JP7298071B2 - 防眩膜付き透明基体 - Google Patents
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Description
また、特許文献6に記載の条件は、凹凸の谷底の平坦部分が少ないことを表しているが、平坦部分が高さ方向の高い部分にある平坦部分については、何も規定出来ていない。ところが、高さ方向の高い部分にある平坦部分も正反射を生じるため、この規定では、全ての部分について、傾斜を求めて、平坦部比率を評価するには不十分である。
このように従来の技術では、高防眩性、高視認性、および低ぎらつきを同時達成できなかった。
前記防眩膜が、前記透明基体の第1主面上に形成された低屈折率層と、前記低屈折率層中に形成された前記低屈折率層とは屈折率が異なる高屈折率層と、で構成されており、
前記低屈折率層は、波長550nmでの屈折率をnlowとすると、nlowが1.4~1.8であり、
前記高屈折率層は、波長550nmでの屈折率をnhighとすると、nhighが前記nlowよりも0.1以上高く、
前記高屈折率層は、前記透明基体の第1主面に対する面傾きが0.5°以下となる部位の面積比が15%以下であり、
前記防眩膜付き透明基体の第1主面側最表面の粗さ曲線の要素の平均長さRSmが50μm以下である、防眩膜付き透明基体(1)を提供する。
前記防眩膜が、前記透明基体の第1主面上に形成された高屈折率層と、前記高屈折率層中に形成された前記高屈折率層とは屈折率が異なる低屈折率層と、で構成されており、
前記高屈折率層は、波長550nmでの屈折率をnhighとすると、nhighが1.4~1.8であり、
前記低屈折率層は、波長550nmでの屈折率をnlowとすると、nlowが前記nhighよりも0.1以上低く、
前記低屈折率層は、前記透明基体の第1主面に対する面傾きが0.5°以下となる部位の面積比が15%以下であり、
前記防眩膜付き透明基体の第1主面側最表面の粗さ曲線の要素の平均長さRSmが50μm以下である、防眩膜付き透明基体(2)を提供する。
前記防眩膜が、前記透明基体の第1主面上に形成された低屈折率層と、前記低屈折率層中に形成された前記低屈折率層とは屈折率が異なる高屈折率層と、で構成されており、
前記低屈折率層は、波長550nmでの屈折率をnlowとすると、nlowが1.4~1.8であり、
前記高屈折率層は、波長550nmでの屈折率をnhighとすると、nhighが前記nlowよりも0.1以上高く、
断面SEM像において、前記高屈折率層が、主面に対して0.5度以下の傾きである部分を透明基体主面に平行な線に投影した長さを測定し、これらを合計したとき、幅400μmに対する長さの合計の割合が15%以下であり、かつ、高屈折率層の2次元プロファイルから求めた算術平均粗さRaが0.01μm以上0.4μm以下であり、かつ、第1主面側最表面の粗さ曲線の要素の平均長さRSmは0.8μm以上50μm以下である、防眩膜付き透明基体(3)を提供する。
図1は本発明の防眩膜付き透明基体の第1実施形態を模式的に示した断面図である。図1に示す防眩膜付き透明基体10は、第1主面11aと第2主面11bとを備える透明基体11と、第1主面11a上に形成された防眩膜14が形成されている。
透明基体11の材料としては、ガラス、樹脂等が挙げられる。樹脂としては、ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボネート、トリアセチルセルロース、ポリメタクリル酸メチル等が挙げられる。中でも安全性や強度の観点から透明板はガラスが好ましい。さらに車載用表示部材へのガラスの使用は、高い耐熱性、高い耐候性の観点からも好ましい。
なお、可視光波長領域のうち波長550nmで最も視感度が高いため、屈折率は波長550nmでの値とした。
図1に示す防眩膜付き透明基体10において、防眩膜14は、透明基体11の第1主面11a上に形成された低屈折率層12と、低屈折率層12中に形成された高屈折率層13と、で構成される。高屈折率層13は連続層である。
本明細書において、連続層とは、下地層表面が完全に被われており、層を被覆した後に下地が露出していない状態である層を指す。全く下地が露出していない状態が好ましいが、膜のクラック、ピンホール等で、わずかに下地が露出している場合も同様の効果が得られ、連続層とみなす。
