JPH01201901A - 電気デバイス及びはんだ接続部の保護方法 - Google Patents
電気デバイス及びはんだ接続部の保護方法Info
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- JPH01201901A JPH01201901A JP63310969A JP31096988A JPH01201901A JP H01201901 A JPH01201901 A JP H01201901A JP 63310969 A JP63310969 A JP 63310969A JP 31096988 A JP31096988 A JP 31096988A JP H01201901 A JPH01201901 A JP H01201901A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C1/00—Details
- H01C1/02—Housing; Enclosing; Embedding; Filling the housing or enclosure
- H01C1/032—Housing; Enclosing; Embedding; Filling the housing or enclosure plural layers surrounding the resistive element
-
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- Y10T29/49002—Electrical device making
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-
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- Y10T29/49172—Assembling electrical component directly to terminal or elongated conductor with encapsulating by molding of insulating material
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Details Of Resistors (AREA)
- Connections Effected By Soldering, Adhesion, Or Permanent Deformation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、保護被覆に係り、更に詳細には高温度に於て
適用されるプラスチック材料の保護被覆に係る。本発明
は電気デバイスの被包に特に適用可能なものであり、か
かる実施例について本発明を説明するが、本発明はより
広い局面を有し、基体を高温より保護しつつ高温のプラ
スチック材料を基体に適用することか必要とされる任意
の状況に於て使用されてよいものである。
適用されるプラスチック材料の保護被覆に係る。本発明
は電気デバイスの被包に特に適用可能なものであり、か
かる実施例について本発明を説明するが、本発明はより
広い局面を有し、基体を高温より保護しつつ高温のプラ
スチック材料を基体に適用することか必要とされる任意
の状況に於て使用されてよいものである。
従来の技術
高い物理的強度及び化学的耐性を有する多くのエンジニ
アリング用熱可塑性樹脂は非常に高い融点を有している
。かかる溶融状態のプラスチック材料を電気デバイスに
適用すると、デバイスが損傷されたり接続部に使用され
たはんたか溶融されることかある。従って高温のプラス
チック材料を使用することを可能にし、しかも溶融状態
のプラスチック材料の悶温度に直接曝されることより電
気デバイス及びはんた接続部を保護することか必要とさ
れている。
アリング用熱可塑性樹脂は非常に高い融点を有している
。かかる溶融状態のプラスチック材料を電気デバイスに
適用すると、デバイスが損傷されたり接続部に使用され
たはんたか溶融されることかある。従って高温のプラス
チック材料を使用することを可能にし、しかも溶融状態
のプラスチック材料の悶温度に直接曝されることより電
気デバイス及びはんた接続部を保護することか必要とさ
れている。
発明の概要
本発明によれば、高い融点を有するプラスチック材料の
外層に被包されるべきデバイスか、まず低い融点を有す
るプラスチック材料の内層に被包される。
外層に被包されるべきデバイスか、まず低い融点を有す
るプラスチック材料の内層に被包される。
プラスチック材料の内層は熱シールドとして作用し、デ
バイスを外層の熱より断熱する。
バイスを外層の熱より断熱する。
また内層は外層のプラスチック材料がデバイスの周りに
流動してこれを被包することを補助する潤滑剤として作
用する。
流動してこれを被包することを補助する潤滑剤として作
用する。
内層はそれかはんた接続部に使用される場合には、はん
だの完全な溶融を防止し、はんだを所定の位置に保持す
ることを補助する。
だの完全な溶融を防止し、はんだを所定の位置に保持す
ることを補助する。
本発明の主要な目的は、デバイス又はその接続部を被包
するために使用されるプラスチック材料の外層よりの高
