JP7139745B2 - 離型用二軸配向ポリエステルフィルム - Google Patents
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Description
f=V/Dm3
ここでVは粒子体積(μm3),Dmは粒子の投影面における最大径(μm)である。
フィルムからサンプリングしたポリマーをプラズマ低温灰化処理法で除去し、粒子を露出させる。処理条件は、ポリマーは灰化されるが粒子は極力ダメージを受けない条件を選択する。その粒子を走査型電子顕微鏡(SEM;株式会社日立製作所製 S-4000型)で観察し、粒子画像をイメージアナライザ(株式会社ニレコ製 LUZEX_AP)に取り込み、等価円相当径を測定し、粒子の体積平均粒子径を求める。SEMの倍率は粒径により、5,000~20,000倍から適宜選択する。任意に観察箇所をかえて、少なくとも5,000個の粒子ので粒径の等価円相当径を測定し、その平均値から体積平均粒子径を求める。
走査型電子顕微鏡で、粒子の写真を例えば5,000倍で10視野撮影した上、画像解析処理装置を用いて、投影面最大径および粒子の平均体積を算出し、下記式により体積形状係数を得る。
f = V/ Dm3
ここで、Vは粒子の平均体積(μm3)、Dmは投影面の最大径(μm)である。
透過型電子顕微鏡(TEM;日立(株)製H-600型)を用いて、加速電圧100kVで、フィルムの断面を、超薄切片(RuO4染色)で観察する。その断面全体から全厚みを求め、積層厚みについては、その界面に観察される粒子の最も深い地点から表面からの深さ、つまり積層されている厚みを求める。倍率は測定するフィルムの全厚み、層厚みによって適宜倍率を設定すればよいが、一般的には全厚み測定には1,000倍、積層厚み測定には1万~10万倍が適当である。
三次元微細表面形状測定器(小坂製作所製ET-350K)を用いて測定し、得られた表面のプロファイル曲線より、JIS・B0601(1994年)に準じ、算術平均粗さSRa値、十点平均面粗さSRp値を求める。測定条件は下記のとおり。
X方向測定長さ:0.5mm、X方向送り速度:0.1mm/秒。
Y方向送りピッチ:5μm、Y方向ライン数:40本。
カットオフ:0.25mm。
触針圧:0.02mN。
高さ(Z方向)拡大倍率:5万倍。
(1)ポリエステルペレットの作成
(ポリエステルAの作成)
テレフタル酸86.5質量部とエチレングリコール37.1質量部を255℃で、水を留出しながらエステル化反応を行う。エステル化反応終了後、トリメチルリン酸0.02質量部、酢酸マグネシウム0.06質量部、酢酸リチウム0.01質量部、三酸化アンチモン0.0085質量部を添加し、引き続いて、減圧下、290℃まで加熱、昇温して重縮合反応を行い、固有粘度0.63dl/gのポリエステルペレットAを得た。
上記と同様にポリエステルを製造するにあたり、エステル交換後、球状シリカを添加し、重縮合反応を行い、粒子をポリエステルに対し1質量%含有するシリカ含有マスターペレットを得た(ポリエステルB)。
さらに別に、シード法によるジビニルベンゼン80質量%、エチルビニルベンゼン15質量%、スチレン5質量%からなるジビニルベンゼン/スチレン共重合架橋粒子(架橋度80%)の水スラリーを、上記の実質的に粒子を含有しないホモポリエステルペレットに、ベント式二軸混練機を用いて含有させ、体積平均粒子径0.3μmのジビニルベンゼン/スチレン共重合架橋粒子をポリエステルに対し1質量%含有するマスターペレットを得た(ポリエステルC)。また粒径の異なるジビニルベンゼン/スチレン共重合架橋粒子をポリエステルに対し1質量%含有マスターペレット(ポリエステルD)を同様にして得た。
炭酸カルシウム粒子10質量部とエチレングリコール90質量部を湿式粉砕し、炭酸カルシウム/エチレングリコール分散スラリー(A)を得た。他方、ジメチルテレフタレート100質量部、エチレングリコール64質量部に触媒として酢酸マンガン0.04質量部、三酸化アンチモン0.03質量部を加えエステル交換反応を行い、その後反応生成物に、リン化合物としてトリメチルホスフェート0.04質量部を加え、さらにその後、先に調整したスラリー(A)1質量部を加えて重縮合反応を行い、ポリエステルに対し1質量%炭酸カルシウム含有するマスターペレット(ポリエステルE、F)を得た。
ポリエステルA: 93.4
ポリエステルC: 6.0
ポリエステルD: 0.6。
