JP6885236B2 - 蓄電デバイスの短絡検査方法及び蓄電デバイスの製造方法 - Google Patents

Description

本発明は、蓄電デバイスの内部短絡を検査する蓄電デバイスの短絡検査方法、及び、この短絡検査方法を含む蓄電デバイスの製造方法に関する。

リチウムイオン二次電池などの蓄電デバイスの製造に当たっては、電極体等の内部に鉄や銅などの金属異物が混入する場合があり、混入した金属異物に起因して蓄電デバイスに内部短絡（以下、単に短絡とも言う）が生じることがある。このため、蓄電デバイスの製造過程において、蓄電デバイスに内部短絡が生じているか否かを検査することがある。

この内部短絡の検査手法としては、例えば、以下が知られている。即ち、組み立てた蓄電デバイスを初充電した後、蓄電デバイスを高温下で放置しエージングする。その後、蓄電デバイスを放置して自己放電させ（端子開放した状態で放電させ）、この自己放電前後にそれぞれ測定したデバイス電圧から自己放電による電圧低下量ΔＶａを求める。そして、この電圧低下量ΔＶａが基準低下量ΔＶｂよりも大きい場合に（ΔＶａ＞ΔＶｂ）、その蓄電デバイスに短絡が生じていると判定する。なお、関連する従来技術として、特許文献１（特許文献１の特許請求の範囲等を参照）が挙げられる。

特開２０１０−１５３２７５号公報

しかしながら、上述のように電圧低下量ΔＶａの多寡に基づいて内部短絡の有無を検知する手法では、電圧計の測定分解能（例えば１０μＶ）などを考慮すると、内部短絡を生じていない蓄電デバイス（良品）と内部短絡を生じている蓄電デバイス（不良品）とを適切に区別するには、良品の電圧低下量ΔＶａと不良品の電圧低下量ΔＶａとの差が、電圧測定の測定分解能に対して十分に大きくなるまで、例えば２０倍以上（２００μＶ以上）となるまで待つ必要がある。しかるに、蓄電デバイスの容量が大きい場合や許容する短絡電流が小さい場合などでは、電圧低下量ΔＶａの測定時間（自己放電させる時間）を長期間、例えば数日以上要する場合があり、内部短絡の検査時間及び蓄電デバイスの製造時間が長く掛かるなど、上述の電圧低下量ΔＶａによって蓄電デバイスの短絡を検知する手法には限界が生じており、新たな検査手法が求められていた。

本発明は、かかる現状に鑑みてなされたものであって、新たな手法により蓄電デバイスの内部短絡を検査できる蓄電デバイスの短絡検査方法、及び、この短絡検査方法を含む蓄電デバイスの製造方法を提供することを目的とする。

上記課題を解決するための本発明の一態様は、蓄電デバイスの内部短絡を検査する蓄電デバイスの短絡検査方法であって、予め充電された上記蓄電デバイスの検知前デバイス電圧ＶＢ１を測定する電圧測定工程と、外部電源から、上記検知前デバイス電圧ＶＢ１に等しい出力電圧ＶＳ（ＶＳ＝ＶＢ１）を、上記蓄電デバイスに印加し続けて、上記外部電源から上記蓄電デバイスに流れる電流ＩＢの経時変化または安定時電流値ＩＢｓを検知する電流検知工程と、検知した上記電流ＩＢの経時変化または上記安定時電流値ＩＢｓに基づいて、上記蓄電デバイスの内部短絡を判定する判定工程と、を備え、上記電圧測定工程は、上記外部電源の一対のプローブを上記蓄電デバイスの一対の端子部材にそれぞれ接触させ、上記電流ＩＢ＝０の条件下で、上記蓄電デバイスの上記検知前デバイス電圧ＶＢ１を測定し、上記電流検知工程は、上記電圧測定工程における、上記外部電源の上記一対のプローブと上記蓄電デバイスの上記一対の端子部材との接触状態を維持して、０から電圧印加時間の経過と共に徐々に増加し、その後に一定の上記安定時電流値ＩＢｓとなる上記電流ＩＢの経時変化または上記安定時電流値ＩＢｓを検知する蓄電デバイスの短絡検査方法である。

上述の蓄電デバイスの短絡検査方法では、上述の電圧測定工程、電流検知工程及び判定工程を行い、電圧低下量ΔＶａではなく、電流ＩＢの経時変化または安定時電流値ＩＢｓに基づいて、蓄電デバイスの内部短絡を判定する。かくして、外部電源から蓄電デバイスに流れる電流ＩＢを用いる新たな手法によって、蓄電デバイスの内部短絡を検査できる。

なお、上述の蓄電デバイスの短絡検査方法は、後述するように、蓄電デバイスの製造過程において行うことができるほか、自動車等に搭載された或いは単独で市場に置かれた以降の使用済の蓄電デバイスに対して行うこともできる。
「蓄電デバイス」としては、例えば、リチウムイオン二次電池等の電池、電気二重層キャパシタ、リチウムイオンキャパシタ等のキャパシタが挙げられる。

「判定工程」において、「安定時電流値ＩＢｓ」に基づいて内部短絡を判定する手法としては、例えば、検査した蓄電デバイスの安定時電流値ＩＢｓが、基準電流値ＩＫよりも大きい場合に（ＩＢｓ＞ＩＫ）、その蓄電デバイスを不良品と判定する手法が挙げられる。また、安定時電流値ＩＢｓの大きさに基づいて、その蓄電デバイスの内部短絡の程度をランク分けする判定手法も挙げられる。
また、「電流ＩＢの経時変化」に基づいて内部短絡を判定する手法としては、所定の検知期間ＱＴに増加した電流ＩＢの電流増加量ΔＩＢが基準増加量ΔＩＢｋよりも大きい場合に（ΔＩＢ＞ΔＩＢｋ）、その蓄電デバイスを不良品と判定する手法が挙げられる。また、この電流増加量ΔＩＢの大きさに基づいて、その蓄電デバイスの内部短絡の程度をランク分けする判定手法も挙げられる。

「予め充電された蓄電デバイス」としては、例えば、ＳＯＣ７０％以上に充電された蓄電デバイスであることが好ましく、更には、ＳＯＣ９０％以上に充電された蓄電デバイスであることが特に好ましい。このように充電状態を高く（デバイス電圧ＶＢを高く）しておくと、電流検知工程で検知される電流ＩＢ或いは安定時電流値ＩＢｓの値も大きくなるため、判定工程で電流ＩＢの経時変化または安定時電流値ＩＢｓに基づいた内部短絡の判定をより適切に行うことができる。

更に、上記の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、前記電圧測定工程及び前記電流検知工程を、上記蓄電デバイスのデバイス温度ＴＢが定温のデバイス検査温度ＴＢ１である条件下で行う蓄電デバイスの短絡検査方法とすると良い。

デバイス温度ＴＢが変化すると、デバイス電圧ＶＢ、並びに、電流検知工程で検知される電流ＩＢ及び安定時電流値ＩＢｓも変化することが判ってきた。このため、電圧測定工程及び電流検知工程におけるデバイス温度ＴＢの変動が大き過ぎると、判定工程で適切に内部短絡を判定できなくなるおそれがある。これに対し、上述の短絡検査方法では、電圧測定工程及び電流検知工程を定温のデバイス検査温度ＴＢ１下で行っているので、上述の問題が生じ得ず、判定工程で適切に内部短絡の判定を行うことができる。

