JPH02170327A - 電子放出素子 - Google Patents
電子放出素子Info
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- JPH02170327A JPH02170327A JP63324107A JP32410788A JPH02170327A JP H02170327 A JPH02170327 A JP H02170327A JP 63324107 A JP63324107 A JP 63324107A JP 32410788 A JP32410788 A JP 32410788A JP H02170327 A JPH02170327 A JP H02170327A
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Landscapes
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、例えば、電子顕微鏡、電子ビーム露光装置
、CRT等、各種電子ビーム応用装置の電子発生源とし
て利用される電子放出素子に関する。
、CRT等、各種電子ビーム応用装置の電子発生源とし
て利用される電子放出素子に関する。
従来の技術
電子顕微鏡やCRT等の電子発生源として使われる電子
放出素子として、従来、熱電子を放出する熱陰極が用い
られている。しかし、熱陰極は陰極自体を加熱する加熱
手段を必要としたり、加熱に伴うエネルギー損失があっ
たりという問題がある。
放出素子として、従来、熱電子を放出する熱陰極が用い
られている。しかし、熱陰極は陰極自体を加熱する加熱
手段を必要としたり、加熱に伴うエネルギー損失があっ
たりという問題がある。
それで、加熱を必要としない電子放出素子、いわゆる冷
陰極の研究がなされ、いくつかの素子が実際に提案され
ている。
陰極の研究がなされ、いくつかの素子が実際に提案され
ている。
具体的には、PN接合に逆バイアス電圧を印加し、電子
なだれ降伏現象を起こさせて素子外に電子を放出させる
ようにしたもの、あるいは、電界集中の生じ易い形状の
金属に対し電圧を印加して局所的に電界強度を高め、金
属から素子外に電子を放出させる電界効果型のもの、さ
らには、金属層−絶縁体層−金属層の3層構成で、両金
属層間に電圧を印加することにより、トンネル効果で絶
縁体層を通過してきた電子を金属層表面から素子外に放
出させるもの(MIM型と通称される)等の電子放出素
子がある。これらのうちMIM型電子電子放出素子成が
簡単であり、これからの素子としても注目されている。
なだれ降伏現象を起こさせて素子外に電子を放出させる
ようにしたもの、あるいは、電界集中の生じ易い形状の
金属に対し電圧を印加して局所的に電界強度を高め、金
属から素子外に電子を放出させる電界効果型のもの、さ
らには、金属層−絶縁体層−金属層の3層構成で、両金
属層間に電圧を印加することにより、トンネル効果で絶
縁体層を通過してきた電子を金属層表面から素子外に放
出させるもの(MIM型と通称される)等の電子放出素
子がある。これらのうちMIM型電子電子放出素子成が
簡単であり、これからの素子としても注目されている。
この電子放出素子における電子放出原理を第6図に基づ
いて説明する。
いて説明する。
この電子放出素子は、金属層(導電性材)41上に絶縁
体層42が積層され、同絶縁体層42の上に薄い金属層
43が積層された構成となっている。電源44によって
、金属層43の仕事関数φよりも大きな電圧を金属層4
1 ・金属層43間に印加すると、絶縁体層42をトン
ネルした電子のうち真空準位より大きなエネルギーをも
つ電子が、放出電子45として、金属層43表面から飛
び出す。
体層42が積層され、同絶縁体層42の上に薄い金属層
43が積層された構成となっている。電源44によって
、金属層43の仕事関数φよりも大きな電圧を金属層4
1 ・金属層43間に印加すると、絶縁体層42をトン
