JPH02166915A - 負荷反応遷移制御付バツフア回路 - Google Patents
負荷反応遷移制御付バツフア回路Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
4を制御する複合バッファ及び出力ドライバ回路に関す
る。
ス・臂イクは集積回路が小さくなるにつれて相対的な大
きさ及びその頻度の両方で増加してくる。集積回路の接
続線の抵抗及びインダクタンスが主な過渡的ノイズ電圧
源となっているということがわかってきた。電源・ぐノ
ドから接地・にノドへの電流の急激な変化がそのような
チップを通る線のノイズ・レベルの大きさに大きく関与
している。現在、集積回路の寸法を小さくすることは線
の幅を拡張してそのインビダンス・レベルヲ大キく下げ
ることをこばんでいる。ノイズ源の除去の試みは更に集
積回路のスイッチング・スピードの短縮及びそれに関す
るal/di効果の減少によってよシ複雑化している。
のノイズ信号は入力/出力(Ilo)バッファが容量性
負荷を切換えるのに使用される場合によシ多く現われる
。このノイズ源の大きさはCMOSタイプの集積回路を
使用したときにより増加すると思われ、そ、のCMO8
集積回路の負荷はほとんど容量性である。
術が提案されてきた。例えば、米国特許第4,129,
792号は、出力ドライブ電流がカスケード・トランジ
スタ段のスイッチング速度に従い時間的連続性をもりて
可能化される2つ又はそれ以上のスイッチング装置によ
って供給されるようにした回路を提供している。又、米
国特許第4.638,187号は電流ス/Jイク効果を
小さくするため時間が連続的に可能化されるようにした
並列接続トラン・ゾスタ段の他の構造を開示している。
は典型的な先端の集積回路におけるある電源線及び接地
線のスイッチング・ノイズ問題を解決することはできる
が、出力パッドの容量性負荷の大きさに対する出力バッ
ファ電流の変化率を調節する回路の必要性がいまだ残さ
れている。そのような変化率の補償はフィードバック信
号に応答して、急激な電流変化を制限し、関連する電源
線及び接地線のdi/d套ノイズ・レベル−1]制する
のが望ましい。
信号as/a+を制御し、遷移の後の出力段の十分なプ
ルアンプを保証し、大容量性負荷に対して供給される瞬
間電流を制限するよう出力トランジスタのターンオン率
又は速度を制御するようにした複合バッファ及び出力ド
ライバ回路を提供する。これら混合したバッファ回路の
特徴は負荷応答フィードパンクの感度を上げ、電流サー
ジ・ノイズを減少し、その結果適当な大きさのDC電圧
レベルを保証するものである。
電極と出力ノード間に容量性フィードバックを用い、容
量性負荷に対する出カドラン・ゾスタのスイッチング速
度を調節している。出力トランジスタのターンオン電流
スノヤイクは出力トランジスタの制御ダートとスイッチ
された制御信号源との間に挿入された抵抗性要素によっ
て更に制御される。
によってドライブされるプルアンプ・トランジスタを使
用して獲得される。そのロジック・ケ゛−トの出力状態
は入力コマンド信号と最終安定状態レベルの方に進行す
る出力ノード電圧レベルとの組合わせに基づいて決定す
る。
トライ・ステート構造のために、この発明は前述の出力
トランジスタの制御ダートに作用するプルダウン・トラ
ンジスタを含む。プルダウン・トランジスタは制御r−
トがターンオンしたときにスイッチされるよりも相当速
く出力トランジスタの制御ダートをスイッチするよう設
計される。これは、出力をドライブするのに相補トラン
ジスタ対が使用されたときに重複スイッチング・タイプ
の短絡を避けるためである。トライ・ステート動作はタ
ーンオンで選択的に相互作用する複合ロジック・ケ゛−
トを通し、安定状態制御信号で可能化される。
形態である。この回路は集積回路内で発生する信号に応
答してその出力・母ノドをドライブするのに特に適合す
るものである。第1図の回路は出力パッド2及び代表的
な容量性パッド負荷CLを含む。第1図の回路は高速ス
イッチング信号“データイン”を受信し、出力パッド2
をドライブする電界効果トランジスタ(FET) 3を
持ち、接地線のdi/ds効果を最少にする。
ース電極4と制御ダート電極6との間に接続されたスリ
ニー・レート制限フィードバック容量又はキヤ・母シタ
7を有する。第2に、ドライバ・トランジスタ3を可能
化するため、ノード9のプルアップ作用及び制御電極6
の漸進効果がインバータの制限された出力容量によって
抑制される。その結果、トランジスタ3を可能化するケ
゛−ト電極6の上昇電圧のス17.−・レートは制限さ
れたドライブ・インバータ12、抵抗11及び13、キ
ャ)?シタ7の結合効果によって減少する。
タ8を直接可能化するのに使用される。トランジスタ8
はノード9及びトランジスタ3のケ9−ト電甑6を、ノ
ード9が正方向に移行することができる速度より相当速
く接地の方に引っ張る。
ジック結合から発生する。オア・ダート14は信号デー
タインとノぐノド2からのフィードバック信号とを結合
してpチャンネル・トランジスタ16をドライブする出
力信号をそこから供給する。
り、・ぞノド2の電圧が電源電圧の約半分に下った後如
、トランジスタ16を可能化してノード9を電源電圧v
DDの方に引っ張るのが望ましい。
トランジスタ3にドライブすることが電源vDDの全電
圧に基づくものであるということを保証する。
ラツドの公称容量負荷CLをドライブし、24ミリアン
ペアの公称DC電流導通特性を表わすように設計された
出力トランジスタ3のために2ピコフアラツドのレンジ
である。これらの容量において、抵抗11.13は30
0〜400オームの公称範囲を持ち、フィードバック抵
抗17は公称250オームである。プルダウン・トラン
ジスタ8の物理的寸法及び電気的特性は、ケ゛−ト電極
6のプルダウン・レートがインバータ12で発生したゾ
ルアップ・レートの約4倍であることを保証するように
選ばれる。
に示す。この回路は信号ENABLEに応答して選択的
に動作しうるエネーブル・モードを有するトライ・ステ
ート特性を含む。回路に要求されたトライ・ステート特
性を実施するため、出力・ゼット2は、pチャンネル・
トランジスタ18がA?ノド2を電源ノードVDDに引
っ張り、nチャンネル・トランジスタ19が・マッド2
を接地電位に引っ張ると共に、相補対の電界効果トラン