なお、「定温のデバイス検査温度ＴＢ１」は、電圧測定工程及び電流検知工程を行ういずれの蓄電デバイスも、予め定めた温度（例えば２０℃）であること、つまり蓄電デバイス相互に同じ温度である必要はない。即ち、蓄電デバイス毎に、例えば１９℃、２１℃など、異なるデバイス検査温度ＴＢ１であってもよいが、１つの蓄電デバイスについて見れば、電圧測定工程及び電流検知工程を通じて、一定のデバイス検査温度ＴＢ１であることが望ましい。

また、デバイス検査温度ＴＢ１として、電圧測定工程及び電流検知工程の間、厳密に同一温度を維持することは困難である。短絡検知の妨げとならない程度のデバイス温度の温度変動は許容されるから、「定温」とは、実質的に同一温度と見なし得る許容温度変動範囲ＤＴＢ内のデバイス温度（例えば、２０℃±０．５℃以内）であることをいう。
また、「デバイス検査温度ＴＢ１」は、０〜３０℃の温度範囲から選択した温度の定温とするのが好ましい。常温或いは常温に近く、蓄電デバイスの冷却や加熱が不要、或いは冷却や加熱のための電力等のエネルギを抑制できるからである。

更に、上記の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、前記電圧測定工程の前、並びに、上記電圧測定工程及び前記電流検知工程の途中にこれらの工程と並行して、上記蓄電デバイスのデバイス温度ＴＢ（ｎ）（ｎは自然数）を、間隔を空けて複数回測定し、得られた上記デバイス温度ＴＢ（ｎ）の変動が許容温度変動範囲ＤＴＢ内の場合に、上記電圧測定工程及び上記電流検知工程を継続する、デバイス温度チェック工程を備える蓄電デバイスの短絡検査方法とすると良い。

上述の短絡検査方法は、上述のデバイス温度チェック工程を備えるため、デバイス温度ＴＢ（ｎ）の変動が許容温度変動範囲ＤＴＢ内に収まっている場合にのみ、電圧測定工程及び電流検知工程を継続できる。かくして、蓄電デバイスのデバイス温度ＴＢを前述のように定温のデバイス検査温度ＴＢ１として、電圧測定工程及び電流検知工程を行うことができる。

更に、上記のいずれかに記載の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、前記電圧測定工程の前、並びに、上記電圧測定工程及び前記電流検知工程の途中にこれらの工程と並行して、上記蓄電デバイスの環境温度ＴＫ（ｎ）（ｎは自然数）を、間隔を空けて複数回測定し、得られた上記環境温度ＴＫ（ｎ）の変動が許容温度変動範囲ＤＴＫ内の場合に、上記電圧測定工程及び上記電流検知工程を継続する、環境温度チェック工程を備える蓄電デバイスの短絡検査方法とすると良い。

前述したように、電圧測定工程及び電流検知工程におけるデバイス温度ＴＢの変動が大き過ぎると、判定工程で適切に内部短絡を判定できなくなるおそれがある。一方、環境温度ＴＫは、デバイス温度ＴＢほどには直接的な影響はない。しかし、環境温度ＴＫに変動が生じると、遅れてデバイス温度ＴＢにも変動が現れることから、環境温度ＴＫの変動も判定工程での内部短絡の判定に影響を及ぼす場合がある。これに対し、上述の短絡検査方法では、上述の環境温度チェック工程を備え、環境温度ＴＫ（ｎ）の変動が許容温度変動範囲ＤＴＫ内の場合に、電圧測定工程及び電流検知工程を継続するので、その後の判定工程において適切に内部短絡の判定を行うことができる。

なお、環境温度ＴＫは、いずれの蓄電デバイスについても、蓄電デバイス相互に同じ温度である必要はない。即ち、蓄電デバイス毎に、例えば１９℃、２１℃など、異なる環境温度ＴＫであってもよく、その場合、蓄電デバイス毎に、環境温度ＴＫ（ｎ）の変動が許容温度変動範囲ＤＴＫ内であることが求められる。

更に、上記のいずれかに記載の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、前記電圧測定工程の前に、予め定めた放置時間ＰＴにわたり、予め充電された上記蓄電デバイスを４０〜８５℃の環境温度ＴＫ下に放置する高温エージング工程と、上記高温エージング工程の後、強制冷却または放置冷却により、上記蓄電デバイスのデバイス温度ＴＢを前記デバイス検査温度ＴＢ１とする冷却工程と、を備える蓄電デバイスの短絡検査方法とすると良い。

電圧測定工程を行うにあたり、蓄電デバイスのデバイス電圧ＶＢが不安定であるのは好ましくない。これに対し、上述の短絡検査方法では、電圧測定工程の前に、上述の高温エージング工程を備える。高温エージング工程を行うことにより、デバイス電圧ＶＢの安定化を促進できるので、これを行わない場合に比して早期に、電圧測定工程及び電流検知工程を行うことができる。また、高温エージング工程の後に冷却工程を行って、蓄電デバイスのデバイス温度ＴＢをデバイス検査温度ＴＢ１としているので、デバイス検査温度ＴＢ１とした蓄電デバイスについて電圧測定工程を行うことができる。

なお、高温エージング工程では、この高温エージング工程における環境温度ＴＫ及び高温放置時間の長さを、高温エージング工程及び冷却工程終了後の電池について、電流検知工程の期間中（例えば本実施形態では、３時間）に生じ得る電池電圧の変動の大きさが、許容できる範囲（例えば、電圧計の検知精度）以下になると見込まれる温度及び長さに設定すると良い。

更に、上記のいずれかに記載の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、前記電圧測定工程の前に、予め充電された上記蓄電デバイスを、前記デバイス検査温度ＴＢ１と同じ環境温度ＴＫ（ＴＫ＝ＴＢ１）下に放置して、上記蓄電デバイスの前記デバイス温度ＴＢを上記デバイス検査温度ＴＢ１とする放置工程を備える蓄電デバイスの短絡検査方法とすると良い。

前述したように、電圧測定工程を行うにあたり、蓄電デバイスのデバイス電圧ＶＢが不安定であるのは好ましくない。これに対し、上述の短絡検査方法では、電圧測定工程の前に放置工程を行うことにより、デバイス電圧ＶＢを安定化できるので、デバイス電圧ＶＢが安定となった蓄電デバイスについて電圧測定工程を行うことができる。また、放置工程で蓄電デバイスのデバイス温度ＴＢをデバイス検査温度ＴＢ１としているので、デバイス検査温度ＴＢ１とした蓄電デバイスについて電圧測定工程を行うことができる。

なお、放置工程では、放置時間の長さを、放置工程終了後の電池について、電流検知工程の期間中（例えば本実施形態では、３時間）に生じ得る電池電圧の変動の大きさが、許容できる範囲（例えば、電圧計の検知精度）以下になると見込まれる長さに設定すると良い。

