JPH01320202A - 高密度酸化物超電導体及びその製造法 - Google Patents
高密度酸化物超電導体及びその製造法Info
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- JPH01320202A JPH01320202A JP63152019A JP15201988A JPH01320202A JP H01320202 A JPH01320202 A JP H01320202A JP 63152019 A JP63152019 A JP 63152019A JP 15201988 A JP15201988 A JP 15201988A JP H01320202 A JPH01320202 A JP H01320202A
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/65—Aspects relating to heat treatments of ceramic bodies such as green ceramics or pre-sintered ceramics, e.g. burning, sintering or melting processes
- C04B2235/656—Aspects relating to heat treatments of ceramic bodies such as green ceramics or pre-sintered ceramics, e.g. burning, sintering or melting processes characterised by specific heating conditions during heat treatment
- C04B2235/6562—Heating rate
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
不発明は高密度酸化物超電導体導体及びその製造法に関
する。
する。
(従来の技術)
従来、超電導体材料としては、 Nb5Sn、 V3G
aなどの金属間化合物が15−23にの臨界温度を示し
、4.2にで20−40テスラの臨界磁界を示すことか
ら超電導磁石などの超電導体として実用化されていた。
aなどの金属間化合物が15−23にの臨界温度を示し
、4.2にで20−40テスラの臨界磁界を示すことか
ら超電導磁石などの超電導体として実用化されていた。
(発明が解決しようとする課@)
しかしながら前記のNb5Sn 、 VsGaなどはい
ずれも超電導性を示す温度が低いという欠点がある。
ずれも超電導性を示す温度が低いという欠点がある。
例えば超電導性を示し始める温度(以下Tonsetと
する)及び完全に超電導性を示しかつ抵抗が零になる温
度(臨界温度)(以下T。 とする)はいずれも30に
よシ下廻っている。
する)及び完全に超電導性を示しかつ抵抗が零になる温
度(臨界温度)(以下T。 とする)はいずれも30に
よシ下廻っている。
このため、超電導体の実用化には冷媒として極めて高価
な液体ヘリウムを使用しなければならず。
な液体ヘリウムを使用しなければならず。
さらに液体ヘリウムを用することから装置が複数化する
という欠点がある。
という欠点がある。
この改良としてイツトリウム(■、バ’J’7ム(Ba
)及び銅(Cu)を主成分とした超電導体が開発された
。
)及び銅(Cu)を主成分とした超電導体が開発された
。
上記のような三成分の超電導体材料からなる超ti1体
ハ、 T:n5e1 及ヒT:”0カ90 K !
り 高< すり、冷媒として液体ヘリウムに比較して安
価な液体窒素を使用することが可能であるが、従来のN
b3Sn、 VtGaなどの超電導体材料を用いた超電
導体に比較して臨界電流密度が低いという欠点がある。
ハ、 T:n5e1 及ヒT:”0カ90 K !
