JPH01130346A - 光磁気ディスク - Google Patents
光磁気ディスクInfo
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- JPH01130346A JPH01130346A JP28869487A JP28869487A JPH01130346A JP H01130346 A JPH01130346 A JP H01130346A JP 28869487 A JP28869487 A JP 28869487A JP 28869487 A JP28869487 A JP 28869487A JP H01130346 A JPH01130346 A JP H01130346A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10582—Record carriers characterised by the selection of the material or by the structure or form
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11B11/10584—Record carriers characterised by the selection of the material or by the structure or form characterised by the form, e.g. comprising mechanical protection elements
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
1監分互
本発明はコンピューターの外部記録メモリー、文書情報
ファイル等に用いられる光磁気ディスクに関する。
ファイル等に用いられる光磁気ディスクに関する。
災来伎宜
従来、磁気光学効果を増大するためにディスク状基板(
通常ガラス板)に誘電層を設けた光磁気ディスクとして
は第1図に示すようにガイドトラック溝3付き基板1上
に誘電層2、磁性層4及び保護層5を順次設けたものが
知られている(特開昭59−42577号)、このよう
な光磁気ディスクを作製する際は基板の微小なガイドト
ラック溝上にまず誘電層を形成した後、その上に磁性層
を形成するため、磁性層に形成されるガイドトラック溝
3′は基板のガイドトラック溝3に比べて狭くなったり
、形状が変化する結果、トラッキング信号にエラーが生
じる(又はトラッキングエラー信号が外れる)ことがあ
った。また基板が種々の金属(Si、 Al1.8゜N
a、Ba等)を含むガラス板であるため、これにエツチ
ングによりガイドトラック溝を形成すると、エツチング
が均質に行なえないという問題もあった。
通常ガラス板)に誘電層を設けた光磁気ディスクとして
は第1図に示すようにガイドトラック溝3付き基板1上
に誘電層2、磁性層4及び保護層5を順次設けたものが
知られている(特開昭59−42577号)、このよう
な光磁気ディスクを作製する際は基板の微小なガイドト
ラック溝上にまず誘電層を形成した後、その上に磁性層
を形成するため、磁性層に形成されるガイドトラック溝
3′は基板のガイドトラック溝3に比べて狭くなったり
、形状が変化する結果、トラッキング信号にエラーが生
じる(又はトラッキングエラー信号が外れる)ことがあ
った。また基板が種々の金属(Si、 Al1.8゜N
a、Ba等)を含むガラス板であるため、これにエツチ
ングによりガイドトラック溝を形成すると、エツチング
が均質に行なえないという問題もあった。
更に前述のような光磁気ディスクは誘電層や磁性層の内
周及び外周側縁部はいずれも保護層で封止されていない
ので、ディスクの側面からH2Oやo2が侵入し、磁性
膜の特性劣化原因になっていた。しかも保護層には一般
のプラスチック又は誘電体が用いられているが、プラス
チックはH2Oを透過し、また誘電体は微小ピンホール
が存在し、このためにたとえ側縁部を封止しても表面か
らのH2Oや02や侵入を防止することは不可能であっ
た。
周及び外周側縁部はいずれも保護層で封止されていない
ので、ディスクの側面からH2Oやo2が侵入し、磁性
膜の特性劣化原因になっていた。しかも保護層には一般
のプラスチック又は誘電体が用いられているが、プラス
チックはH2Oを透過し、また誘電体は微小ピンホール
が存在し、このためにたとえ側縁部を封止しても表面か
らのH2Oや02や侵入を防止することは不可能であっ
た。
l−一孜
本発明の目的はトラッキング信号のエラーや磁性膜の特
性劣化もなく、しかも均質なエツチングも行なえる光磁
気ディスクを提供することである。
性劣化もなく、しかも均質なエツチングも行なえる光磁
