JP6879726B2 - 表示パネル - Google Patents

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Description

本発明の一態様は、表示パネル、入出力装置、情報処理装置、半導体装置または表示パネルの作製方法に関する。
なお、本発明の一態様は、上記の技術分野に限定されない。本明細書等で開示する発明の一態様の技術分野は、物、方法、または、製造方法に関するものである。または、本発明の一態様は、プロセス、マシン、マニュファクチャ、または、組成物(コンポジション・オブ・マター)に関するものである。そのため、より具体的に本明細書で開示する本発明の一態様の技術分野としては、半導体装置、表示装置、発光装置、蓄電装置、記憶装置、それらの駆動方法、または、それらの製造方法、を一例として挙げることができる。
例えば、携帯可能な情報処理装置は屋外で使用されることが多く、落下により思わぬ力が情報処理装置およびそれに用いられる表示装置に加わることがある。破壊されにくい表示装置の一例として、発光層を分離する構造体と第2の電極層との密着性が高められた構成が知られている(特許文献1)。
また、基板の同一面側に集光手段と画素電極を設け、集光手段の光軸上に画素電極の可視光を透過する領域を重ねて設ける構成を有する液晶表示装置や、集光方向Xと非集光方向Yを有する異方性の集光手段を用い、非集光方向Yと画素電極の可視光を透過する領域の長軸方向を一致して設ける構成を有する液晶表示装置が、知られている(特許文献2)。
特開2012−190794号公報 特開2011−191750号公報
本発明の一態様は、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供することを課題の一とする。または、利便性または信頼性に優れた新規な入出力装置を提供することを課題の一とする。または、利便性または信頼性に優れた新規な情報処理装置を提供することを課題の一とする。または、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルの作製方法を提供することを課題の一とする。または、新規な表示パネル、新規な入出力装置、新規な情報処理装置、新規な半導体装置または新規な表示装置の作製方法を提供することを課題の一とする。
なお、これらの課題の記載は、他の課題の存在を妨げるものではない。なお、本発明の一態様は、これらの課題の全てを解決する必要はないものとする。なお、これら以外の課題は、明細書、図面、請求項などの記載から、自ずと明らかとなるものであり、明細書、図面、請求項などの記載から、これら以外の課題を抽出することが可能である。
(1)本発明の一態様は、画素と、絶縁膜と、第3の導電膜と、電極と、を有する表示パネルである。
絶縁膜は画素と重なる領域を備え、絶縁膜は開口部を備える。
第3の導電膜は画素と電気的に接続され、第3の導電膜は絶縁膜と重なる領域を備え、第3の導電膜は開口部と重なる領域を備える。
電極は第3の導電膜と電気的に接続され、電極は第1の領域および第2の領域を備える。
第1の領域は第3の導電膜と接する。第2の領域は接点の機能を備える。
開口部は、第3の導電膜または電極に塞がれる領域を備える。
(2)また、本発明の一態様は、絶縁膜が0.2μm以上1.5μm以下の厚さを備え、絶縁膜が10−3g/(m・day)以下、好ましくは10−4g/(m・day)以下、より好ましくは10−5g/(m・day)以下の水蒸気透過率を備える、上記の表示パネルである。
(3)また、本発明の一態様は、第1の基材と、第2の基材と、を有する上記の表示パネルである。
第1の基材は絶縁膜と重なる領域を備え、第2の基材は第1の基材との間に絶縁膜を挟む領域を備える。
上記本発明の一態様の表示パネルは、画素と、画素と電気的に接続される第3の導電膜と、第3の導電膜と重なる開口部を備える絶縁膜と、第3の導電膜と接する第1の領域、および接点の機能を具備する第2の領域を備える電極と、を含んで構成される。これにより、絶縁膜を用いて保護された画素に信号または電力等を供給することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供することができる。
(4)また、本発明の一態様は、一群の複数の画素と、他の一群の複数の画素と、信号線と、走査線と、を有する上記の表示パネルである。
一群の複数の画素は上記画素を含み、一群の複数の画素は行方向に配設される。
他の一群の複数の画素は上記画素を含み、他の一群の複数の画素は行方向と交差する列方向に配設される。
一群の複数の画素は、走査線と電気的に接続される。
他の一群の複数の画素は、信号線と電気的に接続される。
走査線または信号線は、第3の導電膜と電気的に接続される。
(5)また、本発明の一態様は、駆動回路を有する上記の表示パネルである。
駆動回路は画像信号を供給する機能を備え、駆動回路は第2の領域と電気的に接続される。信号線は、第3の導電膜と電気的に接続される。
(6)また、本発明の一態様は、第1の基材が可撓性を備え、第2の基材が可撓性を備える上記の表示パネルである。画素は、画素回路と、表示素子と、を備える。
画素回路は、信号線と電気的に接続される。表示素子は、画素回路と電気的に接続される。
上記本発明の一態様の表示パネルは、可撓性を備える第1の基材と、可撓性を備える第2の基材と、第1の基材および第2の基材の間に挟まれる絶縁膜と重なる画素回路と電気的に接続される表示素子と、を含んで構成される。これにより、第1の基材および第2の基材の間に挟んで表示素子を屈曲することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供することができる。
(7)また、本発明の一態様は、画素が、画素回路と、第1の導電膜と、第1の表示素子と、第2の表示素子と、を備える表示パネルである。