ネルした電子のうち真空準位より大きなエネルギーをも
つ電子が、放出電子45として、金属層43表面から飛
び出す。
従来、第7図や第8図にみるようなMIM型電子電子放
出素子られている。
出素子られている。
第7図の電子放出素子は、絶縁基板51の表面に帯状の
金属層52を形成し、その上を絶縁体層53で覆い、さ
らに金属層52と直交するように帯状の金属層54を積
層形成した構成である。金属層52.54間に電圧が加
わると、電子放出域である両金属層の交差部分から゛成
子が飛び出す(特開昭63−6717号公報)。
金属層52を形成し、その上を絶縁体層53で覆い、さ
らに金属層52と直交するように帯状の金属層54を積
層形成した構成である。金属層52.54間に電圧が加
わると、電子放出域である両金属層の交差部分から゛成
子が飛び出す(特開昭63−6717号公報)。
′f48図の電子放出素子は、絶縁基板61の表面に穿
設した溝に帯状の金属層(導電性材)62を蒸看によシ
形成し、その上を絶縁体層63で覆い、さらに金属層6
2と直交するように帯状の金属層64 を積層形成した
構成である。金属層62.64間傾電圧が加わると、電
子放出域である両金属層62.64の交差部分から電子
が飛び出す(特開昭63−80437号公報)。
設した溝に帯状の金属層(導電性材)62を蒸看によシ
形成し、その上を絶縁体層63で覆い、さらに金属層6
2と直交するように帯状の金属層64 を積層形成した
構成である。金属層62.64間傾電圧が加わると、電
子放出域である両金属層62.64の交差部分から電子
が飛び出す(特開昭63−80437号公報)。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、第6図および第7図に示された従来のM
IM型電子電子放出素子、絶縁体層上の金属層の電気的
導通の信頼性が低く、しかも、電子放出特性の安定性が
十分でないという問題がある。
IM型電子電子放出素子、絶縁体層上の金属層の電気的
導通の信頼性が低く、しかも、電子放出特性の安定性が
十分でないという問題がある。
第6図や第7図に示す電子放出素子の金属層には層全体
にわたって段差がついている。層全体にわたる段差があ
る金属層は、段差のついている所で亀裂が入り易い。金
属層に亀裂が入った場合、電気的導通が損なわれ導通不
良となるのである。
にわたって段差がついている。層全体にわたる段差があ
る金属層は、段差のついている所で亀裂が入り易い。金
属層に亀裂が入った場合、電気的導通が損なわれ導通不
良となるのである。
しかも、上記金属層では電子放出域における厚みが不均
一であるため、電子放出特性も安定しない0 通常、電子放出効率を高くするには、金鵡層を薄くしな
ければならないのであるが、金属層を薄くすると上記問
題は一層大きくなる。
一であるため、電子放出特性も安定しない0 通常、電子放出効率を高くするには、金鵡層を薄くしな
ければならないのであるが、金属層を薄くすると上記問
題は一層大きくなる。
第8図にみる電子放出素子では細い溝内に魚屑によシ金
属層を形成することが困難であり、実用性に之しいとい
う問題がある。溝の側面との間に隙間がないように、か
つ絶縁基板の表′面と丁度同じ位置まで埋め全表面がひ
とつの平面となるようにすることが極めて困難なのであ
る。それに、電子放出域の形状が四角形状のものに限ら
れるという問題もある。複雑な形状の溝を硬い絶縁基板
に穿設し、そこにうまく金属層を形成することは一層困
難である。電子ビームを任意の形状に簡単にできないと
、利用範囲等の制限を受け、やは9実用性が之しくなる
。
属層を形成することが困難であり、実用性に之しいとい
う問題がある。溝の側面との間に隙間がないように、か
つ絶縁基板の表′面と丁度同じ位置まで埋め全表面がひ
とつの平面となるようにすることが極めて困難なのであ
る。それに、電子放出域の形状が四角形状のものに限ら
れるという問題もある。複雑な形状の溝を硬い絶縁基板
