JP6882017B2 - 研磨方法、研磨装置、および基板処理システム - Google Patents
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- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims description 470
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 338
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 30
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 28
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 73
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 47
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 23
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 claims description 20
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 19
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 9
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 30
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 17
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 12
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 11
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 9
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 8
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 5
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- -1 Polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 238000001127 nanoimprint lithography Methods 0.000 description 2
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 2
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 2
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000003595 mist Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 238000007790 scraping Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 1
- 239000003232 water-soluble binding agent Substances 0.000 description 1
- 229920006186 water-soluble synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000012866 water-soluble synthetic resin Substances 0.000 description 1
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B1/00—Processes of grinding or polishing; Use of auxiliary equipment in connection with such processes
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
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- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
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- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/34—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies not provided for in groups H01L21/0405, H01L21/0445, H01L21/06, H01L21/16 and H01L21/18 with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/46—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/428
- H01L21/461—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/428 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/04—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
- B24B37/07—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool
- B24B37/10—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool for single side lapping
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/04—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
- B24B37/07—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool
- B24B37/10—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool for single side lapping
- B24B37/105—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool for single side lapping the workpieces or work carriers being actively moved by a drive, e.g. in a combined rotary and translatory movement
- B24B37/107—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool for single side lapping the workpieces or work carriers being actively moved by a drive, e.g. in a combined rotary and translatory movement in a rotary movement only, about an axis being stationary during lapping
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B24B37/27—Work carriers
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- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
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- B24B37/34—Accessories
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- B24B41/00—Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
- B24B41/06—Work supports, e.g. adjustable steadies
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- B24B49/00—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
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- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
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- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68714—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
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Description
本発明の好ましい態様は、前記研磨ヘッドを前記基板の表側面と平行に揺動させる動作は、前記基板の表側面の中心部と外周部との間で前記研磨ヘッドを前記基板の表側面と平行に揺動させる動作であることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付ける工程は、砥粒を含まない液体を前記基板の表側面に供給しながら、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付ける工程であることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付ける工程は、前記研磨具をその長手方向に送りながら、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付ける工程であることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付ける工程は、前記研磨具をその長手方向に送らずに、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付ける工程であることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記研磨具は、砥粒を含む研磨層からなる研磨面を有した研磨テープであることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記基板の表側面の状態を検出する状態検出センサをさらに備えたことを特徴とする。
図1は、研磨装置の一実施形態を模式的に示す平面図である。図1に示すように、研磨装置1は、ウェーハなどの基板Wの裏側面を保持し、基板Wの軸心を中心に回転させる基板回転機構10と、この基板回転機構10に保持された基板Wの表側面を研磨するための複数の研磨テープ61を保持する研磨ヘッド50と、基板Wの表側面に液体を供給する液体供給ノズル27と、基板Wを持ち上げるリフト機構30を備えている。研磨ヘッド50は、基板回転機構10に保持されている基板Wの上側に配置されている。液体供給ノズル27から供給される液体は、砥粒を含まない液体であり、例えば、純水またはアルカリ水である。研磨テープ61は、基板Wの表側面を研磨するための研磨具の一例である。
6 隔壁
8 換気機構
10 基板回転機構
11 真空吸着ステージ
11a 保持面
12 ステージモータ
15 ロータリージョイント
17 真空ライン
20 吸引孔
21 内部チャンバ
27 液体供給ノズル
30 リフト機構
31 リフトピン
32 ブリッジ
33 昇降機
36 窪み
50 研磨ヘッド
51 研磨ヘッドシャフト
53 揺動アーム
54 揺動軸
55 軸回転機構
56 研磨ヘッド昇降機構
57 エアシリンダ
58 研磨ヘッド回転機構
59 状態検出センサ
60 テープカートリッジ
61 研磨テープ
62 支持部材
63 付勢機構
64 テープ繰り出しリール
65 テープ巻き取りリール
69 かさ歯車
70 かさ歯車
71 エンドマーク検知センサ
72 チャック部
75A,75B リール軸
76A,76B 軸受
77 リールハウジング
78 ボールスプラインナット
79 ボールスプラインシャフト
80A,80B ブレーキ輪
81 ブレーキパッド
82 ばね
83 ピン
84A 繰り出しギヤ
84B 巻き取りギヤ
85A,85B ワンウェイクラッチ
86A,86B ラックギヤ
87 設置台
88 トルクリミッタ
90 研磨パッド
120 ロードアンロード部
121 フロントロード部