ジスタによってドライブされる。出カッぐノド・ドライ
バ・トランジスタ18,19の各制御又はダート電極は
夫々のフィードパンク・キャノぐシタ21.22を通し
て/?ラッドのノードに接続される。トランジスタ18
,19のダート電極Fir−タイン信号のレベルに直接
応答して中間ノード26,27に作用する電気的に相補
のプーリング・トランジスタ23 、、24によって個
々にドライブされる。再び、中間ノード26.27は夫
々の抵抗28゜29によってドライバ・トランジスタ1
8.19の制御ダート電極から分離される。
更に抵抗29.33及びフィードパンク容量22によっ
て抑圧されて、グルダウン・ドライバ・トランジスタ1
9によって導通された/?フッド−地電流の初期スロー
プを形成する。抵抗28゜34を通してキヤ・ぐシタ2
1と相互に作用するオア・ケ”−ト32の電流容量はゾ
ルアップ・・ドラ・イパ・トランジスタ18に対応する
効果を与える。
、入力信号の遷移が6ハイ”−ロー″か又はパロー −
ハイ”かによって、ドライバ・トランジスタ18.19
の制御ダート電圧の変化レートに相対的差違を設定する
ため、中間ノード27.26から夫々のロジック・ダー
ト31.32を分離する。よシ大きく、より速く且つよ
り直接的に接続されているトランジスタ23.24は夫
夫のケ゛−1−37,36を通して可能化されるよりも
約4倍速く夫々の出力ドライバ・トランジスタ18,1
9をディセーブルして、両トラン・ゾスタ18.19の
望ましくない同時可能化を防止する。
のディセーブルとその相補トランジスタの可能化との間
に十分な余裕を与えて、普通の製造上のばらつきによる
性能の差違をうめあわせる。
を感知するロノソク・ダートによって適当に保証される
。この実施例におけるオア・ゲート36及びノア・ダー
ト37はpチャンネル・トランジスタ38及びnチャン
ネル・トランジスタ39に夫々作用して出力ドライ/J
・トランジスタ19.18を完全に可能化するため、適
当な電源及び接地レベルの方に夫々の中間ノード27,
26を十分に引っ張るようにする。又、・ぐノド電圧が
電源電圧の約半分に達したときに、ロソツク・ダート3
6.37はパッド2から抵抗41を通して送信されたフ
ィードバック信号に応答するのが好ましい。
ァ回路42をトライ・ステート動作モードにして、・ぐ
ノド2が電源及び接地ライン両方から同時に遮断される
ようにする。これは両ドライバ・トランジスタ18.1
9を同時にディセーブルすることによって行われる。E
NABLE状態はノードに安定状態電圧を設定するr−
ト(すなわち、ゲート36゜37)と同様、電流の立上
りの初期速度を定めるケ゛−ト(すなわち、ダート31
.32)に送信される。
ズ・ス・ぐイク(dj/dG)をほぼ減少するようにし
た第2図の回路の特性は第3図乃至第10図の一連の実
測図から明らかである。各図は約5Vの・ぞノド出力電
圧遷移とそれに関する電源電圧又は接地線のノイズ電圧
レベルとを示す。第3図乃至第6図は公称レベル20ピ
コフアラツドで負荷された・ぐノドにおける波形であり
、第7図乃至第10図は公称120ピコフアラツド負荷
を有するパッドのものである。
′′ロー″電圧遷移に対するものであり、第4図は相対
的に比較しうる先行技術の出力パッド・ドライバ回路の
対応する遷移の実績である。
とそのノイズとを示し、第6図は先行技術の対応する結
果を示す。第7図はノ・イ”−°゛口”遷移状態の下に
おけるこの発明の回路の大きな容量性負荷の影響を示し
、第8図は先行技術回路のそれに対応する影響を示す。
f−−/・イ″遷移を示し、第10図はそれに対応する
先行技術の実績を示す。ノイズ・レベルを比較すると、
明らかにこの発明の回路が示した実績、によってその改
良が明確となった。例えば、相対的な50ミリボルトの
ピーク間ノイズ(第3図のこの発明で示した)は第4図
の先行技術と比較するとその量は1/2より小さい。
はテスト・オノシロスコープによるものであり、・ぐノ
ドはそれ以外負荷されていない。第7図乃至第10図に
示すテスト結果に使用された120ピコフアラツドはノ
ぐノド2に更に100ピコフアラツドの不活性負荷を追
加した。
22の重要性を過少評価してはならない。
寄与するだけでなく、出力・fノド2の低い容量性負荷
レベルに対するスイッチング速度を抑制するに適した負
性フィードバックを供給する。
イバ・トランジスタを通して流れる電流を制限すること
にのみ集中するのに対し、この発明の回路は、その制御
の範囲を高いcB/dt効果を有する低容量性負荷範囲
に拡張する。パッド電圧の高い変化速度は、すべてキヤ
・ぞシタ21又は22全通してドライバ・トランジスタ
のデート電極にフィードバックされる。その結果、この
発明の回路は、先端技術のCMOSクラスの集積回路装
置及び現今に典型的な種類の負荷1、すなわち・ぞノド
の容量性負荷のばらつき又は変動に対するオープン・ル
ープ及びクローズド・ループ補償を提供する。
ステート制御を有するこの発明の好ましい構成を示す回
路図、 第3図乃至第10図は、好ましい実施例及び代表的な先
行技術の相対的実施レベルを示した線図である。 図中、1・・・バッファ回路、2・・・出力ノソンド、
3・・・FET、7・・・キャノぞシタ、8,16・・
・トランジスタ、9・・・ノード、11,13.17・
・・抵抗、12・・・インバータ。 出願人代理人 斎 藤 勲 FIG、1 FIG、3 FIG、4 FIG、5 FIG、6 0mV 10口5 FIG、7 FIG、9 FIG、8 FIG、10
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 電源の第1の側に接続された第1のトランジスタによっ
て駆動される出力ノードと、 前記出力ノードと前記第1のトランジスタの制御電極と
の間に接続された容量性フィードバック手段と、 データイン信号の第1の状態に応答して前記第1のトラ
ンジスタの制御電極を前記電源の第1の側に急速に引張
るよう接続された第2のトランジスタと、 前記データイン信号の第2の状態に応答して前記第1の
トランジスタの制御電極を前記電源の第2の側の方に緩
慢に引張るよう接続されたスイッチ手段とを含む負荷反