温度よりデバイス及びその接続部を保護することである
。
するために使用されるプラスチック材料の外層よりの高
温度よりデバイス及びその接続部を保護することである
。
本発明の他の一つの目的は、電気デバイス及びその接続
部を被包する改良された構造を提供することである。
部を被包する改良された構造を提供することである。
本発明の更に他の一つの目的は、非常に高い融点を有す
るプラスチック材料を使用することを可能にする被包構
造を提供することである。
るプラスチック材料を使用することを可能にする被包構
造を提供することである。
本発明の更に他の一つの目的は、はんた接続部をシール
ドし、はんだ接続部がそれを保護すべく該接続部に適用
される溶融プラスチック材料の高温度に曝される場合に
もはんだ接続部の完全性を維持する改善された方法を提
供することである。
ドし、はんだ接続部がそれを保護すべく該接続部に適用
される溶融プラスチック材料の高温度に曝される場合に
もはんだ接続部の完全性を維持する改善された方法を提
供することである。
以下に添付の図を参照しつつ、本発明を実施例について
詳細に説明する。
詳細に説明する。
実施例
第1図は電気デバイスAを示している。デバイスAは多
くの種々の型式の電気デバイスであってよく、また多く
の種々の型式の非電気デバイスであってよい。
くの種々の型式の電気デバイスであってよく、また多く
の種々の型式の非電気デバイスであってよい。
例示の図示の実施例に於ては、デバイスAは酸化ニッケ
ル、酸化銅、又は酸化チタンの如き任意の好適な物質よ
りなる焼結された金属粉末コア12を有するサーミスタ
である。酸化銀等よりなる外層14及び16がコア12
の平坦な両面に溶射又はシルクスクリーン法により適用
されている。
ル、酸化銅、又は酸化チタンの如き任意の好適な物質よ
りなる焼結された金属粉末コア12を有するサーミスタ
である。酸化銀等よりなる外層14及び16がコア12
の平坦な両面に溶射又はシルクスクリーン法により適用
されている。
ワイヤリード18及び20がそれぞれはんだ接続部22
及び24に於て外層14及び16にはんだ付けされてい
る。
及び24に於て外層14及び16にはんだ付けされてい
る。
はんだ接続部22及び24に使用されるはんだは約42
0下(215°C)に於て塑性状態になり始め、約46
0下(238°C)に於て溶融するものであってよい。
0下(215°C)に於て塑性状態になり始め、約46
0下(238°C)に於て溶融するものであってよい。
従ってはんだは約420〜約460下(215〜238
°C)の溶融温度範囲を有するものとして説明される。
°C)の溶融温度範囲を有するものとして説明される。
ワイヤリード18及び20の外端部を除き、デバイスA
はプラスチック材料の内層3oにより完全に被包されて
いる。デバイスAはまず約300〜325下(149〜
163°C)の温度に加熱され、次いて粉末状のプラス
チック材料の流動床に通され、粉末状のプラスチック材
料はデバイスAに衝突すると軟化してこれに融着する。
はプラスチック材料の内層3oにより完全に被包されて
いる。デバイスAはまず約300〜325下(149〜
163°C)の温度に加熱され、次いて粉末状のプラス
チック材料の流動床に通され、粉末状のプラスチック材
料はデバイスAに衝突すると軟化してこれに融着する。
デバイスAはその表面に所望の厚さの内層30が形成さ
れるよう、複数回に亙り加熱され、複数回に亙り流動床
に通されてよい。かくして内層30は融着したプラスチ
ック材料の粒子を含んでいる。内層30のプラスチック
材料ははんだの溶融温度範囲よりも低い溶融温度範囲を
有している。内層30に使用されるプラスチック材料は
多くの種々の種類のものであってよく、一つの実施例に
於ては塩化ポリビニルが好ましく、約300〜325下
(149〜163℃)の溶融温度範囲を有している。
れるよう、複数回に亙り加熱され、複数回に亙り流動床
に通されてよい。かくして内層30は融着したプラスチ
ック材料の粒子を含んでいる。内層30のプラスチック
材料ははんだの溶融温度範囲よりも低い溶融温度範囲を
有している。内層30に使用されるプラスチック材料は
多くの種々の種類のものであってよく、一つの実施例に
於ては塩化ポリビニルが好ましく、約300〜325下
(149〜163℃)の溶融温度範囲を有している。
デバイスAに内層30が適用されると、デバイスは鋳型
のキャビティ内に挿入され、デバイスの周りに他のプラ
スチック材料の外層32が射出成形される。ワイヤリー
ド18及び20の外端部を除き、内層30を含むデバイ
スAが外層32に完全に被包される。外層32に使用さ
れるプラスチック材料は非常に高い物理的強度、耐摩耗
性及び優れた化学的耐性を有するものであることか好ま
しい。外層32に使用されるプラスチック材料のこれら
の性質は、内層30に使用されるプラスチック材料の対
応する性質よりも実質的に高い。外層32に使用される
プラスチック材料は約680〜700下(360〜37
1°C)の溶融温度範囲を有する。かくして外層32の
溶融温度範囲は少くともはんだの溶融温度範囲に近く、
通常はんだの溶融温度範囲よりも高い。
のキャビティ内に挿入され、デバイスの周りに他のプラ
スチック材料の外層32が射出成形される。ワイヤリー