なお、図1に示す防眩膜付き透明基体10では、低屈折率層12中に連続層の高屈折率層13は1層形成されているが、高屈折率層13は2層以上形成されていてもよい。高屈折率層13を屈折率の異なる2層以上の構成とすることで、膜構成により反射率を任意に設計しやすくなる。さらに高屈折率層13を多層構成とすることで、反射率の波長依存性を抑えて、反射色をニュートラル色に設計できる。ここで、ニュートラル色とは、無彩色ともいい、D65光源で観測した場合の反射色の色座標をCIE1976(L*、a*、b*)色空間で表記するとa*,b*の値が±5以下のことをいう。
「内部散乱」とは、空気との界面ではなく、透明基体11、防眩膜14など画像表示素子表面に付加された一連の防眩膜付き透明基体10の内部に屈折率差がある界面を持つ構造の場合、その界面において、その界面形状に応じ発生する散乱を意味する。内部散乱は「内部透過散乱」と「内部反射散乱」に分けられる。「内部透過散乱」は、透過光が、屈折率の異なる含有粒子や層との界面を通過する際に発生する散乱を意味し、内部透過散乱が大きくなると視認性が悪化する。「内部反射散乱」は、入射光が、屈折率の異なる含有粒子や層との界面で反射する際に発生する散乱を意味し、内部反射散乱が大きくなると防眩性が増大する。
また、屈折率nhighと屈折率nlowとの差は、1以下が好ましい。これは低屈折率層12と高屈折率層13との界面での反射率が高すぎるのを防ぐためである。屈折率nhighと屈折率nlowとの差は、0.5以下がより好ましく、0.3以下がさらに好ましい。
屈折率nhighは1.8以上が好ましい。屈折率nhighは1.9以上がより好ましく、2.0以上がさらに好ましい。
なお、高屈折率層13において、透明基体11の第1主面11aに対する面傾きが0.5°以下となる部位の面積比は、以下の手順で求められる。
透明基体11の防眩膜14を形成した第1主面11aについて、レーザー顕微鏡(株式会社キーエンス社製、型番:VK―X210)を使用し、対物レンズ100倍にて、(111~148)μm×(101~135)μmの観察領域について、XYZの測定を行う。サンプリングデータ数は横2,048×縦1,536の合計3,145,728点である。観察領域は条件によって上記の通り異なる場合があるが、ここでは145.0μm×108.8μmの場合について説明する。
得られた横2,048×縦2,048の大きさとして384.8μm×384.8μmの合成正方形状データβは、高さに関するデータを含む。またそれぞれのメッシュの間隔は、384.8μm/2,047=188nmである。
上記面傾きが0.5°以下となる部位の比の求め方の他の例を以下に記す。
日立ハイテクノロジー社製超高分解能電界放出型走査型電子顕微鏡SUS8230を用いて、断面SEM像を1万倍にて撮影する。このときの撮影条件は加速電圧:2kV、プローブ電流:Normal、エミッション電流:10μA、検出器条件:LA100(U)とする。得られた断面SEM像において、透明基体主面に平行に長さ10μmの幅を観察し、観察領域を連続して横にずらしたSEM像を撮影し、これを40枚以上並べてサンプリング長さを400μmとする。次にこれらの断面SEM像を、二値化ソフトウエアを用いて二値化する。二値化ソフトウエアとしてはWinROOF2015(三谷商事株式会社製)を用いた。次に、二値化された高屈折率層のコントラスト形状が透明基体主面に平行、すなわち、主面に対して0.5度以下の傾きである部分を透明基体主面に平行な線に投影した長さを測定する。次に、前記主面に対して0.5度以下の傾きである部分を透明基体主面に平行な線に投影した長さを合計し、幅400μmに対する長さの割合を求めることで、0.5°以下となる部位の比が得られる。
日立ハイテクノロジー社製超高分解能電界放出型走査型電子顕微鏡SUS8230を用いて、断面SEM像を1万倍にて撮影する。このときの撮影条件は加速電圧:2kV、プローブ電流:Normal、エミッション電流:10μA、検出器条件:LA100(U)とする。得られた断面SEM像において、透明基体表面に平行に長さ10μmの幅を観察し、観察領域を連続して横にずらしたSEM像を撮影し、これを横に連続で40枚以上並べてサンプリング長さを400μmとし、得られた断面SEM像を二値化ソフトを用いて二値化する。二値化ソフトウエアとしてはWinROOF2015(三谷商事株式会社製)を用いた。次に、二値化した断面SEM画像から、同時に表示される長さスケールを基に、高屈折率層13の2次元プロファイルを数値化し、Ra、RSmを求める。上記Ra、RSmは基準長さを80μm、評価長さを400μmとして測定する。
