JPH01293558A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPH01293558A
JPH01293558A JP12381388A JP12381388A JPH01293558A JP H01293558 A JPH01293558 A JP H01293558A JP 12381388 A JP12381388 A JP 12381388A JP 12381388 A JP12381388 A JP 12381388A JP H01293558 A JPH01293558 A JP H01293558A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrodes
pellet
signal
semiconductor
semiconductor device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12381388A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuaki Hirano
平野 信明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi ULSI Engineering Corp, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi ULSI Engineering Corp
Priority to JP12381388A priority Critical patent/JPH01293558A/ja
Publication of JPH01293558A publication Critical patent/JPH01293558A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L24/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L24/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/0401Bonding areas specifically adapted for bump connectors, e.g. under bump metallisation [UBM]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/04042Bonding areas specifically adapted for wire connectors, e.g. wirebond pads
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05554Shape in top view being square
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15312Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a pin array, e.g. PGA

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置、特にロジック素子として用いら
れる半導体装置におけるノイズの低減に適用して有効な
技術に関する。
〔従来の技術〕
この種の高集積形半導体装置におけるパッケージ構造に
ついて説明されている例としては、昭和58年マグロウ
ヒル社発行、rVLSI  TECHNOLOGYJ 
P 581および日経マグロウヒル社、昭和59年6月
11日発行、「日経エレクトロニクス別冊、マイクロデ
バイセズJP130〜P147がある。
上記両文献では、半導体ペレットの高集積化に対応した
近年のパッケージ技術等が詳細に説明されている。
上記文献のうち後者にも記載されているように、半導体
装置の高集積化・高機能化にともなって、外部に導出さ
れるリードピン数も増加し、これにともなって半導体ペ
レットまたはパッケージ基板等の基板の電極間のピッチ
も狭小となってきた。
特に、多数の信号の人出力が行なわれる論理素子ではこ
の傾向が高くなっていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが、上記のように信号電極同士の距離が短小化し
た場合、クロストークノイズ(結合雑音: Vcoup
led )が大きな問題となることが本発明者によって
見い出された。
このクロストークノイズは、信号線間の相互インダクタ
ンスと相互キャパシタンスによって誘導されるノイズで
あり、下記のような特性を有している。
Vcoupled oc  l / r”上式において
、rは信号電極間の距離である。
上式からも明かなように、信号電極間の距離rが狭小と
なることによってクロストークノイズは増大する。クロ
ストークノイズの増大にともない、半導体装置が誤動作
する確率が高くなり、素子の演算信頼性の低下を来すこ
とにもなる。
さらに、上記第2の文献のP2S5において説明されて
いるように、このクロストークノイズは信号速度の高速
化に比例して増大する特性をも有している。
したがって、高速な論理演算を行なう高集積形の半導体
装置では信号電極間のクロストークノイズの低減が必須
となる。
上記クロストークノイズを低減するためには、まず信号
電極の間隔を長く確保することが考えられるが、高集積
化・小形化した半導体ペレットおよびパッケージ構造で
はパッド間ピッチおよびリードビンピッチを広くとるこ
とは困難となっていた。
また、複数の信号電極の中から選択的に信号の人出力を
行なうことも考えられるが、信号の入出力本数が増加し
た場合には限界があった。さらに、高電位と低電位との
間の電位差を大きくとり、クロストークノイズに対する
影響を抑制することも考えられるが、動作電圧の変更に
より製品の汎用性が低下する問題があった。
本発明は、上記課題に着目してなされたものであり、そ
の目的は、簡易な電極配列の変更で信号電極間における
クロストークノイズを低減し、半導体装置の作動信頼性
を高めることのできる技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
〔課題を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、概ね次の通りである。
すなわち、半導体ペレット又は該半導体ペレットと導通