に穿設し、そこにうまく金属層を形成することは一層困
難である。電子ビームを任意の形状に簡単にできないと
、利用範囲等の制限を受け、やは9実用性が之しくなる
。
この発明は、上記事情に鑑み、金属層の電気的導通の信
頼性が高く、電子放出特性が安定しており、しかも、電
子ビームを任意の形状にすることが容易な実用的電子放
出素子を提供することを課題とする。
頼性が高く、電子放出特性が安定しており、しかも、電
子ビームを任意の形状にすることが容易な実用的電子放
出素子を提供することを課題とする。
課題を解決するだめの手段
前記課題を解決するため、請求項1〜4記載の電子放出
素子では、つぎのような構成をとるようにしている。
素子では、つぎのような構成をとるようにしている。
請求項1記載の電子放出素子は、表面の一部が凸状部に
なっている導電性材と、平らな表面を作るようにして前
記導電性材の表面を覆いつくす絶縁体層と、この絶縁体
層表面の少なくとも凸状部の上方を覆う金属層とを備え
た構成をとっている。
なっている導電性材と、平らな表面を作るようにして前
記導電性材の表面を覆いつくす絶縁体層と、この絶縁体
層表面の少なくとも凸状部の上方を覆う金属層とを備え
た構成をとっている。
請求項2記載の電子放出素子は、加えて、絶縁体層を、
導電性材表面の凸状部のない部分を覆い凸状部と同一平
面となるように形成された第1絶縁体層と、この第1絶
縁体層および前記凸状部の両表面を覆い平らな表面とな
るようにして形成された第2絶縁体層とで構成している
。
導電性材表面の凸状部のない部分を覆い凸状部と同一平
面となるように形成された第1絶縁体層と、この第1絶
縁体層および前記凸状部の両表面を覆い平らな表面とな
るようにして形成された第2絶縁体層とで構成している
。
請求項3記載の電子放出素子は、平らな基板表面の一部
に形成された導電性材と、平らな表面を作るようにして
前記導電性材および前記基板表面を覆いつくす絶縁体層
と、この絶縁体層表面の少なくとも導電性材の上方を覆
う金属層とを備えた構成をとっている。
に形成された導電性材と、平らな表面を作るようにして
前記導電性材および前記基板表面を覆いつくす絶縁体層
と、この絶縁体層表面の少なくとも導電性材の上方を覆
う金属層とを備えた構成をとっている。
請求項4記載の電子放出素子では、絶縁体層を、基板表
面の導電性材のない部分を覆い41を性材と同一平面と
なるように形成された第1絶縁体層と、この第1絶縁体
層および前記導電性材の両表面を覆い平らな表面となる
ようにして形成された7jljJ2絶縁体層とで構成し
ている。
面の導電性材のない部分を覆い41を性材と同一平面と
なるように形成された第1絶縁体層と、この第1絶縁体
層および前記導電性材の両表面を覆い平らな表面となる
ようにして形成された7jljJ2絶縁体層とで構成し
ている。
作 用
請求項1〜4記載の電子放出素子では、平らな表面をも
つ絶縁体層の上に金桐層が形成されている。平らな面に
形成された金属層では、厚みの均一性に優れ、しかも、
層全体にわたって段差が形成されるといったことがない
。したがって、電子放出特性が安定し、金属層に亀裂が
入りにくくて電気的導通の信頼性が高くなる。
つ絶縁体層の上に金桐層が形成されている。平らな面に
形成された金属層では、厚みの均一性に優れ、しかも、
層全体にわたって段差が形成されるといったことがない
。したがって、電子放出特性が安定し、金属層に亀裂が
入りにくくて電気的導通の信頼性が高くなる。
請求項、2記載の電子放出素子では、凸状部の横を、請
求項3.4記載の電子放出素子では、導電材の横を絶縁
体層で埋めるようにするが、この部分は、第8図におけ
る溝よりも巾をもたせられるので、隙間を作ることなく
同一平面となるように絶縁体層が形成される。
求項3.4記載の電子放出素子では、導電材の横を絶縁
体層で埋めるようにするが、この部分は、第8図におけ
る溝よりも巾をもたせられるので、隙間を作ることなく
同一平面となるように絶縁体層が形成される。