気ディスクを提供することである。
遭−一」又
本発明の光磁気ディスクは第2図に示すように、ディス
ク状基板1上に、基板よりも屈折率の大きいガイドトラ
ック溝3付き誘電層2と周期律表における3d、4f及
び5f元素から選ばれた少くとも1種の元素からなる磁
性層4と保護層5と臨界表面張力25ダイン/国以下の
保護強化層とを順次設けると共に、磁性層の内周及び外
周側縁部を保護層で、また誘電層及び保護層の各内周及
び外周側縁部を保護強化層で夫々封止してなることを特
徴とするものである。
ク状基板1上に、基板よりも屈折率の大きいガイドトラ
ック溝3付き誘電層2と周期律表における3d、4f及
び5f元素から選ばれた少くとも1種の元素からなる磁
性層4と保護層5と臨界表面張力25ダイン/国以下の
保護強化層とを順次設けると共に、磁性層の内周及び外
周側縁部を保護層で、また誘電層及び保護層の各内周及
び外周側縁部を保護強化層で夫々封止してなることを特
徴とするものである。
本発明において基板1には、通常、H,0102等を透
過しない材料(以下、不透過性材料という。)が用いら
れるが、前記物質を透過する材料(以下、透過性材料と
いう。)の基板でも有機系の不透過性材料層で被覆保護
すれば使用可能である。不透過性材料としては例えばソ
ーダガラス、ソーダを含まない一般ガラス、ホウケイ酸
ガラス、アルミノケイ酸ガラス、バイコールガラス、強
化ガラス、石英ガラス、結晶化ガラス、GGG、 リチ
ウムタンタレート、透光性セラミック等又はフッ素樹脂
、シリコーン樹脂等が挙げられる。一方、透過性材料と
してはポリカーボネート、ポリメタクリレート、エポキ
シ樹脂、ポリオレフィン樹脂、UVポリマー等が挙げら
れる。またこのような透過性材料基板を保護する有機系
不透過性材料としては臨界界面張力が20dyne /
an以下の含フッ素又は含シリコーン材料が使用され
る。フッ素系材料としてはポリフッ化ビニリデン、ポリ
トリフルオロエチレン、ポリテトラフルオロエチレン、
ポリテトラフルオロプロピルメチルメタクリレート、ポ
リテトラフルオロペンタメチルメタクリレート、ポリへ
キサフルオロブチルメタクリレート、ポリフルオロビニ
ルエーテル等が、またシリコーン系材料としてはポリジ
オルガノシロキサン、ジメチルポリシロキサン、エポキ
シ変性シリコーンワニス、側鎖にシンナモイル基を有す
るジメチルポリシロキサン、両末端にアクリロイル基を
有するジメチルポリシロキサン。
過しない材料(以下、不透過性材料という。)が用いら
れるが、前記物質を透過する材料(以下、透過性材料と
いう。)の基板でも有機系の不透過性材料層で被覆保護
すれば使用可能である。不透過性材料としては例えばソ
ーダガラス、ソーダを含まない一般ガラス、ホウケイ酸
ガラス、アルミノケイ酸ガラス、バイコールガラス、強
化ガラス、石英ガラス、結晶化ガラス、GGG、 リチ
ウムタンタレート、透光性セラミック等又はフッ素樹脂
、シリコーン樹脂等が挙げられる。一方、透過性材料と
してはポリカーボネート、ポリメタクリレート、エポキ
シ樹脂、ポリオレフィン樹脂、UVポリマー等が挙げら
れる。またこのような透過性材料基板を保護する有機系
不透過性材料としては臨界界面張力が20dyne /
an以下の含フッ素又は含シリコーン材料が使用され
る。フッ素系材料としてはポリフッ化ビニリデン、ポリ
トリフルオロエチレン、ポリテトラフルオロエチレン、
ポリテトラフルオロプロピルメチルメタクリレート、ポ
リテトラフルオロペンタメチルメタクリレート、ポリへ
キサフルオロブチルメタクリレート、ポリフルオロビニ
ルエーテル等が、またシリコーン系材料としてはポリジ
オルガノシロキサン、ジメチルポリシロキサン、エポキ
シ変性シリコーンワニス、側鎖にシンナモイル基を有す
るジメチルポリシロキサン、両末端にアクリロイル基を
有するジメチルポリシロキサン。
アジド基を有するジメチルポリシロキサン等が例示でき
る。
る。
本発明の誘電層はガイドトラック溝を形成させ、また磁
気光学効果を増大するエンハスメントの役割を有してい
る。即ち誘電層の膜厚が適正であれば、光の多重反射に
より磁気光学効果(この場合はカー回転角)が増大する
効果が生じ、その結果、再生C/N比が向上する。しか
し誘電層の屈折率が基板の屈折率より小さければこのよ
うな効果は生じない。またこの層の屈折率は基板の屈折
率より大きくなければならない。このような誘電層を構
成する材料としてはAQN、SixNy、TixNy、
TaxNy、CrxNy。
気光学効果を増大するエンハスメントの役割を有してい
る。即ち誘電層の膜厚が適正であれば、光の多重反射に
より磁気光学効果(この場合はカー回転角)が増大する
効果が生じ、その結果、再生C/N比が向上する。しか
し誘電層の屈折率が基板の屈折率より小さければこのよ