更に、上記のいずれかに記載の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、前記電圧測定工程及び前記電流検知工程を、上記蓄電デバイスの正極板と負極板とこれらの間に介在するセパレータとを、上記蓄電デバイスの外部から予め定めた圧縮力で、上記セパレータの厚み方向に圧縮した状態で行う蓄電デバイスの短絡検査方法とすると良い。

電圧測定工程及び電流検知工程を行うにあたり、蓄電デバイスの正極板、セパレータ及び負極板を上述のように圧縮すると、正極板と負極板との間隔が狭くなって、正極板と負極板との間に存在している金属異物が、より確実に正極板や負極板に接触する。これにより、金属異物に起因した内部短絡によって蓄電デバイスに流れる電流ＩＢをより適切に測定できる。

なお、「セパレータの厚み方向に圧縮する」とは、蓄電デバイスが、矩形状等の複数の正極板及び複数の負極板がそれぞれセパレータを介して積層された積層型の電極体を備える場合には、正極板、セパレータ及び負極板の積層方向に圧縮することを指す。また、蓄電デバイスが、帯状のセパレータを介して互いに重なった帯状の正極板及び帯状の負極板が扁平状の捲回された扁平状捲回型の電極体を備える場合には、帯状のセパレータの大半をその厚み方向に圧縮する、扁平捲回体の厚み方向への圧縮を指す。

また、他の態様は、組み立てた未充電の蓄電デバイスを予め定めた充電状態まで初充電して、予め充電された蓄電デバイスとする初充電工程と、上記のいずれか一項に記載の蓄電デバイスの短絡検査方法により、上記蓄電デバイスの内部短絡を検査する検査工程と、を備える蓄電デバイスの製造方法である。

上述の蓄電デバイスの製造方法では、初充電工程の後に、電圧測定工程及び電流検知工程を備える短絡検査方法による検査工程を行うので、蓄電デバイスの初期段階における短絡の有無や程度を適切に検査した蓄電デバイスを製造できる。

なお、「初充電工程」では、蓄電デバイスをＳＯＣ７０％以上に充電するのが好ましく、更には、ＳＯＣ９０％以上に充電するのが特に好ましい。このように充電状態を高く（デバイス電圧ＶＢを高く）すると、電流検知工程で検知される電流ＩＢ或いは安定時電流値ＩＢｓの値も大きくなるため、判定工程で電流ＩＢの経時変化または安定時電流値ＩＢｓに基づいた内部短絡の判定をより適切に行うことができる。

実施形態１に係る電池の斜視図である。 実施形態１に係る電池の縦断面図である。 実施形態１及び変形形態１，２に係る電池の短絡検査方法を含む電池の製造方法のフローチャートである。 実施形態１に係り、電池を電池厚み方向に圧縮した様子を示す説明図である。 実施形態１に係る電池の短絡検査方法に関し、電池に外部電源を接続した状態の回路図である。 良品及び不良品の各電池について、電圧印加時間ｔと出力電圧ＶＳ、電池電圧ＶＢ及び電流ＩＢとの関係を模式的に示すグラフである。 電池電圧ＶＢと安定時電流値ＩＢｓとの関係を示すグラフである。 電池温度ＴＢと安定時電流値ＩＢｓとの関係を示すグラフである。 回路抵抗ＲｃがＲｃ＝２．５Ωの場合における、電圧印加時間ｔと電流ＩＢとの関係を示すグラフである。 回路抵抗ＲｃがＲｃ＝５．０Ωの場合における、電圧印加時間ｔと電流ＩＢとの関係を示すグラフである。 実施形態２に係る電池の短絡検査方法のフローチャートである。

（実施形態１）
以下、本発明の第１の実施形態を、図面を参照しつつ説明する。図１及び図２に、本実施形態１に係る電池（蓄電デバイス）１の斜視図及び縦断面図を示す。なお、以下では、電池１の電池縦方向ＢＨ、電池横方向ＣＨ及び電池厚み方向ＤＨを、図１及び図２に示す方向と定めて説明する。

この電池１は、ハイブリッドカーやプラグインハイブリッドカー、電気自動車等の車両などに搭載される角型で密閉型のリチウムイオン二次電池である。電池１の電池容量は、５．０Ａｈである。電池１は、電池ケース１０と、この内部に収容された電極体２０と、電池ケース１０に支持された正極端子部材５０及び負極端子部材６０等から構成される。また、電池ケース１０内には、電解液１７が収容されており、その一部は電極体２０内に含浸されている。

このうち電池ケース１０は、直方体箱状で金属（本実施形態１ではアルミニウム）からなる。この電池ケース１０は、上側のみが開口した有底角筒状のケース本体部材１１と、このケース本体部材１１の開口を閉塞する形態で溶接された矩形板状のケース蓋部材１３とから構成される。ケース蓋部材１３には、アルミニウムからなる正極端子部材５０がケース蓋部材１３と絶縁された状態で固設されている。この正極端子部材５０は、電池ケース１０内で電極体２０のうち正極板２１に接続し導通する一方、ケース蓋部材１３を貫通して電池外部まで延びている。また、ケース蓋部材１３には、銅からなる負極端子部材６０がケース蓋部材１３と絶縁された状態で固設されている。この負極端子部材６０は、電池ケース１０内で電極体２０のうち負極板３１に接続し導通する一方、ケース蓋部材１３を貫通して電池外部まで延びている。

電極体２０は、扁平状の捲回型電極体であり、軸線を横倒しにした状態で電池ケース１０内に収容されている。電極体２０と電池ケース１０との間には、絶縁フィルムからなる袋状の絶縁フィルム包囲体１９が配置されている。電極体２０は、帯状の正極板２１と帯状の負極板３１とを、帯状で樹脂製の多孔質膜からなる一対のセパレータ４１，４１を介して互いに重ね、軸線周りに捲回して扁平状に圧縮したものである。正極板２１は、帯状のアルミニウム箔からなる正極集電箔の両主面の所定位置に、正極活物質、導電材及び結着剤からなる正極活物質層を帯状に設けてなる。本実施形態１では、正極活物質として、リチウム遷移金属複合酸化物、具体的には、リチウムニッケルコバルトマンガン系複合酸化物を用いている。また、負極板３１は、帯状の銅箔からなる負極集電箔の両主面の所定位置に、負極活物質、結着剤及び増粘剤からなる負極活物質層を帯状に設けてなる。本実施形態１では、負極活物質として、炭素材料、具体的には、黒鉛を用いている。

次いで、上記電池１の短絡検査方法を含む電池１の製造方法について説明する（図３参照）。まず、「組立工程Ｓ１」において、未充電の電池（未充電の蓄電デバイス）１ｘを組み立てる。具体的には、正極板２１及び負極板３１を、一対のセパレータ４１，４１を介して互いに重ねて捲回し、扁平状に圧縮して電極体２０を形成する。別途、ケース蓋部材１３を用意し、これに正極端子部材５０及び負極端子部材６０を固設しておく（図１及び図２参照）。その後、正極端子部材５０及び負極端子部材６０を、電極体２０の正極板２１及び負極板３１にそれぞれ溶接する。次に、電極体２０に絶縁フィルム包囲体１９を被せて、これらをケース本体部材１１内に挿入すると共に、ケース本体部材１１の開口をケース蓋部材１３で塞ぐ。そして、ケース本体部材１１とケース蓋部材１３とを溶接して電池ケース１０を形成する。その後、電解液１７を、注液孔１３ｈから電池ケース１０内に注液して電極体２０内に含浸させる。その後、封止部材１５で注液孔１３ｈを封止して、未充電の電池１ｘを完成させる。