応遷移制御付バッファ回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/269,022 US4906867A (en) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | Buffer circuit with load sensitive transition control |
US269022 | 2002-10-10 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02166915A true JPH02166915A (ja) | 1990-06-27 |
JP2700419B2 JP2700419B2 (ja) | 1998-01-21 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1273915A Expired - Lifetime JP2700419B2 (ja) | 1988-11-09 | 1989-10-23 | 負荷反応遷移制御付バツフア回路 |
Country Status (4)
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---|---|
US (1) | US4906867A (ja) |
EP (1) | EP0368524B1 (ja) |
JP (1) | JP2700419B2 (ja) |
DE (1) | DE68912277T2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6222403B1 (en) | 1998-06-02 | 2001-04-24 | Nec Corporation | Slew rate output circuit with an improved driving capability of driving an output MOS field effect transistor |
US6320432B1 (en) | 2000-03-30 | 2001-11-20 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Output buffer circuit |
JP2006135526A (ja) * | 2004-11-04 | 2006-05-25 | Asahi Kasei Microsystems Kk | 出力バッファ回路 |
JP2007214643A (ja) * | 2006-02-07 | 2007-08-23 | Denso Corp | 通信ドライバ回路 |
JP2014532351A (ja) * | 2011-09-29 | 2014-12-04 | インテル コーポレイション | 負荷に依存しないバッファを改善するための方法及び装置 |
Families Citing this family (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5008568A (en) * | 1989-01-24 | 1991-04-16 | Integrated Device Technology, Inc. | CMOS output driver |
US5049763A (en) * | 1989-03-22 | 1991-09-17 | National Semiconductor Corporation | Anti-noise circuits |
US4972101A (en) * | 1989-09-19 | 1990-11-20 | Digital Equipment Corporation | Noise reduction in CMOS driver using capacitor discharge to generate a control voltage |
US5121013A (en) * | 1990-02-12 | 1992-06-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Noise reducing output buffer circuit with feedback path |
US5028818A (en) * | 1990-02-28 | 1991-07-02 | Integrated Device Technology, Inc. | Ground bounce limiting driver using non-linear capacitor |
DE4018754A1 (de) * | 1990-06-12 | 1991-12-19 | Bosch Gmbh Robert | Schaltung zur begrenzung der signalanstiegsgeschwindigkeit von ausgangssignalen integrierter schaltkreise |
US5124577A (en) * | 1990-09-28 | 1992-06-23 | Benchmarq Microelectronics, Inc. | Circuit for presetting the voltage of an output terminal |
US5153457A (en) * | 1990-12-12 | 1992-10-06 | Texas Instruments Incorporated | Output buffer with di/dt and dv/dt and tri-state control |
US5121000A (en) * | 1991-03-07 | 1992-06-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Edge-rate feedback CMOS output buffer circuits |
EP0533971A1 (de) * | 1991-09-24 | 1993-03-31 | Siemens Aktiengesellschaft | Schnittstellenschaltung |
US5218239A (en) * | 1991-10-03 | 1993-06-08 | National Semiconductor Corporation | Selectable edge rate cmos output buffer circuit |