うな効果は生じない。またこの層の屈折率は基板の屈折
率より大きくなければならない。このような誘電層を構
成する材料としてはAQN、SixNy、TixNy、
TaxNy、CrxNy。
AQSiN、AQSiNO,Al220..5ixty
。
。
5ixCy、TixCy、TixOy、Zn○、ZrO
2゜Fe、O,、Fe2O2,TaxOy、CexOy
、MgxOy等が使用されるが、磁性膜への酸化の影響
がない窒化物や炭化物が好ましい。誘電層にガイドトラ
ック溝を形成するにはまずこの層上にスピンコードによ
りUVレジン薄膜を形成、プリベーク後、これに溝状ガ
イドトラックパターンを有するマスクを密着し、UV照
射し、洗浄後、反応性イオンスパッタリングによりエツ
チングすればよい、なお誘電層自体は真空蒸着、スパッ
タリング、イオンブレーティング等の方法で形成される
。厚さは0.05〜1.0μm程度が適当である。
2゜Fe、O,、Fe2O2,TaxOy、CexOy
、MgxOy等が使用されるが、磁性膜への酸化の影響
がない窒化物や炭化物が好ましい。誘電層にガイドトラ
ック溝を形成するにはまずこの層上にスピンコードによ
りUVレジン薄膜を形成、プリベーク後、これに溝状ガ
イドトラックパターンを有するマスクを密着し、UV照
射し、洗浄後、反応性イオンスパッタリングによりエツ
チングすればよい、なお誘電層自体は真空蒸着、スパッ
タリング、イオンブレーティング等の方法で形成される
。厚さは0.05〜1.0μm程度が適当である。
磁性層はレーザー光により記録、再生を行なう層で、3
d元素、即ちFe、Go等の遷移金属並びに4f及び5
f元素、即ちTb、 Dy、 Gd、 Ho。
d元素、即ちFe、Go等の遷移金属並びに4f及び5
f元素、即ちTb、 Dy、 Gd、 Ho。
Nd、Pr等の希土類金属よりなる群から選ばれた少く
とも1種の元素で構成される。このような構成材料の具
体例としては遷移金属と希土類金属とのアモルファス合
金が挙げられる。磁性層も誘電層と同じく真空蒸着、ス
パッタリング、イオンブレーティング等の方法で形成さ
れる。
とも1種の元素で構成される。このような構成材料の具
体例としては遷移金属と希土類金属とのアモルファス合
金が挙げられる。磁性層も誘電層と同じく真空蒸着、ス
パッタリング、イオンブレーティング等の方法で形成さ
れる。
厚さは0.05〜0.5μm程度が適当である。
保護層は外部からのH2O,O□の侵入による劣化を防
止するための層で前述のような誘電体。
止するための層で前述のような誘電体。
各種金属酸化物(例えばAQ203.5ixty。
ZrO,、ZnO,MgO,,1siNo、Fe、03
゜CoFe、0.、NiFe、04)、耐酸化腐食性金
属(例えばCr、 Ni、 Pt、 Au、 Ag、ア
ルマイト等)で構成される。形成法は誘電層の場合と同
様である。厚さは0.05〜0.5μm程度が適当であ
る。
゜CoFe、0.、NiFe、04)、耐酸化腐食性金
属(例えばCr、 Ni、 Pt、 Au、 Ag、ア
ルマイト等)で構成される。形成法は誘電層の場合と同
様である。厚さは0.05〜0.5μm程度が適当であ
る。
保護強化層は保護層へのH,0102等の侵入防止と保
護層の損傷を防止補強するための層で、臨界表面張力2
5ダイン/cm以下の有機系不透過性材料で構成される
。このような材料又は原料の具体例としてはフッ素樹脂
、シリコーン樹脂等、詳しくはジフルオロメチルメタク
リレート、テトラフルオロブチルメタクリレート、ヘキ
サフルオロへブタメタクリレート、オクタフルオロペン
タメチルメタクリレート等の含フツ素メタクリルエステ
ル及びこれらとメタクリルエステルとの共重合体;ヘプ
タデシルフルオロノナンアルキルビニルエーテル(一部
エステル化);テトラフルオロエチレンとアルキルビニ
ルエーテルとの共重合体;ポリメチルシロキサン、ポリ
ビニルシロキサン、ポリジオルガノシロキサン、γ−メ
タクリルオキシプロピルトリメトキシシラン等の含ケイ
素化合物又はシリコーン樹脂及びこれらのエポキシメタ
クリレート又はアクリレートの変性品等が用いられる。
護層の損傷を防止補強するための層で、臨界表面張力2
5ダイン/cm以下の有機系不透過性材料で構成される
。このような材料又は原料の具体例としてはフッ素樹脂
、シリコーン樹脂等、詳しくはジフルオロメチルメタク
リレート、テトラフルオロブチルメタクリレート、ヘキ
サフルオロへブタメタクリレート、オクタフルオロペン
タメチルメタクリレート等の含フツ素メタクリルエステ
ル及びこれらとメタクリルエステルとの共重合体;ヘプ
タデシルフルオロノナンアルキルビニルエーテル(一部
エステル化);テトラフルオロエチレンとアルキルビニ
ルエーテルとの共重合体;ポリメチルシロキサン、ポリ
ビニルシロキサン、ポリジオルガノシロキサン、γ−メ
