JPH02232381A - 超電導薄膜テープ及びその製造法 - Google Patents
超電導薄膜テープ及びその製造法Info
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- JPH02232381A JPH02232381A JP1049983A JP4998389A JPH02232381A JP H02232381 A JPH02232381 A JP H02232381A JP 1049983 A JP1049983 A JP 1049983A JP 4998389 A JP4998389 A JP 4998389A JP H02232381 A JPH02232381 A JP H02232381A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
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- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
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- Other Surface Treatments For Metallic Materials (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
木発明は酸化物系高温超電導薄膜テープ、及び該超電導
薄膜テープを製造する方法に関する。本発明による薄膜
テープは、エレクトロニクス分野、電力分野、輸送分野
などその適用分野はきわめて広いものである。
薄膜テープを製造する方法に関する。本発明による薄膜
テープは、エレクトロニクス分野、電力分野、輸送分野
などその適用分野はきわめて広いものである。
[従来の技術]
現在、酸化物高温超電導’It膜は多くの手法で作製さ
ねているが、そこで用いられている基板は格子定数の整
合性などの理由によってMgO単結晶やSrTiO.単
結晶など限られた物質の単結晶がほとんどであった。単
結晶上の超電導薄膜については最近になって単結晶の酸
化物高温超電導体として得られるようになり、エレクト
ロニクス関係や各種のセンサーへの応用が有望視されて
きている。一力、超電導物質を電力関係や情報関係など
へ応用するためには大面積でかつ安価で成形性に優れた
ものでなくてはならないため、単結晶上以外にも超電導
薄膜を形成する方法が望まねてきている。
ねているが、そこで用いられている基板は格子定数の整
合性などの理由によってMgO単結晶やSrTiO.単
結晶など限られた物質の単結晶がほとんどであった。単
結晶上の超電導薄膜については最近になって単結晶の酸
化物高温超電導体として得られるようになり、エレクト
ロニクス関係や各種のセンサーへの応用が有望視されて
きている。一力、超電導物質を電力関係や情報関係など
へ応用するためには大面積でかつ安価で成形性に優れた
ものでなくてはならないため、単結晶上以外にも超電導
薄膜を形成する方法が望まねてきている。
その1方法として最近、シリコンウエーハや金属上に上
記MgOやSrTi03などの薄膜を中間層として設け
、その七に超電導薄膜を作製する試みが最近になって現
れてきた(例えばN. Yoshida. et al
、: MRS Int.閘eeting on Adv
. Mat. (1988))。
記MgOやSrTi03などの薄膜を中間層として設け
、その七に超電導薄膜を作製する試みが最近になって現
れてきた(例えばN. Yoshida. et al
、: MRS Int.閘eeting on Adv
. Mat. (1988))。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上述した方法にて得られたテープは超電
導層が最外層になっているために、空気中の水分などの
影響で超電導特性の劣化が起こり、実用化に向けて問題
となっていた。
導層が最外層になっているために、空気中の水分などの
影響で超電導特性の劣化が起こり、実用化に向けて問題
となっていた。
また、これまでの作製手法は中間層と超電導層を別工程
で作製していたため、中間層と超電導層の界面に二酸化
炭素や水分が存在し、安定した特性の膜を大量にかつ安
価に製造することができなかった。
で作製していたため、中間層と超電導層の界面に二酸化
炭素や水分が存在し、安定した特性の膜を大量にかつ安
価に製造することができなかった。
本発明は、複合連続ドライコーティングプロセスを用い