り 高< すり、冷媒として液体ヘリウムに比較して安
価な液体窒素を使用することが可能であるが、従来のN
b3Sn、 VtGaなどの超電導体材料を用いた超電
導体に比較して臨界電流密度が低いという欠点がある。
また焼結体の密度を高くすることが困難であり。
密度を高くすると酸素の拡散が悪くなり特性が低下する
。このため酸素を内部にまで拡散するKは例えば500
°Cで500時間の熱処理が必要であるなどの欠点があ
る。
。このため酸素を内部にまで拡散するKは例えば500
°Cで500時間の熱処理が必要であるなどの欠点があ
る。
本発明は上記の欠点のない高密度酸化物超電導体及びそ
の製造法を提供することを目的とするものである。
の製造法を提供することを目的とするものである。
(課題を解決するための手段)
本発明者らは上記の欠点について種々検討した結果、ラ
ンタノイド元素(ただしCe、 Pr、 Pm及びTb
を除く)及び/又はY、 Ba並びにCuを主成分と
した平均粒径が10μm以下の酸化物超電導体材料を成
形し、該成形物を焼成する条件を制御することにより高
密度であるにもかかわらず容易に酸素が拡散する酸化物
超電導体が製造できることを見出し、また相対密度が9
7%以上で。
ンタノイド元素(ただしCe、 Pr、 Pm及びTb
を除く)及び/又はY、 Ba並びにCuを主成分と
した平均粒径が10μm以下の酸化物超電導体材料を成
形し、該成形物を焼成する条件を制御することにより高
密度であるにもかかわらず容易に酸素が拡散する酸化物
超電導体が製造できることを見出し、また相対密度が9
7%以上で。
かつ平均結晶径が10μm以上になるように粒子を成長
させれば超電導特性も改善されることを見出し1本発明
を完成するに至った。
させれば超電導特性も改善されることを見出し1本発明
を完成するに至った。
本発明は相対密度が97%以上で、かつ平均結晶径が1
0μm以上である高密度酸化物超電導体に関し、さらに
ランタノイド元素(ただしCe、 Pr。
0μm以上である高密度酸化物超電導体に関し、さらに
ランタノイド元素(ただしCe、 Pr。
Pm及びTbを除く)及び/又はY、 Ba並ひにC
uを主成分とした平均粒径が10μm以下の酸化物超電
導体材料を成形し、該成形物を焼結温度の75〜85チ
未満及び85〜96チに相当する温度で、かつ両者の温
度差が30°C以上ある温度領域で一次予備焼成及び二
次予備焼成を行った後。
uを主成分とした平均粒径が10μm以下の酸化物超電
導体材料を成形し、該成形物を焼結温度の75〜85チ
未満及び85〜96チに相当する温度で、かつ両者の温
度差が30°C以上ある温度領域で一次予備焼成及び二
次予備焼成を行った後。
焼結温度で焼成し1次いで酸素雰囲気中で700℃壕で
冷却し、さらに酸素雰囲気中で300°Cまで徐冷する
。相対密度が97チ以上で、かつ平均結晶径が10μm
以上の高密度酸化物超電導体の製造法に関する。
冷却し、さらに酸素雰囲気中で300°Cまで徐冷する
。相対密度が97チ以上で、かつ平均結晶径が10μm
以上の高密度酸化物超電導体の製造法に関する。
本発明において、酸化物超電導体材料を構成すう
るIンタノイド元素(ただしCe、 Pr、 Pm及び
Tbを除く)及び/又はY、 Ba並びにCuの出発原
料については%に制限はないが9例えばイツトリウムと
しては、酸化イツトリウム(YzOs)、炭酸イツトリ
ウム(Yz (COs)s・3H,0)、蓚酸イツトリ
ウム(Y2 (ClO4)s・9山O)、硝酸イツトリ
ウム(Y (NOs )s・ciHzO)−硫酸イツト
リウム(Y2 (SOa)s)−トリメトキシイツトリ
ウム(Y (OCHs)s)、 )リエトキシイット
リウム(Y (QC!H5)S )、 )リイソプロボ
キシイットリウム(Y (0−1−C3H7)3) 、
臭化イツトリウム(YBr、)、フッ化イツトリウ
ム(YF3・1/2HzO)、ヨウ化イツトリウム(Y
I3)の1種又は2種以上が用いられ、またCe、 P
r、 Pm及びTbを除くランタノイド元素も上記と同