請求項、2記載の電子放出素子では、導電性材における
凸状部が電子放出域を規定している。
凸状部が電子放出域を規定している。
この凸状部は、エツチング技術寺の利用にょシ簡単に任
意の形状のものとすることができる。そのため、電子ビ
ームの形状が容易に任意の形状のものになる。
意の形状のものとすることができる。そのため、電子ビ
ームの形状が容易に任意の形状のものになる。
請求項3.4記載の電子放出素子では、基板表面の一部
に形成された導電性材で電子放出域を規定することにな
るが、平らな面に形成される導′1性材は、その形状を
簡単に任意の形とすることができる。そのため、電子ビ
ームの形状を容易に任意の形状のものとすることができ
る。
に形成された導電性材で電子放出域を規定することにな
るが、平らな面に形成される導′1性材は、その形状を
簡単に任意の形とすることができる。そのため、電子ビ
ームの形状を容易に任意の形状のものとすることができ
る。
請求項2.4記載の電子放出素子では、第2絶縁体層が
あるため、金属層の下の絶縁体層表面がより平らとなる
。
あるため、金属層の下の絶縁体層表面がより平らとなる
。
実施例
以下、この発明にかかる電子放出素子を、その一実施例
をあられす図面を参照しながら詳しく説明する。
をあられす図面を参照しながら詳しく説明する。
第1図は、請求項1記載の電子放出素子の一実施例をあ
られす。
られす。
電子放出素子は、導電体(導電性材) 11−絶縁体
層12−金属層14で構成されている。導電体11は表
面の一部が凸状部11aになっている。
層12−金属層14で構成されている。導電体11は表
面の一部が凸状部11aになっている。
導電体11と金−層14の間に介在する絶縁体層12は
、導電体11表面の凸状部11aのない部分の表面およ
び凸状部11aの表面の両者を覆い平らな表面となるよ
うにして形成されている。そして、凸状部11aのある
ところが電子放出域15となっている。
、導電体11表面の凸状部11aのない部分の表面およ
び凸状部11aの表面の両者を覆い平らな表面となるよ
うにして形成されている。そして、凸状部11aのある
ところが電子放出域15となっている。
導電体11が「負」側、金属層14が「正」側となるよ
うに電圧を印加することにょシ、電子放出域15の下側
の薄い絶縁体層12部分に強電界が形成される。そうす
ると、導電体11 より電子が引出されトンネル現象
によって絶縁体層12を透過し、金属層14の仕事関数
φ以上のエネルギーを持った電子が金属層14 Kおけ
る電子放出域15から飛び出してゆく。
うに電圧を印加することにょシ、電子放出域15の下側
の薄い絶縁体層12部分に強電界が形成される。そうす
ると、導電体11 より電子が引出されトンネル現象
によって絶縁体層12を透過し、金属層14の仕事関数
φ以上のエネルギーを持った電子が金属層14 Kおけ
る電子放出域15から飛び出してゆく。
第2図は請求項2記載の電子放出素子の一実施例を表わ
す。これは同時に請求項1記載の電子放出素子の実施例
でもある。
す。これは同時に請求項1記載の電子放出素子の実施例
でもある。
本実施例の電子放出素子は、導電体(導電性材)11−
絶縁体層12.13−金属層14で構成されている。す
なわち、導電体11 と金属層14の間に介在する絶
縁体層は、導電体11表面の凸状部11aのない部分を
覆い凸状部11aと同一平面となるように形成された第
1絶縁体層12と、この第1絶縁体層12および凸状部
11aの両表面を憶い平らな表面となるようにして形成
された第2絶縁体層13とで構成されている。そして、
凸状部11aのあるところが電子放出域15となってい
る。
絶縁体層12.13−金属層14で構成されている。す
なわち、導電体11 と金属層14の間に介在する絶
縁体層は、導電体11表面の凸状部11aのない部分を
覆い凸状部11aと同一平面となるように形成された第
1絶縁体層12と、この第1絶縁体層12および凸状部