まず初めに、図1中、高屈折率層13よりも下側に位置する低屈折率層を透明基体11の第1主面11a上に形成する。低屈折率層の形成には、スピンコート法、静電塗装法、スプレー法等の湿式成膜法、真空蒸着法、イオンビームアシスト蒸着法、イオンプレート法、スパッタリング法、プラズマCVD法等の乾式成膜法を使用できる。この中で特に静電塗装法を好適に使用できる。これは微粒子およびバインダーを含む塗布液を使用し、表面凹凸形状を容易に制御でき、平坦な領域が少ない凹凸表面を作り易いためである。
高屈折率層13は、低屈折率層の凹凸形状上に均一な膜厚で成膜されていることが求められ、乾式成膜法では原料粒子が飛来して付着するため、凹凸形状に追随して均一な膜厚に成膜されやすく好ましく使用できる。
上述したように、低屈折率層12中に連続層の高屈折率層13は2層以上形成されていてもよい。低屈折率層12中に連続層の高屈折率層13は2層形成した構成としては、低屈折率層12中に、TiO2層(厚さ11nm)、SiO2層(厚さ28nm)、TiO2層(厚さ11nm)の順に積層させた構成が挙げられる。
なお、防眩膜14最表面14aの粗さ曲線の要素の平均長さRSmは、JIS B0601-2001に規定されている方法に従って測定できる。
また、透明基体11の第2主面11bと空気界面での反射を消すために、透明基体11の第2主面11bを充分に黒く塗りつぶした後、第1主面11a側(視認側)から積分球を備えた分光光度計を用いて測定した可視光反射率が0.2~8%であることが好ましい。
図2は本発明の防眩膜付き透明基体の第2実施形態を模式的に示した断面図である。図2に示す防眩膜付き透明基体20は、第1主面21aと第2主面21bとを備える透明基体21と、第1主面21a上に形成された防眩膜24が形成されている。第1実施形態と共通の構成については説明を省略する。
図2に示す防眩膜付き透明基体20における高屈折率層23は不連続層である。
本明細書において、不連続層とは、下地層表面が完全に被われておらず、層を被覆した後に下地の一部が露出している状態である層を指す。
なお、図2に示す防眩膜付き透明基体20では、低屈折率層22中に平板状の高屈折率粒子が複数層状に分散することにより、不連続層の高屈折率層23をなしている。
なお、上記の面積比は、高屈折率層23をなす高屈折率粒子を透明基体21の第1主面21aに投影した二次元投影形状における面積比である。
防眩膜付き透明基体20について、厚さ方向断面を観察できるようにサンプルを作製する。このサンプルについて、走査型電子顕微鏡SEMを使用し、合計100μm以上の幅について粒子の断面を観察する。サンプル表面に、チャージアップ防止のために白金コート5nm行った後、SEMを用いて観察する。SEMとしては、例えば、日立製作所製FE-SEM(型番S4300)を使用でき、加速電圧5kV、倍率5万倍の条件でサンプルを観察する。SEMにより得られた観察像から、観察できる全粒子の透明基体20の第1主面21aに対する傾斜角度を測定し、ヒストグラム化することで傾斜角度が0.5°以下の存在比率を求める。この存在比率は、面積比率と等価と考えられるため、この存在比率を、面傾きが0.5°以下となる部位の面積比とする。
「アスペクト比」は、粒子の厚さに対する最長長さの比(最長長さ/厚さ)を意味し、「平均アスペクト比」は、無作為に選択された50個の粒子のアスペクト比の平均値である。粒子の厚さは原子間力顕微鏡(AFM)によって測定され、最長長さは、透過型電子顕微鏡(TEM)によって測定される。
鱗片状アルミナ粒子の平均粒子径は、球状アルミナ粒子の平均粒子径と同様に測定される。
不定形アルミナ粒子およびアルミナ凝集体は、いずれも、TEM観察で黒色状に観察され、薄片状のアルミナ1次粒子またはアルミナ2次粒子は、TEM観察でうすい黒色または半透明状に観察される。
鱗片状アルミナ粒子の市販品としては、たとえば日産化学工業社製AS-520-A、日揮触媒化成株式会社製Cataloid-ASなどが挙げられる。