様な化合物が1棟又は2種以上組合せて用いられる。
Tbを除く)及び/又はY、 Ba並びにCuの出発原
料については%に制限はないが9例えばイツトリウムと
しては、酸化イツトリウム(YzOs)、炭酸イツトリ
ウム(Yz (COs)s・3H,0)、蓚酸イツトリ
ウム(Y2 (ClO4)s・9山O)、硝酸イツトリ
ウム(Y (NOs )s・ciHzO)−硫酸イツト
リウム(Y2 (SOa)s)−トリメトキシイツトリ
ウム(Y (OCHs)s)、 )リエトキシイット
リウム(Y (QC!H5)S )、 )リイソプロボ
キシイットリウム(Y (0−1−C3H7)3) 、
臭化イツトリウム(YBr、)、フッ化イツトリウ
ム(YF3・1/2HzO)、ヨウ化イツトリウム(Y
I3)の1種又は2種以上が用いられ、またCe、 P
r、 Pm及びTbを除くランタノイド元素も上記と同
様な化合物が1棟又は2種以上組合せて用いられる。
バリウムとしては、酸化バリウム(Bad)、過酸化バ
リウム(Bai2e、炭酸バリウム(BaCOg)、硝
酸バリウム(Ba (NO3)2)、硫酸バリウム(B
aSO4)。
リウム(Bai2e、炭酸バリウム(BaCOg)、硝
酸バリウム(Ba (NO3)2)、硫酸バリウム(B
aSO4)。
水酸化バリウム(Ba(OH)z・5ho)、バリウム
アBa(On−C4Hs)z、 Ba(0−sec−C
4H9)2. Ba(0−tert −C4H9)を等
〕、臭化バリウム(Ba Brz) 、塩化バリウム(
BaC1!z) 、フッ化バリウム(BaFz)。
アBa(On−C4Hs)z、 Ba(0−sec−C
4H9)2. Ba(0−tert −C4H9)を等
〕、臭化バリウム(Ba Brz) 、塩化バリウム(
BaC1!z) 、フッ化バリウム(BaFz)。
ヨウ化バリウム(Ba Iり、硫化バリウム(BaS)
などの1種又は2種以上が用いられる。
などの1種又は2種以上が用いられる。
銅としては、酸化第二銅(Cub)を用いることが好ま
しいが、その他の銅酸化物、銅化合物を用いてもよ<、
またこれらを酸処理して用いても差し支えはない。
しいが、その他の銅酸化物、銅化合物を用いてもよ<、
またこれらを酸処理して用いても差し支えはない。
ド元素及び/又はY : Ba : Cuが原子比で1
:2:3とした酸化物超電導体材料を用いればTzer
。
:2:3とした酸化物超電導体材料を用いればTzer
。
が高いので好燻しい。
酸化物超電導体材料は例えばCe、 Pr、 Pm+T
bを除くランタノイド元素及び/又はYとBa及びCu
の化合物を秤量後樹脂製ボールミル内に樹脂被覆ボール
と共に充填し、毎分60回転の条件で湿式混合、粉砕し
、乾侯後、大気中又は酸素雰囲気中で900〜980℃
の温度で2〜10時間焼成し、冷却後メノー製乳鉢、ジ
ルコニア製ボールミル等で粉砕して得られる。なお粉砕
物の平均粒径は、10μm以下にすることが必要とされ
。
bを除くランタノイド元素及び/又はYとBa及びCu
の化合物を秤量後樹脂製ボールミル内に樹脂被覆ボール
と共に充填し、毎分60回転の条件で湿式混合、粉砕し
、乾侯後、大気中又は酸素雰囲気中で900〜980℃
の温度で2〜10時間焼成し、冷却後メノー製乳鉢、ジ
ルコニア製ボールミル等で粉砕して得られる。なお粉砕
物の平均粒径は、10μm以下にすることが必要とされ
。
10μmを越えた粉砕物を用いると得られる酸化物超電
導体の相対密度が97多未満となり、高密度にならない
という欠点が生じる。
導体の相対密度が97多未満となり、高密度にならない
という欠点が生じる。
酸化物超電導体材料を形成する方法は特に制限はないが
1例えば粉砕した酸化物超電導体材料にワックス、アク
リル系樹脂の結合剤を添加した後。
1例えば粉砕した酸化物超電導体材料にワックス、アク
リル系樹脂の結合剤を添加した後。
静水圧プレス、片側方向から加圧するプレスなどを用い
て所望の形状に成形する方法がある。
て所望の形状に成形する方法がある。
焼成工程において2本発明では焼結温度(最高焼成温度
