JP4500153B2 - 出力バッファ回路 - Google Patents

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本発明は、半導体集積装置などに用いる出力バッファ回路に関し、特に、貫通電流及び不要輻射を低減した上で、入力から出力までの応答時間及び出力の遷移時間を抑制できるものである。
近年の半導体製品は、受信機器の集積化などの理由から、同一システム内において、受信機器と共に使用されることが多くなっている。また、受信機器の高性能化により、半導体製品から発せられる不要輻射が、誤動作を引き起こす原因になることも多い。不要輻射を低減するための1つの手段としては、信号の遷移時間を長くすることが挙げられる。
ところで、半導体集積装置などに使用される電子回路として、出力バッファ回路が知られている。このような出力バッファ回路において、常なる課題である、貫通電流及び不要輻射を低減した上で、出力負荷が増大した場合にも、入力から出力までの応答時間及び出力の遷移時間が、極端に大きくならないものが知られている(例えば、特許文献1を参照)。
この従来の出力バッファ回路は、図7に示すように、出力負荷を駆動する出力段のMOSトランジスタP1,N1と、このMOSトランジスタP1,N1と同様に動作するMOSトランジスタP2,N2と、入力段のMOSトランジスタP3,N3と、制御回路を構成するMOSトランジスタP4,N4とを備えている。図7では、出力段のMOSトランジスタP1、N1が駆動する出力負荷は図示していない。
次に、このような構成からなる従来の出力バッファ回路の動作について、図8を参照して説明する。以下では、便宜的に高い電源電圧VDDの電位を「H」レベル、低い電源電圧VSSの電位を「L」レベルとして説明する。
図8(a)に示すように、時刻t1において、入力信号Inの電位が「L」レベルから「H」レベルに遷移すると、P型MOSトランジスタP3はオフし、N型MOSトランジスタN3はオンする。N型MOSトランジスタN3のオンにより、ノードA2の電位は速やかに「L」レベルとなり(図8(c)参照)、N型MOSトランジスタN1及びN2はオフする。
また、時刻t1では、図8(d)に示すようにノードA3の電位は「L」レベルであり、N型MOSトランジスタN4はオフしており、P型MOSトランジスタP4はオンしている。このとき、図8(b)に示すようにノードA1の電位は「H」レベルであるが、N型MOSトランジスタN3及びP型MOSトランジスタP4はオンしているため、その後、「H」レベルからP型MOSトランジスタP4の閾値電圧(絶対値)に到達するまで下降する。
その後、時刻t2になると、P型MOSトランジスタP1及びP2は、ノードA1の電位が下降するに連れ徐々に半オン状態となり、出力信号Outの電位及びノードA3の電位は緩やかに上昇を開始する(図8(d)(e)参照)。
そして、時刻t2〜時刻t3において、ノードA3の電位は「L」レベルから「H」レベルに向けて上昇していく(図8(d)参照)。さらに、時刻t3〜時刻t4において、ノードA3の電位は上昇するので、N型MOSトランジスタN4は次第にオンする。
その後、時刻t4において、N型MOSトランジスタN4のオンに伴って、ノードA1の電位は速やかに「L」レベルに遷移し(図8(b)参照)、P型MOSトランジスタP1及びP2は完全にオン状態となり、出力信号Outの電位及びノードA3の電位は速やかに「H」レベルに遷移する(図8(d)(e)参照)。
ここで、図8(f)は、P型MOSトランジスタP1から出力負荷へと流れ出る電流Ivddを示し、図8(g)は、出力負荷からN型MOSトランジスタN1へと流れ込む電流Ivssを示している。
上記の電流Ivddは、図8(f)に示すように、P型MOSトランジスタP1を半オン状態にする、時刻t2の時点から一定の値となり、時刻t3の時点からノードA1の電位が下降するに連れて増加し、P型MOSトランジスタP1を完全にオン状態にする時刻t4の時点からは次第に減少する。
なお、入力信号Inの電位が「H」レベルから「L」レベルに遷移する際には、MOSトランジスタP1、N1など、対になる各MOSトランジスタの動作が逆となり、電位の極性が各々反転するだけであり、回路動作は上記の場合と同様である。
