JPH06268086A - 半導体集積回路装置およびそれが装着されるプリント基板 - Google Patents

半導体集積回路装置およびそれが装着されるプリント基板

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JPH06268086A
JPH06268086A JP5056965A JP5696593A JPH06268086A JP H06268086 A JPH06268086 A JP H06268086A JP 5056965 A JP5056965 A JP 5056965A JP 5696593 A JP5696593 A JP 5696593A JP H06268086 A JPH06268086 A JP H06268086A
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    • H05K3/3421Leaded components

Abstract

(57)【要約】 【目的】 熱膨張係数の異なるプリント基板と半導体集
積回路装置との熱膨張による半田クラックの発生を防止
できる半導体集積回路装置およびそれが装着されるプリ
ント基板を提供する。 【構成】 パッケージ1aの底面3に突起部4を形成す
る。またプリント基板にこの突起部4と嵌合する嵌合孔
を開設する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体集積回路装置
およびそれが装着されるプリント基板に関し、特に半導
体集積回路装置をプリント基板に装着する場合における
半田付けの信頼性向上、逆付け防止および仮止め工程の
省略について有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】製品として完成した半導体集積回路装置
は、プリント基板に装着され、半田付けによる電気的接
合がされて、有機的に機能することとなる。
【0003】従来、このプリント基板に装着された半導
体集積回路装置とプリント基板との接点はアウターリー
ドが接合されるプリント基板の電極のみであった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】半導体集積回路装置が
駆動されると半導体チップはかなりの熱を帯びることと
なるが、この熱は半導体チップからパッケージやプリン
ト基板にも伝播されるため、半導体チップ、パッケージ
およびプリント基板がそれぞれ膨張することとなる。こ
こで、半導体チップの熱膨張係数は、パッケージおよび
プリント基板に比べて大幅に小さい。
【0005】ところで、近年、半導体集積回路装置のコ
ンパクト化の要請から、半導体チップが小形化されてい
るのは周知のことであるが、併せて、この半導体チップ
を封止しているパッケージも薄肉化されている。
【0006】したがって、前記のように半導体チップが
熱を帯びた場合において、半導体チップとパッケージと
からなる半導体集積回路装置の熱膨張係数は半導体チッ
プの熱膨張係数に近い値となる。
【0007】すると、半導体集積回路装置の熱膨張係数
はプリント基板に比べて大幅に小さくなることとなるた
めに、半導体チップから伝播された熱による熱膨張によ
り半導体集積回路装置のアウターリードとプリント基板
の電極と間の半田付け部に熱ストレスがかかり、プリン
ト基板にピンが挿入されない面実装タイプの半導体集積
回路装置の場合には、半田クラックが発生して導通不良
となる問題点があった。
【0008】また、半導体集積回路装置のプリント基板
への装着には方向性があるのは言うまでもないが、たと
え逆付けであっても物理的な装着自体は可能であるため
に、逆付けに気づかずに半導体集積回路装置をプリント
基板へ装着してしまう場合がある。
【0009】さらに、面実装タイプの半導体集積回路装
置をプリント基板に装着する場合には、接合時に接着剤
で半導体集積回路装置をプリント基板に仮止めするが、
このような仮止めは工程数増加の一因であり、省略でき
れば望ましい。
【0010】そこで、本発明の目的は、熱膨張係数の異
なるプリント基板と半導体集積回路装置との熱膨張によ
る半田クラックの発生を防止することのできる半導体集
積回路装置およびそれが装着されるプリント基板に関す
る技術を提供することにある。
【0011】また、本発明の他の目的は、逆付けを防止
することのできる半導体集積回路装置およびそれが装着
されるプリント基板に関する技術を提供することにあ
る。
【0012】本発明のさらに他の目的は、プリント基板
への仮止めの不要な半導体集積回路装置およびそれが装
着されるプリント基板に関する技術を提供することにあ
る。
【0013】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面から明らかにな
るであろう。
【0014】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を説明すれば、次の通
りである。
【0015】すなわち、本発明の半導体集積回路装置
は、パッケージの底面に突起部が形成されたものであ
る。
【0016】この場合において、前記の突起部は非対称
とすることができる。
【0017】さらに、これらの場合において、前記の突
起部は、先端に向かってテーパ状に形成することができ
る。
【0018】また、本発明のプリント基板は、前記半導
体集積回路装置の突起部が嵌合される嵌合孔が開設さ
れ、半導体集積回路装置の突起部がこの嵌合孔に嵌合さ
れて装着されたものである。
【0019】
