JPH01107350A - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
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- JPH01107350A JPH01107350A JP26606987A JP26606987A JPH01107350A JP H01107350 A JPH01107350 A JP H01107350A JP 26606987 A JP26606987 A JP 26606987A JP 26606987 A JP26606987 A JP 26606987A JP H01107350 A JPH01107350 A JP H01107350A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、コンピュータ用外部メモリ、ドキュメントフ
ァイル等に使用する光磁気記録媒体に関する。
ァイル等に使用する光磁気記録媒体に関する。
従来は射出成形によりガイドトラックを形成した樹脂、
例えばポリカーボネート、ポリメチルメタクリレートに
誘電膜、例えば5in2゜AIN、Si、N4の薄膜を
作製し、この上にアモルファス磁性膜、更に保護膜を順
次形成し、光磁気ディスクを製作していた。この場合H
20及び02が基板及び誘電膜を通過し磁性膜を酸化し
、腐蝕が生じた。本発明者によれば、今回これは基板及
び誘電膜にはH,O及び0□を通過する微小孔が存在し
ているためであることが判明したが、これを完全に密閉
することが困難である。
例えばポリカーボネート、ポリメチルメタクリレートに
誘電膜、例えば5in2゜AIN、Si、N4の薄膜を
作製し、この上にアモルファス磁性膜、更に保護膜を順
次形成し、光磁気ディスクを製作していた。この場合H
20及び02が基板及び誘電膜を通過し磁性膜を酸化し
、腐蝕が生じた。本発明者によれば、今回これは基板及
び誘電膜にはH,O及び0□を通過する微小孔が存在し
ているためであることが判明したが、これを完全に密閉
することが困難である。
又、基板としてガラス板を用いた場合は外部からのH,
0,02の浸入が無いが、ガラス表面部の各金属イオン
(Na、B、に、Ba、Al・・・)及び吸着H20、
02が誘電膜を透過し、特性劣化が生じた(特開昭61
−34745号、特開昭61−29439号)。ガラス
基板を用いた場合、ガイドトラックをガラス上に直接作
製する方法(ホトリソグラフィー法、エツチング法)が
有るが工程が複雑で、量産化困難であった。通常はガラ
ス基板上にUVレジンを用い、2P@(スパイラル状グ
ループを具備した金型とUVレジン薄膜を塗布したガラ
ス基板とを積層し、ガラス基板側よりUV照射してガイ
ド溝を作る方法)にてガイドトラック溝を作製している
。しかしながら、本発明者の研究によればこの場合はU
Vレジンに含まれるo2゜H,O及び反応残渣等が誘電
膜を透過して特性劣化の原因となっていたことが判明し
た。
0,02の浸入が無いが、ガラス表面部の各金属イオン
(Na、B、に、Ba、Al・・・)及び吸着H20、
02が誘電膜を透過し、特性劣化が生じた(特開昭61
−34745号、特開昭61−29439号)。ガラス
基板を用いた場合、ガイドトラックをガラス上に直接作
製する方法(ホトリソグラフィー法、エツチング法)が
有るが工程が複雑で、量産化困難であった。通常はガラ
ス基板上にUVレジンを用い、2P@(スパイラル状グ
ループを具備した金型とUVレジン薄膜を塗布したガラ
ス基板とを積層し、ガラス基板側よりUV照射してガイ
ド溝を作る方法)にてガイドトラック溝を作製している
。しかしながら、本発明者の研究によればこの場合はU
Vレジンに含まれるo2゜H,O及び反応残渣等が誘電
膜を透過して特性劣化の原因となっていたことが判明し
た。
遷移金属と希土類金属とのアモルファス合金磁性体を用
いた光磁気記録媒体は、酸化、腐蝕し易く、実用化を困
難にしていた。
いた光磁気記録媒体は、酸化、腐蝕し易く、実用化を困
難にしていた。
本発明は、酸化、腐蝕を防止するために、光磁気記録媒
体の構成を特定し、酸化、腐蝕の原因である、H2O及
び0□の浸入を防止し、特性劣化を改良することを目的
としたものである。
体の構成を特定し、酸化、腐蝕の原因である、H2O及
び0□の浸入を防止し、特性劣化を改良することを目的
としたものである。
本発明は、アモルファス磁性膜を02とH,0から密閉
することのできる層によりサンドインチすることにより
、02やH,Oがアモルファス磁性膜に浸入するのを防
止することを特徴とするものである。
することのできる層によりサンドインチすることにより
、02やH,Oがアモルファス磁性膜に浸入するのを防
止することを特徴とするものである。
すなわち、本発明は基板上に含弗素樹脂層および含珪素
樹脂層よりなる群から選ばれた02およびH,O不透過