123 第1の搬送ロボット
124 パーティクルカウンター
126 第2の搬送ロボット
131 第1の基板ステーション
132 第2の基板ステーション
133 動作制御部
134 洗浄ユニット
135 乾燥ユニット
137 第3の搬送ロボット
138 第4の搬送ロボット
W 基板
CL 軸心
p1 プーリ
p2 プーリ
b1 ベルト
M1 ヘッドモータ
M2 送りモータ
Claims (18)
- 基板の裏側面を真空吸着ステージで水平に保持しながら、前記基板を回転させ、
複数の研磨具を保持した研磨ヘッドを回転させ、
液体供給ノズルから液体を前記基板の表側面と略平行に噴射して該基板の表側面に前記液体を供給しながら、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付ける工程を含み、
前記液体供給ノズルから前記液体が供給される前記基板の表側面上の領域は、前記基板の回転方向において前記研磨ヘッドの上流側であり、
前記基板の表側面は、配線パターンが形成される面であることを特徴とする研磨方法。 - 前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付ける工程は、前記研磨ヘッドを前記基板の表側面と平行に揺動させながら、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付ける工程であることを特徴とする請求項1に記載の研磨方法。
- 前記研磨ヘッドを前記基板の表側面と平行に揺動させる動作は、前記基板の表側面の中心部と外周部との間で前記研磨ヘッドを前記基板の表側面と平行に揺動させる動作であることを特徴とする請求項2に記載の研磨方法。
- 前記液体は、砥粒を含まない液体であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の研磨方法。
- 基板の裏側面を真空吸着ステージで保持しながら、前記基板を回転させ、
複数の研磨具を保持した研磨ヘッドを回転させ、
前記研磨具をその長手方向に送りながら、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付ける工程を含み、
前記基板の表側面は、配線パターンが形成される面であることを特徴とする研磨方法。 - 基板の裏側面を真空吸着ステージで保持しながら、前記基板を回転させ、
複数の研磨具を保持した研磨ヘッドを回転させ、
前記研磨具をその長手方向に送らずに、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付ける工程を含み、
前記基板の表側面は、配線パターンが形成される面であることを特徴とする研磨方法。 - 基板の裏側面を真空吸着ステージで保持しながら、前記基板を回転させ、
複数の研磨具を保持した研磨ヘッドを回転させ、
前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付ける工程を含み、
前記基板の表側面は、配線パターンが形成される面であり、
前記研磨具は、砥粒を含む研磨層からなる研磨面を有した研磨テープであることを特徴とする研磨方法。 - 配線パターンが形成される表側面と、配線パターンを形成しない裏側面とを備えた基板を準備し、
基板の裏側面を真空吸着ステージで保持しながら、前記基板を回転させ、
複数の研磨具を保持した研磨ヘッドを回転させ、
前記研磨ヘッドを前記基板の表側面と平行に揺動させながら、かつ前記研磨具をその長手方向に送りながら、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付けて、基板の表側面を研磨することを特徴とする研磨方法。 - 配線パターンが形成される表側面と、配線パターンを形成しない裏側面とを備えた基板を準備し、
基板の裏側面を真空吸着ステージで保持しながら、前記基板を回転させ、
複数の研磨具を保持した研磨ヘッドを回転させ、
前記研磨ヘッドを前記基板の表側面と平行に揺動させながら、かつ前記研磨具をその長手方向に送らずに、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付けて、基板の表側面を研磨することを特徴とする研磨方法。 - 配線パターンが形成される表側面と、配線パターンを形成しない裏側面とを備えた基板を準備し、
基板の裏側面を真空吸着ステージで保持しながら、前記基板を回転させ、
複数の研磨具を保持した研磨ヘッドを回転させ、
前記研磨ヘッドを前記基板の表側面と平行に揺動させながら、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付けて、基板の表側面を研磨する工程を含み、
前記研磨具は、砥粒を含む研磨層からなる研磨面を有した研磨テープであることを特徴とする研磨方法。 - 配線パターンが形成される表側面と、配線パターンを形成しない裏側面とを備えた基板を研磨するための研磨装置であって、
基板の裏側面を保持する保持面を有する真空吸着ステージと、
前記真空吸着ステージを回転させるステージモータと、
複数の研磨具をその長手方向に送る機構を有する研磨ヘッドと、
前記研磨ヘッドおよび前記複数の研磨具を回転させるヘッドモータと、
前記研磨ヘッドに下向きの荷重を付与し、前記機構が前記複数の研磨具をその長手方向に送りながら、前記研磨ヘッドが前記複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付けることを可能とするアクチュエータを備えたことを特徴とする研磨装置。 - 配線パターンが形成される表側面と、配線パターンを形成しない裏側面とを備えた基板を研磨するための研磨装置であって、
基板の裏側面を保持する保持面を有する真空吸着ステージと、
前記真空吸着ステージを回転させるステージモータと、
研磨ヘッドと、
前記研磨ヘッドに取り付けられた複数の研磨具と、
前記研磨ヘッドおよび前記複数の研磨具を回転させるヘッドモータと、
前記研磨ヘッドに下向きの荷重を付与し、前記複数の研磨具をその長手方向に送らずに、前記研磨ヘッドが前記複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付けることを可能とするアクチュエータを備えたことを特徴とする研磨装置。 - 配線パターンが形成される表側面と、配線パターンを形成しない裏側面とを備えた基板を研磨するための研磨装置であって、
基板の裏側面を保持する保持面を有する真空吸着ステージと、
前記真空吸着ステージを回転させるステージモータと、
研磨ヘッドと、
前記研磨ヘッドに取り付けられた複数の研磨具と、
前記研磨ヘッドおよび前記複数の研磨具を回転させるヘッドモータと、
前記研磨ヘッドに下向きの荷重を付与し、前記研磨ヘッドが前記複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付けることを可能とするアクチュエータを備え、