【作用】パッケージの底面に突起部が形成された半導体
集積回路装置およびそれが装着されるプリント基板によ
れば、半導体集積回路装置とプリント基板との熱膨張係
数が異なることから発生する熱ストレスが半田付け部お
よび突起部と嵌合孔との接合部に分散されることとなる
ので、半田クラックに起因する導通不良を未然に防止す
ることができる。
【0020】前記突起部が非対称とされた半導体集積回
路装置およびそれが装着されるプリント基板によれば、
プリント基板に対する半導体集積回路装置の取付方向
が、正しい取付方向である単一方向のみに限定されるこ
ととなるので、半導体集積回路装置のプリント基板に対
する逆付けを防止することができる。
【0021】前記突起部が先端に向かってテーパ状に形
成された半導体集積回路装置およびそれが装着されるプ
リント基板によれば、この突起部とプリント基板に開設
された嵌合孔との嵌合が容易で、一旦勘合した後は抜け
にくくなる。したがって、接着剤による半導体集積回路
装置とプリント基板との仮止めの必要がなくなり、ま
た、突起部に対する嵌合孔のわずかな寸法ずれを吸収す
ることもできる。
【0022】
【実施例1】図1は本発明の一実施例である半導体集積
回路装置を示す斜視図、図2はその半導体集積回路装置
が装着されるプリント基板を示す平面図、図3はその半
導体集積回路装置がプリント基板に装着された状態を示
す断面図である。
【0023】まず、本実施例の半導体集積回路装置1の
構成について説明する。
【0024】本実施例の半導体集積回路装置1は、面実
装タイプであり、アウターリード2が2方向に延びる2
方向リードからなるものである。
【0025】そして、この半導体集積回路装置1のパッ
ケージ1aの底面3の四隅には、円柱状の突起部4が形
成されている。
【0026】また、この半導体集積回路装置1が装着さ
れるプリント基板5には、銅箔の電極6が半導体集積回
路装置1のアウターリード2に対応して形成され、さら
に、前記突起部4が嵌合する嵌合孔7が開設されてい
る。
【0027】次に、本実施例の半導体集積回路装置1の
作用について説明する。
【0028】本半導体集積回路装置1をプリント基板5
に装着する場合には、まず、半導体集積回路装置1のパ
ッケージ1aの底面3の四隅に形成された突起部4を、
プリント基板5に開設された嵌合孔7に勘合させてプリ
ント基板5上に設置する。
【0029】そして、半導体集積回路装置1のアウター
リード2とプリント基板5の電極6とを半田を使用して
電気的に接続する。
【0030】このように、本実施例の半導体集積回路装
置1では、アウターリード2と電極6との接合部である
半田付け部および前記突起部4と嵌合孔7とでプリント
基板5と接合されているので、半導体集積回路装置1が
熱を帯びた場合でも、両者の熱膨張係数が異なることか
ら発生する熱ストレスが半田付け部に集中せず、突起部
4と嵌合孔7との接合部にも分散される。
【0031】したがって、半田クラックの発生が排除さ
れることとなり、半田クラックに起因する導通不良を未
然に防止することができる。
【0032】
【実施例2】図4は本発明の他の一実施例である半導体
集積回路装置を示す斜視図、図5はその半導体集積回路
装置が装着されるプリント基板を示す平面図である。
【0033】本実施例の半導体集積回路装置1は、パッ
ケージ1aの底面3に形成された円柱状の突起部4が、
非対称とされているものである。
【0034】したがって、この半導体集積回路装置1が
装着されるプリント基板5の嵌合孔7も、図5に示すよ
うに非対称に開設されている。
【0035】本実施例の半導体集積回路装置1によれ
ば、前記実施例1における半導体集積回路装置1と同様
に、熱膨張係数が異なることから発生する熱ストレスが
半田付け部および突起部4と嵌合孔7との接合部に分散
され、半田クラックに起因する導通不良を未然に防止す
ることができる。
【0036】さらに、本実施例においては、半導体集積
回路装置1のパッケージ1aの底面3に形成された突起
部4およびプリント基板5に開設された嵌合孔7が非対
称とされているので、プリント基板5に対する半導体集
積回路装置1の取付方向が、正しい取付方向である単一
方向のみに限定されることとなり、半導体集積回路装置
1の逆付けを防止することができる。
【0037】
【実施例3】図6は本発明の、さらに他の一実施例であ
る半導体集積回路装置を示す斜視図である。
【0038】本実施例の半導体集積回路装置1は、パッ
ケージ1aの底面3の四隅に形成された突起部8が、縦
方向に分割され、先端に向かってテーパ状とされている
ものである。
【0039】本実施例の半導体集積回路装置1によれ
ば、突起部8が先端に向かってテーパ状に形成されてい
るので、この突起部8とプリント基板5に開設された嵌
合孔7との嵌合が容易となり、一旦嵌合した後は、半導
体集積回路装置1がプリント基板5から抜けにくくな
る。
【0040】したがって、本実施例の半導体集積回路装
置1では、従来の面実装タイプの半導体集積回路装置の
ように、接着剤によるプリント基板5との仮止めの必要
がなくなり、仮止めの工程を省略することができる。
【0041】さらに、突起部8に対する嵌合孔7のわず
かな寸法ずれを吸収することもできる。
【0042】
【実施例4】図7は本発明の、さらに他の一実施例であ
る半導体集積回路装置を示す斜視図である。
【0043】本実施例の半導体集積回路装置1は、パッ
ケージ1aの底面3の中央部に1つ突起部4が形成され
たものである。
【0044】たとえば、半導体集積回路装置1が小形で
ある場合などにおいては、半導体集積回路装置1とプリ
ント基板5との熱膨張係数が異なっていても、実際に膨