)の75〜85%未満及び85〜96%に相当する温度
で、かつ両者の温度差が30℃以上ある温度領域で一次
予備焼成及び二次予備焼成を行った後、焼結温度で焼成
することが必要とさ7L、 この条件以外で焼成を行う
と、高密度の酸化・物超電導体を得ることができない。
)の75〜85%未満及び85〜96%に相当する温度
で、かつ両者の温度差が30℃以上ある温度領域で一次
予備焼成及び二次予備焼成を行った後、焼結温度で焼成
することが必要とさ7L、 この条件以外で焼成を行う
と、高密度の酸化・物超電導体を得ることができない。
なお−次子備焼成及び二次予備焼成の保持時間について
は特に制限はないが、各2時間以上保持することが好ま
しく、5時間以上保持すればさらに好ましい。
は特に制限はないが、各2時間以上保持することが好ま
しく、5時間以上保持すればさらに好ましい。
焼結温度については特に制限はなく、酸化物超電導体材
料の粒径などによ)適宜選定されるが。
料の粒径などによ)適宜選定されるが。
焼結を充分に進め、かつ酸化物超電導体材料の分解を抑
制するには920〜980℃の範囲の温度で焼成するこ
とが好ましい。
制するには920〜980℃の範囲の温度で焼成するこ
とが好ましい。
昇温及び焼結の際の雰囲気は、特に制限はないが、酸素
雰囲気、窒素雰囲気、又はこれらの混合ガス、アルゴン
などのような中性雰囲気中で焼成することが好ましい。
雰囲気、窒素雰囲気、又はこれらの混合ガス、アルゴン
などのような中性雰囲気中で焼成することが好ましい。
冷却工程は、酸素雰囲気中で冷却することが必要とされ
、酸素雰囲気以外の雰囲気中で冷却すると超電導性を示
さない。
、酸素雰囲気以外の雰囲気中で冷却すると超電導性を示
さない。
なお酸素雰囲気中の酸素の濃度は、20容量係以上が好
ましく、50容i%以上であればさらに好ましい。
ましく、50容i%以上であればさらに好ましい。
冷却速度は、700″Cまでは特に制限はないが。
50°C/時間〜200℃/時間の速度で冷却すること
が好ましい。
が好ましい。
700℃未満から300℃までの冷却は、徐冷。
例えば100℃/時間以下、好ましくは50℃/時間以
下の速度で徐々に冷却することが必要とされ、もし急冷
すると酸素が十分く焼結体中に入らなくなるため超電導
特性が低下する。
下の速度で徐々に冷却することが必要とされ、もし急冷
すると酸素が十分く焼結体中に入らなくなるため超電導
特性が低下する。
300℃まで徐冷すれば、それ以降の冷却速度は制限は
ない。
ない。
本発明になる高密度酸化物超電導体は、相対密度が97
%以上で、かつ平均結晶径が10μm以上であることが
必要とされ、相対密度が97%未満であると、開気孔が
増えるため酸素は拡散しやすくなるが、超電導電流のパ
ス(流路)が少なくなるため臨界電流密度が低下し、ま
た平均結晶径が10μm未満であると、単位長さ当シに
存在する粒界の数が増加するため臨界電流密度が低下す
る。
%以上で、かつ平均結晶径が10μm以上であることが
必要とされ、相対密度が97%未満であると、開気孔が
増えるため酸素は拡散しやすくなるが、超電導電流のパ
ス(流路)が少なくなるため臨界電流密度が低下し、ま
た平均結晶径が10μm未満であると、単位長さ当シに
存在する粒界の数が増加するため臨界電流密度が低下す
る。
相対密度が97チ以上で、かつ平均結晶径が10μm以
上の高密度酸化物超電導体は、上記に示したような工程
及び条件で製造することにより得ることができる。
上の高密度酸化物超電導体は、上記に示したような工程
及び条件で製造することにより得ることができる。
(実施例)
以下本発明の詳細な説明する。
実施例1
Y、Ba及びCuの比率が原子比で1:2二3となるよ
うに純度99.9%以上の酸化イツトリウム(信越化学
工業IJ)114919.炭酸バリウム(和光純薬製、
試薬特級)394.689及び酸化鋼238.64gを
秤量し、超電導体材料用原料粉とした。
うに純度99.9%以上の酸化イツトリウム(信越化学