次に、「初充電工程Ｓ２」を行うのに先立ち、組み立てた未充電の電池１ｘについて、正極板２１、負極板３１及びこれらの間に介在するセパレータ４１，４１（電極体２０）を、電池１ｘの外部から予め定めた圧縮力で、セパレータ４１の厚み方向ＳＨに圧縮する。
この電池１の圧縮は、拘束治具１００を用いて行う（図４参照）。この拘束治具１００は、電池厚み方向ＤＨ（セパレータ４１の厚み方向ＳＨ）に列置された複数の電池１について、その列置方向ＦＨに圧縮力を加えた状態で拘束する治具である。

拘束治具１００は、列置方向ＦＨの両端に位置する第１エンドプレート１１０及び第２エンドプレート１２０と、これらの間を連結する複数の板状の連結部材１３０と、第１エンドプレート１１０と第２エンドプレート１２０との間に位置して列置方向ＦＨに移動可能とされた可動プレート１４０と、可動プレート１４０を固定するボルト１５０と、複数のスペーサ１６０とを備える。第２エンドプレート１２０の中央には、これを厚み方向に貫通する雌ネジ孔１２１が形成されており、これにボルト１５０の雄ネジ部１５１が螺合する形態で、雌ネジ孔１２１内にボルト１５０が挿入されている。

この拘束治具１００を用いた電池１の圧縮は、次のようにして行う。まず、第１エンドプレート１１０と可動プレート１４０との間に、複数の電池１とスペーサ１６０とを交互に電池厚み方向ＤＨ（列置方向ＦＨ）に列置する。その後、ボルト１５０の頭部１５３を回転させて、ボルト１５０の雄ネジ部１５１を第２エンドプレート１２０の雌ネジ孔１２１に螺合させつつ、ボルト１５０を第１列置方向ＦＨ１に移動させる。そして、ボルト１５０の雄ネジ部１５１の先端を可動プレート１４０に当接させて可動プレート１４０を固定する。この可動プレート１４０は、第１エンドプレート１１０との間で、列置された複数の電池１及びスペーサ１６０を挟み、各電池１を列置方向ＦＨに所定圧力で押圧して、各電池１をそれぞれ圧縮する。これにより、電極体２０がセパレータ４１の厚み方向ＳＨ（電極体２０の厚み方向）に圧縮される。
なお、本実施形態１では、以下に説明する「初充電工程Ｓ２」から「電流検知工程Ｓ６」までを、このように電池１ｘ（電池１）を圧縮した状態で行う。

次に、「初充電工程Ｓ２」において、この組み立てた未充電の電池１ｘを、予め定めた充電状態まで初充電する。具体的には、電池１ｘに充放電装置（不図示）を接続して、環境温度ＴＫ＝２５℃下において、定電流定電圧（ＣＣＣＶ）充電により、ＳＯＣ１００％に相当する電池電圧（デバイス電圧）ＶＢ＝４．１Ｖまで電池１ｘを初充電する。なお、本実施形態１では、１Ｃの定電流で電池電圧ＶＢ＝４．１Ｖになるまで充電した後、充電電流値が１／１０になるまでこの電池電圧ＶＢ＝４．１Ｖを維持した。

ここで、図７に示すように、電池電圧ＶＢが高いほど、後述する電流検知工程Ｓ６で検知される安定時電流値ＩＢｓの値も大きくなる。安定時電流値ＩＢｓが大きいと、後述する判定工程Ｓ９で安定時電流値ＩＢｓに基づいた内部短絡の判定をより適切に行うことができる。このような理由から、この初充電工程Ｓ２では、電池１ｘをＳＯＣ７０％以上、更にはＳＯＣ９０％以上に充電するのが好ましい。

次に、「高温エージング工程Ｓ３」において、充電された電池１を、環境温度ＴＫ＝４０〜８５℃の温度下で、予め定めた放置時間ＰＴにわたり放置して高温エージングする。具体的には、初充電後の電池１を、環境温度ＴＫ＝６０℃下において、端子開放した状態でＰＴ＝２０時間にわたり放置して高温エージングする。
一般に、充電直後の電池１の電池電圧ＶＢは不安定で、安定になるまで時間を要する。これに対し、この高温エージング工程Ｓ３を行うことにより、電池電圧ＶＢの安定化を促進できるので、単に放置した場合に比して短時間で、後述する電圧測定工程Ｓ５において、安定となった電池電圧ＶＢ（検知前電池電圧ＶＢ１）を測定可能となる。

次に、「冷却工程Ｓ４」において、上記電池１を電池検査温度（デバイス検査温度）ＴＢ１（本実施形態１では、ＴＢ１＝２０℃）に等しい環境温度ＴＫ＝２０℃下に放置して、放置冷却することにより、電池１の電池温度（デバイス温度）ＴＢを電池検査温度ＴＢ１＝２０℃とする。

高温エージング工程Ｓ３の後にこのような冷却工程Ｓ４を行って、電池１の電池温度ＴＢを電池検査温度ＴＢ１＝２０℃とすることで、後述する電圧測定工程Ｓ５を電池検査温度ＴＢ１＝２０℃で行うことができる。また、電池検査温度ＴＢ１を、電池検査温度ＴＢ１を０〜３０℃の温度範囲から選択した温度の定温（本実施形態１では、ＴＢ１＝２０℃）とすることにより、電池１の冷却や加熱が不要となる、或いは電池１の冷却や加熱のための電力等のエネルギを抑制できる。

次に、後述する「電圧測定工程Ｓ５」に先立ち、「デバイス温度チェック工程Ｓ７」において、電池１のｎ＝１回目の電池温度ＴＢ（１）を測定する。このデバイス温度チェック工程Ｓ７では、電圧測定工程Ｓ５の前に電池温度ＴＢ（１）を測定するほか、後述する電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６の途中にこれらの工程と並行して定期的に電池温度ＴＢ（ｎ）を測定する。具体的には、ｎ＝１回目の電池温度ＴＢ（１）を測定した以降は、電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６と並行して、１秒毎にｎ＝２回目以降の電池温度ＴＢ（ｎ）を測定する。なお、電池温度ＴＢ（ｎ）は、温度センサＳＴを電池ケース１０の所定位置に接触させて、温度検知装置ＳＴＳで検知する（図５参照）。