画素回路は信号線と電気的に接続される。
第1の導電膜は第2の導電膜と重なる領域を備え、第1の導電膜は第2の導電膜との間に絶縁膜を挟む領域を備える。第1の導電膜は第2の導電膜との間に開口部を挟む領域を備え、第1の導電膜は開口部において第2の導電膜と電気的に接続される。
第1の表示素子は第1の導電膜と電気的に接続される。第2の表示素子は画素回路と電気的に接続される。
これにより、例えば同一の工程を用いて形成することができる画素回路を用いて、第1の表示素子と、第1の表示素子とは異なる方法を用いて表示をする第2の表示素子と、を駆動することができる。具体的には、反射型の表示素子を第1の表示素子に用いて、消費電力を低減することができる。または、外光が明るい環境下において高いコントラストで画像を良好に表示することができる。または、光を射出する第2の表示素子を用いて、暗い環境下で画像を良好に表示することができる。また、絶縁膜を用いて、第1の表示素子および第2の表示素子の間または第1の表示素子および画素回路の間における不純物の拡散を抑制することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供することができる。
(8)また、本発明の一態様は、第1の表示素子を用いた表示を視認できる範囲の一部において、第2の表示素子を用いた表示を視認できるように、上記の第2の表示素子が配設される上記の表示パネルである。
これにより、第1の表示素子を用いた表示を視認することができる領域の一部において、第2の表示素子を用いた表示を視認することができる。または、表示パネルの姿勢等を変えることなく使用者は表示を視認することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供することができる。
(9)また、本発明の一態様は、上記の表示パネルと、入力部と、を有する入出力装置である。
入力部は表示パネルと重なる領域を備え、入力部は制御線と、検知信号線と、検知素子と、を備える。
検知素子は、制御線および検知信号線と電気的に接続される。
制御線は、制御信号を供給する機能を備える。
検知素子は制御信号を供給され、検知素子は制御信号および表示パネルと重なる領域に近接するものとの距離に基づいて変化する検知信号を供給する機能を備える。
検知信号線は、検知信号を供給される機能を備える。
検知素子は透光性を備え、検知素子は第1の電極と、第2の電極と、を備える。
第1の電極は制御線と電気的に接続され、第2の電極は検知信号線と電気的に接続され、第2の電極は、表示パネルと重なる領域に近接するものによって一部が遮られる電界を、第1の電極との間に形成するように配置される。
これにより、表示パネルを用いて画像情報を表示しながら、表示パネルと重なる領域に近接するものを検知することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な入出力装置を提供することができる。
(10)また、本発明の一態様は、キーボード、ハードウェアボタン、ポインティングデバイス、タッチセンサ、照度センサ、撮像装置、音声入力装置、視点入力装置、姿勢検出装置、のうち一以上と、上記の入出力装置と、を含む、情報処理装置である。
これにより、入出力装置を用いて供給する位置情報に基づいて、画像情報または制御情報を演算装置に生成させることができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な情報処理装置を提供することができる。
(11)また、本発明の一態様は、第1のステップ乃至第11のステップを有する上記の表示パネルの作製方法である。
第1のステップにおいて、剥離膜を工程用基板に形成する。
第2のステップにおいて、剥離膜と重なる領域を備える第1の絶縁膜を形成する。
第3のステップにおいて、第1の絶縁膜を加熱する。
第4のステップにおいて、第1の絶縁膜と重なる領域を備える第2の絶縁膜を形成する。
第5のステップにおいて、第2の絶縁膜に開口部を、第1の絶縁膜および剥離膜に上記開口部と重なる開口部を形成する。
第6のステップにおいて、工程用基板に接する電極を開口部に形成する。
第7のステップにおいて、電極と接する導電膜および導電膜と電気的に接続される画素回路を形成する。
第8のステップにおいて、画素回路と電気的に接続される表示素子を形成する。
第9のステップにおいて、第2の絶縁膜と重なるように第2の基材を積層する。
第10のステップにおいて、工程用基板から分離する。
第11のステップにおいて、第1の基材を積層する。
上記本発明の一態様の表示パネルの作製方法は、剥離膜を工程用基板に形成するステップと、第2の絶縁膜に開口部を形成し、当該開口部と重なる開口部を剥離膜に形成するステップと、工程用基板に接する電極を当該開口部に形成するステップと、電極に接する導電膜、導電膜と電気的に接続される画素回路および画素回路と電気的に接続される表示素子を形成するステップと、工程用基板から分離するステップと、を含んで構成される。これにより、一方の端部が導電膜に接し、他方の端部が開口部に露出する電極を形成することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルの作製方法を提供することができる。
本明細書に添付した図面では、構成要素を機能ごとに分類し、互いに独立したブロックとしてブロック図を示しているが、実際の構成要素は機能ごとに完全に切り分けることが難しく、一つの構成要素が複数の機能に係わることもあり得る。
本明細書においてトランジスタが有するソースとドレインは、トランジスタの極性及び各端子に与えられる電位の高低によって、その呼び方が入れ替わる。一般的に、nチャネル型トランジスタでは、低い電位が与えられる端子がソースと呼ばれ、高い電位が与えられる端子がドレインと呼ばれる。また、pチャネル型トランジスタでは、低い電位が与えられる端子がドレインと呼ばれ、高い電位が与えられる端子がソースと呼ばれる。本明細書では、便宜上、ソースとドレインとが固定されているものと仮定して、トランジスタの接続関係を説明する場合があるが、実際には上記電位の関係に従ってソースとドレインの呼び方が入れ替わる。