工業IJ)114919.炭酸バリウム(和光純薬製、
試薬特級)394.689及び酸化鋼238.64gを
秤量し、超電導体材料用原料粉とした。
次に上記の超電導体材料用原料粉を樹脂久ボールミル内
に樹脂被唖ボール及びメタノールと共に充填し、毎分6
0回転の条件で10時時間式混合。
に樹脂被唖ボール及びメタノールと共に充填し、毎分6
0回転の条件で10時時間式混合。
粉砕した。乾燥後粉砕物をアルミナ焼板にのせ大気中で
950℃まで50℃/時間の速度で昇温し。
950℃まで50℃/時間の速度で昇温し。
950°Cで10時間焼成後50℃/時間の速度で冷却
し、ついでアルミナ乳鉢で粉砕し、さらにジルコニアボ
ール入りジルコニアポットで粉砕して平均粒径が3.9
μmの酸化物超電導体材料を得た。
し、ついでアルミナ乳鉢で粉砕し、さらにジルコニアボ
ール入りジルコニアポットで粉砕して平均粒径が3.9
μmの酸化物超電導体材料を得た。
核酸化物超電導体材料1009にパラフィン(和光純薬
爬)を1og添加し、100℃に加熱して分散した。こ
れを32メツシユの合成線状ポリアミドの網目を通して
成形材料とした。この成形材料を直径30加の円板成形
用金型を用いて1トン/an2の圧力で成形し、厚さ3
mmの円板とした。
爬)を1og添加し、100℃に加熱して分散した。こ
れを32メツシユの合成線状ポリアミドの網目を通して
成形材料とした。この成形材料を直径30加の円板成形
用金型を用いて1トン/an2の圧力で成形し、厚さ3
mmの円板とした。
次に該円板をアルミナセンタ上に載置し、 30℃/
時間の昇温速度で750℃まで昇温し、750℃で5時
間保持して一次子備焼成を行った後。
時間の昇温速度で750℃まで昇温し、750℃で5時
間保持して一次子備焼成を行った後。
100℃/時間の昇温速度で900℃まで昇温し。
900℃で10時間保持して二次予備焼成を行い。
さらに100℃/時間の昇温速度で9506Cまで昇温
し、950℃で10時間保持して焼成した。
し、950℃で10時間保持して焼成した。
この間の雰囲気は空気気流1r/分で行った。
この後、雰囲気を酸素気流11!/分に切り替え。
1.00℃/時間の冷却速度で700 ℃まで冷却し。
次いで300℃まで40℃/時間の冷却速度で徐冷し、
さらに50℃/時間の冷却速度で60℃まで冷却した後
、大気中に取り出し焼結体を得た。
さらに50℃/時間の冷却速度で60℃まで冷却した後
、大気中に取り出し焼結体を得た。
次に焼結体から幅2胴のサンプルを切り出し。
四端子法でT:nSe を及びTzeroを求めたとこ
ろ。
ろ。
TC05” ハ94.5 K + TC”” ハ93
.4 K テロ リs tた臨界電流密度は470A/
CIl+”であった。
.4 K テロ リs tた臨界電流密度は470A/
CIl+”であった。
一方焼結体をエタノールで置換して嵩密度を求めたとこ
ろ、 6.26 g/am’であった。この嵩密度6
、26 g /c−から相対密度は98゜3%であった
。
ろ、 6.26 g/am’であった。この嵩密度6
、26 g /c−から相対密度は98゜3%であった
。
さらに焼結体を走査型電子顕微鏡(以下SEMとする)
で観察したところ、平均結晶径は17μmであった。
で観察したところ、平均結晶径は17μmであった。
実施例2
実施例1で得た円板をアルミナセンタ上に載置し、30
℃/時間の昇温速度で800 ℃まで昇温し、800℃
で10時間保持して一次子備焼成を行った後、100°
C/時間の昇温速度で880 ℃まで昇温し、880℃
で5時間保持して二次予備焼成を行い、さらに100℃
/時間の昇温速度で960℃まで昇温し、960℃で1
0時間保持して焼成した。この間の雰囲気は窒素気流I
I!/分で行った。この後、雰囲気を酸素気流11!/
分に切り替え、200℃/時間の冷却速度で700℃ま
で冷却し9次いで300 ℃まで50℃/時間の冷却速
度で徐冷し、さらに60℃/時間の冷却速度で70℃ま
で冷却した後、大気中に取り出し焼結体を得た。