A層、B層、C層それぞれの層の押出機に供給するポリエステルペレットは、以下の比率にて調合した。なお以下に記載する比率は、おのおのの層を構成するポリエステルペレットに対する質量比(単位:質量%)である。
ポリエステルA:100.0
B層
ポリエステルA:40.0
回収原料A :60.0
C層
ポリエステルA:88.0
ポリエステルB:12.0。
先述の、各層について調合した原料を、ブレンダー内で攪拌した後、A層およびC層の原料は、攪拌後の原料を、A層およびC層用のベント付き二軸押出機に供給し、B層の原料は160℃で8時間減圧乾燥し、B層用の一軸押出機に供給した。275℃で溶融押出し、3μm以上の異物を95%以上捕集する高精度なフィルターにて濾過した後、矩形の異種3層用合流ブロックで合流積層し、A層、B層、C層からなる3層積層とした。その後、285℃に保ったスリットダイを介し冷却ロール上に静電印加キャスト法を用いて表面温度25℃のキャスティングドラムに巻き付け冷却固化して未延伸積層フィルムを得た。
次にこの二軸延伸フィルムのロールに、架橋プライマー層(東レ・ダウコーニング・シリコーン(株)製商品名BY24-846)を固形分1質量%に調整した塗布液を塗布/乾燥し、乾燥後の塗布厚みが0.1μmとなるようにグラビアコーターで塗布し、100℃で20秒乾燥硬化した。その後1時間以内に付加反応型シリコーン樹脂(東レ・ダウコーニング・シリコーン(株)製商品名LTC750A)100質量部、白金触媒(東レ・ダウコーニング・シリコーン(株)製商品名SRX212)2質量部を固形分5質量%に調整した塗布液を、乾燥後の塗布厚みが0.1μmとなるようにグラビアコートで塗布し、120℃で30秒乾燥硬化した後に巻き取り、離型フィルムを得た。
チタン酸バリウム(富士チタン工業(株)製商品名HPBT-1)100質量部、ポリビニルブチラール(積水化学(株)製商品名BL-1)10質量部、フタル酸ジブチル5質量部とトルエン-エタノール(質量比30:30)60質量部に、数平均粒径2mmのガラスビーズを加え、ジェットミルにて20時間混合・分散させた後、濾過してペースト状のセラミックスラリーを調整した。得られたセラミックスラリーを、離型フィルムの上に乾燥後の厚みが0.8μmとなるように、ダイコーターにて塗布し乾燥させ、巻き取り、グリーンシートを得た。
離型フィルムの上に成型されたグリーンシートについて、背面から1,000ルクスのバックライトユニットで照らしながら、塗布抜けによるピンホールあるいは、離型フィルム背面の表面転写による凹み状態を観察する。
A:ピンホールも凹みも無い。
B:ピンホールは無く、凹みが3個以内認められる
C:ピンホールが有り、また凹みが4個以上認められる。
A層、C層に入れる粒子種を変更した以外は実施例1と同じ製法にて厚さ31μm(実施例2~5)、20μm(実施例6)の二軸延伸フィルムのロールを得た。離型層の塗布、グリーンシートの成型(セラミックススラリーの塗布)についても、実施例1と同様の方法で実施・評価した(以降、実施例、比較例とも同様な加工工程にて実施・評価した)。
実施例1の実施形態にて、A層の厚みやB層に入れる粒子種や厚み等を変更した以外は実施例1と同じ製法にて二軸延伸フィルムのロールを得た。
Claims (5)
- 表層(A層)、中間層(B層)、表層(C層)の3層からなり、成型後の部材が剥離される表層であるA層は実質的に粒子を含有しておらず、積層厚みが0.5μm以上2.5μm以下の層であり、B層は体積平均粒子径(dB)が0.05μm以上2.0μm以下の粒子を0.05質量%以上0.5質量%以下含有し、積層厚みが12.0μmを超える層である離型用二軸配向ポリエステルフィルム。
- A層の表面について、中心線粗さSRa(A)が1nm以上9nm以下、SRpが100nm以下であり、C層の表面について、中心線粗さSRa(C)が10nm以上30nm以下、SRpが300nm以下である、請求項1に記載の離型用二軸配向ポリエステルフィルム。
- B層が体積形状係数0.3以上の粒子を含有する、請求項1または2に記載の離型用二軸配向ポリエステルフィルム。
- C層が体積形状係数0.3以上の粒子を含有する、請求項1~3のいずれかに記載の離型用二軸配向ポリエステルフィルム。
- B層が、ポリエステルフィルム製造工程において発生する二軸延伸後の発生屑を回収原料として含む、請求項1~4のいずれかに記載の離型用二軸配向ポリエステルフィルム。
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