本明細書においてトランジスタのソースとは、活性層として機能する半導体膜の一部であるソース領域、或いは上記半導体膜に接続されたソース電極を意味する。同様に、トランジスタのドレインとは、上記半導体膜の一部であるドレイン領域、或いは上記半導体膜に接続されたドレイン電極を意味する。また、ゲートはゲート電極を意味する。
本明細書においてトランジスタが直列に接続されている状態とは、例えば、第1のトランジスタのソースまたはドレインの一方のみが、第2のトランジスタのソースまたはドレインの一方のみに接続されている状態を意味する。また、トランジスタが並列に接続されている状態とは、第1のトランジスタのソースまたはドレインの一方が第2のトランジスタのソースまたはドレインの一方に接続され、第1のトランジスタのソースまたはドレインの他方が第2のトランジスタのソースまたはドレインの他方に接続されている状態を意味する。
本明細書において接続とは、電気的な接続を意味しており、電流、電圧または電位が、供給可能、或いは伝送可能な状態に相当する。従って、接続している状態とは、直接接続している状態を必ずしも指すわけではなく、電流、電圧または電位が、供給可能、或いは伝送可能であるように、配線、抵抗、ダイオード、トランジスタなどの回路素子を介して間接的に接続している状態も、その範疇に含む。
本明細書において回路図上は独立している構成要素どうしが接続されている場合であっても、実際には、例えば配線の一部が電極として機能する場合など、一の導電膜が、複数の構成要素の機能を併せ持っている場合もある。本明細書において接続とは、このような、一の導電膜が、複数の構成要素の機能を併せ持っている場合も、その範疇に含める。
また、本明細書中において、トランジスタの第1の電極または第2の電極の一方がソース電極を、他方がドレイン電極を指す。
本発明の一態様によれば、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供できる。または、利便性または信頼性に優れた新規な入出力装置を提供できる。または、利便性または信頼性に優れた新規な情報処理装置を提供できる。または、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルの作製方法を提供できる。または、新規な表示パネル、新規な入出力装置、新規な情報処理装置、新規な半導体装置または新規な表示パネルの作製方法を提供できる。
なお、これらの効果の記載は、他の効果の存在を妨げるものではない。なお、本発明の一態様は、必ずしも、これらの効果の全てを有する必要はない。なお、これら以外の効果は、明細書、図面、請求項などの記載から、自ずと明らかとなるものであり、明細書、図面、請求項などの記載から、これら以外の効果を抽出することが可能である。
実施の形態に係る入出力装置の構成を説明する図。 実施の形態に係る入出力装置の画素の構成を説明する図。 実施の形態に係る入出力装置の構成を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の構成を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の画素回路の構成を説明する回路図。 実施の形態に係る入出力装置の構成を説明するブロック図。 実施の形態に係る入出力装置の構成を説明する上面図。 実施の形態に係る入出力装置の画素の構成を説明する図。 実施の形態に係る入出力装置の構成を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の構成を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の画素回路の構成を説明する回路図。 実施の形態に係る入出力装置の構成を説明するブロック図。 実施の形態に係る入出力装置の表示パネルの反射膜の形状を説明する模式図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明するフロー図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明するフロー図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る入出力装置の作製方法を説明する断面図。 実施の形態に係る電子機器の構成を説明する図。 実施の形態に係る入出力装置の構成を説明する図。
本発明の一態様の表示パネルは、画素と、画素と電気的に接続される第3の導電膜と、第3の導電膜と重なる開口部を備える絶縁膜と、第3の導電膜と接する第1の領域および接点の機能を具備する第2の領域を備える電極と、を含んで構成される。
これにより、絶縁膜を用いて保護された画素に信号または電力等を供給することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供することができる。
実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。但し、本発明は以下の説明に限定されず、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明は以下に示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。なお、以下に説明する発明の構成において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号を異なる図面間で共通して用い、その繰り返しの説明は省略する。