図7に示す従来の出力バッファ回路の特長は、電源間に直列接続された各MOSトランジスタが、同時にオンすることがない。このため、電源間の貫通電流が少なく、出力段MOSトランジスタP1またはN1については、出力の遷移開始時において、出力段トランジスタと出力負荷との間に発生する突入電流が少ないことが挙げられる。
また、出力段のMOSトランジスタが完全にオン状態になる所定の時間経過は、出力負荷とは無関係なため、出力負荷が増大した場合にも、入力から出力までの応答時間及び出力の遷移時間が極端に大きくならないという、特長も併せ持っている。
特開平10−290154号公報
しかし、従来の出力バッファ回路では、入力信号が高速な場合、及び出力段のMOSトランジスタの駆動能力に対して出力負荷が小さな場合には、出力段のMOSトランジスタが半オン状態である期間に、出力の遷移が完了するため、一般的な出力バッファ回路と比較して、入力から出力までの応答時間及び出力の遷移時間が大幅に増加するという問題がある。
そこで、本発明の目的は、出力バッファ回路の常なる課題である、貫通電流及び不要輻射の低減を実現する際に、出力負荷が増大した場合にも、入力から出力までの応答時間及び出力の遷移時間が極端に増加しない従来技術の特長を生かし、入力信号が高速な場合、及び出力段のMOSトランジスタの駆動能力に対して出力負荷が小さな場合に、入力から出力までの応答時間及び出力の遷移時間を従来より速くすることができる出力バッファ回路を提供することにある。
上記の課題を解決し、本発明の目的を達成するために、請求項1〜請求項6に係る発明は以下のような構成からなる。
すなわち、請求項1に係る発明は、出力信号を出力する出力段バッファと、入力信号を入力し、前記出力段バッファを駆動するプリバッファと、前記プリバッファが前記出力段バッファへ出力する信号に基づいて、前記プリバッファへの入力信号を制御する制御回路と、を備え、前記プリバッファは、前記出力段バッファへ出力する信号に基づいて、その駆動能力が段階的に変化するものである。
請求項2に係る発明は、請求項1に記載の出力バッファ回路において、前記制御回路は、前記入力信号の遷移開始時には、前記プリバッファが前記出力段バッファへ出力する信号を緩やかに遷移させ、前記入力信号の遷移開始時から所定の時間経過後には、前記プリバッファが前記出力段バッファへ出力する信号を速やかに遷移させるように、前記プリバッファへの入力信号を制御するようになっている。
請求項3に係る発明は、出力信号を出力する出力段バッファと、入力信号を入力し、前記出力段バッファを駆動するプリバッファと、前記プリバッファが前記出力段バッファへ出力する信号に基づいて、前記プリバッファへの入力信号を制御する制御回路と、を備え、前記制御回路は、前記入力信号の遷移開始時には、前記プリバッファが前記出力段バッファへ出力する信号を緩やかに遷移させ、前記入力信号の遷移開始時から所定の時間経過後には、前記プリバッファが前記出力段バッファへ出力する信号を速やかに遷移させるように、前記プリバッファへの入力信号を制御するようになっている。
請求項4に係る発明は、請求項2または請求項3に記載の出力バッファ回路において、前記プリバッファの出力側と前記制御回路の制御端子との間に設け、前記入力信号の入力から前記出力信号の出力までの応答時間および出力の遷移時間を所望の値に設定する回路を、さらに備えている。
請求項5に係る発明は、第1のMOSトランジスタを有する出力段バッファと、第2のMOSトランジスタ、および前記第2のMOSトランジスタと直列に接続され、前記第2のMOSトランジスタとは極性が異なる第3のトランジスタを有するプリバッファと、第4のMOSトランジスタ、および前記第4のMOSトランジスタと並列に接続され、前記第4のMOSトランジスタとは極性が異なる第5のMOSトランジスタがスイッチを構成し、前記プリバッファの入力電圧を制御する制御回路とを備え、入力端子が、前記第2のMOSトランジスタのゲートに接続されるとともに、前記スイッチを介して前記第3のMOSトランジスタのゲートに接続され、前記第2及び第3のMOSトランジスタの接続点が、前記第1のMOSトランジスタのゲートに接続されるとともに、前記第4及び第5のMOSトランジスタの各ゲートに接続され、かつ、前記第1 のMOSトランジスタのドレインが出力端子に接続されている。
