JPH01235124A - 電界放射型電極 - Google Patents

電界放射型電極

Info

Publication number
JPH01235124A
JPH01235124A JP63061555A JP6155588A JPH01235124A JP H01235124 A JPH01235124 A JP H01235124A JP 63061555 A JP63061555 A JP 63061555A JP 6155588 A JP6155588 A JP 6155588A JP H01235124 A JPH01235124 A JP H01235124A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
emitter
tip
field emission
emission
work function
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63061555A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukihiro Kondo
近藤 行広
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP63061555A priority Critical patent/JPH01235124A/ja
Publication of JPH01235124A publication Critical patent/JPH01235124A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、電界放射により電子線を放射するようにした
電界放射型電極に関するものである。
【従来の技術1 一般に、電子機器、分析機器、光源、表示素子等におい
て電子線源を必要とする機器が知られている。これらの
機器では、固体表面から空間への電子放射、あるいは、
固体から固体への注入的な電子放射を利用している。
ところで、このような電子線源としては大きく分けて2
種類が知られている。すなわち、熱電子放出を利用する
ものと、電界放射を利用するものとがある。熱電子放出
は、タングステン等の高融点金属を高温に加熱して金属
中の自由電子に熱エネルギーを与えることにより、金属
表面から電子が放出される現象であって、この現象を利
用した陰極は熱陰極と呼ばれている。熱陰極は、比較的
容易に電子が放出されることから一般に広く使用されて
いるが、以下のような欠点がある。
すなわち、タングステンを用いた熱陰極では、第3図に
示すように、温度の上昇に伴なって放出電流密度が指数
関数的に上昇するのであって、所要の放出電流密度を得
るには、ヒータを用いるか、あるいは陰極自身のジュー
ル熱を利用して必要な温度に加熱しなければならない、
したがって、所望の温度に設定するための抵抗値の調節
が必要となり、また、ジュール熱を利用しているからエ
ネルギーロスも大きいという問題が生じる。さらに、高
温に加熱するから陰極物質の蒸発や劣化等も問題になる
。分析用や光源用の電子線源としては、エネルギー分布
の集中度の高いもの、すなわち、各電子がほぼ等しいエ
ネルギーを持つような電子Mil!が要求され、また、
これらの分野では、効率および電流密度の高さが要求さ
れている。しかしながら、熱電子放出では、エネルギー
分布が2eV程度の幅を有し、また電流密度も高々20
A/c屑2程度となっており、しかも上述したように効
率も低いものである。
一方、電界放射は、金属の表面に強い電界(通常は10
@V/z以上)を印加して電位障壁を薄くすることによ
って、量子力学的トンネル効果により、金属内の電子が
障壁を通り抜けて金属外に放射されるというシシットキ
ー効果を利用するものである。しかるに、常温で電子の
放射が生じるものであるから、熱的なロスがほとんどな
く、しかも放射される電子のエネルギーは印加される電
界強度に依存しているからエネルギー分布の集中度が高
いという利点を有している。すなわち、熱電子放出によ
る欠点を解消できるのである。
[発明が解決しようとする課題1 電界放射では上述したような利点がある反面、高電圧が
必要であり高価になるから、比較的高度な一部の機器で