て中間層、超電導層、パッシベーション層を連続して積
層製造することにより、これまで工業上の大きな課題で
あった、超電導7iIIl5!テープの特性の劣化、お
よび超電導薄膜テープの安定、大量生産に関してこれを
解決するテープ及び製造方法を提供することを目的とす
る。
て中間層、超電導層、パッシベーション層を連続して積
層製造することにより、これまで工業上の大きな課題で
あった、超電導7iIIl5!テープの特性の劣化、お
よび超電導薄膜テープの安定、大量生産に関してこれを
解決するテープ及び製造方法を提供することを目的とす
る。
[課題を解決するための千段]
本発明の1つは、金属コイル基板と、0.1〜I um
の厚さのMg, Zr,Affi、Tiの酸化物あるい
はSrTi03、BaTf03、BaZr03から選ば
れる少なくとも1種からなる中間層と、 0.1〜5μ
mの厚さの酸化物高温超電導層と、 0.1〜1μmの
厚さのSin2、St3N4のいずれかあるいは両方か
らなるパッシベーション層とからなる超電導r4膜テー
プを提供するもので、はじめて上記で述べた課題の1つ
である特性の劣化に関して解決をはかったものである。
の厚さのMg, Zr,Affi、Tiの酸化物あるい
はSrTi03、BaTf03、BaZr03から選ば
れる少なくとも1種からなる中間層と、 0.1〜5μ
mの厚さの酸化物高温超電導層と、 0.1〜1μmの
厚さのSin2、St3N4のいずれかあるいは両方か
らなるパッシベーション層とからなる超電導r4膜テー
プを提供するもので、はじめて上記で述べた課題の1つ
である特性の劣化に関して解決をはかったものである。
また、他の1つの発明は、複合連続ドライコーティング
プロセスにおいて、両端に金属コイル巻出し巻取り機構
を持ち、その中間にイオンブレーティングあるいはスパ
ッタリングによる中間層製造プロセス、イオンブレーテ
ィングあるいはスバ・:/タリングによる酸化物高温超
電導層製造プロセス、さらにプラズマCVDによるパッ
シベーション層製造プロセスを持つ複合装置を用いて超
電導薄膜テープを製造する方法であり、連続的に超電導
薄膜デーブを製造することにより超電導層が最外層にな
っている間に特性の劣化を起こすことなく、またきれい
な界面を持った多層膜が得られ安定、大量生産を可能と
した。
プロセスにおいて、両端に金属コイル巻出し巻取り機構
を持ち、その中間にイオンブレーティングあるいはスパ
ッタリングによる中間層製造プロセス、イオンブレーテ
ィングあるいはスバ・:/タリングによる酸化物高温超
電導層製造プロセス、さらにプラズマCVDによるパッ
シベーション層製造プロセスを持つ複合装置を用いて超
電導薄膜テープを製造する方法であり、連続的に超電導
薄膜デーブを製造することにより超電導層が最外層にな
っている間に特性の劣化を起こすことなく、またきれい
な界面を持った多層膜が得られ安定、大量生産を可能と
した。
さらに、酸化物高温超電導層とパッシベーション層の中
間にプラズマCVDによるアニールプロセスを付加する
ことにより、さらに高い特性の超電導薄膜テープを得る
ことも可能とした。
間にプラズマCVDによるアニールプロセスを付加する
ことにより、さらに高い特性の超電導薄膜テープを得る
ことも可能とした。
以下に、本発明の詳細を述べる。
本発明で云う金属コイル基板は、鉄、ステンレス、鋼、
銅、チタン、ニッケル及びそれらの合金が望ましいが、
コイルコーティングが可能な金属であればこれに限るも
のではない。
銅、チタン、ニッケル及びそれらの合金が望ましいが、
コイルコーティングが可能な金属であればこれに限るも
のではない。
超電導薄膜を金属基板上に直接皮膜形成する場合、格子
定数の整合性や基板から超電導層への拡散などの影響に
より、優れた特性は期待できない。そこで、中間層とし
て何が適当かを鋭意研究を重ねた結果、Mg, 7.r
, A先Tiの酸化物あるいはSrTi03、BaTi
03、BaZr03から選ばれる少なくとも1種を0.
1〜1μmの厚さで設けたらよいことがわかった。0.
1μ1以下であると粒界を通って基板である金属が超電
導層へと拡散してしまい超電導特性の劣化が引き起こさ
れるためであり、またI usあれば十分に中間層とし
ての役割が達成されこれ以上は必要がないためである。
定数の整合性や基板から超電導層への拡散などの影響に
より、優れた特性は期待できない。そこで、中間層とし
て何が適当かを鋭意研究を重ねた結果、Mg, 7.r
, A先Tiの酸化物あるいはSrTi03、BaTi
03、BaZr03から選ばれる少なくとも1種を0.
1〜1μmの厚さで設けたらよいことがわかった。0.
