JP2002009217A - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents
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Abstract
置の製造工程でのリード端子の変形を防止することによ
って、信頼性を向上させた半導体装置を提供すること。 【解決手段】半導体チップ6とリード端子3、4が樹脂
5で封止され、前記リード端子3、4の下面が前記樹脂
5の下面と面一である半導体装置において、前記リード
端子は、前記半導体チップ5の一方面が搭載される第一
のリード端子3と、前記半導体チップ5の他方面と電気
的に接続される第二のリード端子4からなり、前記第一
のリード端子3は前記半導体チップが搭載され樹脂内に
位置する屈曲部を有し、前記第二のリード端子4は平板
であることとする。
Description
封止される半導体装置に関し、特に半導体チップの表裏
の電極面が導体と電気的に接続される樹脂封止型半導体
装置に関する。
導体装置においては、半導体チップと半導体装置から外
部に導出される外部端子との電気的な接続をワイヤボン
ディングによって行うことが一般的であった。しかし、
ワイヤボンディングによる接続では、サージ電流のよう
な大電流が流れた際に断線してしまうという問題点があ
り、また、サージ電流のような大電流が流れなくても、
半導体チップの動作による温度変化を繰り返すことによ
って半導体装置内でワイヤが伸縮し、その応力から生じ
る金属疲労によってワイヤが断線してしまうという問題
点があった。また、これらの弊害を防止するためにワイ
ヤ径を太くすると、ボンディング時におけるループ径を
高く採らなければならず、製品外形が大きくなってしま
うという問題点があった。さらにリード端子が樹脂内部
に屈曲部を有する構造とするために半導体チップの搭載
前に該リード端子が屈曲されていると、この屈曲により
ワイヤボンディング時のリード端子の固定が充分に行え
ず、リード端子にボンディング時の超音波振動が伝わり
にくくボンディングしにくいという問題もあった。
の問題点を解決する従来技術として、図3に示す半導体
装置がある。この半導体装置は、半導体チップ104の
下面が接続されるリード端子102、及び半導体チップ
の上面が接続されるリード端子101が一対で形成さ
れ、それらのリード端子101、102の間に半導体チ
ップ104を配置し、半田103、105で接続し、樹
脂106で樹脂封止して形成されるものである。リード
端子101、102は、ワイヤボンディングに用いるワ
イヤに比べ、その厚み、幅とも十分大きく採ることが可
能であるため、大電流が流れた場合、及び温度変化によ
って伸縮が繰り返された場合においても十分な強度を有
し、また、その配置形状を自由に選択できるため、製品
外形の小型化を図ることができる。
置では、半導体チップ104の上面に接続されるリード
端子101の方が下面に接続されるリード端子102よ
りも長くなるため、リード端子101の熱膨張による伸
縮が大きく、この伸縮によって半導体チップ104に余
計な応力を与えてしまうことがある。更に、リード端子
101はリード端子102との接触を防ぎ、絶縁距離を
大きくするためにL字状に屈曲されている。また、リー
ド端子102でも一方が樹脂106の下面に露出し、半
導体チップ104が搭載される他方が樹脂106の内部
に位置するようにリード端子がジグザグ状に屈曲されて
いる。そして、生産効率を高めるために、リード端子1
01とリード端子102は、図示してないが、サイドフ
レームで連結された1つのリードフレームとなってお
り、樹脂106で樹脂封止後にサイドフレームから切断
分離される。このように、連結されたリードフレームで
しかも屈曲されているリード端子101、102はリー
ドフレームでの搬送中や製造工程での組立中に突出した
屈曲部が引っ掛かったりして、端子の変形が生じやす
い。この端子の変形が生じたままで組立が行われると端
子の未接続あるいは短絡が生じたりして半導体チップ1
04との確実な接続が行えないばかりか、リード端子1
01が樹脂106から突き出て露出してしまうことが考
えられる。
のであり、製造工程でのリード端子の変形を防止するこ
とによって、信頼性を向上させた樹脂封止型半導体装置
を提供することを目的とする。
決するために、半導体チップとリード端子が樹脂で封止
され、前記リード端子の下面が前記樹脂の下面と面一で
ある半導体装置において、前記リード端子は、前記半導
体チップの一方面が搭載される第一のリード端子と、前
記半導体チップの他方面と電気的に接続される第二のリ
ード端子からなり、前記第一のリード端子は前記半導体