11aの両表面を憶い平らな表面となるようにして形成
された第2絶縁体層13とで構成されている。そして、
凸状部11aのあるところが電子放出域15となってい
る。
その他の部分は第1図の実施例と同一であるので説明を
省略する。
省略する。
導電体11が「負」側、金属層14が「正」側となるよ
うに電圧を印加することにより、゛成子放出域15の下
側の薄い第2絶縁体層13に強電界が形成され、導電体
11 より電子が引出されトンネル現象によって第2
絶縁体層13を透過し、金属層14の仕事関数φ以上の
エネルギーを持った電子が金属層14 における電子放
出域15から飛び出してゆく。
うに電圧を印加することにより、゛成子放出域15の下
側の薄い第2絶縁体層13に強電界が形成され、導電体
11 より電子が引出されトンネル現象によって第2
絶縁体層13を透過し、金属層14の仕事関数φ以上の
エネルギーを持った電子が金属層14 における電子放
出域15から飛び出してゆく。
続いて、第2図の電子放出素子の製造方法の一例を、第
3図(a)〜(g)を参照しながら説明する。
3図(a)〜(g)を参照しながら説明する。
まず、例えば、ガラス等の絶縁基板21の表面全面に、
例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタ
法、CVD法、MBE法、イオンビーム蒸着法等により
、金属を蒸着し、第3図(a)にみるように、導電体用
の金属層22′を形成する。
例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタ
法、CVD法、MBE法、イオンビーム蒸着法等により
、金属を蒸着し、第3図(a)にみるように、導電体用
の金属層22′を形成する。
金属層22′は、例えば、AA’、 Au、 Pt、
Mo、 Ta。
Mo、 Ta。
Ag、W%Cr 等からなり、厚みは0.1〜1μm程
度である。
度である。
ついで、第3図(b)にみるように、金属層22におけ
る電子放出域となる部分にレジスト層23を選択的に形
成する。レジスト層23は通常のフォトリソグラフィ技
術を用いて形成することができる。
る電子放出域となる部分にレジスト層23を選択的に形
成する。レジスト層23は通常のフォトリソグラフィ技
術を用いて形成することができる。
レジスト層23形成後、例えば、イオンミーリング法、
湿式エツチング法等により、金属層22におけるレジス
ト層のない部分を厚みd(例えば、0.05〜0.5μ
m )分、エツチングする。そうすると、第3図(C)
にみるように、凸状部22aのある導電体22が形成さ
れる。
湿式エツチング法等により、金属層22におけるレジス
ト層のない部分を厚みd(例えば、0.05〜0.5μ
m )分、エツチングする。そうすると、第3図(C)
にみるように、凸状部22aのある導電体22が形成さ
れる。
つぎに、第3図(d)にみるように、凸状部22aの横
に同一平面となるようにして第1絶縁体層24 を、例
えば、電子ビーム蒸着法、スパッタ法、CVD法、MB
E法、イオンビーム蒸着法等を用いて積層形成する。第
1絶縁体層24は、8i02、Al2O3、Ta205
.5iNx1BN、 AIN、 C等からなる。
に同一平面となるようにして第1絶縁体層24 を、例
えば、電子ビーム蒸着法、スパッタ法、CVD法、MB
E法、イオンビーム蒸着法等を用いて積層形成する。第
1絶縁体層24は、8i02、Al2O3、Ta205
.5iNx1BN、 AIN、 C等からなる。
第1絶縁体層24を形成した後、第3図(e)にみるよ
うに、レジスト層23をリフトオフしてから、第3図(
f)にみるように、凸状部22aおよび第1絶縁体層2
4表面に、厚み5〜2Qnm程度の第2絶縁体層25を
積層形成する。第2絶縁体層25 も、例えば、電子ビ
ーム蒸着法、スパッタ法、C■法、MBE法、イオンビ
ーム蒸着法等を用いて形成されており、5IO2、Al
2O3、TazOs、SiNx。
うに、レジスト層23をリフトオフしてから、第3図(