US5204562A (en) * | 1991-11-29 | 1993-04-20 | Motorola, Inc. | Turn off delay reduction circuit and method |
US5194760A (en) * | 1991-12-23 | 1993-03-16 | Motorola, Inc. | Slew rate limited inductive load driver |
US5397967A (en) * | 1992-06-30 | 1995-03-14 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Slew rate circuit for high side driver for a polyphase DC motor |
US5500817A (en) * | 1993-01-21 | 1996-03-19 | Micron Technology, Inc. | True tristate output buffer and a method for driving a potential of an output pad to three distinct conditions |
JP3140605B2 (ja) * | 1993-04-28 | 2001-03-05 | 富士通株式会社 | 出力バッファ回路 |
US5355029A (en) * | 1993-07-12 | 1994-10-11 | Digital Equipment Corporation | Staged CMOS output buffer |
DE4400872A1 (de) * | 1994-01-14 | 1995-07-20 | Philips Patentverwaltung | Ausgangstreiberschaltung |
US5574633A (en) * | 1994-02-23 | 1996-11-12 | At&T Global Information Solubions Company | Multi-phase charge sharing method and apparatus |
WO1995024076A1 (en) * | 1994-03-01 | 1995-09-08 | Apple Computer, Inc. | Slew-rate controlled power switching circuit |
US5534790A (en) * | 1994-04-13 | 1996-07-09 | International Business Machines Corporation | Current transition rate control circuit |
US5598119A (en) * | 1995-04-05 | 1997-01-28 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for a load adaptive pad driver |
FR2735300B1 (fr) * | 1995-06-12 | 1997-08-14 | Matra Mhs | Dispositif d'interfacage de sortie programmable parmi trois etats pour memoire en technologie cmos |
JP3369807B2 (ja) | 1995-08-30 | 2003-01-20 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
US5621342A (en) * | 1995-10-27 | 1997-04-15 | Philips Electronics North America Corporation | Low-power CMOS driver circuit capable of operating at high frequencies |
US5633603A (en) * | 1995-12-26 | 1997-05-27 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Data output buffer using pass transistors biased with a reference voltage and a precharged data input |
US5959481A (en) * | 1997-02-18 | 1999-09-28 | Rambus Inc. | Bus driver circuit including a slew rate indicator circuit having a one shot circuit |
US6114895A (en) * | 1997-10-29 | 2000-09-05 | Agilent Technologies | Integrated circuit assembly having output pads with application specific characteristics and method of operation |
US6081915A (en) * | 1998-03-30 | 2000-06-27 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for reducing the time required to test an integrated circuit using slew rate control |
EP0982733B1 (en) * | 1998-08-19 | 2006-03-22 | Texas Instruments Incorporated | An output buffer |
US6242942B1 (en) | 1998-11-13 | 2001-06-05 | Integrated Device Technology, Inc. | Integrated circuit output buffers having feedback switches therein for reducing simultaneous switching noise and improving impedance matching characteristics |
