JP7419877B2 - 振動デバイス、電子機器および移動体 - Google Patents

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Description

本発明は、振動デバイス、電子機器および移動体に関する。
特許文献1に記載された圧電発振器は、シリコン第1基板と、シリコン第1基板の表面側に形成された回路およびこの回路と接続される外部電極と、シリコン第1基板の裏面に搭載された振動素子と、振動素子を覆うようにシリコン第1基板の裏面に接合されたシリコン第2基板と、を有する。また、シリコン第1基板には、その裏面と表面とを貫通し、回路と電気的に接続された貫通電極と、貫通電極と振動素子とを電気的に接続するマウント電極または配線抵抗部と、が形成されている。
特開2017-139717号公報
特許文献1の圧電発振器のような構成は、小型化に適する。しかしながら、特許文献1の圧電発振器のような構成において、回路に発振回路とフラクショナルN-PLL(Phase Locked Loop)回路とが含まれている場合、振動素子と発振回路とを電気的に接続する配線と、フラクショナルN-PLL回路とフラクショナルN-PLL回路からの信号を出力する出力端子とを電気的に接続する配線と、が近接する程、これらの間の磁気的結合が強くなり、整数境界スプリアスの影響による位相ノイズや位相ジッターが悪化するという問題がある。
本適用例にかかる振動デバイスは、振動片と、
前記振動片が配置される第1面および前記第1面とは反対側に位置する第2面を有する半導体基板と、
前記第2面に配置されるフラクショナルN-PLL回路と、
前記第1面に配置され、前記振動片と前記フラクショナルN-PLL回路とを電気的に接続する配線と、
前記半導体基板の前記第2面側に配置され、前記フラクショナルN-PLL回路と電気的に接続され、前記フラクショナルN-PLL回路からの信号を出力する出力端子と、を有し、
前記半導体基板の厚さ方向に沿った平面視で、前記出力端子は、前記配線と重ならない。
本適用例にかかる電子機器は、上述の振動デバイスと、
前記振動デバイスから出力される信号に基づいて動作する演算処理回路と、を備えている。
本適用例にかかる移動体は、上述の振動デバイスと、
前記振動デバイスから出力される信号に基づいて動作する演算処理回路と、を備えている。
第1実施形態に係る振動デバイスを示す断面図である。 図1の振動デバイスが有する回路を示すブロック図である。 図1の振動デバイスが有する振動片を示す平面図である。 図1の振動デバイスが有する半導体回路基板を示す平面図である。 図1の振動デバイスの変形例を示す断面図である。 第2実施形態のスマートフォンを示す斜視図である。 第3実施形態の自動車を示す斜視図である。
以下、本適用例にかかる振動デバイス、電子機器および移動体を添付図面に示す実施形態に基づいて詳細に説明する。
<第1実施形態>
図1は、第1実施形態に係る振動デバイスを示す断面図である。図2は、図1の振動デバイスが有する回路を示すブロック図である。図3は、図1の振動デバイスが有する振動片を示す平面図である。図4は、図1の振動デバイスが有する半導体回路基板を示す平面図である。図5は、図1の振動デバイスの変形例を示す断面図である。なお、説明の便宜上、各図には、互いに直交する3軸をX軸、Y軸およびZ軸として図示する。また、Z軸の矢印先端側を「上」とも言い、基端側を「下」とも言う。また、半導体基板5の厚さ方向すなわちZ軸に沿った平面視を単に「平面視」とも言う。また、図1は、図4中のA-A線断面図である。
図1に示す振動デバイス1は、例えば、発振器として用いられ、後述するように、各種の電子機器または移動体等に内蔵することができる。ただし、振動デバイス1は、発振器以外の機器、例えば、加速度センサー、角速度センサー等の各種センサーとして用いられてもよい。
このような振動デバイス1は、図1に示すように、内部に収容空間Sを有するパッケージ2と、収容空間Sに収容された振動片9と、を有する。また、パッケージ2は、基板としての半導体回路基板4と、半導体回路基板4に接合されたリッド3と、を有する。
[半導体回路基板4]
図1に示すように、半導体回路基板4は、半導体基板5と、半導体基板5に設けられた回路6と、を有する。また、半導体基板5は、シリコン基板である。また、半導体基板5は、P型導電性を有するP型シリコン基板であり、基板電位がグランドとなる。ただし、半導体基板5は、シリコン基板以外の半導体基板、例えば、ゲルマニウム、ヒ化ガリウム、ガリウム砒素リン、窒化ガリウム、炭化珪素等で構成された各種半導体基板であってもよい。また、半導体基板5は、N型導電性を有するN型シリコン基板であってもよい。