前記複数の研磨具は、砥粒を含む研磨層からなる研磨面を有した複数の研磨テープであることを特徴とする研磨装置。 - 配線パターンが形成される表側面と、配線パターンを形成しない裏側面とを備えた基板を準備し、
基板の裏側面を真空吸着ステージで水平に保持しながら、前記基板を回転させ、
複数の研磨具を保持した研磨ヘッドを回転させ、
前記研磨ヘッドを前記基板の表側面と平行に揺動させながら、かつ液体供給ノズルから液体を前記基板の表側面と略平行に噴射して該基板の表側面に前記液体を供給しながら、前記回転する複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付けて、基板の表側面を研磨する工程を含み、
前記液体供給ノズルから前記液体が供給される前記基板の表側面上の領域は、前記基板の回転方向において前記研磨ヘッドの上流側であることを特徴とする研磨方法。 - 配線パターンが形成される表側面と、配線パターンを形成しない裏側面とを備えた基板を研磨するための研磨装置であって、
基板の裏側面を水平に保持する保持面を有する真空吸着ステージと、
前記真空吸着ステージを回転させるステージモータと、
研磨ヘッドと、
前記研磨ヘッドに取り付けられた複数の研磨具と、
前記研磨ヘッドおよび前記複数の研磨具を回転させるヘッドモータと、
前記保持面と略平行に配置された液体供給ノズルと、
前記研磨ヘッドに下向きの荷重を付与し、前記研磨ヘッドが前記複数の研磨具を前記基板の表側面に押し付けることを可能とするアクチュエータを備え、
前記液体供給ノズルから液体が供給される前記基板の表側面上の領域は、前記基板の回転方向において前記研磨ヘッドの上流側であることを特徴とする研磨装置。 - 前記真空吸着ステージの保持面と平行な方向に前記研磨ヘッドを揺動させる揺動機構をさらに備えたことを特徴とする請求項15に記載の研磨装置。
- 前記基板の表側面の状態を検出する状態検出センサをさらに備えたことを特徴とする請求項15又は16に記載の研磨装置。
- 複数の基板を連続的に処理する基板処理システムにおいて、
請求項11乃至13、15乃至17のいずれか一項に記載の研磨装置と、
前記研磨装置で研磨した基板の表側面に存在している微小突起物の数をカウントするパーティクルカウンターと、
前記微小突起物の数を受信し、前記研磨装置での後続の基板のための研磨レシピを変更する動作制御部と、
を含む、基板処理システム。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017042131A JP6882017B2 (ja) | 2017-03-06 | 2017-03-06 | 研磨方法、研磨装置、および基板処理システム |
TW107106604A TWI750334B (zh) | 2017-03-06 | 2018-02-27 | 研磨方法、研磨裝置、基板處理系統以及記錄媒體 |
KR1020180024279A KR20180102012A (ko) | 2017-03-06 | 2018-02-28 | 연마 방법, 연마 장치 및 기판 처리 시스템 |
US15/909,758 US10854473B2 (en) | 2017-03-06 | 2018-03-01 | Polishing method, polishing apparatus, and substrate processing system |
CN201810175382.XA CN108527010B (zh) | 2017-03-06 | 2018-03-02 | 研磨方法、研磨装置以及基板处理系统 |
KR1020230123794A KR20230137857A (ko) | 2017-03-06 | 2023-09-18 | 연마 방법, 연마 장치 및 기판 처리 시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017042131A JP6882017B2 (ja) | 2017-03-06 | 2017-03-06 | 研磨方法、研磨装置、および基板処理システム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018148048A JP2018148048A (ja) | 2018-09-20 |
JP2018148048A5 JP2018148048A5 (ja) | 2019-11-28 |
JP6882017B2 true JP6882017B2 (ja) | 2021-06-02 |
Family
ID=63355663
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017042131A Active JP6882017B2 (ja) | 2017-03-06 | 2017-03-06 | 研磨方法、研磨装置、および基板処理システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10854473B2 (ja) |
JP (1) | JP6882017B2 (ja) |
KR (2) | KR20180102012A (ja) |
CN (1) | CN108527010B (ja) |
TW (1) | TWI750334B (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6113960B2 (ja) * | 2012-02-21 | 2017-04-12 | 株式会社荏原製作所 | 基板処理装置および基板処理方法 |
KR102010271B1 (ko) * | 2017-11-03 | 2019-10-21 | 에이엠테크놀로지 주식회사 | 연마장치 |
US11604415B2 (en) * | 2018-05-29 | 2023-03-14 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing method, substrate processing apparatus, and computer readable recording medium |
CN109015344A (zh) * | 2018-09-25 | 2018-12-18 | 天通银厦新材料有限公司 | 一种蓝宝石基板研磨装置 |
KR102170091B1 (ko) * | 2019-02-21 | 2020-10-27 | 황원규 | 전극봉 연마장치 |
US20210299815A1 (en) * | 2020-03-31 | 2021-09-30 | Illinois Tool Works Inc. | Grinding/polishing devices with recall |
CN114454024B (zh) * | 2021-03-02 | 2023-04-25 | 华中科技大学 | 晶圆加工设备 |