チップが搭載され樹脂内に位置する屈曲部を有し、前記
第二のリード端子は平板であるものとする。つまり、半
導体チップが搭載されない側のリード端子を平板とする
ことにより、リードフレームでの突出部が減り、製造途
中でのリード端子の変形を防ぐことができる。
のリード端子との電気的な接続は、屈曲した補助端子で
行われているのがよい。こうすると、半導体チップと平
板のリード端子との接続は屈曲した補助端子で確実に行
える。しかもこの時の補助端子はL字状であるので、平
板のリード端子を下面側に押す力が作用して、樹脂封止
時のリード端子の下面への露出が充分に行える。
続部は、半導体チップの電極の範囲内に納まることがよ
い。こうすると、半導体チップ周辺の酸化膜への半田の
付着を防ぐことができる。更に、前記リード端子の下面
に予備半田が施され樹脂の下面よりも突出していること
が好ましい。こうすると、プリント基板等の回路基板へ
の接続が確実に行える。
照して説明する。まず、本発明における第1の実施例に
ついて説明する。図1は、本実施例における半導体装置
の構造を示した構造図である。ここで、(a)は透過平
面図を示しており、(b)は側断面図を示しており、
(c)は下面図を示している。
〜10Aのダイオードであり、導電性を有する下面側端
子であるリード端子3、上面電極6a及び下面電極を有
し、リード端子3の上面に電気的に接続されて配置され
る半導体チップ6、面積が縮少された電極接続部2aを
有し、この電極接続部2aが屈曲していることによって
半導体チップ6の上面電極6aと電気的に接続される補
助リード端子2、補助リード端子2と電気的に接続され
るリード端子4、半導体チップ6等を封止する樹脂5、
及び半田7、8、9によって構成されている。
3、4と電気的に接続するための上面電極6a及び下面
電極が形成されている。また、電極が形成されていない
外周等の部分には絶縁層である酸化シリコン膜等の酸化
膜6bが形成され、外部との耐圧を保っている。リード
端子3は、導電性を有する金属等で構成された厚さ0.
2〜0.3mmの長方形の板を、上面方向及び下面方向
に1回ずつ屈曲させ、これにより、下面が露出してかつ
樹脂5の下面と面一となる外側3aと、樹脂5内に完全
に埋没する内側3bとの互いに平行な2平面が段違いに
形成されるように構成される。このように、平行な2平
面が段違いに形成されていると、屈曲部は鋭角に曲げた
としても多少半径Rの丸みを有するため、この丸みの部
分が樹脂5の薄肉部3dとなる。凹部3cはリード端子
3の長手方向の側面に形成され、この凹部3cによる投
錨効果で樹脂5との密着力の向上が図られている。
等で構成された厚さ0.1〜0.3mmの板を、上面方
向及び下面方向に1回ずつ屈曲させ、これにより、互い
に平行な2平面が段違いに形成され、更にL字状に2回
屈曲して構成される。ただし、ここで使用される板は長
方形ではなく、その一部の横幅が半導体チップ6の上面
電極6aの幅と略同一、或いはそれ以下になるように構
成された電極接続部2aを有する形状の板が用いられ
る。補助リード端子2における上面方向への屈曲は電極
接続部2aで行われ、なおかつ、電極接続部2aに形成
された1つの段差部の形状が、半導体チップ6に形成さ
れた上面電極6aの領域に収まるように行われる。これ
により、電極接続部2aと半導体チップ6の上面電極6
aとを半田8で半田付けした際に、半導体チップ6の上
面電極の周辺を覆っている酸化膜6bへ半田がはみ出す
のを防ぐことができる。また、半導体チップ6で発生し
た熱の放熱効率、及び電気抵抗低減の面から、電極接続
部2aの横幅は、半導体チップ6の上面電極6aの幅を
越えない限度で、できるだけ広く採ることが望ましい。
補助リード端子2のL字状に屈曲した部分2bは半田9
によって平板なリード端子4に半田付けされている。こ
のため、このL字状に屈曲した部分2bが樹脂封止時の
加熱で膨張するとリード端子4を押す方向の力が作用す
るようになる。この力は、リード端子4を下方向へ押し
付けることとなるので、樹脂封止時に確実にリード端子
4の下面を露出させることができ、リード端子4の端部
での樹脂バリを防ぐことができる。
構成された厚さ0.2〜0.3mmの長方形の平板によ
り構成される。半導体チップが搭載されない側のリード
端子4を平板とすることにより、リードフレームでの突
出部が減り、製造途中でのリード端子の変形を防ぐこと
ができる。これらリード端子3,4は一つのリードフレ
ーム中に多数個各対向させて形成し、樹脂で封止後にリ
ード端子を切断するのが製造上好ましい。
端子2に用いる材質としては、導電性を有し、ある程度
の機械的強度が保持でき、酸化、半田のフラックス等に
対する耐腐食性を有するものであれば、特に制限なく使
用できる。次に、半導体装置の配置構成について説明す