ド18及び20の外端部を除き、内層30を含むデバイ
スAが外層32に完全に被包される。外層32に使用さ
れるプラスチック材料は非常に高い物理的強度、耐摩耗
性及び優れた化学的耐性を有するものであることか好ま
しい。外層32に使用されるプラスチック材料のこれら
の性質は、内層30に使用されるプラスチック材料の対
応する性質よりも実質的に高い。外層32に使用される
プラスチック材料は約680〜700下(360〜37
1°C)の溶融温度範囲を有する。かくして外層32の
溶融温度範囲は少くともはんだの溶融温度範囲に近く、
通常はんだの溶融温度範囲よりも高い。
非常に高い温度のプラスチック材料がデバイスAの周り
に射出成形されると、接続部22及び24のはんたか軟
化し又は溶融する。はんだの軟化又は溶融か生じると接
続部か遮断され、或いははんだによってワイヤリードか
短絡されることがある。またはんたか軟化すると、デバ
イスの周りに流動するプラスチック材料によってはんた
接続部に及はされる物理的力によっても接続部か破壊さ
れることがある。
に射出成形されると、接続部22及び24のはんたか軟
化し又は溶融する。はんだの軟化又は溶融か生じると接
続部か遮断され、或いははんだによってワイヤリードか
短絡されることがある。またはんたか軟化すると、デバ
イスの周りに流動するプラスチック材料によってはんた
接続部に及はされる物理的力によっても接続部か破壊さ
れることがある。
図示の構造に於ては、内層30は外層32に使用される
プラスチック材料の高温度よりデバイスA及びはんた接
続部22.24を断熱する。また内層30は外層32か
鋳型のキャビティ内にてデバイスAの周りに流動するこ
とを可能にするデバイスを囲繞する潤滑剤として作用す
る。また内層30ははんだ接続部22及び24の周りに
流動する外層32のプラスチック材料よりの高い物理的
力よりはんた接続部22及び24を保護する。接続部2
2及び24のはんだが軟化したとしても、内層30がは
んだを保持してはんたがワイヤリードの間に流動したり
はんた接続部を破壊するほど移動することを阻止する。
プラスチック材料の高温度よりデバイスA及びはんた接
続部22.24を断熱する。また内層30は外層32か
鋳型のキャビティ内にてデバイスAの周りに流動するこ
とを可能にするデバイスを囲繞する潤滑剤として作用す
る。また内層30ははんだ接続部22及び24の周りに
流動する外層32のプラスチック材料よりの高い物理的
力よりはんた接続部22及び24を保護する。接続部2
2及び24のはんだが軟化したとしても、内層30がは
んだを保持してはんたがワイヤリードの間に流動したり
はんた接続部を破壊するほど移動することを阻止する。
外層32に使用されるプラスチック材料は多くの種々の
種類のものであってよい。一つの構造に於てはポリエー
テルイミドの熱可塑性樹脂材料が好適であることが判っ
ている。内層及び外層の厚さは保護されるデバイス及び
特定の用途次第である。例えば小型のサーミスタに使用
される保護層については内層30の厚さは約10/10
00〜20/1000てあり、外層32の厚さは約70
/1000〜80/1000である。これらの厚さは用
途に応じて異っていてよいが、外層32は内層30より
も実質的に厚いことか好ましい。
種類のものであってよい。一つの構造に於てはポリエー
テルイミドの熱可塑性樹脂材料が好適であることが判っ
ている。内層及び外層の厚さは保護されるデバイス及び
特定の用途次第である。例えば小型のサーミスタに使用
される保護層については内層30の厚さは約10/10
00〜20/1000てあり、外層32の厚さは約70
/1000〜80/1000である。これらの厚さは用
途に応じて異っていてよいが、外層32は内層30より
も実質的に厚いことか好ましい。
外層32を形成するプラスチック材料はそれが鋳型のキ
ャビティ内へ射出されると迅速に冷却する。内層30の
断熱作用及び保護作用は、内層が外層32を形成する高
温の材料に曝される非常に短い時間の間デバイスA及び
そのはんだ接続部を保護するに十分である。内層30は
軟化し或いは少くとも部分的に溶融して外層32よりの
熱がデバイスA又ははんた接続部に到達する前にその熱
をエネルギに転換する。外層32内の熱の大部分は鋳型
により吸収される。
ャビティ内へ射出されると迅速に冷却する。内層30の
断熱作用及び保護作用は、内層が外層32を形成する高
温の材料に曝される非常に短い時間の間デバイスA及び
そのはんだ接続部を保護するに十分である。内層30は
軟化し或いは少くとも部分的に溶融して外層32よりの
熱がデバイスA又ははんた接続部に到達する前にその熱
をエネルギに転換する。外層32内の熱の大部分は鋳型
により吸収される。
以上に於ては本発明を特定の実施例について詳細に説明
したか、本発明はかかる実施例に限定されるものではな
く、本発明の範囲内にて他の種々の実施例か可能である
ことは当業者にとって明らかであろう。
したか、本発明はかかる実施例に限定されるものではな
く、本発明の範囲内にて他の種々の実施例か可能である
ことは当業者にとって明らかであろう。
第1図は電気デバイスを示す断面図である。
第2図は第1図の線2−2に沿う電気デバイスの側面図
である。 第3図はプラスチック材料の内層に被包された電気デバ