請求項6に係る発明は、第1のMOSトランジスタを有する出力段バッファと、第2のMOSトランジスタ、および前記第2のMOSトランジスタと直列に接続され、前記第2のMOSトランジスタとは極性が異なる第3のトランジスタを有するプリバッファと、第4のMOSトランジスタ、および前記第4のMOSトランジスタと並列に接続され、前記第4のMOSトランジスタとは極性が異なる第5のMOSトランジスタがスイッチを構成し、前記プリバッファの入力電圧を制御する制御回路とを備え、入力端子が、前記第2のMOSトランジスタのゲートに接続されるとともに、前記スイッチを介して前記第3のMOSトランジスタのゲートに接続され、前記第2及び第3のMOSトランジスタの接続点が、前記第1のMOSトランジスタのゲートに接続されるとともに、前記第4のMOSトランジスタのゲートに接続され、前記第5のMOSトランジスタのゲートが電源端子に接続され、かつ、前記第1のMOSトランジスタのドレインが出力端子に接続されている。
本発明によれば、出力の遷移開始時に、出力段トランジスタと出力負荷との間で発生する突入電流を抑制し、ノイズ及び不要輻射を低減することができる。
また、本発明では、出力段トランジスタのゲート電圧の遷移が停滞しないよう制御することにより、入力信号が高速な場合、及び出力段MOSトランジスタの駆動能力に対して出力負荷が小さな場合にも、入力から出力までの応答時間及び出力遷移時間を速くすることができる。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
(第1実施形態)
図1は、本発明の出力バッファ回路の第1実施形態の構成を示す回路図である。
この第1実施形態は、図1に示すように、出力段バッファ1と、この出力段バッファ1を駆動するプリバッファ2、3と、プリバッファ2、3が出力段バッファ1へ出力する信号に基づいてプリバッファ2、3への入力信号を制御する制御回路4、5と、入力信号Inが入力される入力端子6と、出力信号Outを取り出すための出力端子7と、を備えている。
出力段バッファ1は、図示しない出力負荷を駆動するものである。このため、出力段バッファ1は、図1に示すように、P型MOSトランジスタP1とN型MOSトランジスタN1とからなり、これらが直列に接続されてその共通接続部が出力端子7に接続されている。
すなわち、MOSトランジスタP1は、ソースに高い電源電圧VDDが供給されるようになっており、ドレインがMOSトランジスタN1のドレインに接続され、その共通接続部が出力端子7に接続されている。また、MOSトランジスタN1は、ソースに低い電源電圧VSSが供給されるようになっている。さらに、MOSトランジスタP1,N1の各ゲートには、プリバッファ2、3の各出力信号が供給されるようになっている。
プリバッファ2、3は、それぞれ、入力信号Inと、この入力信号Inが制御回路4、5で制御される信号とにより動作し、その出力信号によって出力段バッファ1を駆動するものである。
このため、プリバッファ2は、図1に示すように、P型MOSトランジスタP2と、これとは極性の異なるN型MOSトランジスタN3とからなり、これらが直列に接続され、その共通接続部がMOSトランジスタP1のゲートに接続されている。
すなわち、MOSトランジスタP2は、ソースに高い電源電圧VDDが供給されるようになっており、ドレインがMOSトランジスタN3のドレインに接続され、その共通接続部がMOSトランジスタP1のゲートに接続されている。また、MOSトランジスタN3は、ソースに低い電源電圧VSSが供給されるようになっている。さらに、MOSトランジスタP2のゲートには入力信号Inが供給され、MOSトランジスタN3のゲートには入力信号Inを制御回路4で制御した信号が供給されるようになっている。