更に、このデバイス温度チェック工程Ｓ７では、電池温度ＴＢ（１）に対する電池温度ＴＢ（ｎ）の変動が許容温度変動範囲ＤＴＢ内であるか否かをチェックする。具体的には、本実施形態１では、１回目に測定した電池温度ＴＢ（１）に対して２回目以降に測定した電池温度ＴＢ（ｎ）が±０．５℃の範囲内に収まっているか否かをチェックする。そして、許容温度変動範囲ＤＴＢ内であるときは、電圧測定工程Ｓ５或いは電流検知工程Ｓ６を継続する。一方、電池温度ＴＢ（ｎ）の変動が許容温度変動範囲ＤＴＢを越えている場合、本実施形態１で言えば、１回目に測定した電池温度ＴＢ（１）に対して２回目以降に測定した電池温度ＴＢ（ｎ）が±０．５℃の範囲を越えた場合には、電圧測定工程Ｓ５或いは電流検知工程Ｓ６の実行を中止し、この短絡検査を終了する。何らかの理由で電池温度ＴＢが変動したため、適切に短絡検査を行えないからである。

なお、電池温度ＴＢが変化すると、電圧測定工程Ｓ５で検知される検知前電池電圧（検知前デバイス電圧）ＶＢ１などのデバイス電圧ＶＢ、並びに、電流検知工程Ｓ６で検知される電流ＩＢ及び安定時電流値ＩＢｓも変化することが判っている。例えば、図８に示すように、電池温度ＴＢが高いほど、安定時電流値ＩＢｓが大きくなる。このため、電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６における電池温度ＴＢの変動が大き過ぎると、後述する判定工程Ｓ９で適切に内部短絡を判定できなくなるおそれがある。これに対し、本実施形態１では、前述のデバイス温度チェック工程Ｓ７を備えるので、上述の問題が生じ得ず、判定工程Ｓ９で適切に内部短絡の判定を行うことができる。

一方、「電圧測定工程Ｓ５」では、まず、図５に示すように、電池１に外部電源ＥＰを接続し、電池１の検知前電池電圧（検知前デバイス電圧）ＶＢ１を測定する。具体的には、外部電源ＥＰの一対のプローブＰ１，Ｐ２を電池１の正極端子部材５０及び負極端子部材６０にそれぞれ接触させる。なお、この接触状態を維持して（プローブＰ１，Ｐ２を接続し直すことなく）、この電圧測定工程Ｓ５から後述する電流検知工程Ｓ６までを行う。プローブＰ１，Ｐ２の接触状態の違いにより、プローブＰ１，Ｐ２と正極端子部材５０及び負極端子部材６０との間にそれぞれ生じる接触抵抗Ｒ１，Ｒ２の大きさが変動するのを避けるためである。

なお、図５において、配線抵抗Ｒｗは、外部電源ＥＰ内、及び、外部電源ＥＰからプローブＰ１，Ｐ２までに分布する配線抵抗を示す。また、接触抵抗Ｒ１は、外部電源ＥＰの一方のプローブＰ１と電池１の正極端子部材５０との接触抵抗であり、接触抵抗Ｒ２は、外部電源ＥＰの他方のプローブＰ２と電池１の負極端子部材６０との接触抵抗である。また、電池抵抗Ｒｓは、電池１の直流抵抗であり、短絡抵抗Ｒｐは、電池１の内部短絡によって生じる抵抗である。また、電流ＩＢは、外部電源ＥＰから電池１に流れる電流であり、電流ＩＤは、自己放電に伴って電池１内を流れる自己放電電流である。また、外部電源ＥＰは、自身の直流電源ＥＰＥが発生する出力電圧ＶＳを可変かつ高精度に制御できるほか、直流電源ＥＰＥから外部に流れ出る電流ＩＢを高精度に計測可能に構成された精密直流電源である。

環境温度ＴＫ＝２０℃下において、電池１に外部電源ＥＰを接続した後、電流ＩＢ＝０の条件下で、外部電源ＥＰに含まれる電圧計ＥＰＶにより電池１の電池電圧ＶＢ、即ち検知前電池電圧ＶＢ１（開放電圧）を測定する。本実施形態１では、検知前電池電圧ＶＢ１として、４．０Ｖ近傍の値が計測される。なお、この外部電源ＥＰは、電池電圧ＶＢを測定可能な電圧計ＥＰＶのほか、外部電源ＥＰから電池１に流れる電流ＩＢを測定可能な電流計ＥＰＩも有している。

次に、「電流検知工程Ｓ６」において、外部電源ＥＰの直流電源ＥＰＥを用いて、前述の電圧測定工程Ｓ５で測定された検知前電池電圧ＶＢ１に等しい出力電圧ＶＳ（ＶＳ＝ＶＢ１）を電池１に印加し続けて、外部電源ＥＰから電池１に流れる電流ＩＢの安定時電流値ＩＢｓを検知する。本実施形態１では、環境温度ＴＫ＝２０℃下において、外部電源ＥＰから検知前電池電圧ＶＢ１に等しい出力電圧ＶＳを電池１に、電圧印加時間ｔ＝３．０時間印加し続けた時点（ｔ＝３．０ｈ）の電流ＩＢを検知して、安定時電流値ＩＢｓとする。

ここで、良品及び不良品の各電池１について、電流検知工程Ｓ６における電圧印加時間ｔと、出力電圧ＶＳ、電池電圧ＶＢ及び電流ＩＢとの関係を図６に示す。
外部電源ＥＰから電池１に印加する出力電圧ＶＳは、電圧印加時間ｔの経過に拘わらず、電圧測定工程Ｓ５で測定された検知前電池電圧ＶＢ１に等しい大きさにされる。

一方、電池電圧ＶＢは、電流検知工程Ｓ６開始時の検知前電池電圧ＶＢ１から、電圧印加時間ｔの経過と共に徐々に低下した後、電圧印加時間ｔ＝ｔａ以降は、一定の値（安定時電池電圧ＶＢ２）となる。但し、良品の電池１に比べて不良品の電池１は、電池電圧ＶＢが大きく低下するため、安定時電池電圧ＶＢ２が低い値となる。

このように電池電圧ＶＢが変化する理由は、以下である。電池１では、自己放電により電池１内を電流ＩＤが流れることによって、電池電圧ＶＢが徐々に低下していく。その際、不良品の電池１は、良品の電池１に比べて自己放電に伴う電流ＩＤが大きいため、電池電圧ＶＢも大きく低下していく。
一方、電池電圧ＶＢが出力電圧ＶＳよりも低く（ＶＳ＜ＶＢ）なると、外部電源ＥＰから電池１に向けて電圧差ΔＶ＝ＶＳ−ＶＢの大きさに応じた電流ＩＢが流れて、電池１が充電される。電圧差ΔＶ＝ＶＳ−ＶＢが小さいうちは、電流ＩＢも小さいため、外部電源ＥＰから電池１に流れ込む電流ＩＢよりも、電池１内を流れる自己放電による電流ＩＤが大きく、電池電圧ＶＢが徐々に低下する。しかし、電池電圧ＶＢが更に低下し、電流ＩＢが増加して電流ＩＤの大きさに等しく（ＩＢ＝ＩＤ）なると（図６中、電圧印加時間ｔ＝ｔａにおいて）、電池電圧ＶＢの低下が止まり、これ以降、電池電圧ＶＢは安定時電池電圧ＶＢ２に維持される。

他方、外部電源ＥＰから電池１に流れる電流ＩＢは、０（零）から電圧印加時間ｔの経過と共に徐々に増加するが、電圧印加時間ｔ＝ｔａ以降は、一定の値（安定時電流値ＩＢｓ）となる。このように電流ＩＢが変化する理由は、以下である。