(実施の形態1)
本実施の形態では、本発明の一態様の入出力装置の構成について、図1乃至図6を参照しながら説明する。
図1は本発明の一態様の入出力装置の構成を説明する図である。図1(A)は本発明の一態様の入出力装置の上面図である。図1(B−1)は本発明の一態様の入出力装置の入力部の一部を説明する模式図であり、図1(B−2)は図1(B−1)の一部を説明する模式図である。図1(C)は、本発明の一態様の入出力装置の表示パネルの一部を説明する模式図である。
図2は本発明の一態様の入出力装置の画素の構成を説明する図である。図2(A)は本発明の一態様の入出力装置の画素の上面図であり、図2(B)は図2(A)の一部を説明する図である。
図3および図4は本発明の一態様の入出力装置の構成を説明する断面図である。図3(A)は図1(A)の切断線X1−X2、切断線X3−X4、切断線X5−X6における断面図であり、図3(B)は図3(A)の一部を説明する図であり、図3(C)は、図3(A)の一部を説明する模式図である。
図4は図1(A)の切断線X7−X8、切断線X9−X10、切断線X11−X12における断面図である。
図5は本発明の一態様の入出力装置の画素回路の構成を説明する回路図である。
図6は本発明の一態様の入出力装置の構成を説明するブロック図である。図6(A)は本発明の一態様の表示パネルの構成を説明するブロック図であり、図6(B)は本発明の一態様の入出力装置の入力部の構成を説明するブロック図である。
<入出力装置の構成例1.>
本実施の形態で説明する入出力装置700TP1は、表示パネルと、入力部と、を有する(図3または図6参照)。
《表示パネルの構成例》
本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルは、画素702(i,j)と、絶縁膜501Cと、第3の導電膜511Bと、電極519Bと、を有する(図3(A)参照)。
絶縁膜501Cは画素702(i,j)と重なる領域を備え、絶縁膜501Cは開口部591Bを備える。
第3の導電膜511Bは画素702(i,j)と電気的に接続され、第3の導電膜511Bは絶縁膜501Cと重なる領域を備え、第3の導電膜511Bは開口部591Bと重なる領域を備える。
電極519Bは第3の導電膜511Bと電気的に接続される。電極519Bは、第1の領域519B1および第2の領域519B2を備える(図3(C)参照)。
第1の領域519B1は第3の導電膜511Bと接し、第2の領域519B2は接点の機能を備える。開口部591Bは、第3の導電膜511Bまたは電極519Bに塞がれる領域を備える。ところで、絶縁膜501Cに設けられた開口部591Bの一部を塞ぐ第3の導電膜511Bまたは電極519Bを、貫通電極ということができる。言い換えると、開口部591Bの一部を埋める第3の導電膜511Bまたは電極519Bを、貫通電極ということができる。また、例えば第2の領域519B2は、絶縁膜501Aの表面から突出する形状を備える。
絶縁膜501Cは、0.2μm以上1.5μm以下の厚さを備え、10−3g/(m・day)以下、好ましくは10−4g/(m・day)以下、より好ましくは10−5g/(m・day)以下の水蒸気透過率を備える。
また、本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルは、第1の基材510Lと、第2の基材710Lと、を有する(図4参照)。
第1の基材510Lは絶縁膜501Cと重なる領域を備え、第2の基材710Lは第1の基材510Lとの間に、絶縁膜501Cを挟む領域を備える。
本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルは、画素と、画素と電気的に接続される第3の導電膜と、第3の導電膜と重なる開口部を備える絶縁膜と、第3の導電膜と接する第1の領域および接点の機能を具備する第2の領域を備える電極と、を含んで構成される。これにより、絶縁膜を用いて保護された画素に信号または電力等を供給することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供することができる。
また、本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルは、一群の複数の画素702(i,1)乃至画素702(i,n)と、他の一群の複数の画素702(1,j)乃至画素702(m,j)と、信号線S2(j)と、走査線G2(i)と、を有する(図6(A)参照)。なお、iは1以上m以下の整数であり、jは1以上n以下の整数であり、mまたはnの一方は1より大きい整数である。
一群の複数の画素702(i,1)乃至画素702(i,n)は、画素702(i,j)を含む。一群の複数の画素702(i,1)乃至画素702(i,n)は、行方向(図中に矢印R1で示す)に配設される。
他の一群の複数の画素702(1,j)乃至画素702(m,j)は、画素702(i,j)を含む。他の一群の複数の画素702(1,j)乃至画素702(m,j)は、行方向と交差する列方向(図中に矢印C1で示す)に配設される。
走査線G2(i)は、一群の複数の画素702(i,1)乃至画素702(i,n)と電気的に接続される。
他の一群の複数の画素702(1,j)乃至画素702(m,j)は、信号線S2(j)と電気的に接続される。
走査線G2(i)または信号線S2(j)は、第3の導電膜511Bと電気的に接続される。
また、本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルは、駆動回路SDを有する(図6(A)参照)。駆動回路SDは画像信号を供給する機能を備え、駆動回路SDは第2の領域519B2と電気的に接続される。信号線S2(j)は、第3の導電膜511Bと電気的に接続される。