また、プリバッファ3は、図1に示すように、P型MOSトランジスタP3と、これとは極性の異なるN型MOSトランジスタN2とからなり、これらが直列に接続され、その共通接続部がMOSトランジスタN1のゲートに接続されている。
すなわち、MOSトランジスタP3は、ソースに高い電源電圧VDDが供給されるようになっており、ドレインがMOSトランジスタN2のドレインに接続され、その共通接続部がMOSトランジスタN1のゲートに接続されている。また、MOSトランジスタN2は、ソースに低い電源電圧VSSが供給されるようになっている。さらに、MOSトランジスタP3のゲートには、入力信号Inを制御回路5で制御した信号が供給され、MOSトランジスタN2のゲートには、入力信号Inが供給されるようになっている。
制御回路4、5は、入力信号Inの遷移開始時には、プリバッファ2,3が出力段バッファ1へ出力する信号を緩やかに遷移させ、入力信号Inの遷移開始時から所定の時間経過後には、プリバッファ2、3が出力段バッファ1へ出力する信号を速やかに遷移させるように、プリバッファ2、3への入力信号を制御するようになっている。
このため、制御回路4は、図1に示すように、P型MOSトランジスタP4と、これとは極性の異なるN型MOSトランジスタN5とからなり、これらが並列に接続された電子スイッチからなる。そして、並列回路の一端側に入力信号Inが供給され、その他端側から出力される出力信号は、MOSトランジスタN3のゲートに供給されるようになっている。さらに、MOSトランジスタP4,N5の各ゲートにはプリバッファ2の出力信号が供給され、MOSトランジスタP4,N5の導通制御が行われるようになっている。
すなわち、MOSトランジスタP4のドレインとMOSトランジスタN5のソースとを接続し、この共通接続部が入力端子6に接続されている。また、MOSトランジスタP4のソースとMOSトランジスタN5のドレインとを接続し、この共通接続部がMOSトランジスタN3のゲートに接続されている。さらに、MOSトランジスタP4,N5の各ゲートは共通接続され、この共通接続部が、MOSトランジスタP2,N3の共通接続部およびMOSトランジスタP1のゲートにそれぞれ接続されている。
また、制御回路5は、図1に示すように、P型MOSトランジスタP5と、これとは極性の異なるN型MOSトランジスタN4とからなり、これらが並列に接続された電子スイッチからなる。そして、並列回路の一端側に入力信号Inが供給され、その他端側から出力される出力信号は、MOSトランジスタP3のゲートに供給されるようになっている。さらに、MOSトランジスタP5,N4の各ゲートにはプリバッファ3の出力信号が供給され、MOSトランジスタP5,N4の導通制御が行われるようになっている。
すなわち、MOSトランジスタP5のドレインとMOSトランジスタN4のソースとを接続し、この共通接続部が入力端子6に接続されている。また、MOSトランジスタP5のソースとMOSトランジスタN4のドレインとを接続し、この共通接続部がMOSトランジスタP3のゲートに接続されている。さらに、MOSトランジスタP5,N4の各ゲートは共通接続され、この共通接続部が、MOSトランジスタP3,N2の共通接続部およびMOSトランジスタN1のゲートにそれぞれ接続されている。
次に、このような構成からなる第1実施形態の動作例について、図1および図2を参照して説明する。
図2(a)に示すように、時刻t1において、入力信号Inの電位が「L」レベルから「H」レベルに遷移すると、P型MOSトランジスタP2はオフし、N型MOSトランジスタN2はオンする。N型MOSトランジスタN2のオンにより、ノードAN1の電位は速やかに「L」レベルとなり(図2(c)参照)、N型MOSトランジスタN1及びN4はオフし、P型MOSトランジスタP5はオンする。
従って、ノードAN2には、入力信号Inの電位である「H」レベルが低下することなく伝播するため、ノードAN2電位は「H」レベルとなり(図2(e)参照)、P型MOSトランジスタP3はオフする。このとき、図2(b)に示すようにノードAP1の電位は「H」レベルであり、P型MOSトランジスタP4はオフし、N型MOSトランジスタN5はオンしている。従って、ノードAP2には、図2(d)に示すように入力信号Inの電位である「H」レベルから、N型MOSトランジスタN5の閾値電圧だけ降下した電位が伝播するため、N型MOSトランジスタN3は半オン状態となる。