層、光磁気記録層および保護層の順で積層されてなるこ
とを特徴とする光磁気配、録媒体に関する。
樹脂層よりなる群から選ばれた02およびH,O不透過
層、光磁気記録層および保護層の順で積層されてなるこ
とを特徴とする光磁気配、録媒体に関する。
基板にはプラスチック、例えばポリカーボネート、ポリ
メチルメタクリレートのようなアクリル樹脂、オレフィ
ン系樹脂、エポキシ樹脂、ガラス、例えばアルミノケイ
酸ガラス、ソーダガラス、ホウケイ酸ガラス、石英ガラ
ス、結晶化ガラス、単結晶、例えばGGG、リチウムタ
ンタレート、サファイア、セラック、例えばAl□O,
、MgO,5ixty、SixNy。
メチルメタクリレートのようなアクリル樹脂、オレフィ
ン系樹脂、エポキシ樹脂、ガラス、例えばアルミノケイ
酸ガラス、ソーダガラス、ホウケイ酸ガラス、石英ガラ
ス、結晶化ガラス、単結晶、例えばGGG、リチウムタ
ンタレート、サファイア、セラック、例えばAl□O,
、MgO,5ixty、SixNy。
A lx N y、金属、例えばステンレス、アルマイ
ト等が用いられる。
ト等が用いられる。
本発明において、不透過層を形成する含弗素樹脂層およ
び含珪素樹脂層は公知のものがいづれも使用できるが、
′?4子線、X線、紫外線などで硬化するタイプのもの
が便利である。
び含珪素樹脂層は公知のものがいづれも使用できるが、
′?4子線、X線、紫外線などで硬化するタイプのもの
が便利である。
この不透過層はO,、H,Oの透過を防止するためにそ
の臨界表面張力が25dyne/ an以下であること
が好ましい。
の臨界表面張力が25dyne/ an以下であること
が好ましい。
含弗素樹脂を形成するモノマーの具体例としては電子線
レジスト、X線レジスト感応性モノマー;例えばテトラ
フルオロプロピルメタクリレート、テトラフルオロペン
タメチルメタクリレート、ヘキサフルオロペンタメタク
リレート、ヘキサフルオロへキサメタクリレート、ヘキ
サフルオロへブタメタクリレート、オクタブチルフルオ
ロへブタメタクリレート、オクタフルオロイソへブタメ
タクリレート、ヘキサフルオロイソへキサメタクリレー
ト;フルオロアルキルビニルエーテル(ビニルエーテル
の1部が含フツ素アルキル基で置換、ヘキサデカンフル
オロヘプタアルキルビニルエーテル等・・・)又はテト
ラフルオロエチレンビニールエーテルとアルキルビニー
ルエーテルとの混合物(例えばテトラフルオロエチレン
/ビニルメチルエーテル、テトラフルオロエチレン/ビ
ニルブチルエーテル等)。
レジスト、X線レジスト感応性モノマー;例えばテトラ
フルオロプロピルメタクリレート、テトラフルオロペン
タメチルメタクリレート、ヘキサフルオロペンタメタク
リレート、ヘキサフルオロへキサメタクリレート、ヘキ
サフルオロへブタメタクリレート、オクタブチルフルオ
ロへブタメタクリレート、オクタフルオロイソへブタメ
タクリレート、ヘキサフルオロイソへキサメタクリレー
ト;フルオロアルキルビニルエーテル(ビニルエーテル
の1部が含フツ素アルキル基で置換、ヘキサデカンフル
オロヘプタアルキルビニルエーテル等・・・)又はテト
ラフルオロエチレンビニールエーテルとアルキルビニー
ルエーテルとの混合物(例えばテトラフルオロエチレン
/ビニルメチルエーテル、テトラフルオロエチレン/ビ
ニルブチルエーテル等)。
他のフルオロアルキルメタクリレートとアジドとの混合
物等;Uvレジストモノマー例えばテトラフルオロイソ
ペンタメタクリレート、ヘキサフルオロブチルメタクリ
レート、ヘキサフルオロイソブチルメタクリレート、ト
リフルオロエチルメタクリレート等があげられる。
物等;Uvレジストモノマー例えばテトラフルオロイソ
ペンタメタクリレート、ヘキサフルオロブチルメタクリ
レート、ヘキサフルオロイソブチルメタクリレート、ト
リフルオロエチルメタクリレート等があげられる。
含珪素樹脂形成のためのモノマーとしては、例えばメチ
ルシクロシロキサン、ジメチルシロキサン、ジメチルシ
ロキサンとγ−メタクリルオキシプロピルトリメトキシ
シランとの混合物、モノシンナモイルオキシメチルジェ
トキシシランおよびジオルガノシロキサン、とビスアシ
ド物、アクリロイルクロリド又はP−アジドベンゾアー
ト等との混合物、あるいはビニルシロキサンなどがあり
、又、式%式% で示されるシリコーンポリマー、シリコーンワニス(例
えばオルガノポリシロキサンとアルキッド、オルガノア
ルコキシポリシロキサン+多価アルコール+多塩基酸、
オルガノメトポリシロキサンとエポキシ樹脂等)が使用
できる。シリコーンワニスは加熱する事により熱硬化す
る。
ルシクロシロキサン、ジメチルシロキサン、ジメチルシ
ロキサンとγ−メタクリルオキシプロピルトリメトキシ
シランとの混合物、モノシンナモイルオキシメチルジェ
トキシシランおよびジオルガノシロキサン、とビスアシ
ド物、アクリロイルクロリド又はP−アジドベンゾアー
ト等との混合物、あるいはビニルシロキサンなどがあり