しか利用されていないのが現状である。
本発明は上述の問題点を解決することを目的とするもの
であり、電子の放射を従来よりも低電圧で行なえるよう
にした電界放射型電極を提供しようとするものである。
[g題を解決するための手段] 本発明は、上記目的を達成するために、放射孔に臨むエ
ミッタチップの表面にエミッタチップの主体を形成する
材料よりも仕事関数の小さい物質よりなる表面層を形成
しているものである。
[作用1 上記構成によれば、エミッタチップの表面の仕事関数を
小さくすることができるから、電子の放射に要する仕事
が小さくなるのであり、その結果、電界放射に要する電
界強度を低減させることができるのである。
さらに具体的に言えば、電界放射のエミッション電流J
は、下に示すFowler −Nordheimの式で
表わされる。
ここに、A、Bは定数、t(y)*v(y)はNord
heimの関数、Fは電界強度であって、 F=β■  β=f(r、R−θ) [ci+−’]ま
た、 y=3.79xl O−’F””/φ であり、ここに、φは仕事関数、rは円錐状に形成され
たエミッタチップの先端径、Rはデート・エミッタチッ
プ間の距離、θはエミッタチップの先端部の開き角度で
ある。仕事関数φは、材料により決まっており、たとえ
ば、タングステンW、モリブデンMo、タンタルTaで
は以下のようになっている。
W  :  4,5eV Mo  :  4.27eV Ta  :  4,12eV しかるに、上式に照らしてみれば、これらの物質でエミ
ッタチップを形成した場合に、エミッタチップとデート
との間に10’V/cm程度の電界強度をかけると、エ
ミッタチップの先端から電子が放出されるのであり、エ
ミッタチップとデートとの間の距離を1μ麓程度にすれ
ば、エミッタチップとデートとの間に103V程度の電
圧を印加すれば電子の放射が生じることになる。また、
エミッタチップの先端部を鋭くして、エミッタチップの
開き角度を小さくすれば、エミッタチップの先端部に電
荷が集中するのであって、エミッタチップの先端部の曲
率を500人程度にすれば、電子の放出に必要な電界強
度は1桁下げることができる。
すなわち、エミッタチップとデートとの間に印加すべき
電圧を102v程度にすることが可能となるのである。
以上のことから、エミッタチップから電子を放出させる
のに必要な電界強度は、エミッタチップの表面材料の仕
事関数に依存していることがわかるのであり、本発明で
は、エミッタチップの表面に仕事関数の小さい材料で形
成した表面層を形成することにより、電子の放射を容易
にしているのである。
[実施例] 本発明の電界放射型電極は、第1図に示す構造を有して
いる。すなわち、十分にドープされたシリコンよりなる
導電性の基板12に、二酸化シリコンよりなる絶縁層1
3を介してモリブデンよりなる導電性のデート層14を
積層した積層体を有し、絶縁層13およびデート層14
を通して形成されて基板12の表面を露出させる放射孔
15内に主体がモリブデンよりなるエミッタチップ16
を配設し、かつエミッタチップ16の表面に主体よりも
仕事関数の小さい材料よりなる表面層17を形成したも
のである0表面層17を形成する材料としては、たとえ
ば、TiC,NbC,TaC等の炭化物、L a B 
s等のほう化物、BaO,SrO等の酸化物がある。基
板12は1■程度の厚み、絶縁M13は1μ屑程度の厚
み、放射孔15は1μl程度の直径に設定されている。
この電界放射型電極を形成するには、第2図(a)に示
すよろに、基板12を形成するシリコンウェハの表面に
酸化皮膜を形成することにより絶縁層13を形成した後
、絶縁層13の表面にモリブデンを電子ビーム蒸着する
ことにより、0.5μl程度の厚みのデート層14を形
成し、さらに、エツチングにより放射孔15を形成する
。次に、第2図(b)に示すように、分離層18を蒸着
により形成してから、第2図(e)に示すように、電子
ビーム蒸着により、モリブデンを基板12上に堆積させ
てエミッタチップ16を形成する。このプロセスでエミ
ッタチップ16が円錐形に形成されるのであり、その先
端は尖鋭に形成される。また、このプロセスの最後には
放射孔15が閉塞されることになるが、その直前に主体
とは異なる材料を二ミッタチ2ブ16の表面に蒸着する