イスを示す第1図と同様の断面図である。 第4図はプラスチック材料の内層及び外層に被包された
電気デバイスを示す第3図と同様の断面図である。 12・・コア、14.16・・・外層、18.20・ワ
イヤリード、22.24・はんだ接続部、30・・・内
層、32・外層 特許出願人 エマーツン・エレクトリック・カンパニ
ー 代 理 人 弁 理 士 明 石
昌 毅FIG、 1 FIG、2 FIG、3 FIG、4
である。 第3図はプラスチック材料の内層に被包された電気デバ
イスを示す第1図と同様の断面図である。 第4図はプラスチック材料の内層及び外層に被包された
電気デバイスを示す第3図と同様の断面図である。 12・・コア、14.16・・・外層、18.20・ワ
イヤリード、22.24・はんだ接続部、30・・・内
層、32・外層 特許出願人 エマーツン・エレクトリック・カンパニ
ー 代 理 人 弁 理 士 明 石
昌 毅FIG、 1 FIG、2 FIG、3 FIG、4
Claims (3)
- (1)或る溶融温度範囲を有するはんだにより互いに接
続された構成要素を含む電気デバイスであって、内層及
び外層を含むプラスチック材料に被包され、前記内層は
前記はんだの前記溶融温度範囲よりも実質的に低い溶融
温度範囲を有し、前記外層は前記内層の前記溶融温度範
囲よりも実質的に高い溶融温度範囲を有する電気デバイ
ス。 - (2)或る溶融温度範囲を有するはんだと、前記はんだ
による接続部を被包し内層及び外層を含むプラスチック
材料とを含み、前記内層は前記はんだの溶融温度範囲よ
りも低い溶融温度範囲を有し、前記外層は前記はんだの
前記溶融温度範囲よりも高い溶融温度範囲を有するはん
だによる電気接続部構造。 - (3)或る溶融温度範囲を有するはんだを含むはんだ接
続部を保護する方法にして、前記はんだの前記溶融温度
範囲よりも低い溶融温度範囲を有するプラスチック材料
の内層を前記接続部に適用し、しかる後前記内層の前記
溶融温度範囲よりも実質的に高い溶融温度範囲を有する
プラスチック材料の外層を前記内層上に適用することを
含む方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/135,651 US4804805A (en) | 1987-12-21 | 1987-12-21 | Protected solder connection and method |
US135.651 | 1987-12-21 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01201901A true JPH01201901A (ja) | 1989-08-14 |
Family
ID=22469033
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63310969A Pending JPH01201901A (ja) | 1987-12-21 | 1988-12-08 | 電気デバイス及びはんだ接続部の保護方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4804805A (ja) |
EP (1) | EP0322339A3 (ja) |
JP (1) | JPH01201901A (ja) |
CA (1) | CA1302178C (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE501855C2 (sv) * | 1990-11-19 | 1995-06-06 | Skf Ab | Gjutgods med ingjuten armering, samt förfarande för framställning av ett sådant gjutgods |
US5302553A (en) * | 1991-10-04 | 1994-04-12 | Texas Instruments Incorporated | Method of forming a coated plastic package |
US5768813A (en) * | 1992-05-13 | 1998-06-23 | Reboul; Jerome | Carrier for an electronic identification device |
JPH07130225A (ja) * | 1993-10-28 | 1995-05-19 | Nec Corp | フラットケーブルおよびその半田付け方法 |
JP3344684B2 (ja) * | 1996-05-20 | 2002-11-11 | 株式会社村田製作所 | 電子部品 |
WO2000074081A1 (en) * | 1999-06-02 | 2000-12-07 | Tyco Electronics Corporation | Electrical device |
WO2001052275A1 (en) * | 2000-01-11 | 2001-07-19 | Tyco Electronics Corporation | Electrical device |
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