、又、式%式% で示されるシリコーンポリマー、シリコーンワニス(例
えばオルガノポリシロキサンとアルキッド、オルガノア
ルコキシポリシロキサン+多価アルコール+多塩基酸、
オルガノメトポリシロキサンとエポキシ樹脂等)が使用
できる。シリコーンワニスは加熱する事により熱硬化す
る。
本発明の02およびH2Q不透過層を形成するには、基
板材と含フツ素材又は含珪素材を混合溶融し、これを射
出成形により一体に作成することができる。又、基板上
に別途形成する場合は基板上に含フツ素レジスト、含フ
ッ素deepUV(短波長紫外光180〜260n+n
)レジスト、含珪素レジスト、シリコーンワニス等を例
えばスピンコード法により薄層膜に形成する。ついでこ
れとガイドトラック溝を有する金型(スタンパ)と接合
し、放射線又は熱を照射し、ガイドトラックをもつ不透
過層を形成することができる。さらに、不透過層の形成
後に改めてガイドトラックを形成する方法もある。すな
わち、不透過層が完全に形成された後、これに微小ビー
ムを直接照射しガイドトラックを描画してもよく、又、
ガイドトラックを有するマスクと密着させ露光してガイ
ドトラック溝を作製してもよい。これらの場合は、未硬
化部分は常法により除去し、ガイドトラックが形成され
る。不透過層形成後は未反応残渣を除去するため真空中
で加熱処理することがのぞましい。
板材と含フツ素材又は含珪素材を混合溶融し、これを射
出成形により一体に作成することができる。又、基板上
に別途形成する場合は基板上に含フツ素レジスト、含フ
ッ素deepUV(短波長紫外光180〜260n+n
)レジスト、含珪素レジスト、シリコーンワニス等を例
えばスピンコード法により薄層膜に形成する。ついでこ
れとガイドトラック溝を有する金型(スタンパ)と接合
し、放射線又は熱を照射し、ガイドトラックをもつ不透
過層を形成することができる。さらに、不透過層の形成
後に改めてガイドトラックを形成する方法もある。すな
わち、不透過層が完全に形成された後、これに微小ビー
ムを直接照射しガイドトラックを描画してもよく、又、
ガイドトラックを有するマスクと密着させ露光してガイ
ドトラック溝を作製してもよい。これらの場合は、未硬
化部分は常法により除去し、ガイドトラックが形成され
る。不透過層形成後は未反応残渣を除去するため真空中
で加熱処理することがのぞましい。
光磁気記録層は、磁性層のみから構成することもできる
が、誘電体層と磁性層とのコンビで構成することもでき
る。
が、誘電体層と磁性層とのコンビで構成することもでき
る。
02を含まない誘電体層は誘電体例えばSixNy、A
lxNy、TiN、CrN等をスパッタリング法又は蒸
着で薄膜状に形成することにより得られる。
lxNy、TiN、CrN等をスパッタリング法又は蒸
着で薄膜状に形成することにより得られる。
アモルファスな磁性層は遷移金属(= T MFeCo
)と希土類(=RM Gd、Tb、Dy、Ho。
)と希土類(=RM Gd、Tb、Dy、Ho。
Nd、 P re S m)をスパッタリング法又は蒸
着法にて作製する。これらは垂直磁化膜であることが好
ましい。
着法にて作製する。これらは垂直磁化膜であることが好
ましい。
保護層は酸化、腐蝕に強いAu、 Pt、 Ni。
Cr、Rh、Ag又はこれら金属と熱伝導率が比較的小
さいI:60W/mK以下(K=300))金属、Ge
、Te、Mn、Nb、Nd、Ce、Pr、Se、Sb、
Ta。
さいI:60W/mK以下(K=300))金属、Ge
、Te、Mn、Nb、Nd、Ce、Pr、Se、Sb、
Ta。
Ti、Sc、Sm、V、Zrとの合金をスパッタリング
法又は蒸着法にて作製することができる6又、保護層は
これらの金属膜のかわりに酸素を含まない例えば、AL
N、TiN、CrN、S13 N 4 g T a N
+ T I C+ Z l” C等の薄膜を使用する
ことができ、とくに窒化物が好ましい。
法又は蒸着法にて作製することができる6又、保護層は
これらの金属膜のかわりに酸素を含まない例えば、AL
N、TiN、CrN、S13 N 4 g T a N
+ T I C+ Z l” C等の薄膜を使用する
ことができ、とくに窒化物が好ましい。
図面に基づいて説明すると、第1図〜第5図は、いずれ
も本発明の光磁気記録媒体の構成例を示す断面図である
。
も本発明の光磁気記録媒体の構成例を示す断面図である
。
第1〜第3図は、平坦な基板1上に順次不透過層2、誘
電体層4、磁性層5、保護層6を形成したものであり、
3はガイドトラックである。第4図は、光磁気記録層を
磁性層単独で形成している例である。第5図は、含弗素
樹脂又は含珪素樹脂を基板形成用のプラスチック材料と
混合した組成物を使用し、基板1の部分とガイドトラッ
ク3の付いた不透過層2の部分までを一度に射出成形法
により成形した場合を示す。
電体層4、磁性層5、保護層6を形成したものであり、
3はガイドトラックである。第4図は、光磁気記録層を
