JP7126147B2 - 非破壊試験方法 - Google Patents
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Description
実際に試験する上では、それぞれの結果単独ではなく、両方の試験結果を組み合わせて多角的に判断する必要がある。例えば、X線撮影により異物が見つかったとしても、それがリークに繋がっていなければ、問題ない場合も考えられる。あるいはリークがあった場合、その部分のX線撮影により何が原因なのかを把握することができるなど、両方の試験結果を組み合わせて多角的に判断することができる場合がある。
また、LIBのようにラミネート包装されている場合、包装の外部に印をつけても内部の電極等との位置関係がずれてしまうという問題もある。
しかしながら、LIBのようにラミネート包装されている試験対象は、外形的特徴が安定しておらず、先の試験から後の試験の間に外形が変化してしまうおそれがある。また、特許文献1に記載の発明にあっては、いずれの試験も試験に先立ってカメラで画像を撮影するなどして光学的な探索を行っており、試験前に位置特定のための工程を要するとともに、上述したようにカメラ等を追加することで装置が大掛かりになるという課題がある。
前記複数の非破壊試験手段のうち一の非破壊試験手段による試験結果中の前記試験対象上にマーキング位置を決定して装置に記憶させるとともに、同マーキング位置に相当する前記試験対象上にその他の非破壊試験手段により検出可能なマークを固定的に形成した後、
前記その他の非破壊試験手段により前記マークを含めて前記試験対象を試験し、
前記マークを基準にして、前記複数の非破壊試験手段による試験結果同士を対照する非破壊試験方法である。
前記マークを構成する素材には、磁性体が含まれている請求項1から請求項5のうちいずれか一に記載の非破壊試験方法である。
まず、試験Aを行う(図1A)。例えば図1Aに示すように試験Aにおいて試験対象1(例えば上述のLIB)に特異箇所e1,e2,e3が検出されたとする。特異箇所とは、異常箇所、異常箇所と疑われる箇所、要追試験箇所などである。
次に、試験Aにおける試験結果(図1A)中にマーキング位置を決定して装置に記憶
させるとともに、同マーキング位置に相当する試験対象1上に試験B、C・・・において検出可能なマークm1,m2,m3を固定的に形成する(図1B)。
例えば、試験AとしてX線撮影装置により試験を行い、試験Bとして磁場分布測定装置により試験を行う。この場合、マークを構成する素材としては、磁性体が含まれているものを適用する。例えばマークの印刷において磁性体を含んだインクを適用する。
X線撮影装置としてX線タルボ撮影装置(特許文献2参照)を適用することができる。X線タルボ撮影装置によると、通常のX線検査より高コントラストである。
なお、磁場分布測定装置に搭載される磁気センサとしては、MRセンサ、MIセンサ、TMRセンサ(トンネル型磁気抵抗センサ)などが適用される。より高感度なTMRセンサ(トンネル型磁気抵抗センサ)を適用することが好ましい。
また、試験Bにおける試験結果に基づき、新たなマークg1をつけて、その後の試験C以降で利用してもよい。すなわち、試験C以降でマークm1,m2,m3及びマークg1を基準に解析すべき個所を選定することができる。
以後試験D以降も同様に実施でき、試験が増えるごとにマークを増やすことができるが、位置決めのためのマークm1,m2,m3は、試験Aの試験結果が出た後に決定し、試験Bの試験前に試験対象1上に形成する。
以上により、種類の異なる複数の試験間で試験対象上の同一箇所を正確に把握、比較することができ、不良の原因解析や出荷検査を効率的に行うことができる。
例えば試験AでX線撮影装置により試験対象の全面を試験した結果から特定した特異箇所e1,e2,e3を、試験Bで磁場分布測定装置により細かく測定する方法が考えられる。X線撮影は全面を一度に撮影でき短時間で試験できるのに対して、磁場分布測定は測定ヘッドを走査しながら測定する方式など、試験対象の面積が広いと時間を要する場合がある。このような場合に、X線撮影で見つかった特異箇所だけを磁場分布測定装置で細かく試験する方法であれば試験時間を短縮することができる。
以上の実施形態にかかわらず、マーキング前の先行の試験A以後のその他の試験は一つでもよい。また、その他の試験が2以上ある場合、すなわち、その他の非破壊試験手段が2以上あるとき、これらが同時に行われても本発明の実施上特に問題はない。
以上の実施形態では、マークm1,m2,m3及びマークg1を、各試験で発見した特異箇所を指す図形(円、照準記号(aiming symbol)等)とし、図形から特異箇所を決定するルール(円内が特異箇所など)を各試験で共有したが、試験Aでの特異箇所の有無、位置に拘わらず位置決めに必要なマークm1,m2,m3を試験対象1の縁部などの予め決められた位置にするなどして、マークm1,m2,m3を基準にした特異箇所の座標情報を各試験で共有してもよい。試験Aで特異箇所が発見できなかった場合のマークm1,m
2,m3のマーキング位置は任意であるが、このように予め決められた位置(縁部など)にしてもよい。試験Aで特異箇所が発見できなかった場合に限りマークm1,m2,m3のマーキング位置を予め決められた位置(縁部など)にしてもよいし、すべての場合にマークm1,m2,m3のマーキング位置を予め決められた位置(縁部など)にしてもよい。
e1,e2,e3 特異箇所
f1,f2 特異箇所
m1,m2,m3 マーク
Claims (6)
- 種類の異なる複数の非破壊試験手段を用いて試験対象を試験するにあたり、
前記複数の非破壊試験手段のうち一の非破壊試験手段による試験結果中の前記試験対象上にマーキング位置を決定して装置に記憶させるとともに、同マーキング位置に相当する前記試験対象上にその他の非破壊試験手段により検出可能なマークを固定的に形成した後、
前記その他の非破壊試験手段により前記マークを含めて前記試験対象を試験し、
前記マークを基準にして、前記複数の非破壊試験手段による試験結果同士を対照する非破壊試験方法。 - 前記一の非破壊試験手段による試験結果に基づき前記マークキング位置を基準にして特異箇所を特定した後、前記その他の非破壊試験手段により当該特異箇所を集中的に試験する請求項1に記載の非破壊試験方法。
- 前記マークに位置基準以外の情報を割り当て、同情報を記録保持する前記マークを前記試験対象上に固定的に形成した後、同情報を前記その他の非破壊試験手段の試験結果から読み取る請求項1又は請求項2に記載の非破壊試験方法。
- 前記種類の異なる複数の非破壊試験手段には、X線撮影手段、磁場分布測定手段、サーモグラフィー撮影手段及び硬度測定手段のうちいずれか2以上が含まれる請求項1から請求項3のうちいずれか一に記載の非破壊試験方法。
- 前記種類の異なる複数の非破壊試験手段には、前記X線撮影手段としてX線タルボ撮影装置が含まれる請求項4に記載の非破壊試験方法。
- 前記その他の非破壊試験手段には、前記磁場分布測定手段が含まれ、
前記マークを構成する素材には、磁性体が含まれている請求項1から請求項5のうちいずれか一に記載の非破壊試験方法。
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