なお、例えば、導電材料ACF1を用いて、電極519Bとフレキシブルプリント基板FPC1を電気的に接続することができる。
また、第1の基材510Lは可撓性を備え、第2の基材710Lは可撓性を備える(図3(A)または図4参照)。
また、本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルの画素702(i,j)は、画素回路530(i,j)と、表示素子550(i,j)と、を備える。
画素回路530(i,j)は、信号線S2(j)と電気的に接続され、表示素子550(i,j)は、画素回路530(i,j)と電気的に接続される(図3(A)または図5参照)。
本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルは、可撓性を備える第1の基材と、可撓性を備える第2の基材と、第1の基材および第2の基材の間に挟まれる絶縁膜と、当該絶縁膜と重なる画素回路と電気的に接続される表示素子と、を含んで構成される。これにより、第1の基材および第2の基材の間に挟んで表示素子を屈曲することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供することができる。
また、本実施の形態で説明する表示パネルは、絶縁膜501Aを有する(図3(A)または図4参照)。絶縁膜501Aは、開口部591Bと重なる開口部および開口部591Cと重なる開口部を備える。
また、本実施の形態で説明する表示パネルは、導電膜ANOを有する(図6参照)。
また、本実施の形態で説明する表示パネルの表示素子550(i,j)は、第3の電極551(i,j)と、第4の電極552と、発光性の材料を含む層553(j)と、を備える(図3(A)参照)。なお、第3の電極551(i,j)は、導電膜ANOと電気的に接続され、第4の電極552は、第4の導電膜VCOM2と電気的に接続される(図5参照)。
第3の電極551(i,j)は、接続部522において、画素回路530(i,j)と電気的に接続される(図3(A)参照)。
第4の電極552は、第3の電極551(i,j)と重なる領域を備える。発光性の材料を含む層553(j)は、第3の電極551(i,j)および第4の電極552の間に挟まれる領域を備える。
また、本実施の形態で説明する表示パネルは、遮光膜BMと、絶縁膜771と、機能膜770Pと、を有する。また、着色膜CF1を有する(図3(A)および図4参照)。
遮光膜BMは、表示素子550(i,j)と重なる領域に開口部を備える。
着色膜CF1は、第2の基材710Lおよび表示素子550(i,j)の間に挟まれる領域を備え、表示素子550(i,j)と重なる領域を備える。
絶縁膜771は、着色膜CF1と表示素子550(i,j)の間または遮光膜BMと表示素子550(i,j)の間に挟まれる領域を備える。これにより、着色膜CF1の厚さに基づく凹凸を平坦にすることができる。または、遮光膜BMまたは着色膜CF1等から表示素子550(i,j)への不純物の拡散を、抑制することができる。
機能膜770Pは、表示素子550(i,j)と重なる領域を備える。
また、本実施の形態で説明する表示パネルは、第1の基材510Lと、第2の基材710Lと、機能層520と、を有する。
第2の基材710Lは第1の基材510Lと重なる領域を備える。第2の基材710Lは絶縁膜710A、基材710B、接合層710Cを備える。絶縁膜710Aは基材710Bと重なる領域を備え、接合層710Cは絶縁膜710Aおよび基材710Bの間に挟まれる領域を備える。
第1の基材510Lは、基材510Bおよび接合層510Cを備える。接合層510Cは基材510Bと重なる領域を備える。
機能層520は第1の基材510Lおよび第2の基材710Lの間に挟まれる領域を備える。機能層520は、画素回路530(i,j)と、表示素子550(i,j)と、絶縁膜521と、絶縁膜528と、を含む。機能層520は絶縁膜518および絶縁膜516を含む(図3(A)および図3(B)参照)。
絶縁膜521は、画素回路530(i,j)および表示素子550(i,j)の間に挟まれる領域を備える。
絶縁膜528は絶縁膜521および第2の基材710Lの間に挟まれる領域を備える。絶縁膜528は表示素子550(i,j)と重なる領域に開口部を備える。
第3の電極551(i,j)の周縁に沿って形成される絶縁膜528は、第3の電極551(i,j)および第4の電極の短絡を防止する。
絶縁膜518は絶縁膜521および画素回路530(i,j)の間に挟まれる領域を備える。絶縁膜516は絶縁膜518および画素回路530(i,j)の間に挟まれる領域を備える(図3(B)参照)。
接合層709は、機能層520および第2の基材710Lの間に挟まれる領域を備え、機能層520および第2の基材710Lを貼り合せる機能を備える。
電極519Cは導電膜511Cと電気的に接続される(図4参照)。電極519Cは、第1の領域および第2の領域を備える。第1の領域は導電膜511Cと接し、第2の領域は接点の機能を備える。開口部591Cは、導電膜511Cまたは電極519Cに塞がれる領域を備える。また、例えば第2の領域は、絶縁膜501Aの表面から突出する形状を備える。
また、本実施の形態で説明する表示パネルは、駆動回路GDと、駆動回路SDと、を有する(図1および図6参照)。
駆動回路GDは、走査線G2(i)と電気的に接続される。駆動回路GDは、例えばトランジスタMDを備える(図3(A)参照)。具体的には、画素回路530(i,j)が備えるトランジスタに含まれる半導体膜と同じ工程で形成することができる半導体膜を、トランジスタMDに用いることができる。
《入力部の構成例》
本実施の形態で説明する入出力装置の入力部は、表示パネルと重なる領域を備える(図1(A)、図3(A)および図4参照)。
入力部は制御線CL(g)と、検知信号線ML(h)と、検知素子775(g,h)と、を備える(図1(B−2)参照)。