f)にみるように、凸状部22aおよび第1絶縁体層2
4表面に、厚み5〜2Qnm程度の第2絶縁体層25を
積層形成する。第2絶縁体層25 も、例えば、電子ビ
ーム蒸着法、スパッタ法、C■法、MBE法、イオンビ
ーム蒸着法等を用いて形成されており、5IO2、Al
2O3、TazOs、SiNx。
BNlklN、 C等からなる。
最後に、第3図(g)にみるように、例えば、Au 。
kl、Mo、W等の金属層26が第2絶縁体層25の平
らな表面に形成され電子放出素子の完成となる。金属層
26は、例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、
CVD法、MBE法、イオンビーム蒸着法等を用いて形
成されており、通常、厚みは、5〜200m程度である
。
らな表面に形成され電子放出素子の完成となる。金属層
26は、例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、
CVD法、MBE法、イオンビーム蒸着法等を用いて形
成されており、通常、厚みは、5〜200m程度である
。
さらに、他の実施例について説明する。
第4図は、請求項3記載の電子放出素子の一実施例をあ
られす。
られす。
電子放出素子は、絶縁基板31−導電体(導電性材)3
2−絶縁体層33−金属層35で構成されている。導電
体32は平らな絶縁基板31表面の一部に形成されてい
る。導電体32と金属層350間に介在する絶縁体層3
3は、絶縁基板31表面の導電体32のない部分の表面
および導電体32の表面の両者を覆い平らな表面となる
ようにして形成されている。導電体32と金属層35が
交差している部分が電子放出域36となっている。
2−絶縁体層33−金属層35で構成されている。導電
体32は平らな絶縁基板31表面の一部に形成されてい
る。導電体32と金属層350間に介在する絶縁体層3
3は、絶縁基板31表面の導電体32のない部分の表面
および導電体32の表面の両者を覆い平らな表面となる
ようにして形成されている。導電体32と金属層35が
交差している部分が電子放出域36となっている。
導電体32が「負」側、金属層35が「正」側となるよ
うに電圧を印加することにより、成子放出域36の下側
の薄い絶縁体層33部分に強電界が形成される。そうす
ると、導電体32より電子が引出されトンネル現象によ
って絶縁体層33を透過し、金属層35の仕事関数φ以
上のエネルギーを持った電子が金属層35における電子
放出域36から飛び出してゆく。
うに電圧を印加することにより、成子放出域36の下側
の薄い絶縁体層33部分に強電界が形成される。そうす
ると、導電体32より電子が引出されトンネル現象によ
って絶縁体層33を透過し、金属層35の仕事関数φ以
上のエネルギーを持った電子が金属層35における電子
放出域36から飛び出してゆく。
第5図は請求項4記載の電子放出素子の一実施例を表わ
す。これは同時に請求項3記載の電子放出素子の実施例
でもある。
す。これは同時に請求項3記載の電子放出素子の実施例
でもある。
本実施例の電子放出素子は、絶縁基板31−導電体32
−絶縁体層33.34−金属層35で構成されている。
−絶縁体層33.34−金属層35で構成されている。
すなわち、導電体32と金属層35の間に介在する絶縁
体層は、基板31表面の導電体のない部分を覆い導電体
32と同一平面となるように形成された第1絶縁体層3
3と、この第1絶縁体層33および導電体320両表面
を覆い平らな表面となるようにして形成された第2絶縁
体層34とで構成されている。導電体32と金属層35
が交差している部分が電子放出域36となっている。そ
の他の部分は第4図の実施例と同一であるので説明は省
略する。
体層は、基板31表面の導電体のない部分を覆い導電体
32と同一平面となるように形成された第1絶縁体層3
3と、この第1絶縁体層33および導電体320両表面
を覆い平らな表面となるようにして形成された第2絶縁