また、防眩膜付き透明基体20の第1主面21a側最表面のRSmは0.8μm以上が好ましく、5μm以上がさらに好ましい。これは可視光波長端である0.8μm未満であると可視光が回折されにくく、防眩性が発現しにくくなるためである。
なお、防眩膜24表面の粗さ曲線の要素の平均長さRSmは、JIS B0601-2001に規定されている方法に従って測定できる。
平板状の高屈折率粒子(例えば、鱗片状アルミナ(Al2O3)粒子)と低屈折率材料(例えば、酸化ケイ素(SiO2))の中実粒子とを、低屈折率材料(例えば、酸化ケイ素(SiO2))のマトリックス剤とともに混合した塗布液を静電塗装法により透明基体21の第1主面21aに塗布した後、所定の温度条件で焼成する。ここで、平板状の高屈折率粒子と低屈折率材料の中実粒子との質量比、低屈折率材料の中実粒子の直径および低屈折率材料のマトリックス剤に対する、平板状の高屈折率粒子および低屈折率材料の中実粒子の質量比を適宜選択することにより、平板状の高屈折率粒子が低屈折率材料のマトリックス中で傾斜する角度の分布中心を制御できる。
なお、上記塗布液中、平板状の高屈折率粒子の含有量は、5~50体積%が好ましい。
図3は本発明の防眩膜付き透明基体の第3実施形態を模式的に示した断面図である。図3に示す防眩膜付き透明基体30は、第1主面31aと第2主面31bとを備える透明基体31と、第1主面31a上に形成された防眩膜34が形成され、防眩膜34は、透明基体31の第1主面31a上に形成された高屈折率層33と、高屈折率層33中に形成された低屈折率層32と、で構成されている。
すなわち、第1実施形態における防眩膜14の低屈折率層12と高屈折率層13とを置き換えた構成であり、第1実施形態と同様の効果を奏する。
したがって、各層の屈折率、相互の屈折率差、および各層の構成材料に関する記載以外は、第1実施形態における低屈折率層12および高屈折率層13に関する記載を、それぞれ高屈折率層33および低屈折率層32に関する記載に読み替えればよい。各層の屈折率、相互の屈折率差、および各層の構成材料に関する記載は、第1実施形態における低屈折率層12および高屈折率層13に関する記載を、それぞれ低屈折率層32および高屈折率層33に関する記載に読み替えればよい。
波長550nmでの屈折率nhighは1.4以上である。これは低屈折率層32の屈折率nlowとの差が大きいほど任意の反射率設計がしやすいためである。また高屈折率層33が1.4未満の場合、低屈折率層32として使用できる材料がMgF2(屈折率1.38)等極めて限られることも理由として挙げられる。波長550nmでの屈折率nhighは1.45以上がより好ましい。
波長550nmでの屈折率nlowは低いほどよく、1.4以下が好ましい。
図4は本発明の防眩膜付き透明基体の第4実施形態を模式的に示した断面図である。図4に示す防眩膜付き透明基体40は、第1主面41aと第2主面41bとを備える透明基体41と、透明基体41の第1主面41a上に形成された防眩膜44が形成され、防眩膜44は、透明基体41の第1主面41a上に形成された高屈折率層43と、高屈折率層43中に形成された低屈折率層42と、で構成されている。
図4に示す防眩膜付き透明基体40における低屈折率層42は不連続層である。
第4実施形態においても、第2実施形態と同様な効果を発現する。第4実施形態は、第2実施形態に比べ、高屈折率層43と空気界面との屈折率差が大きくなり、表面反射散乱の絶対値が大きくなる。表面反射散乱を抑制したい場合には第4実施形態が好ましい。
図8は、上述した第1実施形態の防眩膜付き透明基体10をカバー部材160として使用した表示装置100の断面図である。図8に示すように、表示装置100は、凹部130を有する筐体120を有し、この凹部130に液晶パネルなどの表示パネル140やバックライト150などが配置されている。防眩膜付き透明基体10は、透明基体11の第2主面11b側が、表示パネル140および筐体120に接着剤層170を介して貼合されている。透明基体11の第2主面11bの外周部には遮光インクが印刷された印刷層180が形成されている。なお、表示装置100は、偏向基板、ピクセル基板、カラーフィルタなどを備えていてもよい。