その後、時刻t2において、図2(b)に示すように、ノードAP1の電位は緩やかに下降を開始する。その下降に伴って、P型MOSトランジスタP1は半オン状態となり、出力信号Outの電位は「L」レベルから緩やかに上昇していく(図2(f)参照)。
そして、時刻t3になると、ノードAP1の電位が、P型MOSトランジスタP4の閾値電圧(絶対値)を超えるので、P型MOSトランジスタP4はオンになる。P型MOSトランジスタP4のオンにより、入力信号Inの電位である「H」レベルは低下することなく伝播するため、図2(d)に示すように、ノードAP2の電位は速やかに「H」レベルまで上昇する。
従って、時刻t4では、N型MOSトランジスタN3は、半オン状態から完全にオン状態に遷移し、ノードAP1の電位は、速やかに「L」レベルに低下する(図2(b)参照)。これに伴い、P型MOSトランジスタP1もまた、完全にオン状態へと遷移するため、出力信号Outの電位は速やかに「H」レベルへと遷移する(図2(f)参照)。
ここで、図2(g)は、P型MOSトランジスタP1から出力負荷へと流れ出る電流Ivddを示し、図2(h)は、出力負荷からN型MOSトランジスタN1へと流れ込む電流Ivssを示している。
上記の電流Ivddは、図2(g)に示すように、P型MOSトランジスタP1を半オン状態にする、時刻t2からは次第に増加し、P型MOSトランジスタP1を完全にオン状態にする、時刻t3の時点からは次第に減少する。
なお、上記では、入力信号Inの電位が「L」レベルから「H」レベルに遷移する場合について説明した。これに対して、入力信号Inの電位が「H」レベルから「L」レベルに遷移する場合には、MOSトランジスタP1、N1など、対になる各MOSトランジスタの動作が逆となり、電位の極性が各々反転するだけであり、回路動作は上記の場合と同様である。
以上述べたように、第1実施形態では、プリバッファ2、3のMOSトランジスタのゲート電圧を、出力段バッファ1のMOSトランジスタのゲート電圧に基づいて段階的に制御することにより、出力信号Outの遷移開始時には、出力段バッファ1のMOSトランジスタのゲート電圧を緩やかに変化させ、所定の時間経過後には、出力段バッファ1のMOSトランジスタのゲート電圧を速やかに変化させるようにした。
すなわち、第1実施形態では、従来回路と異なり、出力信号Outの遷移開始から完了までの期間において、出力段バッファ1のMOSトランジスタのゲート電圧の遷移が停滞することのないよう制御した。
このため、第1実施形態によれば、入力信号が高速な場合、及び出力段のMOSトランジスタの駆動能力に対して出力負荷が小さな場合に、入力から出力までの応答時間及び出力の遷移時間の増加を抑制できる。
また、第1実施形態によれば、従来回路の特長であった、貫通電流及び不要輻射の低減、及び出力負荷が増大した際にも、応答時間及び遷移時間が極端に増加しない特長は失われていない。
(第2実施形態)
図3は、本発明の出力バッファ回路の第2実施形態の構成を示す回路図である。
この第2実施形態は、図1に示す第1実施形態の構成と基本的に同一であり、図1に示す制御回路4、5を、図3に示す制御回路4A、5Aに置き換えたものである。
すなわち、図3に示すように、制御回路4Aは、それを構成するMOSトランジスタN5のゲートに高い電源電圧VDDを供給するようにし、制御回路5Aは、それを構成するMOSトランジスタP5のゲートに低い電源電圧VSSを供給するようにした。すなわち、MOSトランジスタN5,P5の各ゲートを電源端子に接続するようにした。そして、これらの点が、第1実施形態の制御回路4、5とその構成が異なる点である。
従って、第2実施形態では、図3に示すように、上記の制御回路4A、5Aの構成を除いた他の部分の構成は図1に示す第1実施形態の構成と同一であるので、同一の構成要素には同一符号を付してその構成の説明は省略する。