検知素子775(g,h)は、制御線CL(g)および検知信号線ML(h)と電気的に接続される。
制御線CL(g)は、制御信号を供給する機能を備える。
検知素子775(g,h)は制御信号を供給され、検知素子775(g,h)は制御信号および表示パネルと重なる領域に近接するものとの距離に基づいて変化する検知信号を供給する機能を備える。
検知信号線ML(h)は、検知信号を供給される機能を備える。
検知素子775(g,h)は透光性を備える。検知素子775(g,h)は第1の電極C(g)と、第2の電極M(h)と、を備える。
第1の電極C(g)は制御線CL(g)と電気的に接続される。第2の電極M(h)は検知信号線ML(h)と電気的に接続され、第2の電極M(h)は表示パネルと重なる領域に近接するものによって一部が遮られる電界を、第1の電極C(g)との間に形成するように配置される。
これにより、表示パネルを用いて画像情報を表示しながら、表示パネルと重なる領域に近接するものを検知することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な入出力装置を提供することができる。
また、本実施の形態で説明する入力部は、第2の基材710Lと、接合層709の間に挟まれる領域を備える(図3(A)または図4参照)。
本実施の形態で説明する入力部は、機能膜770Pを備える。機能膜770Pは、表示素子550(i,j)との間に検知素子775(g,h)を挟むように配設される。これにより、例えば、検知素子775(g,h)が反射する光の強度を低減することができる。
本実施の形態で説明する入力部は、一群の検知素子775(g,1)乃至検知素子775(g,q)と、他の一群の検知素子775(1,h)乃至検知素子775(p,h)と、を有する(図6(B)参照)。なお、gは1以上p以下の整数であり、hは1以上q以下の整数であり、pおよびqは1以上の整数である。
一群の検知素子775(g,1)乃至検知素子775(g,q)は、検知素子775(g,h)を含み、行方向(図中に矢印R2で示す方向)に配設される。なお、図6(B)に矢印R2で示す方向は、図6(A)に矢印R1で示す方向と同じであっても良いし、異なっていてもよい。
また、他の一群の検知素子775(1,h)乃至検知素子775(p,h)は、検知素子775(g,h)を含み、行方向と交差する列方向(図中に矢印C2で示す方向)に配設される。
行方向に配設される一群の検知素子775(g,1)乃至検知素子775(g,q)は、制御線CL(g)と電気的に接続される電極C(g)を含む。
列方向に配設される他の一群の検知素子775(1,h)乃至検知素子775(p,h)は、検知信号線ML(h)と電気的に接続される電極M(h)を含む。
また、本実施の形態で説明する入出力装置の制御線CL(g)は、導電膜BR(g,h)を含む(図3(A)参照)。導電膜BR(g,h)は、検知信号線ML(h)と重なる領域を備える。
絶縁膜706は、検知信号線ML(h)および導電膜BR(g,h)の間に挟まれる領域を備える。これにより、検知信号線ML(h)および導電膜BR(g,h)の短絡を防止することができる。
また、本実施の形態で説明する入出力装置は、発振回路OSCおよび検知回路DCを備える(図6(B)参照)。
発振回路OSCは制御線CL(g)と電気的に接続される。発振回路OSCは制御信号を供給する機能を備える。例えば、矩形波、のこぎり波また三角波等を制御信号に用いることができる。
検知回路DCは検知信号線ML(h)と電気的に接続される。検知回路DCは検知信号線ML(h)の電位の変化に基づいて検知信号を供給する機能を備える。
また、本実施の形態で説明する入力部は機能層720を有する。
機能層720は、表示素子550(i,j)および基材710Lの間に挟まれる領域を備える。機能層720は、検知素子775(g,h)と、絶縁膜706と、を備える。
また、本実施の形態で説明する入力部は、端子719、電極552Cおよび導電材料CPを備える(図4参照)。
端子719は制御線CL(g)または検知信号線ML(h)と電気的に接続される。電極552Cは導電膜511Cと電気的に接続される。導電材料CPは端子719および導電膜511Cの間に挟まれる領域を備える。導電材料CPは端子719および導電膜511Cを電気的に接続する。
なお、例えば、導電材料ACF2を用いて、端子719とフレキシブルプリント基板FPC2を電気的に接続することができる(図4参照)。
以下に、入出力装置を構成する個々の要素について説明する。なお、これらの構成は明確に分離できず、一つの構成が他の構成を兼ねる場合や他の構成の一部を含む場合がある。
《構成例》
本発明の一態様の入出力装置は、表示パネルまたは入力部を有する。
本発明の一態様の表示パネルは、基材510L、基材710Lまたは接合層709を有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、機能層520、絶縁膜521または絶縁膜528を有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、信号線S2(j)、走査線G2(i)または導電膜ANOを有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、電極519B、電極519C、導電膜511Bまたは導電膜511Cを有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、画素回路530(i,j)またはスイッチSW2を有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、着色膜CF1、遮光膜BM、絶縁膜771または機能膜770Pを有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、表示素子550(i,j)、第3の電極551(i,j)、第4の電極552または発光性の材料を含む層553(j)を有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、絶縁膜501Aおよび絶縁膜501Cを有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、駆動回路GDまたは駆動回路SDを有する。