また、第2実施形態の防眩膜付き透明基体20、第3実施形態の防眩膜付き透明基体30、第4実施形態の防眩膜付き透明基体40をカバー部材160として使用してもよい。
防眩性は、反射像拡散性指標値R(Reflection Image Diffusiveness index value)を用いて評価した。
以下、図5および図6を参照して、反射像拡散性指標値Rの測定方法について説明する。
図5には、カバー部材の反射像拡散性指標値Rを測定する際に使用される測定装置の一例を模式的に示す。
図5に示すように、測定装置501は、線状光源装置507および面輝度測定器515を有する。
線状光源装置507は、光源511と、その周囲の黒色平板512とを有する。光源511は、図5において、紙面に垂直な方向に延伸する線状光源であり、黒色平板512の中央に設けられたスリット状の開口部に設置される。
面輝度測定器515は、光源511の長手軸と直交する平面であって、光源511のほぼ中央を通る平面上に配置される。従って、面輝度測定器515は、長手軸に沿った光源511ほぼ中央の位置で、光源511と対向するように配置される。面輝度測定器515と光源511との間の距離は、約60mmである。
また、面輝度測定器515の焦点は、防眩膜付き透明基材520の外表面522で反射した線状光源装置507の像に合わせられる。
測定対象となる防眩膜付き透明基材520は、防眩膜の付いた外表面522が線状光源装置507および面輝度測定器515の側となるようにして、測定装置501内に配置される。実施例1,2および比較例1,2に係る防眩膜付き透明基材の場合、外表面522は、防眩膜の付いた外表面である。また、防眩膜の付いた面に対向する反対側の面は、三菱ペイントマーカーPX-30(三菱鉛筆製)を用いて充分黒く塗りつぶす。これは、測定時に、防眩膜付き透明基材の裏面/空気界面からの反射を無くすためである。
線状光源装置507から照射された光は、入射角θiで防眩膜付き透明基材520の外表面522に入射される。また、この光は、反射角θrで防眩膜付き透明基材520の外表面522で反射および/または散乱され、面輝度測定器515に入射される。
例えば、図5には、線状光源装置507からの第1の入射光531が外表面522で正反射され、第1の反射光532となり、面輝度測定器515に入射される様子が示されている。
この場合、第1の入射光531の入射角θiと、第1の反射光532の反射角θrとの間には、θr-θi=0°が成立する。
このような正反射の場合において、特に、入射角θi=反射角θr=5.7°の場合に、面輝度測定器515において測定される第1の反射光532の輝度をR1とする。ただし、実際には誤差が含まれるので、輝度R1は、θr-θi=5.7°±0.1°において測定される第1の反射光532の輝度である。
ここで、特に、第2の入射光533の入射角θiと、第2の反射光534の反射角θrとの間で、θr-θi=0.5°±0.1°が成立する場合の、面輝度測定器515において測定される、第2の反射光534の輝度をR2とする。
また、第2の入射光533の入射角θiと、第2の反射光534の反射角θrとの間で、θr-θi=-0.5°±0.1°が成立する場合の、面輝度測定器515において測定される、第2の反射光534の輝度をR3とする。
このようにして得られた各輝度R1、R2、およびR3を用いて、以下の(1)式により、カバー部材520の反射像拡散性指標値Rが算出される:
反射像拡散性指標値R=(R2+R3)/(2×R1) (1)式
なお、このような測定は、例えば、DM&S社製の装置SMS-1000を使用することにより実施できる。この装置を使用する場合、カメラレンズの焦点距離が16mmのC1614Aレンズを絞り5.6で使用する。また、外表面522からカメラレンズまでの距離は、約300mmであり、Imaging Scaleは、0.0276~0.0278の範囲に設定される。
また、この装置では、線状光源装置507の黒色平板512に形成されるスリットの開口部の寸法は、101mm×1mmである。
また、反射像拡散性指標値Rは、1.0に近い方が防眩性増大の観点から好ましい。
次に、透明基体のぎらつき指標値(Anti-Sparkle):Sの測定方法について図9を用いて説明する。
ここで、距離指数rは、固体撮像素子の焦点距離fおよび固体撮像素子と透明基体の間の距離dを用いて、以下の式で表される:
