってTFTパネルの歩留りを向
上させることができる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、1つの画素電極を複数の薄膜トランジス
タで駆動するようにしたTFTパネルは、薄膜トランジ
スタの断線に対しては有効であるが、1つの画素電極を
駆動する2個の薄膜トランジスタTのうちの一方のトラ
ンジスタのドレイン、ソース電極間またはゲート、ソー
ス電極間に短絡が発生すると、画素電極がソース電極を
介してドレイン電極またはゲート電極と短絡されてしま
うために、この画素電極には、ドレイン電極に供給され
るデータ信号またはゲート電極に供給されるゲート信号
がそのまま印加されることになり、したがって他方のト
ランジスタが正常であっても、画素電極が常に駆動状態
となってしまうという欠点をもっていた。この薄膜トラ
ンジスタの短絡による障害は、1つの画素電極を1つの
薄膜トランジスタで駆動するTFTパネルにおいてもい
えることであるが、特に、1つの画素電極を複数の薄膜
トランジスタで駆動するTFTパネルの場合は、トラン
ジスタ数が2倍以上と多いために薄膜トランジスタに短
絡が発生する確率も高く、したがって常に駆動状態とな
ってしまう画素電極数も多くなる。
そして、この場合、1つの画素電極に接続されている複
数の薄膜トランジスタのうち、短絡を発生したトランジ
スタを画素電極から切離して、この画素電極を他のトラ
ンジスタだけで駆動するようにしてやれば、常に駆動状
態となる画素電極をなくすことができるが、従来は、液
晶表示素子を製造した後に実際に液晶表示素子を表示駆
動させてみなければ、薄膜トランジスタの短絡により常
に駆動状態となっている画素電極(点灯しっばなしの画
素)を見つけ出すことができなかったために、トランジ
スタの切離しは液晶表示素子の外側から行なうしかなく
、このように液晶表示素子の外側からトランジスタの切
離しを行なうことは技術的に困難であるから、短絡を発
生したトランジスタを画素電極から切離すことは事実上
不可能であった。また、仮に液晶表示素子の外側からト
ランジスタの切離しを行なう方法を開発したとしても、
液晶表示素子の表示駆動による点灯画素のチエツクでは
、常に駆動状態となっている画素電極が分るだけで、こ
の画素電極に接続されている複数の薄膜トランジスタの
うちのどのトランジスタが短絡しているかは分らないた
めに、短絡を発生したトランジスタだけを選んでこれを
画素電極から切離すことは不可能であり、したがって従
来は、点灯しっばなしの画素がある液晶表示素子はその
まま不良品として廃棄処分しなければならないから、液
晶表示素子の製造歩留りがかなり低いという問題をもっ
ていた。
本発明は上記のような実情にかんがみてなされたもので
あって、その目的とするところは、各画素電極ごとに複
数個ずつ配設される薄膜トランジスタのうち、ドレイン
、ソース電極間またはゲート、ソース電極間に短絡が発
生している薄膜トランジスタには画素電極を接続せず、
短絡のない薄膜トランジスタだけに画素電極を接続する
ことができるようにした、常に駆動状態となってしまう
画素電極のないTFTパネルを得ることができるTFT
パネルの製造方法を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のTFTパネルの製造方法は、基板面に各画素電
極の形成位置にそれぞれ対応させて複数個ずつの薄膜ト
ランジスタを形成した後、前記基板面に、各薄膜トラン
ジスタとそのドレイン電極およびゲート電極につながる
データラインおよびゲートラインを覆いかつ各薄膜トラ
ンジスタのソース電極の少なくとも画素電極接続部を露
出させる絶縁膜を形成し、この後、前記基板のトランジ
スタ形成領域を電解液中に浸漬して各薄膜トランジスタ
のドレイン電極またはゲート電極に前記データラインま
たはゲートラインを介して通電する電解エツチング処理
を行なって、ソース電極がドレイン電極またはゲートラ
インと短絡している薄膜トランジスタの前記画素電極接
続部を除去し、この後画素電極を、その端部を各薄膜ト
ランジスタの画素電極接続部に重ねて形成することを特
徴とするものである。
〔作用〕
このTFTパネルの製造方法によれば、基板面に形成し
た各薄膜トランジスタのうち、ソース電極がドレイン電
極またはゲート電極と短絡している薄膜トランジスタの
画素電極接続部が電解エツチングによって除去されるた
めに、この後に基板面に形成される画素電極は、電解エ
ツチングにより画素電極接続部を除去されたトランジス
タすなわち短絡を生じているトランジスタには接続され
ずに、短絡を発生していないトランジスタ(画素電極接
続部が電解エツチングされずに残っているl・ランジス
タ)だけに接続されることになる。したがってこの製造