る。リード端子3、4は、リード端子3、4の各1平面
が同一平面上に配置され、この同一平面上に配置される
各平面の末端が互いに外側を向き、また、この同一平面
上に配置されるリード端子3の平面の屈曲が上面方向で
後述の樹脂5内となるように配置される。そして、この
同一平面上に配置される各平面の末端は、樹脂5の下面
と面一となっている。
れないが、その平面と平行に配置されることとなるリー
ド端子3の屈曲後の平面上部には、半田8が塗布され、
その上部には半導体チップ6が配置される。さらに、半
導体チップ6の上部電極6aには半田7が塗布され、そ
の上部には補助リード端子2の電極接続部2aが配置さ
れる。そして、半田7、8を溶解させることにより、リ
ード端子3と半導体チップ6の下面電極、及び半導体チ
ップ6の上面電極6aと補助リード端子2の電極接続部
2aとの半田付けが行われる。また、この時リード端子
4と補助リード端子2の間の半田9の半田付けも行われ
る。
樹脂5によって封止される。この際、樹脂5下面と同一
平面上に配置されるリード端子3、4の各1平面の末端
部は、樹脂5の外部に配置され、この外部に配置された
末端部によって、外部の配線パターン等との電気的な接
続が行われる。本実施例では、さらにこのリード端子
3、4の各1平面の末端部に予備半田1が施され、この
予備半田1の分だけ樹脂5の下面より突出することとな
る。このように、予備半田1の部分が突出することによ
り回路基板の実装箇所との位置合わせが行い易いと共に
確実な接続が行うことができる。
以下の説明では、図1の実施例との相違点を中心に説明
を行い、共通する部分については、その説明を省略す
る。図2に示すように、半導体チップ6の平均順電流I
Fが小さくワイヤボンデイングの適用が可能である場合
は、ワイヤ10を用いて半導体チップ6とリード端子4
の接続を行うことができる。これは、リード端子4が平
板で屈曲部がないため、リード端子4の形状を変えるこ
となく補助リード端子2をワイヤ10に置き換えること
ができるためである。また、ワイヤ10のボンデイング
も平板のリード端子であるので行い易い。このように、
ワイヤ10を用いると半導体装置の重心が高さの半分よ
り下になるので、装置自体の安定性が増し、実装時のず
れ等を防ぐことができる。
端子2をリード端子4と独立に設け、補助リード端子2
をリード端子4に半田付けして接続することとしたた
め、半導体素子1の組み立て前にリード端子4が変形し
た場合であっても、組み立て時に補助リード端子2の位
置を補正しつつリード端子4に半田付けすることが可能
となり、補助リード端子2の電極接続部2aを上面電極
6aからはみ出すことなく配置できることとなるため、
酸化膜6bへの半田付着による半導体チップ6への半田
成分の浸透を防止し、信頼性の向上を図ることが可能と
なる。さらに、半田9が応力緩和の役目をするので、リ
ード端子4の熱膨張による伸縮の応力が半導体チップ6
に加わるのを低減できる。
下面に電極が1カ所ずつ設けられ、それらに対応する補
助リード端子2及びリード端子3、4が1つずつ配置さ
れる構成としたが、上下面の少なくとも一方に複数の電
極が設けられた半導体チップ6を用い、各電極に対応す
る複数の補助リード端子2及びリード端子3、4を用
い、半導体素子を構成することとしてもよい。
した半導体素子に適用したが、半導体チップ以外の素子
を用いた電子部品に適用することとしてもよい。さら
に、本実施例では、各構成部品の接続を半田によって行
うこととしたが、その他の導電性接合媒体を用いること
としてもよい。なお、これらの実施例における樹脂5の
外形は縦×横が2.5mm×4.0mmで厚さが0.5
〜2.5mmであり、リード端子3、4の突出部(各
0.5mm)を含めた横の長さが5.0mmである。ま
た、平均順電流IFが3Aのダイオードで樹脂の外形が
10mm2、1Aのダイオードで樹脂の外形が5mm2で
ある。
子を独立に設け、該補助端子と接続されるリード端子を
平板としたため、半導体装置の組み立て時に端子の変形
が起き難くなり、仮に組み立て前に端子が変形した場合
であっても、組み立て時に補助端子の位置を補正しつつ
半田付けすることが可能となり、半導体チップへの半田
成分の浸透を防止し、高い信頼性を確保することが可能
となる。さらに半導体チップに加わる応力の低減も図ら
れる他に樹脂封止時に補助リード端子がリード端子を押
す力が働くため、樹脂バリを生じることなくリード端子
の下面の露出が行える。また、半導体チップの上面電極
に、面積を縮少させ屈曲させた電極接続部によって補助
リード端子を電気的に接続して半導体装置を構成するこ
ととしたため、小型化を図った上で半導体チップの酸化
膜への半田の接触を避けつつ、補助端子を半導体チップ