された基板において信号電極の間に電源電極が配列され
た電極群を備えた半導体装置構造とするものである。
〔作用〕
上記した手段によれば、信号電極の配置を僅かに変更す
るのみで、信号電極相互の距離を実質的に長く確保でき
、信号電極間の距離rの2乗に反比例するクロストーク
ノイズを低減でき、半導体装置の動作信頼性を高めるこ
とができる。
〔実施例1〕 第1図は本発明による一実施例である半導体装置におけ
る半導体ペレットのバンプ電極の配列状態を示す説明図
、第2図は本実施例の半導体装置の全体構造を示す断面
図、第3図はバンプ電極の形成状態を示す拡大断面図で
ある。
本実施例の半導体装置1は、第2図に示されるように、
配線基板10上に装着された半導体ペレット2の収容さ
れる空間Sがセラミックからなるパッケージ基板3、枠
状部材4およびキャップ5によって封止されている気密
封止形の半導体装置であり、上記パッケージ基板3の裏
面よりリードビン6の突出されたビン・グリッド・アレ
イ構造を有している。
半導体ペレット2はたとえばシリコン(Si)からなる
半導体ウェハ(図示せず)に拡散工程等を経て所定の回
路領域を形成した後、これを回路領域毎に分割して得ら
れるものであり、回路形成領域面7側には第1図に示さ
れるように複数のバンプ電極8が形成されている。当該
バンプ電極8は、第3図に示すようにたとえばアルミニ
ウム等の導電性金属からなるパッド11の主面に半田等
の合金を球状に突出させて形成されたものであり、当該
バンプ電極8を介して、半導体ペレット2と対面される
配線基板10と接続されている。したがって、上記バン
プ電極8は、配線基板10との導通手段および半導体ペ
レット2の保持手段として機能している。
本実施例において、上記バンプ電極8は、第1図に示さ
れるように、半導体ペレット20回路形成領域面7のほ
ぼ全域にわたってマトリクス状に配置形成されている。
半導体ペレット2について、例えば当該ペレット上の回
路がロジックとして機能する場合、電源電圧の印加とと
もに多数の入出力信号を取り出す必要がある。したがっ
て、バンプ電極8についても、大別して電源電圧の供給
のためのものと信号入出力のためのものとが必要となる
。上記第1図において、8aは電源電圧印加用の電源バ
ンプ電極であり、8bは信号の入出力用の信号バンプ電
極である。
この第1図からも明かなように、本実施例における各バ
ンプ電極8の配置は信号バンプ電極8bと電源バンプ電
極8aとが交互に配列された状態となっている。この点
について、従来のこの種の半導体ペレット42における
バンプ電極48の配列状態は第4図に示す通りであり、
電源バンプ電極48aは回路形成領域面7のほぼ中央に
集中されて形成されており、この群状態の電源バンプ電
極48aの周囲を取り囲むようにして信号バンプ電極4
8bが群状態で配列されている。
この点について、本実施例では第1図に示されるように
、縦横方向において信号バンプ8b同士の間に電源バン
プ電極8aが介設されている。
そのため、信号バンプ電極8b相互の最短距離は斜め方
向においてr4となる。
したがって、信号電極間の距離rの2乗に反比例するク
ロストークノズルはr−4rJ2となることにより、従
来製品の約1/2にまで低減される。
上記各バンプ電極8は、配線基板10に形成された図示
されないメタライズ配線と導通されており、該メタライ
ズ配線はさらに公知のワイヤボンディング技術で張設さ
れたワイヤ9によってパッケージ基板3の裏面より外部
に突出されるリードし゛ン6と導通されている。本実施
例では、上記パッケージ基板3の裏面におけるリードピ
ン6の配列も、上記バンプ電極8の配列に対応して信号
入出力用のピンの間に電源用のピンが介在される構造と
なっている。
したがって、上記と同様に、リードピン6間におけるク
ロストークノイズも有効に抑制されている。
〔実施例2〕 第5図は本発明の実施例2によるボンディングパッドの
配列状態を示す説明図、第6図はこの半導体装置の全体
構造を示す断面図、第7図は上記第5図に対応した従来
技術の半導体ペレットにおけるボンディングパッドの配
列状態を示す説明図である。
本実施例の半導体装置21は、半導体ペレット22がエ
ポキシ樹脂等の合成樹脂からなるパッケージ本体23に
より封止された樹脂モールド形の半導体装置であり、合
成樹脂により形成されたパッケージ本体23の2側面か
らそれぞれリード26の折曲形成されたデ二アル・イン
・ラインパッケージ(DIP)構造のものである。
本実施例2にふける半導体ペレット22では、回路形成
領域面27において、その周縁近傍に沿って四角形状の
ボンディングパッド28が形成されている。このボンデ
ィングパッド28においても、大別して電源パッド28
aと信号パッド28bとがある。この点について、従来
の半導体ペレット72では、第7図に示されるように、
回路形成領域面27の比較的隅部近傍において電源パッ
ド78aが集中配置されていたため、その他の部位では
信号パッド78b同士が隣設された状態となっていた。
この点について本実施例2によれば、第5図に示すよう
に1扉バッド28aと信号パッド28bとが交互に配設
されている。したがって、信号パッド28b同士が隣合
うことがなく、信号パッド28b間には必ず所定の距離
2rが保持されている。このため、実施例1と同様に、
信号パッド28b間の距離を実質的にr→2rとするこ
とができ、クロストークノイズを大幅に低減できる。
上記各ボンディングパッド28は、公知のワイヤボンデ
ィング技術によってワイヤ30を介してリード26と結
線され、これにより半導体ペレット22に対して電源電
圧の印加、および信号の入出力が実現されている。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。たとえば、上記各実施例
ではそれぞれ信号電極と電源電極とを交互に配置した場
合について説明したが、信号本数の少ない製品において
は、各信号電極間に複数の電源電極群を介在させた電極
配列としてもよい。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその利用分野である、いわゆるPGAおよびDIP形
のパッケージ構造を有する半導体装置に適用した場合に
ついて説明したが、これに限定されるものではなく、た
とえばフラットパッケージ構造等、如何なるパッケージ
構造の半導体装置にも適用できる。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである
すなわち、半導体ペレット又は該半導体ペレットと導通