ことによって、エミッタチップ16の表面に表面層を形
成する。
最後に、第2図(d)に示すように、分離層18を剥離
すれば、電界放射型電極が形成されるのである。この電
界放射型電極の形成方法の基本部分は、文献(C,^、
5pindts et at、s”Physical 
propertiesof   thin−fils 
  fieldemission   cathode
s  withmolybdenum  cones″
tJ++^pp1. Phys、+  Vol  47
+  No。
12、 December 1976、p、5248−
5263)に詳しく記載されている。エミッタチップ1
6は、上記実施例では円錐形に形成しているが、ひげ状
、針状等、先端が尖鋭であれば他の形状も適用しうるち
のである。
ところで、上記構成において、エミッタチップ16の仕
事関数を小さくするだけであれば、エミッタチップ16
の全体を仕事関数の小さい材料で形成することが考えら
れるのであるが、実際には、基板12の材料との整合性
により、基板12の上に堆積させることができる材料は
限定される。すなわち、格子定数、熱膨張係数、膜形成
時の内部応力の方向等により材料が限定されるのであり
、基板12としてシリコンを選択すると、エミッタチッ
プ16は、モリブデン、タングステン、ニオブ等でなけ
れば形成することができないことになる。したがって、
表面層17を形成す己材料を、これらの材料で形成され
た主体の表面に堆積させることで、基板12との整合性
とは無関係にエミッタチップ16の仕事関数を低減させ
ようとしているのである。
以りのようにして形成された電界放射型電極は、エミッ
タチップ16の表面の仕事関数が小さいから電子の放出
が容易になるのであり、たとえば、仕事関数が、従来の
エミッタチップ16では4e■程度、本発明では2eV
程度となるから、エミッシラン電流が10’A/cm2
であるとすると、電子の放射に必要な電界強度は、それ
ぞれ4,5X10’V/ca、1.7X10’V/cl
Fとなり、他の条件が同じであるとすれば、印加電圧は
1.7/4.5に低減されるのであり、従来100■の
印加電圧が必要であったところが、38 V l:まで
低減させることができるのである。
E発明の効果] 本発明は上述のように、放射孔に臨むエミッタチップの
表面にエミッタチップの主体を形成する材料よりも仕事
関数の小さい物質よりなる表面層を形成しているから、
エミッタチップの表面の仕事関数を小さくすることがで
き、その結果、電子の放射に要する仕事が小さくなり、
電界放射に要する電界強度を低減させることができると
いう利点を有するのである。すなわち、低電圧の電源を
用いて電子線を放出することができるから、比較的安価
に形成することができ、電子線源が必要な一般機器に応
用しやすくなるのである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す断面図、第2図は同上
の製造過程を示す工程図、第3図は熱電子放出の特性例
を示す特性図である。 12・・・基板、13・・・絶縁層、14・・・デート
層、15・・・放射孔、16・・・エミッタチップ、1
7・・・表面層。 *+  図  12・・・基板 13・・・絶縁層 14・・・デート層 15・・・放射孔 16・・・エミッタチップ 17・・・表面層 塩2図 (b) 一:、゛ j!tl !jJ! (d) 1131!& 温L(’K) 手続補正書く自発) 1.事件の表示 昭和63年特許願第61555号 2、発明の名称 電界放射型電極 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 住 所 大阪府門真市大字門真1048番地名称(58
3)松下電工株式会社 代表者  三  好  俊  夫 4、代理人 郵便番号 530 住 所 大阪市北区検出1丁目12番17号(検出ビル
5階) 氏 名 (6176)弁理土石 1)長 七雪06(3
45)7777(代表) 5、補正命令の日付 自  発 6、補正により増加する請求項の数 なし[1]本願明
細書第9頁第2行の「形成する。」の次に、以下の文を
挿入する。 「ここに、表面層の蒸着は、物理的蒸着法と化学的蒸着
法とのいずれの方法も採用しうるちのである。」 代理人 弁理士 石 1)長 七