磁性層単独で形成している例である。第5図は、含弗素
樹脂又は含珪素樹脂を基板形成用のプラスチック材料と
混合した組成物を使用し、基板1の部分とガイドトラッ
ク3の付いた不透過層2の部分までを一度に射出成形法
により成形した場合を示す。
本発明の構成をとることにより、
l) プラスチック基板を用いた場合でも特性劣化の無
い高寿命ディスクが提供出来た。
い高寿命ディスクが提供出来た。
2) ガラス基板にガイドトラック溝の作製が容易に出
来特性劣化の防止が可能となった。
来特性劣化の防止が可能となった。
(以下余白)
加速試験85℃、RH=90%、 3000時間後の試
験結果 (以下余白) 上記のディスクを80℃、90%RHで3000時間加
速試験して特性劣化を調べた。
験結果 (以下余白) 上記のディスクを80℃、90%RHで3000時間加
速試験して特性劣化を調べた。
本発明は3000時間後でもC/ N (dB)及びB
。
。
E、R,も特性劣化は認められなかった。比較例2,3
はいづれもC/ N (dB)及びB、E、R。
はいづれもC/ N (dB)及びB、E、R。
が劣化し、特にポリカーボネート基板を用いたディスク
は著しく低下した。
は著しく低下した。
80℃、90%RH13000時間という条件は25℃
、80%RHの条件では20年に対応すると推定される
。
、80%RHの条件では20年に対応すると推定される
。
t::i if+ i (/、+ 1i’i’i g
WA
WA
第1図〜第5図は、いずれも本発明の光磁気記録媒体の
構成例を示す断面図である。 1・・・基 板 2・・・不透過層3・・・ガ
イドトラック 4・・・誘電体層5・・・磁性層
6・・・保護層昂 1 (¥11 死2(¥l 消3(¥l 第4 肥 荒う図
構成例を示す断面図である。 1・・・基 板 2・・・不透過層3・・・ガ
イドトラック 4・・・誘電体層5・・・磁性層
6・・・保護層昂 1 (¥11 死2(¥l 消3(¥l 第4 肥 荒う図
Claims (1)
- 1、基板と含弗素樹脂層又は含珪素樹脂層と光磁気記録
層および保護層より構成されてなることを特徴とする光
磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26606987A JPH01107350A (ja) | 1987-10-20 | 1987-10-20 | 光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26606987A JPH01107350A (ja) | 1987-10-20 | 1987-10-20 | 光磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01107350A true JPH01107350A (ja) | 1989-04-25 |
Family
ID=17425930
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26606987A Pending JPH01107350A (ja) | 1987-10-20 | 1987-10-20 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01107350A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58188345A (ja) * | 1982-04-28 | 1983-11-02 | Canon Inc | 光記録媒体 |
JPS61131251A (ja) * | 1984-11-29 | 1986-06-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光デイスク基板 |
JPS62205553A (ja) * | 1986-03-06 | 1987-09-10 | Toshiba Corp | 光デイスク |
-
1987
- 1987-10-20 JP JP26606987A patent/JPH01107350A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58188345A (ja) * | 1982-04-28 | 1983-11-02 | Canon Inc | 光記録媒体 |
JPS61131251A (ja) * | 1984-11-29 | 1986-06-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光デイスク基板 |
JPS62205553A (ja) * | 1986-03-06 | 1987-09-10 | Toshiba Corp | 光デイスク |
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