された基板において信号電極の間に電源電極が配列され
た電極群を備えた半導体装置構造とすることによって、
信号電極の配置を僅かに変更するのみで、信号電場相互
の距離を実質的に長く確保でき、信号電極間の距離rの
2乗に反比例するクロストークノイズを低減でき、半導
体装置の動作信頼性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による一実施例である半導体装置にお
ける半導体ペレットのバンプ電極の配列状態を示す説明
図、 第2図は、実施例1の半導体装置の全体構造を示す断面
図、 第3図は、実施例1のバンプ電極の形成状態を示す拡大
断面図、 第4図は、第1図に対応した従来技術の半導体ペレット
におけるバンプ電極の配列状態を示す説明図、 第5図は、本発明の実施例2によるボンディングパッド
の配列状態を示す説明図、 第6図は、実施例2の半導体装置の全体構造を示す断面
図、 第7図は、第5図に対応した従来技術の半導体ペレット
におけるバンプ電極の配列状態を示す説明図である。 1・・・半導体装置、2・・・半導体ペレット、3・・
・パッケージ基板、4・・・枠状部材、5・・・キャッ
プ、6・・・リードピン、7・・・回路形成領域面、8
・・・バンプ電極、8a・・・電源バンプ電極、8b・
・・信号バンプ電極、9・・・ワイヤ、lO・・・配線
基板、11・・・パッド、21・・・半導体装置、22
・・・半導体ペレット、23・・・パッケージ本体、2
6・・・リード、27・・・回路形成領域面、28・・
・ボンディングパッド、28a・・・電源パッド、28
b・・・信号パッド、30・・・ワイヤ、42・・・半
導体ペレット、48・・・バンプ電極、48a・・・電
源バンプ電極、48b・・・信号バンプ電極、78・・
・ボンディングバツドロ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、半導体ペレット又は該半導体ペレットと導通された
    基板において信号電極の間に電源電極が配列された電極
    群を備えた半導体装置。 2、上記電極が半導体ペレット又は基板に形成されたボ
    ンディングパッドであることを特徴とする請求項1記載
    の半導体装置。 3、上記電極が半導体ペレット又は基板に形成されたバ
    ンプ電極であることを特徴とする請求項1記載の半導体
    装置。 4、上記電極が基板より突出形成されたリードピンであ
    ることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
JP12381388A 1988-05-23 1988-05-23 半導体装置 Pending JPH01293558A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12381388A JPH01293558A (ja) 1988-05-23 1988-05-23 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12381388A JPH01293558A (ja) 1988-05-23 1988-05-23 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01293558A true JPH01293558A (ja) 1989-11-27

Family

ID=14869974

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12381388A Pending JPH01293558A (ja) 1988-05-23 1988-05-23 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01293558A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006018939A1 (ja) * 2004-08-20 2006-02-23 Rohm Co., Ltd 半導体装置およびそれを用いた電源装置、ならびに電子機器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006018939A1 (ja) * 2004-08-20 2006-02-23 Rohm Co., Ltd 半導体装置およびそれを用いた電源装置、ならびに電子機器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5373188A (en) Packaged semiconductor device including multiple semiconductor chips and cross-over lead
US8466564B2 (en) Enhanced stacked microelectronic assemblies with central contacts and improved ground or power distribution
US6291898B1 (en) Ball grid array package
KR940007649B1 (ko) 반도체 패키지
JP2002134685A (ja) 集積回路装置
JP2001156251A (ja) 半導体装置
JPH0513663A (ja) 半導体装置と半導体チツプの実装方法
JPH01293558A (ja) 半導体装置
KR20010062929A (ko) 적층 칩 패키지
KR100635386B1 (ko) 고속 신호 처리가 가능한 반도체 칩 패키지
JPS59139660A (ja) 半導体装置
JPH0382066A (ja) 半導体装置
JPH0661289A (ja) 半導体パッケージ及びこれを用いた半導体モジュール
JPS6352457A (ja) 半導体装置
KR100363057B1 (ko) 반도체 장치
CN112736053A (zh) 芯片封装模块
JPH02210858A (ja) 半導体装置
JP3260422B2 (ja) Icパッケージ
JPH1174302A (ja) 樹脂封止型半導体装置
KR960004090B1 (ko) 반도체 패키지
JPS6245159A (ja) 半導体装置
KR20010065753A (ko) 접지링을 갖는 비지에이 패키지
JPH0645514A (ja) 混成集積回路
KR19990056764A (ko) 볼 그리드 어레이 패키지
JPH01228156A (ja) 混成集積回路装置