1μ1以下であると粒界を通って基板である金属が超電
導層へと拡散してしまい超電導特性の劣化が引き起こさ
れるためであり、またI usあれば十分に中間層とし
ての役割が達成されこれ以上は必要がないためである。
逆にあまり厚すぎると基板から薄膜が剥がれやすくなる
という弊害もでてくる。
という弊害もでてくる。
超電導層で用いられる超電導物質としては特に制限はな
く、例えばYBa2Cu30,δ、Bi.Sr2(:a
,Cu301g, TI2Ba2(:a2(:UaO+
oなどが用いられる。超電導層の厚みとしては o.i
〜5I.lLllが望ましい.0.1μ1より薄いと超
電導層が基板の影響、特に基板からの拡散による不純物
の影響を大きく受け実用に耐えるだけの特性を得ること
ができないためであり、また5 IJrnより厚いと、
薄膜を加工する段階で膜が基板から剥がれやすくなるた
めである。
く、例えばYBa2Cu30,δ、Bi.Sr2(:a
,Cu301g, TI2Ba2(:a2(:UaO+
oなどが用いられる。超電導層の厚みとしては o.i
〜5I.lLllが望ましい.0.1μ1より薄いと超
電導層が基板の影響、特に基板からの拡散による不純物
の影響を大きく受け実用に耐えるだけの特性を得ること
ができないためであり、また5 IJrnより厚いと、
薄膜を加工する段階で膜が基板から剥がれやすくなるた
めである。
最外層のMi電導層を保護するために、M1電導層形成
後連続的にパッシベーション層を形成する。
後連続的にパッシベーション層を形成する。
パッシベーション層には、Sin.あるいはSi3N4
のうちいずれかあるいは両方が適当である。両物質とも
電気絶縁性が高く、硬度も十分であるため超電導層をあ
らゆる環境下で保護する能力を有ずるためである。この
パッシベーション層の厚みとしては、 0.1〜1μm
が望ましい。0.1μmより薄いと,緻密な膜を形成し
てもわずかな水分が大気中から超電導層まで拡散してし
まい特性の劣化をもたらすからであり,またlμmあれ
ば保護膜としての効果は十分に得らわているためこれ以
上厚くする必要はないためである。基板あるいは超電導
層などからの剥離の可能性を考えると1 US以下が望
ましい。
のうちいずれかあるいは両方が適当である。両物質とも
電気絶縁性が高く、硬度も十分であるため超電導層をあ
らゆる環境下で保護する能力を有ずるためである。この
パッシベーション層の厚みとしては、 0.1〜1μm
が望ましい。0.1μmより薄いと,緻密な膜を形成し
てもわずかな水分が大気中から超電導層まで拡散してし
まい特性の劣化をもたらすからであり,またlμmあれ
ば保護膜としての効果は十分に得らわているためこれ以
上厚くする必要はないためである。基板あるいは超電導
層などからの剥離の可能性を考えると1 US以下が望
ましい。
超電導薄膜を工業的に利用するためには、大量・安価な
生産と成形が可能である必要がある。従って、基板とし
ての格子定数の整合性や基板から超電導層への拡散など
の影汗を考慮して、これまでもっぱら単結晶基板が用い
られてきたが、この代わりに金属コイル基板が利用でき
ればコイルコーティングを行うことにより工業的にも非
常に有意義となる。本発明では、金属基板上に超電導薄
膜テープを製造するために、上記で述べたように基板上
に中間層、その上に超電導層、さらにパッシベーション
層を設け、しかもこわらの層を連続的にコイルコーティ
ングすることを特徴としている。
生産と成形が可能である必要がある。従って、基板とし
ての格子定数の整合性や基板から超電導層への拡散など
の影汗を考慮して、これまでもっぱら単結晶基板が用い
られてきたが、この代わりに金属コイル基板が利用でき
ればコイルコーティングを行うことにより工業的にも非
常に有意義となる。本発明では、金属基板上に超電導薄
膜テープを製造するために、上記で述べたように基板上
に中間層、その上に超電導層、さらにパッシベーション
層を設け、しかもこわらの層を連続的にコイルコーティ
ングすることを特徴としている。
複合連続ドライコーティングプロセスを用いて連続的に
コイルコーティングする場合、中間層、超電導層、パッ
シベーション層のそれぞれの厚さは、コイルの搬送速度
と蒸着室の大きさで決まる蒸着時間と蒸着速度で決定さ
れる。したがって一方向で搬送する場合、各層の厚みを
独立に形成することはできず、各層に持たせ得る厚みは
ある幅に制限されるが、この場合は、コイルの搬送方向
を自由に変えて製造する。こうすることにより蒸着速度
の遅いものを形成したり厚い層を形成する場合でも、コ
イルの搬送方向を変えて何度も折り返しコーティングす
ることにより、最適の膜厚となるように制御することが
できる。また、各層を同じ1つの手法を用いて形成する
ことも可能である。
コイルコーティングする場合、中間層、超電導層、パッ
シベーション層のそれぞれの厚さは、コイルの搬送速度