半導体基板5は、第1面としての上面51と、上面51の反対側に位置する第2面としての下面52と、を有する板状をなす。また、半導体基板5は、その表面に絶縁膜50が形成されている。絶縁膜50は、酸化シリコン(SiO)で構成され、例えば、半導体基板5の表面を熱酸化することにより形成される。また、半導体基板5の下面52には振動片9と電気的に接続された回路6が設けられている。半導体基板5に回路6を設けることにより、半導体基板5のスペースを有効活用することができる。
半導体基板5の下面52には、絶縁層61、配線層62、絶縁層63、パッシベーション膜64および端子層65が積層された積層体60が設けられている。そして、配線層62に含まれる配線を介して、下面52に形成された図示しない複数の能動素子が電気的に接続されて回路6が構成される。つまり、回路6は、半導体基板5と一体的に形成されている。また、端子層65には、複数の端子651が形成され、これら複数の端子651には、電源に接続される電源端子、グランドに接続されるグランド端子、回路6から信号が出力される端子等が含まれている。特に、以下では、回路6からの信号が出力される端子を出力端子651Aとも言う。なお、絶縁層61、63は、酸化シリコン(SiO)で構成されており、配線層62および端子層65は、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、導電性のポリシリコン、タングステン(W)等の導電性材料で構成されている。ただし、これら各部の構成材料は、特に限定されない。
なお、図示の構成では、積層体60に1つの配線層62が含まれているが、これに限定されず、複数の配線層62が絶縁層63を介して積層されていてもよい。つまり、絶縁層61とパッシベーション膜64との間に、配線層62と絶縁層63とが交互に複数回積層されていてもよい。
また、図2に示すように、回路6には、振動片9を発振させてクロック信号等の基準信号の周波数を生成する発振回路66と、フラクショナルN-PLL回路67と、出力回路68と、が含まれる。発振回路66は、振動片9から出力される信号を増幅して振動片9にフィードバックさせることにより、振動片9を発振させるための回路である。なお振動片9と発振回路66とで構成される回路は、例えば、ピアース発振回路、インバーター型発振回路、コルピッツ発振回路、ハートレー発振回路等を用いることができる。
フラクショナルN-PLL回路67(分数分周PLL回路)は、整数の分周比を切り替えて平均的に分数(小数)の分周比とすることにより、分数の分周比を設定可能なPLL回路である。これにより、任意の周波数の信号を出力することが可能になる。そして、フラクショナルN-PLL回路67から出力された信号は、出力回路68を経て出力端子651Aから出力される。
特に、フラクショナルN-PLL回路67によれば、次のような効果を発揮することもできる。一般的な発振器では、振動片をパッケージに収容した後に、レーザー照射によって振動片の電極の一部を除去して振動片の周波数調整を行う。しかしながら、振動デバイス1では、リッド3がシリコンで構成されており、振動片9をパッケージ2に収容した後では、振動片9にレーザーを照射することが困難で、振動片9の周波数調整が困難な場合がある。このような場合でも、フラクショナルN-PLL回路67を有していれば、当該回路から任意の周波数の信号を出力することが可能となる。
なお、フラクショナルN-PLL回路67は、発振回路66から出力される基準周波数信号が入力される位相比較器671と、チャージポンプ回路675と、ローパスフィルター672と、ローパスフィルター672からの直流信号が入力される電圧制御型発振器673と、電圧制御型発振器673から出力される周波数信号が入力される分周器674と、を有し、分周器674で分周された周波数信号は、位相比較器671に入力される。位相比較器671では、基準周波数信号と分周された周波数信号との間の位相差を検出し、検出結果をパルス電圧としてチャージポンプ回路675へ出力する。チャージポンプ回路675は、位相比較器571が出力するパルス電圧を電流に変換し、ローパスフィルター672に出力する。ローパスフィルター672では、チャージポンプ回路675からの出力信号から高周波成分を除去し、電圧に変換して、電圧制御型発振器673を制御する直流信号として出力する。分周器674は、整数の分周比を切り替えることによって時間平均的に分数の分周比とすることにより、分数分周を実現可能である。なお、電圧制御型発振器673は、インダクター673Aとコンデンサー673Bとを備えるLC発振回路を用いている。