まず、電圧印加の開始時ｔ＝０は、電池電圧ＶＢと出力電圧ＶＳの大きさが等しい（ＶＳ＝ＶＢ）ため、外部電源ＥＰから電池１に向けて電流ＩＢは流れない（ＩＢ＝０）。しかし、自己放電により電池電圧ＶＢが低下して、電池電圧ＶＢが出力電圧ＶＳよりも低く（ＶＳ＜ＶＢ）なると、その電圧差ΔＶ＝ＶＳ−ＶＢの大きさに応じた電流ＩＢが外部電源ＥＰから電池１に流れる。その際、不良品の電池１は、良品の電池１に比べて自己放電に伴う電流ＩＤが大きく、電池電圧ＶＢが大きく低下するため、外部電源ＥＰから電池１に流れる電流ＩＢも大きくなる。但し、電圧印加時間ｔ＝ｔａ以降は、電池電圧ＶＢが安定時電池電圧ＶＢ２の一定値となるため、電流ＩＢも安定時電流値ＩＢｓの一定値となって安定化する。

また、回路抵抗Ｒｃが大きいほど、外部電源ＥＰから電池１に流れる電流ＩＢが安定時電流値ＩＢｓとなるまでに掛かる電圧印加時間ｔａが長くなることが判っている（図９及び図１０参照）。なお、回路抵抗Ｒｃとは、図５に示した前述の配線抵抗Ｒｗと、接触抵抗Ｒ１，Ｒ２と、電池抵抗（電池１の直流抵抗）Ｒｓとの和（Ｒｃ＝Ｒｗ＋Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒｓ）である。

同じ電池１を測定した場合でも、接触抵抗Ｒ１，Ｒ２が低く、例えば回路抵抗ＲｃがＲｃ＝２．５Ωであった場合には、図９に示すように、電圧印加時間ｔが約２時間経過した以降（ｔ≧２ｈ）には、電流ＩＢは安定した安定時電流値ＩＢｓとなる。一方、例えば回路抵抗Ｒｃが５．０Ωであった場合には、図１０に示すように、電圧印加時間ｔが約３時間経過した以降（ｔ≧３ｈ）には、電流ＩＢは安定した安定時電流値ＩＢｓとなる。
なお、本発明者の調査により、本実施形態１の電池１については、回路抵抗Ｒｃは最大でＲｃ＝５．０Ωであることが判っている。従って、少なくとも電圧印加時間ｔ＝３ｈ経過以降は、電流ＩＢは安定時電流値ＩＢｓとなると見込まれるので、前述のように、電流検知工程Ｓ６における安定時電流値ＩＢｓの検知タイミングを３．０時間としている。
なお、この電流検知工程Ｓ６を終えた後に、拘束治具１００による電池１の圧縮を解除する。

次に、「判定工程Ｓ９」において、電流検知工程Ｓ６で検知した安定時電流値ＩＢｓの大きさに基づいて、電池１の内部短絡を判定する。具体的には、検査した電池１の安定時電流値ＩＢｓが基準電流値ＩＫ（図６参照）よりも大きい場合に（ＩＢｓ＞ＩＫ）、当該電池１を不良品と判定し、当該電池１を除去する。一方、安定時電流値ＩＢｓが基準電流値ＩＫ以下の場合に（ＩＢｓ≦ＩＫ）、その電池１を良品と判定する。かくして、電池１が完成する。
なお、本実施形態１では、高温エージング工程Ｓ３から判定工程Ｓ９までの各工程が、電池１の製造において、電池１の内部短絡を検査する前述の「検査工程」に該当する。

以上で説明したように、上述した電池１の短絡検査方法では、前述の電圧測定工程Ｓ５、電流検知工程Ｓ６及び判定工程Ｓ９を行い、電圧低下量ΔＶａではなく、安定時電流値ＩＢｓに基づいて、電池１の内部短絡を判定している。かくして、外部電源ＥＰから電池１に流れる電流ＩＢを用いる新たな手法によって、電池１の内部短絡を検査できる。
しかも、従来の電圧低下量ΔＶａに基づいて内部短絡を判定する短絡検査では、適切な大きさの電圧低下量ΔＶａを得るのに数日以上の期間が必要であったのに対し、本実施形態１では、安定時電流値ＩＢｓを得るのに３時間程度しか掛からない。このため、電池１の短絡検査時間を短くし、電池１の製造時間を短くできる。

前述したように、検知前電池電圧ＶＢ１及び安定時電流値ＩＢｓは、電池温度ＴＢの違いによって異なる値になるため、電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６における電池温度ＴＢの変動が大き過ぎると、判定工程Ｓ９で適切に内部短絡を判定できなくなるおそれがある。これに対し、本実施形態１の短絡検査方法では、電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６を定温の電池検査温度ＴＢ１（本実施形態１では、ＴＢ１＝２０℃）下で行っているので、上述の問題が生じ得ず、判定工程Ｓ９で適切に内部短絡の判定を行うことができる。
更に、本実施形態１では、デバイス温度チェック工程Ｓ７を備えるため、デバイス温度ＴＢ（ｎ）の変動が許容温度変動範囲ＤＴＢ内に収まっている場合にのみ、電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６を継続できる。かくして、電池温度ＴＢを定温の電池検査温度ＴＢ１として、電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６を行うことができる。

また、電圧測定工程Ｓ５を行うにあたり、電池１の電池電圧ＶＢが不安定であるのは好ましくない。これに対し、本実施形態１では、電圧測定工程Ｓ５の前に高温エージング工程Ｓ３を行うことにより、電池電圧ＶＢの安定化を促進できるので、これを行わない場合に比して早期に、電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６を行うことができる。また、高温エージング工程Ｓ３の後に冷却工程Ｓ４を行って、電池温度ＴＢを電池検査温度ＴＢ１としているので、電池検査温度ＴＢ１とした電池１について電圧測定工程Ｓ５を行うことができる。

また、本実施形態１では、電池１の正極板２１、セパレータ４１，４１及び負極板３１をセパレータ４１の厚み方向ＳＨに圧縮しているので、正極板２１と負極板３１との間隔が狭くなって、正極板２１と負極板３１との間に存在している金属異物が、より確実に正極板２１や負極板３１に接触する。これにより、金属異物に起因した内部短絡によって電池１に流れる電流ＩＢをより適切に測定できる。

また、本実施形態１の電池１の製造方法は、前述のように、未充電の電池１ｘを初充電する初充電工程Ｓ２と、電池１の内部短絡を検査する検査工程Ｓ３〜Ｓ９とを備える。このように、初充電工程Ｓ２の後に検査工程Ｓ３〜Ｓ９を行うことで、電池１の初期段階における内部短絡を適切に検査した電池１を製造できる

（変形形態１）
次いで、上記実施形態１の第１の変形形態について説明する。実施形態１では、電流検知工程Ｓ６において、外部電源ＥＰから電池１に流れる電流ＩＢの安定時電流値ＩＢｓを検知し、判定工程Ｓ９で、この安定時電流値ＩＢｓに基づいて電池１の内部短絡を判定した。これに対し、本変形形態１では、外部電源ＥＰから電池１に流れる電流ＩＢの経時変化に基づいて、電池１の内部短絡を判定する。