張する寸法は僅かである。
【0045】したがって、このような場合には底面3に
形成される突起部4が1つであっても、前記実施例の半
導体集積回路装置1と同様に、熱ストレスを半田付け部
および突起部4と嵌合孔7との接合部に分散し、半田ク
ラックに起因する導通不良を未然に防止することができ
る。
【0046】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更が可能であることは言うまでもない。
【0047】たとえば、半導体集積回路装置のパッケー
ジの底面に形成された突起部は、本実施例においては円
柱状および縦方向に分割されてテーパ状に形成されたも
のであるが、この形状に限定されるものではなく、たと
えば四角柱状としたり、縦方向には分割せずにテーパ状
とするなど、種々の形状とすることができる。
【0048】また、その突起部の数は、前記実施例のよ
うに4つまたは1つに限定されるものではなく、任意の
数の突起部を形成することができる。
【0049】さらに、先端部がテーパ状とされた突起部
を、実施例2のように非対称に複数形成したり、実施例
4のように底面1つ形成することができることは言うま
でもない。
【0050】なお、実施例4において突起部が形成され
る位置は底面の中央であるが、中央以外の位置、たとえ
ば隅部に形成することもでき、このように形成した場合
も実施例2にいう非対称であり、プリント基板への逆付
け防止という利点も発生することとなる。
【0051】本実施例の半導体集積回路装置は面実装タ
イプのものであるが、ピン挿入タイプの半導体集積回路
装置のパッケージの底面に突起部を形成することができ
ることは勿論である。
【0052】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下
記の通りである。
【0053】(1) パッケージの底面に突起部が形成され
た半導体集積回路装置およびそれが装着されるプリント
基板によれば、両者が半田付け部および突起部と嵌合孔
とでプリント基板と接合されているので、半導体集積回
路装置とプリント基板との熱膨張係数が異なることから
発生する熱ストレスが半田付け部および突起部と嵌合孔
との接合部に分散されることとなる。したがって、半田
クラックの発生が排除されることとなり、半田クラック
に起因する導通不良を未然に防止することができる。
【0054】(2) 突起部が非対称とされた半導体集積回
路装置およびそれが装着されるプリント基板によれば、
これに加えて、プリント基板に対する半導体集積回路装
置の取付方向が、正しい取付方向である単一方向のみに
限定されることとなるので、半導体集積回路装置のプリ
ント基板に対する逆付けを防止することができる。
【0055】(3) さらに、突起部が先端に向かってテー
パ状に形成された半導体集積回路装置およびそれが装着
されるプリント基板によれば、この突起部とプリント基
板に開設された嵌合孔との嵌合が容易で、一旦嵌合した
後は抜けにくくなるので、接着剤による半導体集積回路
装置とプリント基板との仮止めの必要がなくなる。ま
た、半導体集積回路装置の突起部に対するプリント基板
の嵌合孔のわずかな寸法ずれを吸収することができる。
【0056】(4) そして、このような突起部が形成され
た半導体集積回路装置は、僅かにモールド金型の形状を
変更するだけで、従来と同じモールド材を使用して、従
来と同じトランスファーモールドを用いて製造すること
ができるので、非常に安価にこれを実現することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1における半導体集積回路装置
を示す斜視図である。
【図2】その半導体集積回路装置が装着されるプリント
基板を示す平面図である。
【図3】その半導体集積回路装置がプリント基板に装着
された状態を示す断面図である。
【図4】本発明の実施例2における半導体集積回路装置
を示す斜視図である。
【図5】その半導体集積回路装置が装着されるプリント
基板を示す平面図である。
【図6】本発明の実施例3における半導体集積回路装置
を示す斜視図である。
【図7】本発明の実施例4における半導体集積回路装置
を示す斜視図である。
【符号の説明】
1 半導体集積回路装置 1a パッケージ 2 アウターリード 3 底面 4 突起部 5 プリント基板 6 電極 7 嵌合孔 8 突起部

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パッケージの底面に突起部が形成されて
    いることを特徴とする半導体集積回路装置。
  2. 【請求項2】 前記突起部は、非対称とされていること
    を特徴とする請求項1記載の半導体集積回路装置。
  3. 【請求項3】 前記突起部は、先端に向かってテーパ状
    に形成されていることを特徴とする請求項1または2記
    載の半導体集積回路装置。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれか1項に記載の半
    導体集積回路装置の突起部が嵌合される嵌合孔が開設さ
    れ、前記半導体集積回路装置の前記突起部が前記嵌合孔
    に嵌合されて装着されることを特徴とするプリント基
    板。
JP5056965A 1993-03-17 1993-03-17 半導体集積回路装置およびそれが装着されるプリント基板 Withdrawn JPH06268086A (ja)

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