体層34とで構成されている。導電体32と金属層35
が交差している部分が電子放出域36となっている。そ
の他の部分は第4図の実施例と同一であるので説明は省
略する。
導電体32が「負j側、金属層35が「正」側となるよ
うに電圧を印加することにより、電子放出域36の下側
の薄い第2絶縁体層34に強電界が形成され、導電体3
2 より電子が引出されトンネル現象によって第2絶縁
体層34を透過し、金属層35の仕事関数φ以上のエネ
ルギーを持った電子が金属層35における電子放出域3
6から飛び出してゆく。
うに電圧を印加することにより、電子放出域36の下側
の薄い第2絶縁体層34に強電界が形成され、導電体3
2 より電子が引出されトンネル現象によって第2絶縁
体層34を透過し、金属層35の仕事関数φ以上のエネ
ルギーを持った電子が金属層35における電子放出域3
6から飛び出してゆく。
上記各実施例の電子放出素子から出る電子ビームの形を
測定したところ、電子放出域の形に対応するビーム・ス
ポットが得られていることが確認された。
測定したところ、電子放出域の形に対応するビーム・ス
ポットが得られていることが確認された。
この発明は上記実施例に限らない。電子放出素子は、第
1図、第2図にみるように、導電体の下に絶縁基板が設
けられていない構成であってもよい0 電子放出素子が、複数の電子放出域が所定の配列でもっ
て並んでいるアレイ化構成であってもよい。アレイ化し
た場合でも、上記数々の利点は全く損なわれない。
1図、第2図にみるように、導電体の下に絶縁基板が設
けられていない構成であってもよい0 電子放出素子が、複数の電子放出域が所定の配列でもっ
て並んでいるアレイ化構成であってもよい。アレイ化し
た場合でも、上記数々の利点は全く損なわれない。
導電体と金属層の間の絶懺体層がつぎのような構成であ
ってもよい。第1絶縁体層を形成した後、第2絶縁体層
を形成するかわりに、導電体表面を酸化して酸化絶縁膜
を形成し、この酸化絶縁層と第1絶縁体層とで導電体と
金属層の間の絶縁体層を構成するようにしてもよいので
ある。
ってもよい。第1絶縁体層を形成した後、第2絶縁体層
を形成するかわりに、導電体表面を酸化して酸化絶縁膜
を形成し、この酸化絶縁層と第1絶縁体層とで導電体と
金属層の間の絶縁体層を構成するようにしてもよいので
ある。
導電体、金属層、絶縁体層等の形成材料、形成方法、厚
み、形状は、上記例示のものに限らないことはいうまで
もない。
み、形状は、上記例示のものに限らないことはいうまで
もない。
なお、金属層は、凸状部や導電体の上方で前面的に覆っ
ている必要はなく、少なくとも一部で覆う(交差する)
だけでもよいこともいうまでもない0 発明の効果 請求項1〜4記載の電子放出素子では、金属層が表面の
平らな絶縁体層の上に形成されているため、金属層の電
気的導通の信頼性が高く、しかも、電子放出特性が安定
している。さらに、電子放出域を間単に任意の形状にす
ることができるため、電子ビームの形状を容易に目的に
合う形状にすることができることとなり、実用性が高い
。
ている必要はなく、少なくとも一部で覆う(交差する)
だけでもよいこともいうまでもない0 発明の効果 請求項1〜4記載の電子放出素子では、金属層が表面の
平らな絶縁体層の上に形成されているため、金属層の電
気的導通の信頼性が高く、しかも、電子放出特性が安定
している。さらに、電子放出域を間単に任意の形状にす
ることができるため、電子ビームの形状を容易に目的に
合う形状にすることができることとなり、実用性が高い
。
第1図は、この発明の電子放出素子の一実施例をあられ
す概略断面図、第2図はこの発明の電子放出素子の他の
実施例をあられす概略断面図、第3図(a)〜(g)は
、第2図の電子放出素子を製造するときの様子を順を追
ってあられす概略断面図、第4図および第5図は各々こ
の発明の電子放出素1、22.32・・・導電体(導電
性材)、12.24.33・・・第1絶縁体層、13.