の上面端子に半田付けすることが可能となり、半導体チ
ップへの半田成分の浸透を防止し、半導体装置の信頼性
の向上を図ることが可能となる。
る。ここで、(a)は透過平面図を示しており、(b)
側断面図を示しており、(c)は下面図を示している。
る。
Claims (4)
- 【請求項1】半導体チップとリード端子が樹脂で封止さ
れ、前記リード端子の下面が前記樹脂の下面と面一であ
る半導体装置において、前記リード端子は、前記半導体
チップの一方面が搭載される第一のリード端子と、前記
半導体チップの他方面と電気的に接続される第二のリー
ド端子からなり、前記第一のリード端子は前記半導体チ
ップが搭載され樹脂内に位置する屈曲部を有し、前記第
二のリード端子は平板であることを特徴とする樹脂封止
型半導体装置。 - 【請求項2】前記半導体チップの他方面と第二のリード
端子との電気的な接続は、屈曲した補助端子で行われて
いることを特徴とする請求項1記載の樹脂封止型半導体
装置。 - 【請求項3】前記補助端子の半導体チップへの接続部
は、半導体チップの電極の範囲内に納まることを特徴と
する請求項2記載の樹脂封止型半導体装置。 - 【請求項4】前記リード端子の下面に予備半田が施され
樹脂の下面よりも突出していることを特徴とする請求項
1記載の樹脂封止型半導体装置。
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Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013143519A (ja) * | 2012-01-12 | 2013-07-22 | Fuji Electric Co Ltd | 接続子および樹脂封止型半導体装置 |
US8735920B2 (en) | 2006-07-31 | 2014-05-27 | Cree, Inc. | Light emitting diode package with optical element |
US8748915B2 (en) | 2006-04-24 | 2014-06-10 | Cree Hong Kong Limited | Emitter package with angled or vertical LED |
US8791471B2 (en) | 2008-11-07 | 2014-07-29 | Cree Hong Kong Limited | Multi-chip light emitting diode modules |
US8866169B2 (en) | 2007-10-31 | 2014-10-21 | Cree, Inc. | LED package with increased feature sizes |
US9035439B2 (en) | 2006-03-28 | 2015-05-19 | Cree Huizhou Solid State Lighting Company Limited | Apparatus, system and method for use in mounting electronic elements |
US9070850B2 (en) | 2007-10-31 | 2015-06-30 | Cree, Inc. | Light emitting diode package and method for fabricating same |
US9601670B2 (en) | 2014-07-11 | 2017-03-21 | Cree, Inc. | Method to form primary optic with variable shapes and/or geometries without a substrate |
US9711703B2 (en) | 2007-02-12 | 2017-07-18 | Cree Huizhou Opto Limited | Apparatus, system and method for use in mounting electronic elements |
US9722158B2 (en) | 2009-01-14 | 2017-08-01 | Cree Huizhou Solid State Lighting Company Limited | Aligned multiple emitter package |
US10256385B2 (en) | 2007-10-31 | 2019-04-09 | Cree, Inc. | Light emitting die (LED) packages and related methods |