タクリルオキシプロピルトリメトキシシラン等の含ケイ
素化合物又はシリコーン樹脂及びこれらのエポキシメタ
クリレート又はアクリレートの変性品等が用いられる。
以下に本発明を実施例によって説明する。
実施例1
ソーダを含まない一般ガラス板(屈折率1.5)にスパ
ッタリング法で0.2μm厚のSi、N、膜からなる誘
電層を形成した。この層の屈折率は2゜2であった。こ
れにUVレジンの薄膜をスピンコードにより塗布し、プ
リベーク後、溝状ガイドパターンを具備したマスクと密
着し、UV光を全面露光し、洗浄し、反応イオンスパッ
タリングによりエツチングし、最後に残存UVレジンを
除去してSi、N、層に微小ガイドトラック溝を作製し
た。このガイドトラック溝の深さは0.06μm、幅は
0.6μmであった。この際に注意すべきことは第2図
で示される様にディスクの内周及び外周側縁部はSi、
N、が被覆されない様にマスクすることである。次にこ
うして作製したガイドトラック溝付き誘電層上にスパッ
タリング法で0.8μm厚のTbFeCo膜よりなる磁
性層を形成し、更にその上に同じ方法で0.2μm厚の
Si、N4膜よりなる保護層を形成した。
ッタリング法で0.2μm厚のSi、N、膜からなる誘
電層を形成した。この層の屈折率は2゜2であった。こ
れにUVレジンの薄膜をスピンコードにより塗布し、プ
リベーク後、溝状ガイドパターンを具備したマスクと密
着し、UV光を全面露光し、洗浄し、反応イオンスパッ
タリングによりエツチングし、最後に残存UVレジンを
除去してSi、N、層に微小ガイドトラック溝を作製し
た。このガイドトラック溝の深さは0.06μm、幅は
0.6μmであった。この際に注意すべきことは第2図
で示される様にディスクの内周及び外周側縁部はSi、
N、が被覆されない様にマスクすることである。次にこ
うして作製したガイドトラック溝付き誘電層上にスパッ
タリング法で0.8μm厚のTbFeCo膜よりなる磁
性層を形成し、更にその上に同じ方法で0.2μm厚の
Si、N4膜よりなる保護層を形成した。
最後にこの保護層上にテトラフルオロブチルメタクリレ
ートを塗布し、deepUV照射により塗膜を硬化させ
た後、全体を100℃で3時間アニールしてポリテトラ
フルオロブチルメタクリレートからなる10μm厚(保
護層の非溝部表面での厚さ)の保護強化層を設けること
により光磁気ディスクを作製した。
ートを塗布し、deepUV照射により塗膜を硬化させ
た後、全体を100℃で3時間アニールしてポリテトラ
フルオロブチルメタクリレートからなる10μm厚(保
護層の非溝部表面での厚さ)の保護強化層を設けること
により光磁気ディスクを作製した。
実施例2〜8
下記表−1に示す材料を用いて実施例1と同様にして光
磁気ディスクを作製した。
磁気ディスクを作製した。
(以下余白)
表−1
×1=厚さは実施例1に同じ。
×2=ガイドトラック溝は誘電層には設けず、基板に設
けた。
けた。
次に以上のようにして作った光磁気ディスクを100℃
、80%RHの雰囲気中に300θ時間放置して特性の
変化を調べた。その結果を表−2に示す。
、80%RHの雰囲気中に300θ時間放置して特性の
変化を調べた。その結果を表−2に示す。
表−2
f5 BER: Bit Error Rate幼−一
釆 以上の如く本発明の光磁気ディスクはガイドトラック溝
を誘電層に設けたので、磁性層でのガイドトラック溝も
寸法や形状に変化がなく、このためトラッキング信号に
エラーを生じることがない。また磁性層を誘電層、保護
層及び保護強化層で密閉した構造にしたので、磁、性層
への外部からのH,0102等の侵入を防止でき、この
ためC/N比、BER等の特性が劣化することはない。
釆 以上の如く本発明の光磁気ディスクはガイドトラック溝
を誘電層に設けたので、磁性層でのガイドトラック溝も
寸法や形状に変化がなく、このためトラッキング信号に
エラーを生じることがない。また磁性層を誘電層、保護
層及び保護強化層で密閉した構造にしたので、磁、性層
への外部からのH,0102等の侵入を防止でき、この
ためC/N比、BER等の特性が劣化することはない。
更にエツチングは1種類の金属しか含まない誘電層を対
象にしているので、均質に行なえるという利点もある。
象にしているので、均質に行なえるという利点もある。
第1図は従来の誘電層を有する光磁気ディスクの部分断
面図、第2図は本発明光磁気ディスクの断面図である。 1・・・基板 2・・・誘電層3
・・・ガイドトラック溝 3′・・・磁性層のガイドトラック溝 4・・・磁性層 5・・・保護層6
・・・保護強化層 特許出願人 株式会社 リ コ −
面図、第2図は本発明光磁気ディスクの断面図である。 1・・・基板 2・・・誘電層3
・・・ガイドトラック溝 3′・・・磁性層のガイドトラック溝 4・・・磁性層 5・・・保護層6