℃/時間の昇温速度で800 ℃まで昇温し、800℃
で10時間保持して一次子備焼成を行った後、100°
C/時間の昇温速度で880 ℃まで昇温し、880℃
で5時間保持して二次予備焼成を行い、さらに100℃
/時間の昇温速度で960℃まで昇温し、960℃で1
0時間保持して焼成した。この間の雰囲気は窒素気流I
I!/分で行った。この後、雰囲気を酸素気流11!/
分に切り替え、200℃/時間の冷却速度で700℃ま
で冷却し9次いで300 ℃まで50℃/時間の冷却速
度で徐冷し、さらに60℃/時間の冷却速度で70℃ま
で冷却した後、大気中に取り出し焼結体を得た。
結体を得た。
以下実施例1と同様の方法でrpc、 T。
及び臨界電流密度を求めた。その結果T :JISe
lは94.1に、T、 は93.2K及び臨界電流密
度は420 A/cm”であった。
lは94.1に、T、 は93.2K及び臨界電流密
度は420 A/cm”であった。
また実施例1と同様の方法で嵩密度、相対密度及び平均
結晶径を求めた。その結果、嵩密度は6、25 g/c
m’ 、相対密度Vi98.1%及び平均結晶径は25
μmであった。
結晶径を求めた。その結果、嵩密度は6、25 g/c
m’ 、相対密度Vi98.1%及び平均結晶径は25
μmであった。
比較例1
実施例1で得た円板をアルミナセンタ上に載置し、30
℃/時間の昇温速度でs o o ’cまで昇温し2次
いで960℃まで100℃/時間の昇温速度で昇温後、
10時間保持して焼成した。
℃/時間の昇温速度でs o o ’cまで昇温し2次
いで960℃まで100℃/時間の昇温速度で昇温後、
10時間保持して焼成した。
この間の雰囲気は窒素気流187分で行った。
この後雰囲気を酸素気流1e/分に切り替え。
200℃/時間の冷却速度で700℃まで冷却し。
次いで300℃′まで50℃/時間の冷却速度で徐冷し
、さらに60℃/時間の冷却速度で70℃まで冷却した
後大気中に取り出し焼結体を得た。
、さらに60℃/時間の冷却速度で70℃まで冷却した
後大気中に取り出し焼結体を得た。
以下実施例1と同様の方法でT :nSe 1及びTz
er。
er。
を求めたが、超電導性は示さなかった。そこでサンプル
の表面をX線回折で調べたところ超電導性を示す斜方晶
の多結晶であることが認められた。
の表面をX線回折で調べたところ超電導性を示す斜方晶
の多結晶であることが認められた。
しかし表面を100μm程研磨して再度X線回折で調べ
たところ超電導性を示さない正方晶の多結晶であること
が判明した。
たところ超電導性を示さない正方晶の多結晶であること
が判明した。
また実施例1と同様の方法で嵩密度、相対密度及び平均
結晶径を求めた。その結果、嵩密度は6、20 g/c
tI!3.相対密度は97.3 %及び平均結晶径は1
4μmであった。
結晶径を求めた。その結果、嵩密度は6、20 g/c
tI!3.相対密度は97.3 %及び平均結晶径は1
4μmであった。
以上の結果から比較例1で得られた焼結体は。
表面は超電導体となっているが、その厚さは極めてうす
〈100μrn以下であり、内部は超電導体でないこと
が明らかになった。
〈100μrn以下であり、内部は超電導体でないこと
が明らかになった。
実施例3
Er、 Ba及びCuの比率が原子比で1:2:3と
なるように酸化エルビウム(高純度化学製、試薬)19
1.269.炭酸バリウム(和光補薬製。
なるように酸化エルビウム(高純度化学製、試薬)19
1.269.炭酸バリウム(和光補薬製。
試薬特級)394.68g及び酸化鋼238.649を
秤量し、超電導体材料用原料粉とした。この後実施例1
と同様の工程を経て平均粒径が4.3μmの酸化物超電
導体材料を得た。
秤量し、超電導体材料用原料粉とした。この後実施例1
と同様の工程を経て平均粒径が4.3μmの酸化物超電
導体材料を得た。
以下実施例1と同様の方法で焼結体を得た後To、To
及び臨界電流密度を求めた。その結果Tcハ94.
1に、Tコer0ハ92..9に及ヒ臨界電流密度は5