US6091260A (en) * | 1998-11-13 | 2000-07-18 | Integrated Device Technology, Inc. | Integrated circuit output buffers having low propagation delay and improved noise characteristics |
US6356102B1 (en) | 1998-11-13 | 2002-03-12 | Integrated Device Technology, Inc. | Integrated circuit output buffers having control circuits therein that utilize output signal feedback to control pull-up and pull-down time intervals |
US6271699B1 (en) | 1999-04-02 | 2001-08-07 | Motorola, Inc. | Driver circuit and method for controlling transition time of a signal |
US6772250B2 (en) * | 2001-03-15 | 2004-08-03 | International Business Machines Corporation | Boundary scannable one bit precompensated CMOS driver with compensating pulse width control |
JP2008537366A (ja) * | 2005-02-25 | 2008-09-11 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | I2cバス用エッジレート制御回路 |
CN101416391B (zh) * | 2006-03-31 | 2011-04-06 | Nxp股份有限公司 | 使用电容反馈的信号驱动器的方法以及系统 |
US8015419B2 (en) * | 2006-08-31 | 2011-09-06 | Ati Technologies Ulc | Method and apparatus for soft start power gating with automatic voltage level detection |
FR2907619B1 (fr) * | 2006-10-20 | 2009-02-13 | Atmel Nantes Sa Sa | Dispositif d'interfacage de sortie compense en charge et circuit electronique correspondant. |
US8581920B2 (en) * | 2007-09-27 | 2013-11-12 | Rambus Inc. | Utilizing masked data bits during accesses to a memory |
US7852110B2 (en) * | 2008-05-21 | 2010-12-14 | Texas Instruments Incorporated | Controlling the slew-rate of an output buffer |
CA2759210A1 (en) * | 2009-05-11 | 2010-11-18 | Ss Sc Ip, Llc | Gate driver for enhancement-mode and depletion-mode wide bandgap semiconductor jfets |
JP5385711B2 (ja) * | 2009-07-09 | 2014-01-08 | パナソニック株式会社 | データ通信回路、送信機器、受信機器、送受信システム |
JP2011077672A (ja) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Sanyo Electric Co Ltd | 信号入出力回路 |
US9634664B2 (en) * | 2013-04-05 | 2017-04-25 | Applied Wireless Identifications Group, Inc. | Over-current and/or over-voltage protection circuit |
DE102013020663B4 (de) | 2013-12-06 | 2020-08-06 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zur Slew-Rate-Generierung für LIN-Bus-Treiber |
US9548726B1 (en) * | 2015-02-13 | 2017-01-17 | Inphi Corporation | Slew-rate control and waveshape adjusted drivers for improving signal integrity on multi-loads transmission line interconnects |
US9473127B1 (en) * | 2015-07-06 | 2016-10-18 | Qualcomm Incorporated | Input/output (I/O) driver |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58188931A (ja) * | 1982-04-28 | 1983-11-04 | Seiko Epson Corp | Cmosバツファアンプ駆動回路 |
US4504779A (en) * | 1983-03-11 | 1985-03-12 | Hewlett-Packard Company | Electrical load drive and control system |