《基材510L》
作製工程中の熱処理に耐えうる程度の耐熱性を有する材料を基材510L等に用いることができる。例えば、厚さ0.1mm以上厚さ0.7mm以下の材料を基材510Lに用いることができる。具体的には、厚さ0.1mm程度まで研磨した材料を用いることができる。
例えば、第6世代(1500mm×1850mm)、第7世代(1870mm×2200mm)、第8世代(2200mm×2400mm)、第9世代(2400mm×2800mm)、第10世代(2950mm×3400mm)等の面積が大きなガラス基板を基材510L等に用いることができる。これにより、大型の表示装置を作製することができる。
有機材料、無機材料または有機材料と無機材料等の複合材料等を基材510L等に用いることができる。例えば、ガラス、セラミックス、金属等の無機材料を基材510L等に用いることができる。
具体的には、無アルカリガラス、ソーダ石灰ガラス、カリガラス、クリスタルガラス、アルミノ珪酸ガラス、強化ガラス、化学強化ガラス、石英またはサファイア等を、基材510L等に用いることができる。具体的には、無機酸化物膜、無機窒化物膜または無機酸窒化物膜等を、基材510L等に用いることができる。例えば、酸化シリコン膜、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、酸化アルミニウム膜等を、基材510L等に用いることができる。ステンレス・スチールまたはアルミニウム等を、基材510L等に用いることができる。
例えば、シリコンや炭化シリコンからなる単結晶半導体基板、多結晶半導体基板、シリコンゲルマニウム等の化合物半導体基板、SOI基板等を基材510L等に用いることができる。これにより、半導体素子を基材510L等に形成することができる。
例えば、樹脂、樹脂フィルムまたはプラスチック等の有機材料を基材510L等に用いることができる。具体的には、ポリエステル、ポリオレフィン、ポリアミド、ポリイミド、ポリカーボネートまたはアクリル樹脂等の樹脂フィルムまたは樹脂板を、基材510L等に用いることができる。
例えば、可撓性を備える積層材料を基材510Lに用いることができる。具体的には、接合層510Cおよび基材510Bを積層した積層材料を、基材510Lに用いることができる。なお、接合層510Cは絶縁膜501Aおよび基材510Bを貼り合わせる機能を備える。
例えば、金属板、薄板状のガラス板または無機材料等の膜を樹脂フィルム等に貼り合わせた複合材料を基材510L等に用いることができる。例えば、繊維状または粒子状の金属、ガラスもしくは無機材料等を樹脂フィルムに分散した複合材料を、基材510L等に用いることができる。例えば、繊維状または粒子状の樹脂もしくは有機材料等を無機材料に分散した複合材料を、基材510L等に用いることができる。
また、単層の材料または複数の層が積層された材料を、基材510L等に用いることができる。例えば、基材と基材に含まれる不純物の拡散を防ぐ絶縁膜等が積層された材料を、基材510L等に用いることができる。具体的には、ガラスとガラスに含まれる不純物の拡散を防ぐ酸化シリコン層、窒化シリコン層または酸化窒化シリコン層等から選ばれた一または複数の膜が積層された材料を、基材510L等に用いることができる。または、樹脂と樹脂を透過する不純物の拡散を防ぐ酸化シリコン膜、窒化シリコン膜または酸化窒化シリコン膜等が積層された材料を、基材510L等に用いることができる。
具体的には、ポリエステル、ポリオレフィン、ポリアミド、ポリイミド、ポリカーボネート若しくはアクリル樹脂等の樹脂フィルム、樹脂板または積層材料等を基材510L等に用いることができる。
具体的には、ポリエステル、ポリオレフィン、ポリアミド(ナイロン、アラミド等)、ポリイミド、ポリカーボネート、ポリウレタン、アクリル樹脂、エポキシ樹脂もしくはシリコーン等のシロキサン結合を有する樹脂を含む材料を基材510L等に用いることができる。
具体的には、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエーテルサルフォン(PES)またはアクリル等を基材510L等に用いることができる。
また、紙または木材などを基材510L等に用いることができる。
例えば、可撓性を有する基板を基材510L等に用いることができる。
なお、トランジスタまたは容量素子等を基板に直接形成する方法を用いることができる。また、例えば作製工程中に加わる熱に耐熱性を有する工程用の基板にトランジスタまたは容量素子等を形成し、形成されたトランジスタまたは容量素子等を基材510L等に転置する方法を用いることができる。これにより、例えば可撓性を有する基板にトランジスタまたは容量素子等を形成できる。
《基材710L》
例えば、透光性を備える材料を基材710Lに用いることができる。具体的には、基材510Lに用いることができる材料から選択された材料を基材710Lに用いることができる。
例えば、アルミノ珪酸ガラス、強化ガラス、化学強化ガラスまたはサファイア等を、表示パネルの使用者に近い側に配置される基材710Lに好適に用いることができる。これにより、使用に伴う表示パネルの破損や傷付きを防止することができる。
また、例えば、厚さ0.1mm以上厚さ0.7mm以下の材料を基材710Lに用いることができる。具体的には、厚さを薄くするために研磨した基板を用いることができる。
例えば、可撓性を備える積層材料を基材710Lに用いることができる。具体的には、接合層710Cを用いて絶縁膜710Aおよび基材710Bを貼り合せた積層材料を、基材710Lに用いることができる。