また、図1に示すように、半導体基板5には、半導体基板5を厚さ方向に貫通する一対の貫通孔53、54が形成されている。これら貫通孔53、54内には導電性材料が充填され、これにより、貫通電極530、540が形成されている。また、図1、図3および図4に示すように、半導体基板5の上面51には、振動片9と電気的に接続された一対の配線73、74が設けられている。そして、配線73は、貫通電極530を介して回路6と電気的に接続され、配線74は、貫通電極540を介して回路6と電気的に接続されている。
また、図1、図3および図4に示すように、半導体基板5の上面51には、リッド3との接合に用いられる金属層としての接合層75が設けられている。また、接合層75は、半導体基板5の外縁に沿って設けられ、リッド3との接合に用いられる枠状の接合領域Q1と、接合領域Q1の内側に位置し、収容空間S内に臨む非接合領域Q2と、を有する。このような接合層75は、配線73、74と絶縁されており、非接合領域Q2は、配線73、74と非接触な限りで、上面51のなるべく広範囲にわたって設けられている。
また、図1に示すように、接合領域Q1と重なる部分においては、上面51から絶縁膜50が除去されており、接合層75が半導体基板5のシリコン基板部分と電気的に接続されている。これにより、接合層75は、半導体基板5と同じくグランドに接続される。そのため、接合層75、特に、非接合領域Q2を振動デバイス1内の各部間の磁気的結合を抑制するシールド層として機能させることができる。この効果については後述する。
また、接合層75は、配線73、74と同じ工程によって一括して形成されている。具体的には、例えば、スパッタリングによって半導体基板5の上面51に金属膜を成膜し、この金属膜をフォトリソグラフィー技法およびエッチング技法を用いてパターニングすることにより、配線73、74と接合層75とを一括して形成することができる。これにより、半導体回路基板4の形成が容易となる。なお、配線73、74および接合層75の構成としては、特に限定されないが、例えば、チタン(Ti)、タングステン(W)、チタン/タングステン合金等で構成された下地層と、金(Au)で構成された被覆層との積層体で構成することができる。これにより、半導体基板5との密着性および電気導電性に優れた配線73、74および接合層75となる。
なお、接合層75の構成としては、特に限定されず、非接合領域Q2を省略してもよい。また、接合領域Q1と非接合領域Q2とが別体で形成されていてもよい。
このような構成の半導体回路基板4は、半導体基板5の上面51側に配線73、74を設け、下面52側に出力端子651Aを設けている。そのため、配線73、74と出力端子651Aとを半導体回路基板4上においてなるべく離間させることができ、これらの電磁的結合を効果的に抑制することができる。そのため、整数境界スプリアスの影響を受け難く、回路6において位相ノイズや位相ジッターを効果的に抑制することができる。特に、本実施形態では、半導体基板5は、P型シリコン基板で構成され、グランド端子と電気的に接続される。これにより、半導体基板5は、振動デバイス1の駆動時にはグランドに接続される。そのため、配線73、74と出力端子651Aの間に位置する半導体基板5がシールド層として機能し、配線73、74と出力端子651Aの電磁的結合をより効果的に抑制することができる。
また、平面視で、配線73、74と出力端子651Aとが重ならないように設けられている。これにより、配線73、74と出力端子651Aとを半導体回路基板4上においてなるべく離間させることができ、これらの電磁的結合をより効果的に抑制することができる。そのため、整数境界スプリアスの影響を受け難く、回路6において位相ノイズや位相ジッターをより効果的に抑制することができる。特に、本実施形態では、半導体基板5に回路6を設けているため、回路として振動片9が配置される基板とは別体のIC(Integrated Circuit)を用いる場合よりも、振動片9と回路6との電気的な経路を短くすることができ、出力端子651Aの配線長を短くすることもできる。そのため、配線73、74と出力端子651Aとの電磁的結合をより効果的に抑制することができる。
また、平面視で、フラクショナルN-PLL回路67に含まれるインダクター673Aと配線73、74とが重ならないように構成されている。これにより、配線73、74とインダクター673Aとを半導体回路基板4上においてなるべく離間させることができ、これらの電磁的結合を効果的に抑制することができる。そのため、整数境界スプリアスの影響を受け難く、回路6において位相ノイズや位相ジッターを効果的に抑制することができる。ただし、これに限定されず、平面視で、インダクター673Aと配線73、74とが重なっていてもよい。