US4612466A (en) * | 1984-08-31 | 1986-09-16 | Rca Corporation | High-speed output driver |
JPH0720060B2 (ja) * | 1985-08-14 | 1995-03-06 | 株式会社東芝 | 出力回路装置 |
US4622482A (en) * | 1985-08-30 | 1986-11-11 | Motorola, Inc. | Slew rate limited driver circuit which minimizes crossover distortion |
JPS62214714A (ja) * | 1986-03-15 | 1987-09-21 | Fujitsu Ltd | ノイズ対策回路を備えたlsi装置 |
NL8601558A (nl) * | 1986-06-17 | 1988-01-18 | Philips Nv | Geintegreerde logische schakeling voorzien van een uitgangsschakeling voor het opwekken van een in de tijd begrensd toenemende uitgangsstroom. |
JPS635553A (ja) * | 1986-06-25 | 1988-01-11 | Fujitsu Ltd | バツフア回路 |
US4785201A (en) * | 1986-12-29 | 1988-11-15 | Integrated Device Technology, Inc. | High speed/high drive CMOS output buffer with inductive bounce suppression |
DE3708499A1 (de) * | 1987-03-16 | 1988-10-20 | Sgs Halbleiterbauelemente Gmbh | Digitale gegentakt-treiberschaltung |
AU608822B2 (en) * | 1987-06-29 | 1991-04-18 | Digital Equipment Corporation | Bus transmitter having controlled trapezoidal slew rate |
US4797579A (en) * | 1987-07-27 | 1989-01-10 | Raytheon Company | CMOS VLSI output driver with controlled rise and fall times |
US4800298A (en) * | 1987-08-04 | 1989-01-24 | Motorola, Inc. | Output buffer for improving di/dt |
-
1988
- 1988-11-09 US US07/269,022 patent/US4906867A/en not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-10-23 JP JP1273915A patent/JP2700419B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1989-10-27 EP EP89311147A patent/EP0368524B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-10-27 DE DE68912277T patent/DE68912277T2/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6222403B1 (en) | 1998-06-02 | 2001-04-24 | Nec Corporation | Slew rate output circuit with an improved driving capability of driving an output MOS field effect transistor |
US6320432B1 (en) | 2000-03-30 | 2001-11-20 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Output buffer circuit |
JP2006135526A (ja) * | 2004-11-04 | 2006-05-25 | Asahi Kasei Microsystems Kk | 出力バッファ回路 |
JP4500153B2 (ja) * | 2004-11-04 | 2010-07-14 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 出力バッファ回路 |
JP2007214643A (ja) * | 2006-02-07 | 2007-08-23 | Denso Corp | 通信ドライバ回路 |
JP2014532351A (ja) * | 2011-09-29 | 2014-12-04 | インテル コーポレイション | 負荷に依存しないバッファを改善するための方法及び装置 |
US9509292B2 (en) | 2011-09-29 | 2016-11-29 | Intel Corporation | Method and apparatus for improving a load independent buffer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2700419B2 (ja) | 1998-01-21 |
DE68912277D1 (de) | 1994-02-24 |
US4906867A (en) | 1990-03-06 |
EP0368524A1 (en) | 1990-05-16 |
EP0368524B1 (en) | 1994-01-12 |
DE68912277T2 (de) | 1994-09-01 |
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