JPH01230264A - Lsiパッケージ - Google Patents

Lsiパッケージ

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JPH01230264A
JPH01230264A JP5727888A JP5727888A JPH01230264A JP H01230264 A JPH01230264 A JP H01230264A JP 5727888 A JP5727888 A JP 5727888A JP 5727888 A JP5727888 A JP 5727888A JP H01230264 A JPH01230264 A JP H01230264A
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JP
Japan
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pins
mounting
pin
whose
lsi
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JP5727888A
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光 木村
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NEC Corp
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    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/303Surface mounted components, e.g. affixing before soldering, aligning means, spacing means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3415Surface mounted components on both sides of the substrate or combined with lead-in-hole components
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    • H05K3/3421Leaded components

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  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はコンピュータ等電子機器に用いられるLSIパ
ッケージに関し、特にピングリッドアレイのピン形状を
改良したLSIパッケージに関する。
[従来の技術] 従来、この種のLSIパッケージのピン形状は、スルー
ホール実装するセラミックケースの場合はピン長が長く
、かつ断面積の大きいピンで形成され、表面実装の場合
はピン長が短く、かつ断面h1の小さいピンで形成され
、それぞれセラミックケース毎にどちらかのタイプに決
めら打ていた。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上述した従来LSIパッケージでは、ス
ルーホール実装のセラミックケースの場合は基板(PW
B)のスルー本−ル精度上の制限があって高密度化には
不向きである。一方、表面実装の場合は高密度化の点で
は優れているが接続部分の接着強度がスルーホール実装
より劣るという欠点がある。
[課題を解決するための手段] 本発明は上記課題を解決し、スルーホール実装用ピンと
表面実装用ピンとが混在し、高密度でかつプリント基板
への接続強度の優れたLSIパッケージを提供すること
を目的とする。
上記目的を達成するため、本発明に係るLSIパッケー
ジは、LSIを内部に保持し、表面に前記LSI対応の
複数のI/Oピンを配列したLSIパッケージにおいて
、前記複数のI/Oピンが、断面積か大きく、ピン長の
長いスルーホール実装用ピンと、断面積が小さく、ピン
長の短い表面実装用ピンとを混在して構成されるもので
ある。
[実施例] 次に、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
第1図(a) 、 (b)は本発明の一実施例によるL
SIパッケージの構成を示す断面図および平面図、第2
図は第1図のLSIパッケージを基板に実装した状態を
示す断面図、第3図は本実施例によるLSIパッケージ
を228ピンピングリツドアレイにした場合の一例を示
す平面図である。
第1図(a) 、 (b)において、内部にLSI(図
示されてない)が実装されているセラミックケース1の
一つの面上に、断面積が大きく、ピン長の長いスルーホ
ール実装用ピン2と、断面積が小さく、ピン長の短い表
面実装用ピン3が形成されている。本実施例では、スル
ーホール実装用ピン2は、各コーナに4本配置し、その
他のピンは表面実装用ピン3にしている。
ここで、表−1に各ピンの代表的な寸法を示す。
表−1 次に、第1図のLSIパッケージを基板に実装した状態
を説明する。
第2図に示すように、スルーホール実装用ピン2は、基
板(PWB)4の孔に挿入された後、ハンダ付けされる
。このとき、表面実装用ピン3は、基板4の表面に当接
し、同様にハンダ付けされ、実装が終了する。
さて、高密度実装のため、すべてのピンを表面実装用形
状とした場合ピンピッチは1.27mm、あるいはそれ
以下の実装が可能となり高密度化には適する。しかし、
この反面、基板4の表面突きあてのため全ピンにわたっ
てハンダ接続性を保障するには厳重な工程管理が必要と
なり、更には、工程途中の熱が加わると基板4とセラミ
ックケース1どの熱膨張率の違いによる熱ストレスのた
めハンダ剥れが生じ易い。
一方すべてのピンをスルーホール実装用形状にすれば、
熱荷重ストレスには十分耐え得るが高密度化の面で不向
きである。
そこで本実施例のように、信号、電源。
GND用に多数あるI/Oピンのうち、例えばGND用
のピンの何本かをスルーホール実装用、他のピンを表面
実装用とすれば、高密度化およびハンダ付は接続強度の
双方の条件に適する構造となり得る。
第3図に228ピンピングリツドアレイの一例を示す。
本実施例では、表面実装用ピン3として224本、スル
ーホール実装用ピン2として4本用いている。もし、全
ピンを表面実装用ピン3で設計すれば、256本採れる
が、敢えて各コーナ4本(計16本)を犠牲にしてスル
ーホール実装用ピン2に4本に代えており、この4木に
よってセラミックケース1と基板4との熱膨張率の違い
から生じる熱ストレスに対して補強できることになる。
ちなみに、全ピンをスルーホール実装用ピン2とした場
合、同一ケース外形でたかだか60本しか採わないこと
になり高密度化に耐えがたい。
[発明の効果] 以上説明したように本発明はLSIパッケージのピン形
状をスルーホール実装用と表面実装用とを一つのパッケ
ージに混在した構造を採ることにより、高密度化でかつ
ハンダ接続強度の強いLSIパッケージを提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a) 、 (b)は本発明の一実施例によるL
SIパッケージの構成を示す断面図及び平面図、第2図
は第1図のLSIパッケージをスルーホール実装した状
態を示す断面図、第3図は228ピンのLSIパッケー
ジのピン配列の一例を示す平面図である。 1;セラミックケース 2ニスルーホール実装用ピン

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  LSIを内部に保持し、表面に前記LSI対応の複数
    のI/Oピンを配列したLSIパッケージにおいて、 前記複数のI/Oピンが、 断面積が大きく、ピン長の長いスルーホール実装用ピン
    と、 断面積が小さく、ピン長の短い表面実装用ピンとを混在
    して構成されることを特徴とする LSIパッケージ。
JP63057278A 1988-03-10 1988-03-10 Lsiパッケージ Expired - Lifetime JP2674071B2 (ja)

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JP63057278A JP2674071B2 (ja) 1988-03-10 1988-03-10 Lsiパッケージ

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JP63057278A JP2674071B2 (ja) 1988-03-10 1988-03-10 Lsiパッケージ

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JPH01230264A true JPH01230264A (ja) 1989-09-13
JP2674071B2 JP2674071B2 (ja) 1997-11-05

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