このような構成から第2実施形態の動作は、上記の第1実施形態の動作と同様であるので、その動作の説明は省略する。また、第2実施形態によれば、上記の第1実施形態と同様の効果を実現できる。
(第3実施形態)
図4は、本発明の出力バッファ回路の第3実施形態の構成を示す回路図である。
この第3実施形態は、図4に示すように、出力段バッファ1と、この出力段バッファ1を駆動するプリバッファ2、3と、プリバッファ2、3が出力段バッファ1へ出力する信号に基づいてプリバッファ2、3への入力信号を制御する制御回路4、5と、プリバッファ2、3の各出力側と制御回路4、5の各制御端子との間に設けた遅延回路8、9と、入力信号Inが入力される入力端子6と、出力信号Outを取り出すための出力端子7と、を備えている。
すなわち、この第3実施形態は、図1に示す第1実施形態を基本とし、図4に示す遅延回路8、9をさらに追加するようにしたものである。従って、第3実施形態では、遅延回路8、9を追加した点の構成を除き、他の部分の構成は図1に示す第1実施形態の構成と同一であるので、同一の構成要素には同一符号を付してその構成の説明は省略する。
遅延回路8は、プリバッファ2のN型MOSトランジスタN3を半オン状態から完全にオン状態にするための時間を、所定の時間だけ遅延させる回路である。
このため、遅延回路8は、ノードAP1とP型MOSトランジスタP4及びN型MOSトランジスタN5のゲート間に設けるようにし、そのMOSトランジスタP4,N5のゲートをノードAP3とした。
また、遅延回路9は、プリバッファ3のP型MOSトランジスタP3を半オン状態から完全にオン状態にするための時間を、所定の時間だけ遅延させる回路である。
このため、遅延回路9は、ノードAN2とP型MOSトランジスタP5及びN型MOSトランジスタN4のゲート間に設けるようにし、そのMOSトランジスタP5、N4のゲートをノードAN3とした。
次に、遅延回路8、9の具体的な構成例について、図5および図6を参照しながら説明する。
遅延回路8は、図5に示すように、P型MOSトランジスタP6と、ダイオード接続されるP型MOSトランジスタP7を直列に複数個接続した遅延素子81と、から構成される。
P型MOSトランジスタP6は、ゲートが入力端子6に接続され、ソースに高い電源電圧VDDが供給され、ドレインがノードAP3(MOSトランジスタP4,N5の各ゲート)に接続されるようになっている。遅延素子81は、その一端側(入力側)がノードAP1(MOSトランジスタP1のゲート)に接続され、その他端側(出力側)がノードAP3に接続されるようになっている。
遅延回路9は、図6に示すように、N型MOSトランジスタN6と、ダイオード接続されるN型MOSトランジスタN7を直列に複数個接続した遅延素子91と、から構成される。
N型MOSトランジスタN6は、ゲートが入力端子6に接続され、ソースに低い電源電圧VSSが供給され、ドレインがノードAN3(MOSトランジスタP5,N4の各ゲート)に接続されるようになっている。遅延素子91は、その一端側(入力側)がノードAN1(MOSトランジスタN1のゲート)に接続され、その他端側(出力側)がノードAN3に接続されるようになっている。
ここで、遅延回路8、9は、図5および図6に示すようにMOSトランジスタの組み合わせにより構成したが、これに代えて、抵抗素子、あるいは抵抗素子と容量素子によって構成するようにしても良い。
次に、図5に示す遅延回路8の動作について、図面を参照して説明する。
図5において、MOSトランジスタP6のゲートに供給される入力信号Inの電位が「H」レベルから「L」レベルに遷移すると、P型MOSトランジスタP6がオンし、ノードAP3の電位は「H」レベルに遷移する。一方、入力信号Inの電位が「L」レベルから「H」レベルに遷移すると、P型MOSトランジスタP6がオフし、ノードAP3の電位は「H」レベルを保持する。このとき、ノードAP1の電位は「H」レベルであるが、図4中のN型MOSトランジスタN3は半オン状態になるため、「H」レベルから徐々に下降する。