また、平面視で、フラクショナルN-PLL回路67に含まれるインダクター673Aと出力端子651Aとが重ならないように構成されている。これにより、出力端子651Aとインダクター673Aとを半導体回路基板4上においてなるべく離間させることができ、これらの電磁的結合を効果的に抑制することができる。そのため、整数境界スプリアスの影響を受け難く、回路6において位相ノイズや位相ジッターを効果的に抑制することができる。ただし、これに限定されず、平面視で、インダクター673Aと出力端子651Aとが重なっていてもよい。
また、前述したように、半導体基板5の上面51にはグランドに接続される接合層75が設けられている。接合層75は、配線73、74に近接して配置されており、さらには、出力端子651Aと振動片9との間に位置している。そのため、接合層75により、配線73、74と出力端子651Aとの磁気的結合および振動片9と出力端子651Aとの磁気的結合を効果的に抑制することができる。なお、本実施形態では、Z軸に沿った平面視で、接合層75がインダクター673Aと重なっている。そのため、これらが近接して配置され易く、渦電流が生じてインダクタンスの値が減少したり、損失(Q値)が増加したりするおそれがある。
そこで、本実施形態では、回路6を半導体基板5の下面52側に設けて、接合層75とインダクター673Aとの離間距離を十分に大きく保っている。これにより、回路6が上面51に設けられる場合よりも渦電流の影響を小さく抑えることができる。なお、インダクター673Aは、回路6が有する配線層62内に作り込まれている。本実施形態では、配線層62が1層であるが、前述したように、配線層62が複数層存在する場合には、少なくとも最も下層すなわち半導体基板5側の配線層62以外の配線層62、好ましくは、最も表層側すなわち半導体基板5から遠位に位置する配線層62内にインダクター673Aを形成することが好ましい。これにより、インダクター673Aと接合層75との離間距離をより大きく確保することができ、上述した効果がより顕著となる。
また、半導体基板5もグランドに接続されるため接合層75と同様に渦電流が生じてインダクタンスの値が減少したり、損失が増加したりする場合がある。そのため、半導体基板5を高抵抗シリコン基板で構成することにより、渦電流の影響を小さく抑えることができる。
[振動片9]
振動片9は、図3に示すように、振動基板91と、振動基板91の表面に配置された電極と、を有する。振動基板91は、厚みすべり振動モードを有し、本実施形態ではATカット水晶基板から形成されている。ATカット水晶基板は、三次の周波数温度特性を有するため、優れた温度特性を有する振動片9となる。また、電極は、振動基板91の上面に配置された励振電極921と、下面に励振電極921と対向して配置された励振電極922と、振動基板91の下面に配置された一対の端子923、924と、端子923と励振電極921とを電気的に接続する配線925と、端子924と励振電極922とを電気的に接続する配線926と、を有する。
なお、振動片9の構成は、上述の構成に限定されない。例えば、振動片9は、励振電極921、922に挟まれた振動領域がその周囲から突出したメサ型となっていてもよいし、逆に、振動領域がその周囲から凹没した逆メサ型となっていてもよい。また、振動基板91の周囲を研削するベベル加工や、上面および下面を凸曲面とするコンベックス加工が施されていてもよい。
また、振動片9としては、厚みすべり振動モードで振動するものに限定されず、例えば、複数の振動腕が面内方向に屈曲振動する振動片であってもよい。つまり、振動基板91は、ATカット水晶基板から形成されたものに限定されず、ATカット水晶基板以外の水晶基板、例えば、Xカット水晶基板、Yカット水晶基板、Zカット水晶基板、BTカット水晶基板、SCカット水晶基板、STカット水晶基板等から形成されていてもよい。また、本実施形態では、振動基板91が水晶で構成されているが、これに限定されず、例えば、ニオブ酸リチウム、タンタル酸リチウム、四ホウ酸リチウム、ランガサイト、ニオブ酸カリウム、リン酸ガリウム等の圧電単結晶体により構成されていてもよいし、これら以外の圧電単結晶体で構成されていてもよい。更にまた、振動片9は、圧電駆動型の振動片に限らず、静電気力を用いた静電駆動型の振動片であってもよい。
このような振動片9は、図3に示すように、導電性の接合部材B1、B2によって一対の配線73、74に固定されている。また、接合部材B1は、配線73と端子923とを電気的に接続し、接合部材B2は、配線74と端子924とを電気的に接続する。これにより、振動片9と回路6とが電気的に接続される。