・・・保護強化層 特許出願人 株式会社 リ コ −
Claims (1)
- 1、ディスク状基板上に、基板よりも屈折率の大きいガ
イドトラック溝付き誘電層と周期律表における3d、4
f及び5f元素から選ばれた少くとも1種の元素からな
る磁性層と保護層と臨界表面張力25ダイン/cm以下
の保護強化層とを順次設けると共に、磁性層の内周及び
外周側縁部を保護層で、また誘電層及び保護層の各内周
及び外周側縁部を保護強化層で夫々封止してなる光磁気
ディスク。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28869487A JP2619432B2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | 光磁気ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28869487A JP2619432B2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | 光磁気ディスク |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01130346A true JPH01130346A (ja) | 1989-05-23 |
JP2619432B2 JP2619432B2 (ja) | 1997-06-11 |
Family
ID=17733484
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28869487A Expired - Lifetime JP2619432B2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | 光磁気ディスク |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2619432B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6150000A (en) * | 1995-01-28 | 2000-11-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Magneto-optical disk and superdensity disk employing integral substrate, and method for manufacturing the same |
US6623828B1 (en) * | 1995-01-28 | 2003-09-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical disk employing integral substrate, and method for manufacturing the same |
JP5062167B2 (ja) * | 2006-03-03 | 2012-10-31 | コニカミノルタアドバンストレイヤー株式会社 | 磁気記録媒体用基板 |
-
1987
- 1987-11-16 JP JP28869487A patent/JP2619432B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6150000A (en) * | 1995-01-28 | 2000-11-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Magneto-optical disk and superdensity disk employing integral substrate, and method for manufacturing the same |
US6623828B1 (en) * | 1995-01-28 | 2003-09-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical disk employing integral substrate, and method for manufacturing the same |
JP5062167B2 (ja) * | 2006-03-03 | 2012-10-31 | コニカミノルタアドバンストレイヤー株式会社 | 磁気記録媒体用基板 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2619432B2 (ja) | 1997-06-11 |
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