20A/c−であった。
及び臨界電流密度を求めた。その結果Tcハ94.
1に、Tコer0ハ92..9に及ヒ臨界電流密度は5
20A/c−であった。
また実施例1と同様の方法で嵩密度、相対密度及び平均
結晶径を求めた。その結果嵩密度は7.03g/c♂、
相対密度は98.3%及び平均結晶径は15μmであっ
た。
結晶径を求めた。その結果嵩密度は7.03g/c♂、
相対密度は98.3%及び平均結晶径は15μmであっ
た。
比較例2
実施例3で得た酸化物超電導体材料100gにパラフィ
ン(和光補薬製)を109添加し、以下実施例1と同様
の工程を径で厚さ3印の円板を得た。
ン(和光補薬製)を109添加し、以下実施例1と同様
の工程を径で厚さ3印の円板を得た。
次に該円板をアルミナセンタ上に載置し、以下比較例1
と同様の工程を経て焼結体を得た。
と同様の工程を経て焼結体を得た。
以下実施例1と同様の方法でTonset及びT。
を求めたが、超電導性は示さなかった。
また実施例1と同様の方法で嵩密度、相対密度及び平均
結晶径を求めた。その結果嵩密度は6.95g / c
m3.相対密度は97.2 %及び平均結晶径は10μ
mであった。
結晶径を求めた。その結果嵩密度は6.95g / c
m3.相対密度は97.2 %及び平均結晶径は10μ
mであった。
比較例2で得た焼結体についても比較例1と同様に表面
を100μm程研磨してX線回折で調べたところ超電導
性は示さない正方晶の多結晶であった。この結果から超
電導性を示す厚さは100μm以下であることが明らか
になった。
を100μm程研磨してX線回折で調べたところ超電導
性は示さない正方晶の多結晶であった。この結果から超
電導性を示す厚さは100μm以下であることが明らか
になった。
実施例4
Ha、 Ba及びCuの比率が原子比で1:2:3とな
るように酸化ホルミウム(高純度化学製、試薬)18&
93g、炭酸バリウム(和光補薬製。
るように酸化ホルミウム(高純度化学製、試薬)18&
93g、炭酸バリウム(和光補薬製。
試薬特級)394.689及び酸化鋼238.649を
秤量し、超電導体材料用原料粉とした。この後実施例1
と同様の工程を経て平均粒径が3.6μmの酸化物超電
導体材料を得た。
秤量し、超電導体材料用原料粉とした。この後実施例1
と同様の工程を経て平均粒径が3.6μmの酸化物超電
導体材料を得た。
以下実施例1と同様の方法で焼結体を得た後To、To
及び臨界電流密度を求めた。その結果T。 は9
4.2に、Tぎ0は93.1K及び臨界電流密度は58
0 A/cm”であった。
及び臨界電流密度を求めた。その結果T。 は9
4.2に、Tぎ0は93.1K及び臨界電流密度は58
0 A/cm”であった。
また実施例1と同様の方法で窩密度、相対密度及び平均
結晶径を求めた。その結果嵩密度はa98g /cm3
.相対密度は983%及び平均結晶径は18μmであっ
た。
結晶径を求めた。その結果嵩密度はa98g /cm3
.相対密度は983%及び平均結晶径は18μmであっ
た。
比較例3
実施例4で得た酸化物超電導体材料100gにパラフィ
ン(和光補薬製)を109添加し、以下実施例1と同様
の工程を経て厚さ3mの円板を得た。
ン(和光補薬製)を109添加し、以下実施例1と同様
の工程を経て厚さ3mの円板を得た。
次に該円板をアルミナセンタ上に載置し、以下比較例1
と同様の工程を経て焼結体を得た。
と同様の工程を経て焼結体を得た。
以下実施例1と同様の方法でT。 及びTcを求めた
が、超電導性は示さなかった。
が、超電導性は示さなかった。
また実施例1と同様の方法で嵩密度、相対密度及び平均
結晶径を求めた。その結果嵩密度は6.91g/cm’
、相対密度は97.2%及び平均結晶径は9μmであっ
た。
結晶径を求めた。その結果嵩密度は6.91g/cm’
、相対密度は97.2%及び平均結晶径は9μmであっ
た。
比較例3で得た焼結体についても比較例1と同様に表面
を100μm程研磨してX線回折で調べたところ超電導