接合部材B1、B2としては、導電性と接合性とを兼ね備えていれば、特に限定されず、例えば、金バンプ、銀バンプ、銅バンプ、はんだバンプ等の各種金属バンプ、ポリイミド系、エポキシ系、シリコーン系、アクリル系の各種接着剤に銀フィラー等の導電性フィラーを分散させた導電性接着剤等を用いることができる。接合部材B1、B2として前者の金属バンプを用いると、接合部材B1、B2からのガスの発生を抑制でき、収容空間Sの環境変化、特に圧力の上昇を効果的に抑制することができる。一方、接合部材B1、B2として後者の導電性接着剤を用いると、接合部材B1、B2が金属バンプに比べて柔らかくなり、パッケージ2から振動片9に応力が伝わり難くなる。
[リッド3]
リッド3は、半導体基板5と同様、シリコン基板である。これにより、半導体基板5とリッド3との線膨張係数が等しくなり、熱膨張に起因する熱応力の発生が抑えられ、優れた振動特性を有する振動デバイス1となる。また、振動デバイス1を半導体プロセスによって形成することができるため、振動デバイス1を精度よく製造することができると共に、その小型化を図ることができる。ただし、リッド3としては、特に限定されず、シリコン以外の半導体基板、例えば、ゲルマニウム、ヒ化ガリウム、ガリウム砒素リン、窒化ガリウム、炭化珪素等で構成された基板であってもよい。
図1に示すように、リッド3は、その下面30に開口し、内部に振動片9を収容する有底の凹部31を有する。そして、リッド3は、その下面30において半導体基板5の上面51に接合されている。これにより、リッド3と半導体基板5との間に振動片9を収容する収容空間Sが形成される。収容空間Sは、気密であり、減圧状態、好ましくはより真空に近い状態である。これにより、振動片9の発振特性が向上する。ただし、収容空間Sの雰囲気は、特に限定されず、例えば、窒素またはAr等の不活性ガスを封入した雰囲気であってもよく、減圧状態でなく大気圧状態または加圧状態となっていてもよい。
また、図1に示すように、リッド3の下面30には接合層33が設けられている。そして、この接合層33と半導体基板5の上面51に設けられた接合層75とを接合することにより、リッド3と半導体基板5とが接合されている。なお、本実施形態では、接合の中でも金属同士の拡散を利用した拡散接合を用いて半導体基板5とリッド3とが接合されている。ただし、半導体基板5とリッド3との接合方法は、特に限定されない。また、接合層33の構成としては、特に限定されないが、接合層75と同様の構成とすることができる。
また、リッド3は、接合層75、33を介して半導体基板5と電気的に接続されている。つまり、リッド3は、振動デバイス1の駆動時には半導体基板5と同電位すなわちグランドに接続される。これにより、リッド3が外乱を遮蔽するシールド層として機能し、振動片9へのノイズの混入を抑制することができる。ただし、これに限定されず、リッド3は、半導体基板5と電気的に接続されていなくてもよい。
なお、リッド3に設けられた接合層33の構成としては、特に限定されず、例えば、図5に示すように、凹部31の内面にも設けられていてもよい。これにより、接合層33がリッド3と共にシールド層として機能する。
以上、振動デバイス1について説明した。このような振動デバイス1は、前述したように、振動片9と、振動片9が配置される第1面としての上面51および上面51とは反対側に位置する第2面としての下面52を有する半導体基板5と、下面52に配置されるフラクショナルN-PLL回路67と、上面51に配置され、振動片9とフラクショナルN-PLL回路67とを電気的に接続する配線73、74と、半導体基板5の下面52側に配置され、フラクショナルN-PLL回路67と電気的に接続され、フラクショナルN-PLL回路67からの信号を出力する出力端子651Aと、を有する。そして、半導体基板5の厚さ方向に沿った平面視すなわちZ軸に沿った平面視で、出力端子651Aは、配線73、74と重ならない。
これにより、配線73、74と出力端子651Aとを半導体回路基板4上においてなるべく離間させることができる。そのため、配線73、74と出力端子651Aとが平面視で重なる場合と比較して、これらの電磁的結合をより効果的に抑制することができる。したがって、整数境界スプリアスの影響を受け難く、回路6において位相ノイズや位相ジッターをより効果的に抑制することができる。
また、前述したように、振動デバイス1は、グランドに接続されるグランド端子である端子651を有し、半導体基板5は、このグランド端子と電気的に接続され、上面51に配置され、半導体基板5と電気的に接続される金属層としての接合層75を有する。これにより、接合層75によって、配線73、74と出力端子651Aとの磁気的結合および振動片9と出力端子651Aとの磁気的結合を効果的に抑制することができる。
また、前述したように、振動デバイス1は、振動片9を覆うように、半導体基板5の上面51に接合されるリッド3を有する。そして、リッド3は、半導体基板5と電気的に接続されている。これにより、リッド3が外乱を遮蔽するシールド層として機能し、振動片9へのノイズの混入を抑制することができる。