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)先端部が尖鋭なエミッタチップと、エミッタチッ
    プの先端部を露出させる放射孔を有するとともにエミッ
    タチップに対して絶縁された形で配置されたゲート層と
    が真空中に配設された電極部を有し、エミッタチップを
    デート層に対して負極としてショットキー効果が生じる
    程度の高電圧を印加することにより、エミッタチップか
    ら放射孔を通して電子線を放射する電界放射型電極にお
    いて、放射孔に臨むエミッタチップの表面にエミッタチ
    ップの主体を形成する材料よりも仕事関数の小さい物質
    よりなる表面層を形成して成ることを特徴とする電界放
    射型電極。
JP63061555A 1988-03-15 1988-03-15 電界放射型電極 Pending JPH01235124A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63061555A JPH01235124A (ja) 1988-03-15 1988-03-15 電界放射型電極

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63061555A JPH01235124A (ja) 1988-03-15 1988-03-15 電界放射型電極

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01235124A true JPH01235124A (ja) 1989-09-20

Family

ID=13174476

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63061555A Pending JPH01235124A (ja) 1988-03-15 1988-03-15 電界放射型電極

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01235124A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02220337A (ja) * 1989-02-21 1990-09-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電界放出型冷陰極
US5772488A (en) * 1995-10-16 1998-06-30 Micron Display Technology, Inc. Method of forming a doped field emitter array
EP2161734A2 (en) 2008-09-03 2010-03-10 Canon Kabushiki Kaisha Electron emission device and image display panel using the same, and image display apparatus and information display apparatus
EP2194563A2 (en) 2008-12-02 2010-06-09 Canon Kabushiki Kaisha Method of fabricating electron-emitting device and method of manufacturing image display apparatus
EP2194557A2 (en) 2008-12-02 2010-06-09 Canon Kabushiki Kaisha Electron-emitting device and display panel including the same

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4960169A (ja) * 1972-10-09 1974-06-11
JPS5148268A (ja) * 1974-10-23 1976-04-24 Hitachi Ltd

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4960169A (ja) * 1972-10-09 1974-06-11
JPS5148268A (ja) * 1974-10-23 1976-04-24 Hitachi Ltd

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02220337A (ja) * 1989-02-21 1990-09-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電界放出型冷陰極
US5772488A (en) * 1995-10-16 1998-06-30 Micron Display Technology, Inc. Method of forming a doped field emitter array
US6515414B1 (en) 1995-10-16 2003-02-04 Micron Technology, Inc. Low work function emitters and method for production of fed's
US7492086B1 (en) 1995-10-16 2009-02-17 Micron Technology, Inc. Low work function emitters and method for production of FED's
EP2161734A2 (en) 2008-09-03 2010-03-10 Canon Kabushiki Kaisha Electron emission device and image display panel using the same, and image display apparatus and information display apparatus
KR101148555B1 (ko) * 2008-09-03 2012-05-21 캐논 가부시끼가이샤 전자 방출 소자 및 그것을 사용한 화상 표시 패널, 화상 표시 장치 및 정보 표시 장치
EP2194563A2 (en) 2008-12-02 2010-06-09 Canon Kabushiki Kaisha Method of fabricating electron-emitting device and method of manufacturing image display apparatus
EP2194557A2 (en) 2008-12-02 2010-06-09 Canon Kabushiki Kaisha Electron-emitting device and display panel including the same
EP2194557A3 (en) * 2008-12-02 2010-11-10 Canon Kabushiki Kaisha Electron-emitting device and display panel including the same
US8344607B2 (en) 2008-12-02 2013-01-01 Canon Kabushiki Kaisha Electron-emitting device and display panel including the same
US8388400B2 (en) 2008-12-02 2013-03-05 Canon Kabushiki Kaisha Method of fabricating electron-emitting device and method of manufacturing image display apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5551903A (en) Flat panel display based on diamond thin films
Bayliss et al. An analysis of field-induced hot-electron emission from metal-insulator microstructures on broad-area high-voltage electrodes
US4983878A (en) Field induced emission devices and method of forming same
JP3569135B2 (ja) 電界放出陰極の製造方法
US7102157B2 (en) Nanotube-based vacuum devices
US5935639A (en) Method of depositing multi-layer carbon-based coatings for field emission
JPH10149778A (ja) 微小冷陰極管とその駆動方法
Hishinuma et al. Vacuum thermionic refrigeration with a semiconductor heterojunction structure
US3184659A (en) Tunnel cathode having a metal grid structure
JPH01235124A (ja) 電界放射型電極
US3535598A (en) Solid state tunnel cathode emitter having an improved thin film insulating barrier
US2620287A (en) Secondary-electron-emitting surface
US2548514A (en) Process of producing secondaryelectron-emitting surfaces
CN109473326B (zh) 场发射电子源及其用途与真空电子器件及装置
JP3546606B2 (ja) 電界放出素子の製造方法
US3372315A (en) Electron tunnel emission device exhibiting approximately 0.9 current transfer ratio
JP2727193B2 (ja) 電子放出素子の製造方法
JP3392507B2 (ja) 微小電界放出陰極素子
JP3598267B2 (ja) 画像表示装置
JPH0233823A (ja) 電子放出素子
JP3622406B2 (ja) 冷電子放出素子及びその製造方法
JPH02306520A (ja) 電子放出素子
JPH02170327A (ja) 電子放出素子
JP3335775B2 (ja) 電子放出素子
JPH02172127A (ja) 電子放出素子およびその製造方法