本変形形態１では、電流検知工程Ｓ６において、外部電源ＥＰから電池１に流れる電流ＩＢの安定時電流値ＩＢｓを検知するのではなく、電流ＩＢの経時変化を検知する。具体的には、電流ＩＢの経時変化を検知して、図９に示すように、電圧印加時間ｔ＝０．５時間からｔ＝１．０時間までの所定の検知期間ＱＴに増加した電流ＩＢの電流増加量ΔＩＢを求める。そして、判定工程Ｓ９において、この電流増加量ΔＩＢが基準増加量ΔＩＢｋよりも大きい場合に（ΔＩＢ＞ΔＩＢｋ）、その電池１を不良品と判定し、電流増加量ΔＩＢが基準増加量ΔＩＢｋ以下である場合に（ΔＩＢ≦ΔＩＢｋ）、その電池１を良品と判定する。

このように 外部電源ＥＰから電池１に流れる電流ＩＢの経時変化に基づいて、電池１の内部短絡を判定することもできる。かくして、本変形形態１の短絡検査方法も、電流ＩＢを用いる新たな手法によって、電池１の内部短絡を検査できる。加えて、本変形形態１では、前述の電流増加量ΔＩＢを求めるのに、電圧印加時間ｔ＝１．０時間まで出力電圧ＶＳを印加すれば足りるので、電池１の短絡検査時間を更に短くし、電池１の製造時間を更に短くできる。

（変形形態２）
次いで、実施形態１の第２の変形形態について説明する（図３参照）。実施形態１に係る電池１の短絡検査方法及び電池１の製造方法では、電池１に接して電池温度ＴＢを検知する温度センサＳＴ及び温度検知装置ＳＴＳを用い、電圧測定工程Ｓ５の前、並びに、電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６の途中にこれらと並行して、デバイス温度チェック工程Ｓ７を行った。そして、得られた電池温度ＴＢ（ｎ）の変動に基づいて、電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６を継続するか否かを判断した。

これに対し、本変形形態２では、デバイス温度チェック工程Ｓ７を行う代わりに、「環境温度チェック工程Ｓ８」を行って、得られた環境温度ＴＫ（ｎ）の変動に基づいて、電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６を継続するか否かを判断する。
具体的には、電圧測定工程Ｓ５に先立ち、図５に破線で示す、電池１の周囲の環境温度ＴＫを検知するサーミスタからなる温度センサＫＴ及び温度検知装置ＫＴＳを用いて、環境温度チェック工程Ｓ８において、ｎ＝１回目の環境温度ＴＫ（１）を測定する。その後は、電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６と並行して、１秒毎にｎ＝２回目以降の環境温度ＴＫ（ｎ）を測定する。

更に、この環境温度チェック工程Ｓ８では、環境温度ＴＫ（１）に対する環境温度ＴＫ（ｎ）の変動が許容温度変動範囲ＤＴＫ内であるか否かをチェックする。具体的には、本変形形態２では、１回目に測定した環境温度ＴＫ（１）に対して２回目以降に測定した環境温度ＴＫ（ｎ）が±０．５℃の範囲内に収まっているか否かをチェックする。そして、許容温度変動範囲ＤＴＫ内であるときは、電圧測定工程Ｓ５或いは電流検知工程Ｓ６を継続する。一方、許容温度変動範囲ＤＴＫを越えた場合には、電圧測定工程Ｓ５或いは電流検知工程Ｓ６の実行を中止し、この短絡検査を終了する。

前述したように、電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６における電池温度ＴＢの変動が大き過ぎると、判定工程Ｓ９で適切に内部短絡を判定できなくなるおそれがある。一方、環境温度ＴＫは、電池温度ＴＢほどには直接的な影響はない。しかし、環境温度ＴＫに変動が生じると、遅れて電池温度ＴＢにも変動が現れることから、環境温度ＴＫの変動も判定工程Ｓ９での内部短絡の判定に影響を及ぼす場合がある。これに対し、本変形形態２の短絡検査方法では、環境温度チェック工程Ｓ８を備え、環境温度ＴＫ（ｎ）の変動が許容温度変動範囲ＤＴＫ内の場合に、電圧測定工程Ｓ５及び電流検知工程Ｓ６を継続するので、その後の判定工程Ｓ９において適切に内部短絡の判定を行うことができる。

（実施形態２）
次いで、第２の実施形態について説明する（図１１参照）。実施形態１では、電池１の製造過程において電池１の短絡検査を行ったのに対し、本実施形態２では、製造後に市場に置かれた以降の使用済の電池１について短絡検査を行う点が異なる。また、実施形態１では、高温エージング工程Ｓ３及び冷却工程Ｓ４を行ったのに対し、本実施形態２では、これらの工程の代わりに放置工程Ｓ１２を行う点も異なる。なお、実施形態１と同様な部分の説明は、省略または簡略化する。

本実施形態２では、使用済みの電池１を実施形態１と同様に拘束した後、まず「充電工程Ｓ１１」において、この電池１を予め定めた充電状態まで充電する。具体的には、実施形態１の初充電工程Ｓ２と同様に、電池１に充放電装置（不図示）を接続して、環境温度ＴＫ＝２５℃下において、定電流定電圧（ＣＣＣＶ）充電により、ＳＯＣ１００％に相当する電池電圧ＶＢ＝４．１Ｖまで、電池１を充電する。

その後、「放置工程Ｓ１２」において、上記電池１を、電池検査温度ＴＢ１（本実施形態２では、ＴＢ１＝２０℃）と同じ環境温度ＴＫ＝２０℃下で放置（本実施形態２では６時間）し、かつ、電池１の電池温度ＴＢを電池検査温度ＴＢ１とする。このような放置工程Ｓ１２により放置期間を確保することにより、電池電圧ＶＢを安定化できるので、電池電圧ＶＢが安定となった電池１について電圧測定工程Ｓ５を行うことができる。また、電池温度ＴＢを電池検査温度ＴＢ１としているので、電池検査温度ＴＢ１とした電池１について電圧測定工程Ｓ５を行うことができる。

その後は、実施形態１と同様に、デバイス温度チェック工程Ｓ７（または環境温度チェック工程Ｓ８）、電圧測定工程Ｓ５、電流検知工程Ｓ６及び判定工程Ｓ９をそれぞれ行う。かくして、電池１の内部短絡検査が終了する。

本実施形態２の電池１の短絡検査方法も、電圧測定工程Ｓ５、電流検知工程Ｓ６及び判定工程Ｓ９を行い、安定時電流値ＩＢｓに基づいて、電池１の内部短絡を判定している。かくして、外部電源ＥＰから電池１に流れる電流ＩＢを用いる新たな手法によって、電池１の内部短絡を検査できる。その他、実施形態１または変形形態１，２と同様な部分は、実施形態１または変形形態１，２と同様な作用効果を奏する。