距離指数r=(固体撮像素子と防眩膜付き透明基体の間の距離d)/(固体撮像素子の焦点距離f)
ぎらつき指標値S=1-(Sa/Ss) 式(2)
このぎらつき指標値(Anti-Sparkle)Sは、観察者の目視によるぎらつきの判断結果と良好な相関関係を示すことが確認されている。例えば、ぎらつき指標値Sが小さな透明基体は、ぎらつきが顕著であり、逆にぎらつき指標値Sが大きな透明基体は、ぎらつきが抑制される傾向にある。
本願明細書では、視認性の指標として、以下の手順で測定される視認性指標値(Clarity):Tを用いる。
視認性(Clarity)とは、ガラス板を通して表示画を視認した際に、表示画とどの程度一致した像が得られるかを表すものであり、観察者の目視による視認性(解像性)の判断結果と良好な相関関係を示すことが確認されている。例えば、視認性指標値Tが小さな(0に近い)値を示すガラス板は視認性が劣り、逆に視認性指標値Tが大きな値を示すガラス板は、良好な視認性を有する。従って、この視認性指標値Tは、ガラス板の視認性を判断する際の定量的指標として使用できる。
視認性指標値Tの測定は、日本電色工業株式会社製変角光度計、GC5000Lを用いて、以下の手順で行った。まず、防眩膜付き透明基体の防眩膜が形成されている主面とは反対側から、防眩膜付き透明基体の厚さ方向と平行な方向を角度θ=0゜としたときに、角度θ=0゜±0.5゜の方向(以下、「角度0°の方向」ともいう)に、第1の光を照射した。第1の光は、防眩膜付き透明基体を透過し、防眩膜が形成されている主面からの透過光を受光し、その輝度を測定して、「0゜透過光の輝度」とした。
次に、防眩膜が形成されている主面から出射された光を受光する角度θを、-30゜~30゜の範囲で変化させ、同様の操作を実施した。これにより、防眩膜付き透明基体を透過して、防眩膜が形成されている主面から出射される光の輝度分布を測定して合計し、「全透過光の輝度」とした。
次に、以下の式(3)から、視認性指標値(Clarity):Tを算定した。
視認性指標値(Clarity):T=0゜透過光の輝度/全透過光の輝度・・・式(3)
実施例1では、以下の手順で図1に示す防眩膜付き透明基体10を作製した。低屈折率層12の構成材料は二酸化ケイ素(SiO2、nlow=1.46)、連続層の高屈折率層13の構成材料は二酸化チタン(TiO2、nhigh=2.47)とした。
二酸化ケイ素(SiO2)層形成用の塗布液は以下の手順で調製した。
テトラエトキシシラン、およびビストリメトキシシリルエタン、AGCエスアイテック社製サンラブリーを、SiO2換算固形分比で87.6:6.4:6となり、かつ、SiO2換算固形分濃度が3.11質量%となるように、マグネチックスターラーを用いて撹拌しているソルミックス(登録商標)AP-11(日本アルコール販売社製)に添加した。続いて、純水を10.86%となるように添加した後、25℃にて30分間混合した。その後、前記のテトラエトキシシラン、ビストリメトキシシリルエタン、及び液状媒体(AP-11及び純水)の混合液の量に対して、濃度60質量%の硝酸水溶液を0.54質量%滴下し、さらに、60℃で60分間混合して、酸化ケイ素(SiO2)層形成用の塗布液の前駆体液を得た。この前駆体液を、0.25質量%となるように、AP-11で希釈することで酸化ケイ素(SiO2)層形成用の塗布液を得た。
透明基体11の防眩膜14の形成されていない第2主面11bを、第2主面11bと空気界面での反射を消すために、三菱鉛筆製ペイントマーカーPX-30で充分に黒く塗りつぶした後、防眩膜付き透明基体10の第1主面11a側から可視光反射率を測定した。測定した可視光反射率は6.6%であった。
また、前述の(ぎらつき指標値S)の項に記載の手順で測定した、防眩膜付き透明基体10のぎらつき指標値Sは0.84であった。
また、前述の(視認性指標値T)の項に記載の手順で測定した、防眩膜付き透明基体10の視認性指標値Tは0.97であった。
透明基体11上に二酸化ケイ素(SiO2)層を静電塗装法により形成した後、高屈折率層13としての二酸化チタン(TiO2)層を形成しなかった以外は実施例と同様の手順を実施した。
また、JIS B0601-2001に規定されている方法に従って測定した防眩膜14表面のRSmは実施例と同じ18μmであった。