このため、複数のP型MOSトランジスタP7からなる遅延素子81は、ノードAP1と接続されたP型MOSトランジスタ7側から順次オンし、ノードAP3の電位は、複数のP型MOSトランジスタP7の各閾値電圧(絶対値)の和の電位まで下降する。従って、複数からなるP型MOSトランジスタP7の個数を設定すれば、入力から出力までの応答時間及び出力の遷移時間を、所望の値に変更することができる。
次に、図6に示す遅延回路9の動作について、図面を参照して説明する。
図6において、MOSトランジスタN6のゲートに供給される入力信号Inの電位が「L」レベルから「H」レベルに遷移すると、N型MOSトランジスタN6がオンし、ノードAN3の電位は「L」レベルに遷移する。一方、入力信号Inの電位が「H」レベルから「L」レベルに遷移すると、N型MOSトランジスタN6がオフし、ノードAN3の電位は「L」レベルを保持する。このとき、ノードAN1の電位は「L」レベルであるが、図4中のP型MOSトランジスタP3は半オン状態になるため、「L」レベルから徐々に上昇する。
このため、複数のN型MOSトランジスタN7からなる遅延素子91は、ノードAN1と接続されたN型MOSトランジスタN7側から順次オンし、ノードAN3の電位は、複数のN型MOSトランジスタN7の各閾値電圧(絶対値)の和の電位まで上昇する。従って、複数からなるN型MOSトランジスタN7の個数を設定すれば、入力から出力までの応答時間及び出力の遷移時間を、所望の値に変更することができる。
以上説明したように、第3実施形態では、図1に示す第1実施形態の構成に、遅延回路8、9をさらに追加するようにしたので、制御回路4、5が制御する際の入力から出力までの応答時間及び出力の遷移時間を、所望の値に定めることが可能になる。
本発明は、出力バッファ回路であり、半導体集積装置などに適用される。
本発明の第1実施形態の回路図である。 図1の各部の波形例を示す波形図である。 本発明の第2実施形態の回路図である。 本発明の第3実施形態の回路図である。 遅延回路の具体例を示す回路図である。 遅延回路の他の具体例を示す回路図である。 従来回路の回路図である。 図7の各部の波形例を示す波形図である。
符号の説明
P1〜P7 P型MOSトランジスタ
N1〜N7 N型MOSトランジスタ
1 出力段バッファ
2、3 プリバッファ
4、5 制御回路
6 入力端子
7 出力端子
8、9 遅延回路

Claims (6)

  1. 出力信号を出力する出力段バッファと、
    入力信号を入力し、前記出力段バッファを駆動するプリバッファと、
    前記プリバッファが前記出力段バッファへ出力する信号に基づいて、前記プリバッファへの入力信号を制御する制御回路と、を備え
    前記プリバッファは、前記出力段バッファへ出力する信号に基づいて、その駆動能力が段階的に変化することを特徴とする出力バッファ回路。
  2. 前記制御回路は、前記入力信号の遷移開始時には、前記プリバッファが前記出力段バッファへ出力する信号を緩やかに遷移させ、前記入力信号の遷移開始時から所定の時間経過後には、前記プリバッファが前記出力段バッファへ出力する信号を速やかに遷移させるように、前記プリバッファへの入力信号を制御することを特徴とする請求項1に記載の出力バッファ回路。
  3. 出力信号を出力する出力段バッファと、
    入力信号を入力し、前記出力段バッファを駆動するプリバッファと、
    前記プリバッファが前記出力段バッファへ出力する信号に基づいて、前記プリバッファへの入力信号を制御する制御回路と、を備え、
    前記制御回路は、前記入力信号の遷移開始時には、前記プリバッファが前記出力段バッファへ出力する信号を緩やかに遷移させ、前記入力信号の遷移開始時から所定の時間経過後には、前記プリバッファが前記出力段バッファへ出力する信号を速やかに遷移させるように、前記プリバッファへの入力信号を制御することを特徴とする出力バッファ回路。
  4. 前記プリバッファの出力側と前記制御回路の制御端子との間に設け、前記入力信号の入力から前記出力信号の出力までの応答時間および出力の遷移時間を所望の値に設定する回路を、さらに備えたことを特徴とする請求項2または請求項3に記載の出力バッファ回路。
  5. 第1のMOSトランジスタを有する出力段バッファと、