と蒸着室の大きさで決まる蒸着時間と蒸着速度で決定さ
れる。したがって一方向で搬送する場合、各層の厚みを
独立に形成することはできず、各層に持たせ得る厚みは
ある幅に制限されるが、この場合は、コイルの搬送方向
を自由に変えて製造する。こうすることにより蒸着速度
の遅いものを形成したり厚い層を形成する場合でも、コ
イルの搬送方向を変えて何度も折り返しコーティングす
ることにより、最適の膜厚となるように制御することが
できる。また、各層を同じ1つの手法を用いて形成する
ことも可能である。
中間層の形成手段としてはイオンブレーティングあるい
はスパッタリングが選ばわる。両手法とも,ト記酸化物
を形成するには適当な手法であり、他のドライプロセス
、例えば真空蒸着では蒸発源の酸化物から一部酸素が抜
けてしまうために化学量論組成がずれた中間層となって
しまい、格子定数の不整合が引き起こさわたり、またC
VD法ではやはり化学量組成比の制御が難しいため、か
つ原料ガスの取扱いが面倒であるためである。
はスパッタリングが選ばわる。両手法とも,ト記酸化物
を形成するには適当な手法であり、他のドライプロセス
、例えば真空蒸着では蒸発源の酸化物から一部酸素が抜
けてしまうために化学量論組成がずれた中間層となって
しまい、格子定数の不整合が引き起こさわたり、またC
VD法ではやはり化学量組成比の制御が難しいため、か
つ原料ガスの取扱いが面倒であるためである。
超電導層の形成手段としては、やはりイオンブレーティ
ングあるいはスパッタリングが用いられる。イオンブレ
ーティングを用いた場合、超電導の構成元素の数だけ蒸
発源を用意しておき、これらの同時蒸着あるいはシャッ
ターを用いた多層コ?ティングにより超電導薄膜の作製
を行う。また、スパッタリングを用いた場合、超電導組
成となるように調整したターゲットをスバッタして作製
を行う。両手法とも組成比の厳密な制御が容易、及び成
膜速度が高いという特徴を有し、他の手法では本発明の
目的が達成できないためである。
ングあるいはスパッタリングが用いられる。イオンブレ
ーティングを用いた場合、超電導の構成元素の数だけ蒸
発源を用意しておき、これらの同時蒸着あるいはシャッ
ターを用いた多層コ?ティングにより超電導薄膜の作製
を行う。また、スパッタリングを用いた場合、超電導組
成となるように調整したターゲットをスバッタして作製
を行う。両手法とも組成比の厳密な制御が容易、及び成
膜速度が高いという特徴を有し、他の手法では本発明の
目的が達成できないためである。
パッシベーション層製造プロセスとしてはプラズマCV
Dが好適である。プラズマCVDを用いてSiO■ある
いはSi,N4のうちいずれかあるいは両方からなるパ
ッシベーション層を形成することにより非常に緻密な膜
が得られるが、他の手法ではパッシベーション層にクラ
ツタなどの欠陥が発生しやすく保護膜として実用上十分
なものが得られないためである。
Dが好適である。プラズマCVDを用いてSiO■ある
いはSi,N4のうちいずれかあるいは両方からなるパ
ッシベーション層を形成することにより非常に緻密な膜
が得られるが、他の手法ではパッシベーション層にクラ
ツタなどの欠陥が発生しやすく保護膜として実用上十分
なものが得られないためである。
超電導薄膜の特性の劣化は酸素原子が一部欠損するため
であるが、この欠損を補うため、中間層、超電導層を形
成後、パッシベーション層を設ける前にプラズマCVD
によるアニールプロセスを行うと薄膜の特性を向上させ
ることができる。
であるが、この欠損を補うため、中間層、超電導層を形
成後、パッシベーション層を設ける前にプラズマCVD
によるアニールプロセスを行うと薄膜の特性を向上させ
ることができる。
これは、プラズマCVDを用いて酸素プラズマ中で処理
することによりアニール温度を低温に抑えながら酸素の
補給が行えるがらである。我々の研究では、プラズマを
用いることにより通常800 ’t:程度の温度が必要
となるところを、400℃程度まで下げることができた
。
することによりアニール温度を低温に抑えながら酸素の
補給が行えるがらである。我々の研究では、プラズマを
用いることにより通常800 ’t:程度の温度が必要
となるところを、400℃程度まで下げることができた
。
[作用]
以上本発明で述べている、3層から成る該超電導薄膜テ
ープを安価に得るためには、第1図に示す如く、コイル
の巻出し巻取り機構1及び7、イオンブレーティング装
置3、スパッタリング装置4.5、プラズマCVD装置
6が直列に配置された複合連続コーティング設備が必要
である。逆にこの3式直列複合連続コーティング設備が
あれば、各層を任意の手法で形成することができる。
ープを安価に得るためには、第1図に示す如く、コイル
の巻出し巻取り機構1及び7、イオンブレーティング装
置3、スパッタリング装置4.5、プラズマCVD装置