KR20230012775A (ko) * | 2021-07-16 | 2023-01-26 | 삼성전자주식회사 | 챔버 커버를 갖는 기판 처리 장치 |
CN117102971B (zh) * | 2023-08-31 | 2024-02-09 | 龙泉市中泰汽车空调有限公司 | 一种汽车空调离合器表面研磨工艺 |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09115862A (ja) * | 1995-10-20 | 1997-05-02 | Hitachi Ltd | 研磨工具と、それを用いた研磨方法および研磨装置 |
JPH10180622A (ja) * | 1996-12-26 | 1998-07-07 | Canon Inc | 精密研磨装置及び方法 |
JP3485471B2 (ja) * | 1998-07-31 | 2004-01-13 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置及び処理方法 |
WO2001043178A1 (fr) * | 1999-12-07 | 2001-06-14 | Ebara Corporation | Dispositif distribuant du produit de polissage et dispositif de polissage |
JP4858798B2 (ja) | 2001-05-15 | 2012-01-18 | 株式会社ニコン | 研磨装置、研磨方法およびこの研磨装置を用いた半導体デバイス製造方法 |
EP1405889A1 (en) * | 2002-02-20 | 2004-04-07 | Nihon Micro Coating Co., Ltd. | Polishing slurry |
CN1445060A (zh) * | 2002-03-07 | 2003-10-01 | 株式会社荏原制作所 | 抛光装置 |
JP4036724B2 (ja) * | 2002-10-22 | 2008-01-23 | シャープ株式会社 | 洗浄装置および洗浄方法 |
JP2004193289A (ja) * | 2002-12-10 | 2004-07-08 | Ebara Corp | ポリッシング方法 |
EP1737025A4 (en) * | 2004-04-06 | 2009-03-11 | Tokyo Electron Ltd | BOARD CLEANING DEVICE, BOARD CLEANING PROCEDURE AND MEDIUM WITH RECORDED PROGRAM FOR USE IN THE PROCESS |
JP4901301B2 (ja) * | 2006-05-23 | 2012-03-21 | 株式会社東芝 | 研磨方法及び半導体装置の製造方法 |
JP5635270B2 (ja) * | 2009-02-13 | 2014-12-03 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置及び基板処理システム及び基板処理装置の表示方法及び基板処理装置のパラメータ設定方法及び記録媒体 |
US8360817B2 (en) * | 2009-04-01 | 2013-01-29 | Ebara Corporation | Polishing apparatus and polishing method |
JP5775797B2 (ja) * | 2011-11-09 | 2015-09-09 | 株式会社荏原製作所 | 研磨装置および方法 |
JP6113960B2 (ja) * | 2012-02-21 | 2017-04-12 | 株式会社荏原製作所 | 基板処理装置および基板処理方法 |
JP2013244575A (ja) * | 2012-05-28 | 2013-12-09 | Mat:Kk | 研磨装置及び研磨方法 |
JP6100002B2 (ja) | 2013-02-01 | 2017-03-22 | 株式会社荏原製作所 | 基板裏面の研磨方法および基板処理装置 |
JP2014220495A (ja) | 2013-04-12 | 2014-11-20 | レーザーテック株式会社 | 異物除去装置 |
JP6145334B2 (ja) | 2013-06-28 | 2017-06-07 | 株式会社荏原製作所 | 基板処理装置 |
TWI664672B (zh) * | 2013-07-03 | 2019-07-01 | 荏原製作所股份有限公司 | 基板洗淨裝置及基板洗淨方法 |
JP6600470B2 (ja) * | 2014-04-01 | 2019-10-30 | 株式会社荏原製作所 | 洗浄装置及び洗浄方法 |
JP2016058724A (ja) | 2014-09-11 | 2016-04-21 | 株式会社荏原製作所 | 処理モジュール、処理装置、及び、処理方法 |
-
2017
- 2017-03-06 JP JP2017042131A patent/JP6882017B2/ja active Active
-
2018
- 2018-02-27 TW TW107106604A patent/TWI750334B/zh active
- 2018-02-28 KR KR1020180024279A patent/KR20180102012A/ko not_active IP Right Cessation
- 2018-03-01 US US15/909,758 patent/US10854473B2/en active Active
- 2018-03-02 CN CN201810175382.XA patent/CN108527010B/zh active Active
-
2023
- 2023-09-18 KR KR1020230123794A patent/KR20230137857A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018148048A (ja) | 2018-09-20 |
KR20180102012A (ko) | 2018-09-14 |
KR20230137857A (ko) | 2023-10-05 |
US10854473B2 (en) | 2020-12-01 |
CN108527010A (zh) | 2018-09-14 |
TWI750334B (zh) | 2021-12-21 |
TW201843724A (zh) | 2018-12-16 |
US20180254196A1 (en) | 2018-09-06 |
CN108527010B (zh) | 2021-09-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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