また、前述したように、フラクショナルN-PLL回路67は、インダクター673Aを備える発振器としての電圧制御型発振器673を有する。そして、平面視で、出力端子651Aは、インダクター673Aと重ならない。これにより、出力端子651Aとインダクター673Aとを半導体回路基板4上においてなるべく離間させることができ、これらの電磁的結合を効果的に抑制することができる。そのため、整数境界スプリアスの影響を受け難く、回路6において位相ノイズや位相ジッターを効果的に抑制することができる。
また、前述したように、平面視で、配線73、74は、インダクター673Aと重ならない。これにより、配線73、74とインダクター673Aとを半導体回路基板4上においてなるべく離間させることができ、これらの電磁的結合を効果的に抑制することができる。そのため、整数境界スプリアスの影響を受け難く、回路6において位相ノイズや位相ジッターを効果的に抑制することができる。
<第2実施形態>
図6は、第2実施形態のスマートフォンを示す斜視図である。
図6に示すスマートフォン1200は、本発明の電子機器を適用したものである。スマートフォン1200には、発振器として用いられる振動デバイス1と、振動デバイス1から出力される信号に基づいて動作する演算処理回路1210と、を有する。演算処理回路1210は、例えば、画面1208から入力された入力信号に基づいて、表示画面を変化させたり、特定のアプリケーションを立ち上げたり、警告音や効果音を鳴らしたり、振動モーターを駆動して本体を振動させたりすることができる。なお、振動デバイス1としては、例えば、前述した第1実施形態のものを適用することができる。
このような電子機器としてのスマートフォン1200は、振動デバイス1と、振動デバイス1から出力される信号に基づいて動作する演算処理回路1210と、を備える。そのため、前述した振動デバイス1の効果を享受でき、高い信頼性を発揮することができる。
なお、振動デバイス1を備える電子機器は、前述したスマートフォン1200の他にも、例えば、パーソナルコンピューター、デジタルスチールカメラ、タブレット端末、時計、スマートウォッチ、インクジェットプリンター、ラップトップ型パーソナルコンピューター、テレビ、スマートグラス、HMD(ヘッドマウントディスプレイ)等のウェアラブル端末、ビデオカメラ、ビデオテープレコーダー、カーナビゲーション装置、ドライブレコーダー、ページャー、電子手帳、電子辞書、電子翻訳機、電卓、電子ゲーム機器、玩具、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話、防犯用テレビモニター、電子双眼鏡、POS(Point Of Sale)端末、医療機器、魚群探知機、各種測定機器、移動体端末基地局用機器、車両、鉄道車輌、航空機、ヘリコプター、船舶等の各種計器類、フライトシミュレーター、ネットワークサーバー等に適用することができる。
<第3実施形態>
図7は、第3実施形態の自動車を示す斜視図である。
図7に示す移動体としての自動車1500は、エンジンシステム、ブレーキシステムおよびキーレスエントリーシステム等のシステム1502を含んでいる。また、自動車1500には、発振器として用いられる振動デバイス1と、振動デバイス1から出力される信号に基づいて動作し、システム1502を制御する演算処理回路1510と、を有する。なお、振動デバイス1としては、例えば、前述した第1実施形態のものを適用することができる。
このように、移動体としての自動車1500は、振動デバイス1と、振動デバイス1から出力される信号に基づいて動作する演算処理回路1510と、を備える。そのため、前述した振動デバイス1の効果を享受でき、高い信頼性を発揮することができる。
なお、振動デバイス1を備える移動体は、自動車1500の他、例えば、ロボット、ドローン、二輪車、航空機、船舶、電車、ロケット、宇宙船等であってもよい。
以上、本発明の振動デバイス、電子機器および移動体について、図示の実施形態に基づいて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、各部の構成は、同様の機能を有する任意の構成のものに置換することができる。また、本発明に、他の任意の構成物が付加されていてもよい。また、各実施形態を適宜組み合わせてもよい。
また、前述した実施形態では、振動デバイス1を発振器に適用しているが、これに限定されない。例えば、振動片9を角速度や加速度を検出可能な物理量センサー素子とすることにより、振動デバイス1を角速度センサーや加速度センサー等の各種物理量センサーに適用することができる。