また、防眩膜付き透明基体10の反射像拡散性指標値Rは0.097であった。
また、防眩膜付き透明基体10のぎらつき指標値Sは0.92であった。
また、防眩膜付き透明基体10の視認性指標値Tは0.98であった。
また、防眩膜付き透明基体10の断面SEMより測定したRa,RSmはそれぞれ0.04μm、18μmであった。
実施例2では、以下の手順で図1に示す防眩膜付き透明基体10を作製した。低屈折率層12の構成材料は二酸化ケイ素(SiO2、nlow=1.46)、連続層の高屈折率層13の構成材料は二酸化チタン(TiO2、nhigh=2.47)とした。
透明基体11の防眩膜14の形成されていない第2主面11bを、第2主面11bと空気界面での反射を消すために、三菱鉛筆製ペイントマーカーPX-30で充分に黒く塗りつぶした後、可視光透過率を測定した。測定した可視光反射率は6.1%であった。
前述の(ぎらつき指標値S)の項に記載の手順で測定した防眩膜付き透明基体10のぎらつき指標値Sは0.87であった。
前述の(視認性指標値T)の項に記載の手順で測定した防眩膜付き透明基体10の視認性指標値Tは0.98であった。
また、前述の(透明基体の第1主面に対する面傾きが0.5°以下となる部位の面積比:算出方法2)の項に記載の手順で断面SEMより測定した0.5°以下となる部位の比は2.9%であった。
また、前述の(透明基体の第1主面に対する面傾きが0.5°以下となる部位の面積比:算出方法2)の項に記載の手順で断面SEMより測定したRa,RSmはそれぞれ0.06μm、14μmであった。
ガラス片面を実施例2と同条件でエッチング法によりエッチングすることにより表面に微細な凹凸を形成した後、TiO2層を形成しなかった以外は実施例2と同様の手順を実施した。
作製後の表面の算術平均粗さRaおよびRSmを東京精密社製SURFCOM1500SD3-12によりJIS B0601-2001に規定されている方法に従って測定したところ、Raは0.101μm、RSmは15μmであった。
防眩膜付き透明基体10のぎらつき指標値Sは0.91であった。
防眩膜付き透明基体10の視認性指標値Tは0.97であった。
また、防眩膜付き透明基体10の断面SEMより測定したRa,RSmはそれぞれ0.10μm、15μmであった。
11,21,31,41 透明基体
11a,21a,31a,41a 第1主面
11b,21b,31b,41b 第2主面
12,22,32,42 低屈折率層
13,23,33,43 高屈折率層
14,24,34,44 防眩膜
14a,24a,34a,44a 防眩膜最表面
100 表示装置
120 筐体
130 凹部
140 表示パネル
150 バックライト
160 カバー部材
170 接着剤層
180 印刷層
X0 正方形状データ
X1,X2,X3 反転・回転データ
501 測定装置
507 線状光源装置
511 光源
512 黒色平板
515 面輝度測定器
520 防眩膜付き透明基材
522 外表面
531 第1の入射光
532 第1の反射光
533 第2の入射光
534 第2の反射光
803 防眩膜付き透明基体
804 第1の主面
805 第2の主面
806 表示装置
Claims (11)
- 第1主面と第2主面とを備える透明基体と、第1主面上に形成された防眩膜と、を有する防眩膜付き透明基体であって、
前記防眩膜が、前記透明基体の第1主面上に形成された低屈折率層と、前記低屈折率層中に形成され、前記低屈折率層とは屈折率が異なる高屈折率層と、で構成されており、
前記低屈折率層は、波長550nmでの屈折率をnlowとすると、nlowが1.4~1.8であり、
前記高屈折率層は、波長550nmでの屈折率をnhighとすると、nhighが前記nlowよりも0.5以上高く、
前記高屈折率層は、前記透明基体の第1主面に対する面傾きが0.5°以下となる部位の面積比が15%以下であり、
前記防眩膜付き透明基体の第1主面側最表面の粗さ曲線の要素の平均長さRSmが50μm以下である、防眩膜付き透明基体。 - 前記高屈折率層は、2層以上の層からなる、請求項1に記載の防眩膜付き透明基体。
- 前記透明基体の第2主面を黒く塗りつぶし、第1主面側から測定した可視光反射率が0.2~8%である、請求項1または2に記載の防眩膜付き透明基体。