性を示さない正方晶の多結晶であった。この結果から超
電導性を示す厚さは100μm以下であることが明らか
であった。
を100μm程研磨してX線回折で調べたところ超電導
性を示さない正方晶の多結晶であった。この結果から超
電導性を示す厚さは100μm以下であることが明らか
であった。
(発明の効果)
本発明の製造法によって得られる高密度酸化物超電導体
は、内部まで優れた超電導性を有し、かつ高い臨界電流
密度が得られ、また本発明の製造法は高価な装置を必要
としないため工業的に極めて好適である。
は、内部まで優れた超電導性を有し、かつ高い臨界電流
密度が得られ、また本発明の製造法は高価な装置を必要
としないため工業的に極めて好適である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、相対密度が97%以上で、かつ平均結晶径が10μ
m以上である高密度酸化物超電導体。 2、ランタノイド元素(ただしCe、Pr、Pm及びT
bを除く)及び/又はY、Ba並びにCuを主成分とし
た平均粒径が10μm以下の酸化物超電導体材料を成形
し、該成形物を焼結温度の70〜85%未満及び85〜
96%に相当する温度で、かつ両者の温度差が30℃以
上ある温度領域で一次予備焼成及び二次予備焼成を行つ
た後、焼結温度で焼成し、次いで酸素雰囲気中で700
℃まで冷却し、さらに酸素雰囲気中で300℃まで徐冷
することを特徴とする請求項1記載の高密度酸化物超電
導体の製造法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63152019A JPH01320202A (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 高密度酸化物超電導体及びその製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63152019A JPH01320202A (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 高密度酸化物超電導体及びその製造法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01320202A true JPH01320202A (ja) | 1989-12-26 |
Family
ID=15531282
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63152019A Pending JPH01320202A (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 高密度酸化物超電導体及びその製造法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01320202A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013136816A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-11 | Fujikura Ltd | 超電導薄膜作製用ターゲットの製造方法、超電導薄膜作製用ターゲット、酸化物超電導導体の製造方法 |
-
1988
- 1988-06-20 JP JP63152019A patent/JPH01320202A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013136816A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-11 | Fujikura Ltd | 超電導薄膜作製用ターゲットの製造方法、超電導薄膜作製用ターゲット、酸化物超電導導体の製造方法 |
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