US10622522B2 (en) | 2014-09-05 | 2020-04-14 | Theodore Lowes | LED packages with chips having insulated surfaces |
-
2000
- 2000-06-23 JP JP2000189589A patent/JP4431756B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9035439B2 (en) | 2006-03-28 | 2015-05-19 | Cree Huizhou Solid State Lighting Company Limited | Apparatus, system and method for use in mounting electronic elements |
US8748915B2 (en) | 2006-04-24 | 2014-06-10 | Cree Hong Kong Limited | Emitter package with angled or vertical LED |
US8735920B2 (en) | 2006-07-31 | 2014-05-27 | Cree, Inc. | Light emitting diode package with optical element |
US9711703B2 (en) | 2007-02-12 | 2017-07-18 | Cree Huizhou Opto Limited | Apparatus, system and method for use in mounting electronic elements |
US9070850B2 (en) | 2007-10-31 | 2015-06-30 | Cree, Inc. | Light emitting diode package and method for fabricating same |
US8866169B2 (en) | 2007-10-31 | 2014-10-21 | Cree, Inc. | LED package with increased feature sizes |
US10256385B2 (en) | 2007-10-31 | 2019-04-09 | Cree, Inc. | Light emitting die (LED) packages and related methods |
US10892383B2 (en) | 2007-10-31 | 2021-01-12 | Cree, Inc. | Light emitting diode package and method for fabricating same |
US11791442B2 (en) | 2007-10-31 | 2023-10-17 | Creeled, Inc. | Light emitting diode package and method for fabricating same |
US8791471B2 (en) | 2008-11-07 | 2014-07-29 | Cree Hong Kong Limited | Multi-chip light emitting diode modules |
US9722158B2 (en) | 2009-01-14 | 2017-08-01 | Cree Huizhou Solid State Lighting Company Limited | Aligned multiple emitter package |
JP2013143519A (ja) * | 2012-01-12 | 2013-07-22 | Fuji Electric Co Ltd | 接続子および樹脂封止型半導体装置 |
US9252086B2 (en) | 2012-01-12 | 2016-02-02 | Fuji Electric Co., Ltd. | Connector and resin-sealed semiconductor device |
US9601670B2 (en) | 2014-07-11 | 2017-03-21 | Cree, Inc. | Method to form primary optic with variable shapes and/or geometries without a substrate |
US10622522B2 (en) | 2014-09-05 | 2020-04-14 | Theodore Lowes | LED packages with chips having insulated surfaces |
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