方法によれば、各画素電極ごとに複数個ずつ配設される
薄膜トランジスタのうち、ドレイン、ソース電極間また
はゲート、ソース電極間に短絡が発生している薄膜トラ
ンジスタには画素電極を接続せずに、短絡のない薄膜ト
ランジスタだけに画素電極を接続することができるから
、常に駆動状態となってしまう画素電極のないTFTパ
ネルを得ることができる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を、1つの画素電極を2個の薄
膜トランジスタで駆動するTFTパネルの製造について
図面を参照して説明する。
第1図はTFTパネルの製造方法を工程順に示したもの
で、薄膜トランジスタは次のようにして形成される。
まず、第1図(a)に示すように、基板(ガラス基板)
1面に、薄膜トランジスタのゲート電極Gと、これにつ
ながるゲートラインGL(第2図参照)を形成する。な
お、ゲート電極Gは、後工程で基板1面に形成される各
画素電極の形成位置に対応させて、1つの画素電極の形
成位置に対しそれぞれ2個ずつ形成する。このゲート電
極GとゲートラインGLは、基板1面にCr、AI!等
の金属膜を肢管させ、この金属膜をパターニングして形
成する。次に、第1図(b)に示すように、基板1面金
体にSIN等を波性させて透明なゲート絶縁膜2を形成
4し、このゲート絶縁膜2の上に、各ゲート電極Gとそ
れぞれ対応させて、1−a−81半導体層3を形成する
とともに、その上にn”−a−3lからなるコンタクト
層4を形成する。この半導体層3とコンタクト層4は、
ゲート絶縁膜2の上に1−a−3l膜とn”−a−Si
膜を連続させて堆積させ、これを−括してバターニング
することにより形成する。次に、第1図(C)に示すよ
うに、コンタクト層4の上に、ソースm hj−Sと、
ドレイン電極りおよびデータラインDL(第2図参照)
とを形成するとともに、ソ−スミ極Sとドレイン電極り
との間のコンタクト層4を除去して薄膜トランジスタT
を完成する。
このソース電極Sとドレイン電極りおよびデータライン
DLは、基板1面金体にCr、Aノ等の金属膜を被着さ
せ、この金属膜をバターニングする(このとき、ソース
、ドレイン電極S、D間のコンタクト層4を同時にエツ
チング除去する)ことによって形成する。また、ソース
電極Sは、その外側部を画素電極形成位置側に延出させ
た形状にバターニングし、このソース電極Sの延出部を
画素電極接続部Saとする。
ところで、上記L(板1面に形成された薄膜トランジス
タTは、その全てが正常とは限らず、多数の薄膜トラン
ジスタのなかには、ドレイン電極りとソース電極Sとの
間、またはゲート電極Gとソース電極Sとの間に短絡が
発生しているものもある。この短絡の発生原因としては
、種々の原因が考えられるが、ドレイン、ソース電極り
、3間の短絡の主な原因としては、ソース、ドレイン電
極S、Dとなる金属膜をフォトエツチング法によりバタ
ーニングする際のフォトレジストの露光処理において、
その露光マスクに“ごみ“等の異物が付着していた場合
が考えられる。また、ゲート。
ソース電極G、S間の短絡の原因は、主に、ゲート絶縁
膜2にピンホールやクラック等が発生することによると
考えられる。そして、このような短絡が生じている薄膜
トランジスタでは、ドレイン電極りに供給されるデータ
信号またはゲート電極Gに供給されるゲート信号がその
ままソース電極Sに流れるために、上記短絡が生じてい
る薄膜トランジスタにも画素電極を接続したのでは、こ
の画素電極が常に駆動状態となってしまうことになる。
そこで、このTFTパネルの製造方法では、次のような
工程を経た後に画素電極を形成することにより、短絡が
発生している薄膜トランジスタには画素電極が接続され
ないようにしている。
すなわち、このTFTパネルの製造方法では、上記のよ
うにして基板1面に薄膜トランジスタTを形成した後、
第1図(d)に示すように、基板1面金体に5OG(ス
ピンオンガラス)等からなる透明なトランジスタ保護絶
縁膜5を形成し、この保護絶縁膜5に、各薄膜トランジ
スタTの画素電極接続部Saを露出させるコンタクト孔
6をエツチングにより穿設する。第2図はこの状態にお
ける平面図であり、上記コンタクト孔6は、各薄膜トラ
ンジスタTの画素電極接続部Saにそれぞれ対応させて
、この画素電極接続部Saのほぼ全域を露出させる面積
に形成されている。なお、図示しないが、データライン
DLおよびゲートラインGLの駆動回路接続端子部(基
板側縁導出端)は、その上を葭っている保護絶縁膜5を
上記コンタクト孔6の形成時に同時にエツチング除去す
ることによって露出されている。
この後は、まず、基板1面に形成した全てのデータライ
ンDLの駆動回路接続端子部に、電解エツチング用電源