以上において、本発明を実施形態１，２及び変形形態１，２に即して説明したが、本発明は上述の実施形態１，２及び変形形態１，２に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、適宜変更して適用できることは言うまでもない。
例えば、実施形態１，２及び変形形態１，２では、判定工程Ｓ９において、安定時電流値ＩＢｓあるいは電流増加量ΔＩＢの大きさに基づいて、検査した電池１が良品か不良品かを判定したが、判定手法はこれに限られない。例えば、判定工程Ｓ９において、安定時電流値ＩＢｓあるいは電流増加量ΔＩＢの大きさに基づいて、検査した電池１の内部短絡の程度についてランク分けしてもよい。具体的には、電池１を良品と不良品に分けるだけでなく、安定時電流値ＩＢｓあるいは電流増加量ΔＩＢの大きさに基づいて、良品の電池を更に複数のランクに分けることもできる。

また、実施形態１，２等では、デバイス温度チェック工程Ｓ７及び環境温度チェック工程Ｓ８のいずれか一方の工程のみを行っているが、デバイス温度チェック工程Ｓ７及び環境温度チェック工程Ｓ８の両方の工程を行うようにしてもよい。
また、実施形態１，２等では、内部短絡の検査対象となる電池として、扁平状捲回型の電極体２０を備える電池１を例示したが、これに限られない。積層型の電極体を備える電池を、前述の内部短絡の検査対象とすることもできる。積層型の電極体の場合、正極板、セパレータ及び負極板を圧縮する際には、電池を正極板、セパレータ及び負極板の積層方向に圧縮する。

１ 電池（蓄電デバイス）
１ｘ 未充電の電池（未充電の蓄電デバイス）
２０ 電極体
２１ 正極板
３１ 負極板
４１ セパレータ
ＳＨ （セパレータの）厚み方向
Ｓ１ 組立工程
Ｓ２ 初充電工程
Ｓ３ 高温エージング工程
Ｓ４ 冷却工程
Ｓ５ 電圧測定工程
Ｓ６ 電流検知工程
Ｓ７ デバイス温度チェック工程
Ｓ８ 環境温度チェック工程
Ｓ９ 判定工程
Ｓ１１ 充電工程
Ｓ１２ 放置工程
ＴＢ 電池温度（デバイス温度）
ＴＢ１ 電池検査温度（デバイス検査温度）
ＴＫ 環境温度
ＤＴＢ （デバイス温度の）許容温度変動範囲
ＤＴＫ （環境温度の）許容温度変動範囲
ＰＴ （高温エージング工程における）放置時間
ＶＢ 電池電圧（デバイス電圧）
ＶＢ１ 検知前電池電圧（検知前デバイス電圧）
ＥＰ 外部電源
ＶＳ 出力電圧
ＩＢ 電流
ＩＢｓ 安定時電流値

Claims (8)

1. 蓄電デバイスの内部短絡を検査する蓄電デバイスの短絡検査方法であって、
   予め充電された上記蓄電デバイスの検知前デバイス電圧ＶＢ１を測定する電圧測定工程と、
   外部電源から、上記検知前デバイス電圧ＶＢ１に等しい出力電圧ＶＳ（ＶＳ＝ＶＢ１）を、上記蓄電デバイスに印加し続けて、上記外部電源から上記蓄電デバイスに流れる電流ＩＢの経時変化または安定時電流値ＩＢｓを検知する電流検知工程と、
   検知した上記電流ＩＢの経時変化または上記安定時電流値ＩＢｓに基づいて、上記蓄電デバイスの内部短絡を判定する判定工程と、を備え、
   上記電圧測定工程は、
   上記外部電源の一対のプローブを上記蓄電デバイスの一対の端子部材にそれぞれ接触させ、上記電流ＩＢ＝０の条件下で、上記蓄電デバイスの上記検知前デバイス電圧ＶＢ１を測定し、
   上記電流検知工程は、
   上記電圧測定工程における、上記外部電源の上記一対のプローブと上記蓄電デバイスの上記一対の端子部材との接触状態を維持して、
   ０から電圧印加時間の経過と共に徐々に増加し、その後に一定の上記安定時電流値ＩＢｓとなる上記電流ＩＢの経時変化または上記安定時電流値ＩＢｓを検知する
   蓄電デバイスの短絡検査方法。
2. 請求項１に記載の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、
   前記電圧測定工程及び前記電流検知工程を、上記蓄電デバイスのデバイス温度ＴＢが定温のデバイス検査温度ＴＢ１である条件下で行う
   蓄電デバイスの短絡検査方法。
3. 請求項２に記載の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、
   前記電圧測定工程の前、並びに、上記電圧測定工程及び前記電流検知工程の途中にこれらの工程と並行して、上記蓄電デバイスのデバイス温度ＴＢ（ｎ）（ｎは自然数）を、間隔を空けて複数回測定し、得られた上記デバイス温度ＴＢ（ｎ）の変動が許容温度変動範囲ＤＴＢ内の場合に、上記電圧測定工程及び上記電流検知工程を継続する、デバイス温度チェック工程を備える
   蓄電デバイスの短絡検査方法。
4. 請求項２または請求項３に記載の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、
   前記電圧測定工程の前、並びに、上記電圧測定工程及び前記電流検知工程の途中にこれらの工程と並行して、上記蓄電デバイスの環境温度ＴＫ（ｎ）（ｎは自然数）を、間隔を空けて複数回測定し、得られた上記環境温度ＴＫ（ｎ）の変動が許容温度変動範囲ＤＴＫ内の場合に、上記電圧測定工程及び上記電流検知工程を継続する、環境温度チェック工程を備える
   蓄電デバイスの短絡検査方法。
5. 請求項２〜請求項４のいずれか一項に記載の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、
   前記電圧測定工程の前に、予め定めた放置時間ＰＴにわたり、予め充電された上記蓄電デバイスを４０〜８５℃の環境温度ＴＫ下に放置する高温エージング工程と、
   上記高温エージング工程の後、強制冷却または放置冷却により、上記蓄電デバイスのデバイス温度ＴＢを前記デバイス検査温度ＴＢ１とする冷却工程と、を備える
   蓄電デバイスの短絡検査方法。
6. 請求項２〜請求項４のいずれか一項に記載の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、
   前記電圧測定工程の前に、予め充電された上記蓄電デバイスを、前記デバイス検査温度ＴＢ１と同じ環境温度ＴＫ（ＴＫ＝ＴＢ１）下に放置して、上記蓄電デバイスの前記デバイス温度ＴＢを上記デバイス検査温度ＴＢ１とする放置工程を備える
   蓄電デバイスの短絡検査方法。
7. 請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の蓄電デバイスの短絡検査方法であって、
   前記電圧測定工程及び前記電流検知工程を、
   上記蓄電デバイスの正極板と負極板とこれらの間に介在するセパレータとを、上記蓄電デバイスの外部から予め定めた圧縮力で、上記セパレータの厚み方向に圧縮した状態で
   行う
   蓄電デバイスの短絡検査方法。
8. 組み立てた未充電の蓄電デバイスを予め定めた充電状態まで初充電して、予め充電された蓄電デバイスとする初充電工程と、
   請求項１〜請求項７のいずれか一項に記載の蓄電デバイスの短絡検査方法により、上記蓄電デバイスの短絡検査を検査する検査工程と、を備える
   蓄電デバイスの製造方法。

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