また、前述した実施形態では、リッド3が凹部31を有しているが、これに限定されない。例えば、半導体回路基板4の半導体基板5がその上面51に開口する有底の凹部を有する構成であり、リッド3が平板状であってもよい。この場合、半導体基板5の凹部の底面に振動片9を固定すればよい。
1…振動デバイス、2…パッケージ、3…リッド、4…半導体回路基板、5…半導体基板、6…回路、9…振動片、30…下面、31…凹部、33…接合層、50…絶縁膜、51…上面、52…下面、53、54…貫通孔、60…積層体、61…絶縁層、62…配線層、63…絶縁層、64…パッシベーション膜、65…端子層、66…発振回路、67…フラクショナルN-PLL回路、68…出力回路、73…配線、74…配線、75…接合層、91…振動基板、530、540…貫通電極、651…端子、651A…出力端子、671…位相比較器、672…ローパスフィルター、673…電圧制御型発振器、673A…インダクター、673B…コンデンサー、674…分周器、675…チャージポンプ回路、921、922…励振電極、923、924…端子、925、926…配線、1200…スマートフォン、1208…画面、1210…演算処理回路、1500…自動車、1502…システム、1510…演算処理回路、B1、B2…接合部材、Q1…接合領域、Q2…非接合領域、S…収容空間

Claims (5)

  1. 振動片と、
    前記振動片が配置される第1面および前記第1面とは反対側に位置する第2面を有する半導体基板と、
    前記第2面に配置されるフラクショナルN-PLL回路と、
    前記第1面に配置され、前記振動片と前記フラクショナルN-PLL回路とを電気的に接続する配線と、
    前記半導体基板の前記第2面側に配置され、前記フラクショナルN-PLL回路と電気的に接続され、前記フラクショナルN-PLL回路からの信号を出力する出力端子と、
    グランドに接続されるグランド端子と、
    前記第1面に配置され、前記半導体基板と電気的に接続される金属層と、を有し、
    前記フラクショナルN-PLL回路は、インダクターを備える発振器を有し、
    前記半導体基板は、前記グランド端子と電気的に接続され、
    前記半導体基板の厚さ方向に沿った平面視で、前記出力端子は、前記配線および前記インダクターと重ならず、
    前記平面視で、前記金属層は、前記インダクターと重なっていることを特徴とする振動デバイス。
  2. 前記振動片を覆うように、前記半導体基板の前記第1面に接合されるリッドを有し、
    前記リッドは、前記半導体基板と電気的に接続されている請求項1に記載の振動デバイス。
  3. 前記平面視で、前記配線は前記インダクターと重ならない請求項1または2に記載の振動デバイス。
  4. 請求項1ないしのいずれか1項に記載の振動デバイスと、
    前記振動デバイスから出力される信号に基づいて動作する演算処理回路と、を備えていることを特徴とする電子機器。
  5. 請求項1ないしのいずれか1項に記載の振動デバイスと、
    前記振動デバイスから出力される信号に基づいて動作する演算処理回路と、を備えていることを特徴とする移動体。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7451959B2 (ja) * 2019-11-22 2024-03-19 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス、電子機器および移動体

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010113746A1 (ja) 2009-03-30 2010-10-07 株式会社村田製作所 可変容量モジュールおよび整合回路モジュール
WO2012050461A1 (en) 2010-07-20 2012-04-19 Rakon Limited Small form factor oscillator
JP2018137512A (ja) 2017-02-20 2018-08-30 セイコーエプソン株式会社 回路装置、発振器、電子機器、移動体及び発振器の製造方法
JP2020028095A (ja) 2018-08-17 2020-02-20 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス、振動デバイスの製造方法、電子機器および移動体

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4551461B2 (ja) * 2008-03-10 2010-09-29 吉川工業株式会社 半導体装置とこれを備えた通信機器及び電子機器