10を接触式のコネクタを介して接続し、基板1のトラ
ンジスタ形成領域全体を電解液中に浸漬して、各薄膜ト
ランジスタTのドレイン電極りにデータラインDLを介
して通電する電解エツチング処理を行なう。なお、この
ときは、全てのゲートラインGLの駆動回路接続端子部
は開放させておく。この電解エツチング処理を行なうと
、ソース電極Sとドレイン電極りとが短絡していない薄
膜l・ランジスタでは、ドレイン電極りからソース電極
Sに電流が流れないために、上記コンタクト孔6内にお
いて電解液に接している画素電極接続部Saが電解エツ
チングされることはなく、シたがって、ドレイン、ソー
ス電極り、  3間が短絡していない薄膜トランジスタ
Tの画素電極接続部Saは第1図(e−1)に示すよう
にそのまま残るが、ドレイン、ソース電極り、3間に短
絡が発生している薄膜トランジスタTては、そのソース
電極Sにドレイン電極りから電流が流れるために、画素
電極接続部Saが電解エツチングされ、この画素電極接
続部Saが第1図(6−2)に示すように除去される。
次に、全てのゲートラインGLの駆動回路接続端子部に
fl’、解エツチング用電源10を接触式のコネクタを
介して接続しくデータラインDLの駆動回路接続端子部
は開放させる)、基板1のトランジスタ形成領域全体を
電解液中に浸漬して、各薄膜トランジスタTのゲーIf
極GにゲートラインGLを介して通電する電解エツチン
グ処理を行なう。この電解エツチング処理を行なうと、
上記と同様に、ソース電極Sとゲート電極Gとが短絡し
ていない薄膜トランジスタでは、画素電極接続部Saは
第1図(e−1)のようにそのまま残るが、ゲート、ソ
ース電極G、S間に短絡が発生している薄膜トランジス
タTでは、そのソース電極Sにゲート電極Gから電流が
流れるために、画素電極接続部Saが電解エツチングさ
れ、この画素電極接続部Saが第1図(e−2)のよう
に除去される。
なお、上記電解エツチング処理は、ゲート電極Gに通電
する処理を先に行ない、ドレイン電極りに通電する処理
を後に行なってもよい。
このようにして短絡を発生している薄膜トランジスタT
の画素電極接続部Saを除去した後は、保護絶縁膜5の
上にITO等の透明導電膜を付着させ、この透明導電膜
をバターニングして、第1図(f−1)および(f−2
)に示すように画素電極aを形成する。この画素電極a
は、第2図に鎖線で示すように、2個の薄膜トランジス
タTの画素7に極接続部Saを露出させている2つのコ
ンタクト孔6に画素1u極aの端部を重ねて形成され、
この画素71i極aは、上記コンタクト孔6内において
薄膜トランジスタTの画素1u極接続部Saに重なって
この画素電極接続部Saに接続される。そして、この場
合、薄膜トランジスタTが短絡を生じていないトランジ
スタであれば、そのソース電極Sの画素電極接続部は上
記電解エツチング処理によってエツチングされずに残っ
ているから、画素電極aは、短絡を生じていない薄膜ト
ランジスタTに対してはその画素電極接続部Saに第1
図(f−1)のように接続されるが、薄膜トランジスタ
Tが短絡を生じているトランジスタである場合は、その
ソース電極Sの画素電極接続部が上記電解エツチング処
理によって除去されているために、画素電極aのコンタ
クト孔6内に入った部分が薄膜トランジスタTのソース
電極Sに接続することはなく、したがって画素電極aは
、短絡を生じている薄膜トランジスタTに対しては接続
されずに、第1図(f−2)のように切離された状態と
なる。
第3図は、上記のようにして製造されたTFTパネルの
回+J?;を示したもので、図中Txは短絡を発生して
画素電極接続部Saを電解エツチングにより除去された
薄膜トランジスタであり、画素電極aは、短絡を生じた
薄膜トランジスタTxには接続さ、ltず、短絡のない
薄膜トランジスタTだけに接続されている。
このように、上記TFTパネルの製造方法によれば、基
板1面に形成した各薄膜トランジスタTのうち、ソース
電極Sがドレイン電極りまたはゲート電極Gと短絡して
いる薄膜トランジスタの画素電極接続部Saが電解エツ
チングによって除去されるために、この後に基板1面に
形成される画素電極aは、電解エツチングにより画素電
極接続部Saを除去されたトランジスタすなわち短絡を
生じているトランジスタには接続されずに、短絡を発生
していないトランジスタ(画素電極接続部Saが電解エ
ツチングされずに残っているトランジスタ)だけに接続
されることになり、したがって、この製造方法によれば
、各画素電極aごとに2個ずつ配設される薄膜トランジ
スタTのうち、ドレイン、ソース電極り、S間またはゲ
ート、ソース電極G、S間のいずれかに一方でも短絡が
発生している薄膜トランジスタには画素電極aを接続せ