- 第1主面側から測定した波長380~780nmにおける反射率の平均値(可視光反射率)から、第2主面と空気界面での波長380~780nmにおける反射率の平均値(可視光反射率)と、第1主面と空気界面での波長380~780nmにおける反射率の平均値(可視光反射率)との合計を差し引いた値が0.2~4%である、請求項1~3のいずれか一項に記載の防眩膜付き透明基体。
ここで、第1主面側から測定した波長380~780nmにおける反射率の平均値(可視光反射率)の値は、JIS R3106に準拠して測定した実測値であり、第2主面と空気界面での波長380~780nmにおける反射率の平均値(可視光反射率)と、第1主面と空気界面での波長380~780nmにおける反射率の平均値(可視光反射率)は、理想的に平坦な面に同じ膜厚、同じ屈折率と減衰係数との積nkの値で積層した構成における光学計算値である。 - 第1主面と第2主面とを備える透明基体と、第1主面上に形成された防眩膜と、を有する防眩膜付き透明基体であって、
前記防眩膜が、前記透明基体の第1主面上に形成された高屈折率層と、前記高屈折率層中に形成された前記高屈折率層とは屈折率が異なる低屈折率層と、で構成されており、
前記高屈折率層は、波長550nmでの屈折率をnhighとすると、nhighが1.4~1.8であり、
前記低屈折率層は、波長550nmでの屈折率をnlowとすると、nlowが前記nhighよりも0.5以上低く、
前記低屈折率層は、前記透明基体の第1主面に対する面傾きが0.5°以下となる部位の面積比が15%以下であり、
前記防眩膜付き透明基体の第1主面側最表面の粗さ曲線の要素の平均長さRSmが50μm以下である、防眩膜付き透明基体。 - 前記低屈折率層の主成分がシリカである、請求項5に記載の防眩膜付き透明基体。
- 前記低屈折率層は、2層以上の層からなる、請求項5または6に記載の防眩膜付き透明基体。
- 前記透明基体の第2主面を黒く塗りつぶし、第1主面から測定した可視光反射率が0.2~8%である、請求項5~7のいずれか一項に記載の防眩膜付き透明基体。
- 第1主面側から測定した波長380~780nmにおける反射率の平均値(可視光反射率)から、第2主面と空気界面での波長380~780nmにおける反射率の平均値(可視光反射率)と、第1主面と空気界面での波長380~780nmにおける反射率の平均値(可視光反射率)との合計を差し引いた値が0.2~4%である、請求項5~8のいずれか一項に記載の防眩膜付き透明基体。
ここで、第1主面側から測定した波長380~780nmにおける反射率の平均値(可視光反射率)の値は、JIS R3106に準拠して測定した実測値であり、第2主面と空気界面での波長380~780nmにおける反射率の平均値(可視光反射率)と、第1主面と空気界面での波長380~780nmにおける反射率の平均値(可視光反射率)は、理想的に平坦な面に同じ膜厚、同じ屈折率と減衰係数との積nkの値で積層した構成における光学計算値である。 - 請求項1~9のいずれか一項に記載の防眩膜付き透明基体をカバー部材とし、前記透明基体の第2主面と表示パネルとを接着剤層を介して貼りつけた構造を有する表示装置。
- 第1主面と第2主面とを備える透明基体と、第1主面上に形成された防眩膜と、を有する防眩膜付き透明基体であって、
前記防眩膜が、前記透明基体の第1主面上に形成された低屈折率層と、前記低屈折率層中に形成された前記低屈折率層とは屈折率が異なる高屈折率層と、で構成されており、
前記低屈折率層は、波長550nmでの屈折率をnlowとすると、nlowが1.4~1.8であり、
前記高屈折率層は、波長550nmでの屈折率をnhighとすると、nhighが前記nlowよりも0.5以上高く、
断面SEM像において、前記高屈折率層が、主面に対して0.5度以下の傾きである部分を透明基体主面に平行な線に投影した長さを測定し、これらを合計したとき、幅400μmに対する長さの合計の割合が15%以下であり、かつ、高屈折率層の2次元プロファイルから求めた算術平均粗さRaが0.01μm以上0.4μm以下であり、かつ、第1主面側最表面の粗さ曲線の要素の平均長さRSmは0.8μm以上50μm以下である、防眩膜付き透明基体。
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