25.34・・・第2絶縁体層、14.26.35・・
・金属層、15.36 ・電子放出域、31 −絶縁
基板。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 l 孝 はが1名嬉 図 第 図 22ユ / 22ユ 第 図 2o− 第 図 4+%9に
す概略断面図、第2図はこの発明の電子放出素子の他の
実施例をあられす概略断面図、第3図(a)〜(g)は
、第2図の電子放出素子を製造するときの様子を順を追
ってあられす概略断面図、第4図および第5図は各々こ
の発明の電子放出素1、22.32・・・導電体(導電
性材)、12.24.33・・・第1絶縁体層、13.
25.34・・・第2絶縁体層、14.26.35・・
・金属層、15.36 ・電子放出域、31 −絶縁
基板。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 l 孝 はが1名嬉 図 第 図 22ユ / 22ユ 第 図 2o− 第 図 4+%9に
Claims (4)
- (1)表面の一部が凸状部になっている導電性材と、平
らな表面を作るようにして前記導電性材の表面を覆いつ
くす絶縁体層と、この絶縁体層表面の少なくとも凸状部
の上方を覆う金属層とを備えている電子放出素子。 - (2)絶縁体層が、導電性材表面の凸状部のない部分を
覆い凸状部と同一平面となるように形成された第1絶縁
体層と、この第1絶縁体層および前記凸状部の両表面を
覆い平らな表面となるようにして形成された第2絶縁体
層からなる請求項1記載の電子放出素子。 - (3)平らな基板表面の一部に形成された導電性材と、
平らな表面を作るようにして前記導電性材および前記基
板表面を覆いつくす絶縁体層と、この絶縁体層表面の少
なくとも導電性材の上方を覆う金属層とを備えている電
子放出素子。 - (4)絶縁体層が、基板表面の導電性材のない部分を覆
い導電性材と同一平面となるように形成された第1絶縁
体層と、この第1絶縁体層および前記導電性材の両表面
を覆い平らな表面となるようにして形成された第2絶縁
体層とからなる請求項3記載の電子放出素子。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63324107A JPH02170327A (ja) | 1988-12-22 | 1988-12-22 | 電子放出素子 |
EP19890120124 EP0367195A3 (en) | 1988-10-31 | 1989-10-30 | Mim cold-cathode electron emission elements and methods of manufacture thereof |
US07/429,526 US5202605A (en) | 1988-10-31 | 1989-10-31 | Mim cold-cathode electron emission elements |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63324107A JPH02170327A (ja) | 1988-12-22 | 1988-12-22 | 電子放出素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02170327A true JPH02170327A (ja) | 1990-07-02 |
Family
ID=18162240
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63324107A Pending JPH02170327A (ja) | 1988-10-31 | 1988-12-22 | 電子放出素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02170327A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100362075B1 (ko) * | 1997-11-10 | 2003-02-05 | 닛본 덴기 가부시끼가이샤 | Mim또는mis전자원및그제조방법 |
JP2006216249A (ja) * | 2005-02-01 | 2006-08-17 | Seiko Epson Corp | 電子源および電子源の製造方法、並びに表示装置及び電子機器 |
JP2011222452A (ja) * | 2010-04-14 | 2011-11-04 | Sharp Corp | 電子放出素子及びその製造方法 |
-
1988
- 1988-12-22 JP JP63324107A patent/JPH02170327A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100362075B1 (ko) * | 1997-11-10 | 2003-02-05 | 닛본 덴기 가부시끼가이샤 | Mim또는mis전자원및그제조방법 |
JP2006216249A (ja) * | 2005-02-01 | 2006-08-17 | Seiko Epson Corp | 電子源および電子源の製造方法、並びに表示装置及び電子機器 |
JP2011222452A (ja) * | 2010-04-14 | 2011-11-04 | Sharp Corp | 電子放出素子及びその製造方法 |
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