ずに、短絡のない薄膜トランジスタだけに画素電極aを
接続することができるから、常に駆動状態となってしま
う画素電極のないTFTパネルを得ることができる。
なお、上記実施例では、保護絶縁膜5に穿設Aるコンタ
クト孔6を、ソース電極Sの画素電極接続部Saを露出
させる大きさとしているが、このコンタクト孔6は、ソ
ース電極全体を露出させる大きさに形成してもよく、そ
の場合は、短絡を生じたトランジスタのソース電極全体
が電解エツヅングによって除去される。また、上記実施
例では薄膜トランジスタTを形成した基板1面にその全
面を覆う保護絶縁膜5を形成して、この保護絶縁膜5に
各薄膜トランジスタTの画素電極接続部Saを露出させ
るコンタクト孔6を穿設しているが、この保護絶縁膜5
は、各薄膜トランジスタTとそのドレイン電極りおよび
ゲート電極GにつながるデータラインDLおよびゲート
ラインGLだけを葭うように形成してもよく、その場合
は、この保護絶縁膜5のトランジスタ部分の外形を、ソ
ース電極Sの画素電極接続部Saを露出させる形状とす
ればよい。さらに、上記実施例では、短絡を生じた薄膜
トランジスタの画素電極接続部Saを除去する電解エツ
チング処理として、ドレイン電極りに通電する処理と、
ゲート電極Gに通電する処理とを行なうことにより、薄
膜トランジスタの短絡がドレイン、ソース電極り、S間
に発生している場合も、ゲート、ソース電極G、S間に
発生している場合も、この薄膜トランジスタの画素電極
接続部Saを除去するようにしているが、ドレイン、ソ
ース電極り、S間に短絡が発生する確率が非常に低い場
合は、上記電解エツチング処理を、デート電極Gに通電
する処理だけとしてもよいし、また逆にゲート、ソース
電極G、S間に短絡が発生する確率が非常に低い場合は
、上記電解エツチング処理を、ドレイン電極りに通電す
る処理だけとしてもよい。また、上記実施例では、1つ
の画素電極を2個の薄膜トランジスタで駆動するTFT
パネルの製造について説明したが、本発明は、1つの画
素電極を3個以上の薄膜トランジスタで駆動するTFT
パネルの製造にも適用できることはもちろんである。
〔発明の効果〕
本発明のTFTパネルの製造方法によれば、各画素電極
ごとに慢数個ずつ配設される薄膜l・ランジスタのうち
、ドレイン、ソース電極間またはゲート、ソース電極間
に短絡が発生している薄膜トランジスタには画素電極を
接続せずに、短絡のない薄膜トランジスタだけに画素電
極を接続することができるから、常に駆動状態となって
しまう画素電極のないTFTパネルを得ることができる
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は本発明の一実施例を示したもので、第
1図はTFTパネルの製造工程図、第2図は第1図(d
)の平面図、第3図は製造されたTFTパネルの回路図
である。第4図は1つの画素電極を2個の薄膜トランジ
スタで駆動するTFTパネルの回路図である。 1・・・基板、T・・・薄膜トランジスタ、G・・・ゲ
ート71i極、GL・・・ゲートライン、2・・・ゲー
ト絶縁膜、3・・・半導体1?4.4・・・コンタクト
層、D・・・ドレイン電極、DL・・ドレインライン、
S・・・ソース電極、Sa・・・画素電極接続部、5・
・・保護絶縁膜、6・・・コンタクト孔、a・・・画素
電極。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板面に画素電極を駆動する薄膜トランジスタを各画素
    電極ごとに複数個ずつ配設し、この各薄膜トランジスタ
    のソース電極に画素電極を接続したTFTパネルを製造
    する方法において、基板面に各画素電極の形成位置にそ
    れぞれ対応させて複数個ずつの薄膜トランジスタを形成
    した後、前記基板面に、各薄膜トランジスタとそのドレ
    イン電極およびゲート電極につながるデータラインおよ
    びゲートラインを覆いかつ各薄膜トランジスタのソース
    電極の少なくとも画素電極接続部を露出させる絶縁膜を
    形成し、この後、前記基板のトランジスタ形成領域を電
    解液中に浸漬して各薄膜トランジスタのドレイン電極ま
    たはゲート電極に前記データラインまたはゲートライン
    を介して通電する電解エッチング処理を行なって、ソー
    ス電極がドレイン電極またはゲート電極と短絡している
    薄膜トランジスタの前記画素電極接続部を除去し、この
    後画素電極を、その端部を各薄膜トランジスタの画素電
    極接続部に重ねて形成することを特徴とするTFTパネ
    ルの製造方法。
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