6が直列に配置された複合連続コーティング設備が必要
である。逆にこの3式直列複合連続コーティング設備が
あれば、各層を任意の手法で形成することができる。
すなわち、例えば同じ形成手段を用いて2層を形成する
場合、第一層を形成後、通板方向を変えて新たに第二層
を形成するようにすればよい。我々は、第1図に示した
設備を組み上げ、該薄膜テープを大量・安価に製造する
ことに成功したために,本発明を得るに至った。
場合、第一層を形成後、通板方向を変えて新たに第二層
を形成するようにすればよい。我々は、第1図に示した
設備を組み上げ、該薄膜テープを大量・安価に製造する
ことに成功したために,本発明を得るに至った。
本発明により、安定した特性のM電導薄膜テープは、従
来の作製手法に比べ単位面積当り約20〜80主のコス
トダウンを行うことができた一以下、本設備を用いて行
った超電導薄膜テープの製造について実施例を述べる。
来の作製手法に比べ単位面積当り約20〜80主のコス
トダウンを行うことができた一以下、本設備を用いて行
った超電導薄膜テープの製造について実施例を述べる。
[実施例]
(実施例1)
金属コイルにはステンレス430系(板J50Jmm、
板幅370cm)を用い、まずコイル巻出し室からイオ
ンブレーティング室へ搬送しここでMgO薄膜を約0。
板幅370cm)を用い、まずコイル巻出し室からイオ
ンブレーティング室へ搬送しここでMgO薄膜を約0。
5μmコーティングした。続いてんエスバッタリング室
でYB(:0系の超電導ターゲットを用いて約Iνmコ
ーティングした後、プラズマCVD室で0.5μ1厚で
Sin2をコーティングした。なお、膜厚は搬送速度と
コーティング空間と成膜速度の関係で決定するが、搬送
速度は各室同じでなければならず、またコーティング空
間はほぼ固定なので、成膜速度を制御して膜厚の制御を
行った。本設備の場合、成膜速度は,イオンブレーティ
ング、スバッタリング、プラズマCVDでそれぞれ1、
OA/S,0.4A/S, 1.2A/Sとし、搬送速
度は4mm/min.とじた。
でYB(:0系の超電導ターゲットを用いて約Iνmコ
ーティングした後、プラズマCVD室で0.5μ1厚で
Sin2をコーティングした。なお、膜厚は搬送速度と
コーティング空間と成膜速度の関係で決定するが、搬送
速度は各室同じでなければならず、またコーティング空
間はほぼ固定なので、成膜速度を制御して膜厚の制御を
行った。本設備の場合、成膜速度は,イオンブレーティ
ング、スバッタリング、プラズマCVDでそれぞれ1、
OA/S,0.4A/S, 1.2A/Sとし、搬送速
度は4mm/min.とじた。
得られた薄膜テープの電気抵抗の温度依存性について測
定したところ、80Kで抵抗が下がり始め,63Xで抵
抗0となフた。このテープを大気のもと約−ケ月放置し
た後同じ抵抗測定を行った結果,全く同じ超電導特性を
示し、最外層のパッシベーション膜によって非常に安定
した超電導gjMテープとなっていることが認められた
.(実施例/比較例) 薄膜テープの構成及び作製プロセスを種々変えて製造し
た結果について以下の表にまとめる。基板にはスレンレ
ス430系を用いている。判定は実施例1で述べたよう
に臨界温度と,IliI!導薄膜テープの安定性につい
て調べた結果をまとめた。
定したところ、80Kで抵抗が下がり始め,63Xで抵
抗0となフた。このテープを大気のもと約−ケ月放置し
た後同じ抵抗測定を行った結果,全く同じ超電導特性を
示し、最外層のパッシベーション膜によって非常に安定
した超電導gjMテープとなっていることが認められた
.(実施例/比較例) 薄膜テープの構成及び作製プロセスを種々変えて製造し
た結果について以下の表にまとめる。基板にはスレンレ
ス430系を用いている。判定は実施例1で述べたよう
に臨界温度と,IliI!導薄膜テープの安定性につい
て調べた結果をまとめた。
略号:
YBGO(YBazCu30y−5 ), BSCC(
BIJrz(:azcU:+O+o) , TBCG(
TI.JazCazCusO+o)IP(イオンブレー
ティンg,sp(スバッタリン−fi, C’VD(
プラズマCVO)厚み単位:虜 [発明の効果コ 本発明により、金属板上に安定した特性を持ったB電導
薄膜が形成された超電導薄膜テープが、大債かつ安価に
得られるようになった。これにより、これまでの技術に
比べコストで20〜80tも改善された。また、最外層
にパッシベーションなどの保護膜を設けたことにより特
性の劣化を最小限にとどめることかできた。該テープは
成形性にも優れるため、電力関係や輸送関係、情報分野
などへの応用に広く道を開くものである。
BIJrz(:azcU:+O+o) , TBCG(
TI.JazCazCusO+o)IP(イオンブレー
ティンg,sp(スバッタリン−fi, C’VD(
プラズマCVO)厚み単位:虜 [発明の効果コ 本発明により、金属板上に安定した特性を持ったB電導
