JPH02174133A - 位置認識方式 - Google Patents

位置認識方式

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Publication number
JPH02174133A
JPH02174133A JP33035688A JP33035688A JPH02174133A JP H02174133 A JPH02174133 A JP H02174133A JP 33035688 A JP33035688 A JP 33035688A JP 33035688 A JP33035688 A JP 33035688A JP H02174133 A JPH02174133 A JP H02174133A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
span
recognized
recognition
normal
measured
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Pending
Application number
JP33035688A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuki Shirai
白井 由紀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、認識マークが付された対象物の位置を認識す
る位置認識方式に関し、特にセラミックPKGケース(
以下ケースと記す)にペレットをマウトする際にケース
の位置を認識するケースの位置認識方式に関する。
〔従来の技術〕
従来のケースの位置認識方式では、第2図に示されるよ
うな、ケース11の対角線上に設けられた2つの認識マ
ーク12.13の中心位置をCODカメラで画像認識し
、その認識マーク中心位置データをもとにケース11の
中心を算出し、このように算出したケース11の中心を
ペレットのマウント位置としていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のケースの位置認識方式は、認識する際に
認識物に投射される照明の光量や方向によって、認識マ
ークの画像認識結果が不安定となることが多く、特に多
ビンセラミックPKGの場合、認識マークの画像認識結
果をデータとしてケースの中心を算出すると、ケースの
中心を誤認識し、ペレットのマウント位置が不正確とな
り、ワイヤボンディング時にワイヤ同士がショートした
リ、ワイヤがベースにショートすることによって不良品
となってしまうという欠点があった。
さらに、マウント位置ずれが大きくなると、ペレット、
ケース、及び、ベレットをマウントするためのコレット
を破損させ、これらは共に高価であるばかりでなく、装
置の稼働停止を余儀なくさせられるため、多大な損害を
生じてしまうという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の位置認識方式は、対象物に付された2つの認識
マークの中心位置を画像認識し、前記2つの認識マーク
の画像認識した中心位置より算出した測定スパンを、あ
らかじめ記憶しておいな正常スパンと比較し、画像認識
した前記2つの認識マークの中心位置を前記測定スパン
が前記正常スパンの一定範囲内に有るときは誤まりない
ものとし前記測定スパンが前記正常スパンの前記一定範
囲外に有るときは誤りとすることを特徴とする。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について、図面を参照に説明する
第1図は本発明の一実施例を示すフローチャートである
本実施例では、第2図に示す認識マーク12と認識マー
ク13の正常スパンを記憶する処理工程1において、あ
らかじめ設計上の正常スパンを記憶しておく。この後、
ケース11上の認識マーク12及び認識マーク13を認
識し、それらの中心位置を測定する(処理工程2,3)
。処理工程2゜3で測定したマーク12.13の中心位
置から算出する2つのマークの測定スパンを求める(処
理工程4)。
ここで、処理工程1で記憶された正常スパンと、処理工
程4で算出された測定スパンとを比較しく処理工程5)
、測定スパンがあらかじめ設定されている正常スパンの
一定範囲内に有るかを判断しく判断工程6)、一定範囲
内に有る場合にのみ処理工程2,3で求めた中心位置を
認識マーク12゜13の誤りのない中心位置データとし
てマウント位置算出に使用する。また、判断工程6で一
定範囲内に無いものは、処理工程2,3で求めた中心位
置は誤っているものとして、再度、処理工程2からの処
理を繰り返す。
〔発明の効果〕
本発明の位置認識方式は、対象物に付された2つの認識
マークの中心位置を画像認識した後で、測定スパンが正
常スパンの一定範囲内に有るかを判断することにより対
象物の位置の誤認を防止することができるという効果が
ある。
従って本発明により求めたケースの認識マークの中心位
置データをもとにしてケースの中心を算出し、ペレット
のマウント位置とすることによって、マウントする際の
誤動作、及び、誤認識を防ぐことができ、誤動作、及び
、誤認識のためにおこっていたマウト位置ずれを著しく
削減できるため、ベレットのマウント工程における信頼
性が高まり、また、歩留の向上を図れるために、製造コ
ストを安価にすることができる。
第1図は本発明の一実施例を示すフローチャート、第2
図は第1図に示す実施例の対象とするケースの平面図で
ある。
11・・・ケース、12・・・認識マーク、13・・・
認識マーク。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  対象物に付された2つの認識マークの中心位置を画像
    認識し、前記2つの認識マーク画像認識した中心位置よ
    り算出した測定スパンを、あらかじめ記憶しておいた正
    常スパンと比較し、画像認識した前記2つの認識マーク
    の中心位置を前記測定スパンが前記正常スパンの一定範
    囲内に有るときは誤まりないものとし前記測定スパンが
    前記正常スパンの前記一定範囲外に有るときは誤りとす
    ることを特徴とする位置認識方式。
JP33035688A 1988-12-26 1988-12-26 位置認識方式 Pending JPH02174133A (ja)

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JP33035688A JPH02174133A (ja) 1988-12-26 1988-12-26 位置認識方式

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JP33035688A JPH02174133A (ja) 1988-12-26 1988-12-26 位置認識方式

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JPH02174133A true JPH02174133A (ja) 1990-07-05

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