JP5636933B2 (ja) * 2010-12-14 2014-12-10 セイコーエプソン株式会社 発振器
EP2528089B1 (en) * 2011-05-23 2014-03-05 Alchimer Method for forming a vertical electrical connection in a layered semiconductor structure
JP2013219704A (ja) 2012-04-12 2013-10-24 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 圧電発振器
JP6137442B2 (ja) * 2012-07-31 2017-05-31 株式会社大真空 圧電発振器
JP6183156B2 (ja) * 2013-10-30 2017-08-23 セイコーエプソン株式会社 パッケージ、振動デバイス、発振器、電子機器及び移動体
JP2015142265A (ja) 2014-01-29 2015-08-03 セイコーエプソン株式会社 発振回路、発振器、フラクショナルn−pll回路、電子機器、移動体及びフラクショナルn−pll回路のリファレンス周波数の決定方法
JP6402978B2 (ja) * 2014-07-25 2018-10-10 セイコーエプソン株式会社 半導体回路素子、電子機器、および移動体
JP6724308B2 (ja) 2015-08-07 2020-07-15 セイコーエプソン株式会社 発振モジュール、振動デバイス、電子機器、および移動体
JP6885338B2 (ja) * 2015-11-06 2021-06-16 株式会社大真空 圧電振動デバイス
JP2017139717A (ja) * 2016-02-02 2017-08-10 新日本無線株式会社 圧電発振器及びその製造方法
JP2021057668A (ja) * 2019-09-27 2021-04-08 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス、電子機器および移動体
JP7419748B2 (ja) * 2019-10-29 2024-01-23 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス、電子機器および移動体
JP2022032563A (ja) * 2020-08-12 2022-02-25 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス
JP2022084154A (ja) * 2020-11-26 2022-06-07 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス
JP2022084153A (ja) * 2020-11-26 2022-06-07 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス
JP2022114007A (ja) * 2021-01-26 2022-08-05 セイコーエプソン株式会社 振動デバイスおよび振動デバイスの製造方法
JP2022114779A (ja) * 2021-01-27 2022-08-08 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス
JP2022146150A (ja) * 2021-03-22 2022-10-05 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス
JP2022148082A (ja) * 2021-03-24 2022-10-06 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010113746A1 (ja) 2009-03-30 2010-10-07 株式会社村田製作所 可変容量モジュールおよび整合回路モジュール
WO2012050461A1 (en) 2010-07-20 2012-04-19 Rakon Limited Small form factor oscillator
JP2018137512A (ja) 2017-02-20 2018-08-30 セイコーエプソン株式会社 回路装置、発振器、電子機器、移動体及び発振器の製造方法
JP2020028095A (ja) 2018-08-17 2020-02-20 セイコーエプソン株式会社 振動デバイス、振動デバイスの製造方法、電子機器および移動体

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