薄膜が形成された超電導薄膜テープが、大債かつ安価に
得られるようになった。これにより、これまでの技術に
比べコストで20〜80tも改善された。また、最外層
にパッシベーションなどの保護膜を設けたことにより特
性の劣化を最小限にとどめることかできた。該テープは
成形性にも優れるため、電力関係や輸送関係、情報分野
などへの応用に広く道を開くものである。
第1図は、本発明で述べた超電導薄膜テープを製造する
ために必要な設備についての概略図である。 1・−コイル巻出し室、2・・・前処理室、3・−イオ
ンブレーティング室、4 ・& 1スパッタリング室、
5・・・五2スパッタリング室、6・・・プラズマCV
D室、7・・・コイル巻取り室。
ために必要な設備についての概略図である。 1・−コイル巻出し室、2・・・前処理室、3・−イオ
ンブレーティング室、4 ・& 1スパッタリング室、
5・・・五2スパッタリング室、6・・・プラズマCV
D室、7・・・コイル巻取り室。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、金属コイル基板と、0.1〜1μmの厚さのMg、
Zr、Al、Tiの酸化物あるいはSrTiO_3、B
aTiO_3、BaZrO_3から選ばれる少なくとも
1種からなる中間層と、0.1〜5μmの厚さの酸化物
高温超電導層と、0.1〜1μmの厚さのSiO_2、
Si_3N_4のいずれかあるいは両方からなるパッシ
ベーション層とからなることを特徴とした超電導薄膜テ
ープ。 2、複合連続ドライコーティングプロセスにおいて、両
端に金属コイル巻出し巻取り機構を持ち、その中間にイ
オンブレーティングあるいはスパッタリングによる中間
層製造プロセス、イオンブレーティングあるいはスパッ
タリングによる酸化物高温超電導層製造プロセス、さら
にプラズマCVDによるパッシベーション層製造プロセ
スを持つ複合装置により超電導薄膜テープを得ることを
特徴とした超電導薄膜テープの製造法。 3、酸化物高温超電導層とパッシベーション層の中間に
プラズマCVDによるアニールプロセスを付加した請求
項2記載の超電導薄膜テープの製造法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1049983A JPH02232381A (ja) | 1989-03-03 | 1989-03-03 | 超電導薄膜テープ及びその製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1049983A JPH02232381A (ja) | 1989-03-03 | 1989-03-03 | 超電導薄膜テープ及びその製造法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02232381A true JPH02232381A (ja) | 1990-09-14 |
Family
ID=12846253
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1049983A Pending JPH02232381A (ja) | 1989-03-03 | 1989-03-03 | 超電導薄膜テープ及びその製造法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02232381A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007186775A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Bridgestone Corp | 成膜方法及び装置 |
JP2019534549A (ja) * | 2016-09-07 | 2019-11-28 | ブルックヘイブン テクノロジー グループ, インコーポレイテッド | リールツーリール剥離及び第2世代超伝導体の加工 |
-
1989
- 1989-03-03 JP JP1049983A patent/JPH02232381A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007186775A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Bridgestone Corp | 成膜方法及び装置 |
JP2019534549A (ja) * | 2016-09-07 | 2019-11-28 | ブルックヘイブン テクノロジー グループ, インコーポレイテッド | リールツーリール剥離及び第2世代超伝導体の加工 |
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