    第2のMOSトランジスタ、および前記第2のMOSトランジスタと直列に接続され、前記第2のMOSトランジスタとは極性が異なる第3のトランジスタを有するプリバッファと、
    第4のMOSトランジスタ、および前記第4のMOSトランジスタと並列に接続され、前記第4のMOSトランジスタとは極性が異なる第5のMOSトランジスタがスイッチを構成し、前記プリバッファの入力電圧を制御する制御回路とを備え、
    入力端子が、前記第2のMOSトランジスタのゲートに接続されるとともに、前記スイッチを介して前記第3のMOSトランジスタのゲートに接続され、
    前記第2及び第3のMOSトランジスタの接続点が、前記第1のMOSトランジスタのゲートに接続されるとともに、前記第4及び第5のMOSトランジスタの各ゲートに接続され、
    かつ、前記第1 のMOSトランジスタのドレインが出力端子に接続されていることを特徴とする出力バッファ回路。
  6. 第1のMOSトランジスタを有する出力段バッファと、
    第2のMOSトランジスタ、および前記第2のMOSトランジスタと直列に接続され、前記第2のMOSトランジスタとは極性が異なる第3のトランジスタを有するプリバッファと、
    第4のMOSトランジスタ、および前記第4のMOSトランジスタと並列に接続され、前記第4のMOSトランジスタとは極性が異なる第5のMOSトランジスタがスイッチを構成し、前記プリバッファの入力電圧を制御する制御回路とを備え、
    入力端子が、前記第2のMOSトランジスタのゲートに接続されるとともに、前記スイッチを介して前記第3のMOSトランジスタのゲートに接続され、
    前記第2及び第3のMOSトランジスタの接続点が、前記第1のMOSトランジスタのゲートに接続されるとともに、前記第4のMOSトランジスタのゲートに接続され、
    前記第5のMOSトランジスタのゲートが電源端子に接続され、
    かつ、前記第1のMOSトランジスタのドレインが出力端子に接続されていることを特徴とする出力バッファ回路。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62276921A (ja) * 1986-05-26 1987-12-01 Mitsubishi Electric Corp ドライバ−回路
JPH02166915A (ja) * 1988-11-09 1990-06-27 Ncr Corp 負荷反応遷移制御付バツフア回路
JPH06209251A (ja) * 1992-08-31 1994-07-26 Sgs Thomson Microelectron Inc 出力ドライバ回路
JPH0856147A (ja) * 1994-04-22 1996-02-27 Sgs Thomson Microelettronica Spa 出力バッファ電流スリューレート制御集積回路
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Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62276921A (ja) * 1986-05-26 1987-12-01 Mitsubishi Electric Corp ドライバ−回路
JPH02166915A (ja) * 1988-11-09 1990-06-27 Ncr Corp 負荷反応遷移制御付バツフア回路
JPH06209251A (ja) * 1992-08-31 1994-07-26 Sgs Thomson Microelectron Inc 出力ドライバ回路
JPH0856147A (ja) * 1994-04-22 1996-02-27 Sgs Thomson Microelettronica Spa 出力バッファ電流スリューレート制御集積回路
JPH08293772A (ja) * 1995-04-19 1996-11-05 Mitsubishi Electric Corp 出力バッファ回路

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