《接合層709》
無機材料、有機材料または無機材料と有機材料の複合材料等を接合層709等に用いることができる。
例えば、熱溶融性の樹脂または硬化性の樹脂等の有機材料を、接合層709等に用いることができる。
例えば、反応硬化型接着剤、光硬化型接着剤、熱硬化型接着剤または/および嫌気型接着剤等の有機材料を接合層709等に用いることができる。
具体的には、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、シリコーン樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、イミド樹脂、PVC(ポリビニルクロライド)樹脂、PVB(ポリビニルブチラル)樹脂、EVA(エチレンビニルアセテート)樹脂等を含む接着剤を接合層709等に用いることができる。
《絶縁膜521》
例えば、絶縁性の無機材料、絶縁性の有機材料または無機材料と有機材料を含む絶縁性の複合材料を、絶縁膜521等に用いることができる。
具体的には、無機酸化物膜、無機窒化物膜または無機酸化窒化物膜等またはこれらから選ばれた複数を積層した積層材料を、絶縁膜521等に用いることができる。例えば、酸化シリコン膜、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、酸化アルミニウム膜等またはこれらから選ばれた複数を積層した積層材料を含む膜を、絶縁膜521等に用いることができる。
具体的には、ポリエステル、ポリオレフィン、ポリアミド、ポリイミド、ポリカーボネート、ポリシロキサン若しくはアクリル樹脂等またはこれらから選択された複数の樹脂の積層材料もしくは複合材料などを絶縁膜521等に用いることができる。また、感光性を有する材料を用いて形成してもよい。
これにより、例えば絶縁膜521と重なるさまざまな構造に由来する段差を平坦化することができる。
《絶縁膜528》
例えば、絶縁膜521に用いることができる材料を絶縁膜528等に用いることができる。具体的には、厚さ1μmのポリイミドを含む膜を絶縁膜528に用いることができる。
《絶縁膜501A》
例えば、絶縁膜521に用いることができる材料を絶縁膜501Aに用いることができる。また、例えば、水素を供給する機能を備える材料を絶縁膜501Aに用いることができる。
具体的には、シリコンおよび酸素を含む材料と、シリコンおよび窒素を含む材料と、を積層した材料を、絶縁膜501Aに用いることができる。例えば、加熱等により水素を放出し、放出した水素を他の構成に供給する機能を備える材料を、絶縁膜501Aに用いることができる。具体的には、作製工程中に取り込まれた水素を加熱等により放出し、他の構成に供給する機能を備える材料を絶縁膜501Aに用いることができる。
例えば、原料ガスにシラン等を用いる化学気相成長法により形成されたシリコンおよび酸素を含む膜を、絶縁膜501Aに用いることができる。
具体的には、シリコンおよび酸素を含む厚さ200nm以上600nm以下の材料と、シリコンおよび窒素を含む厚さ200nm程度の材料と、を積層した材料を絶縁膜501Aに用いることができる。
例えば、シリコンおよび酸素を含む厚さ600nmの材料と、シリコンおよび窒素を含む厚さ200nmの材料と、を積層した材料を絶縁膜501Aに用いることができる。または、シリコンおよび酸素を含む厚さ600nmの材料と、シリコンおよび窒素を含む厚さ280nmの材料と、を積層した材料を絶縁膜501Aに用いることができる。
《絶縁膜501C》
例えば、絶縁膜521に用いることができる材料を絶縁膜501Cに用いることができる。具体的には、シリコンおよび酸素を含む材料を絶縁膜501Cに用いることができる。これにより、画素回路または表示素子等への不純物の拡散を抑制することができる。
例えば、シリコン、酸素および窒素を含む厚さ200nmの膜を絶縁膜501Cに用いることができる。または、シリコン、酸素および窒素を含む厚さ600nmの膜と、シリコンおよび窒素を含む厚さ200nmの膜と、シリコンおよび窒素を含む厚さ350nmの膜と、を積層した材料を絶縁膜501Cに用いることができる。
または、シリコン、酸素および窒素を含む厚さ200nmの膜と、シリコンおよび窒素を含む厚さ100nmの膜と、シリコン、酸素および窒素を含む厚さ100nmの膜と、を積層した材料を絶縁膜501Cに用いることができる。
または、シリコン、酸素および窒素を含む厚さ180nmの膜と、シリコンおよび窒素を含む厚さ140nmの膜と、シリコン、酸素および窒素を含む厚さ215nmの膜と、を積層した材料を、絶縁膜501Cに用いることができる。
《配線、電極、端子、導電膜》
導電性を備える材料を配線等に用いることができる。具体的には、導電性を備える材料を、信号線S2(j)、走査線G2(i)、導電膜ANO、電極519B、電極519C、端子719、導電膜511Bまたは導電膜511C等に用いることができる。
例えば、無機導電性材料、有機導電性材料、金属または導電性セラミックスなどを配線等に用いることができる。
具体的には、アルミニウム、金、白金、銀、銅、クロム、タンタル、チタン、モリブデン、タングステン、ニッケル、鉄、コバルト、パラジウムまたはマンガンから選ばれた金属元素などを、配線等に用いることができる。または、上述した金属元素を含む合金などを、配線等に用いることができる。特に、銅とマンガンの合金がウエットエッチング法を用いた微細加工に好適である。
具体的には、アルミニウム膜上にチタン膜を積層する二層構造、窒化チタン膜上にチタン膜を積層する二層構造、窒化チタン膜上にタングステン膜を積層する二層構造、窒化タンタル膜または窒化タングステン膜上にタングステン膜を積層する二層構造、チタン膜と、そのチタン膜上にアルミニウム膜を積層し、さらにその上にチタン膜を形成する三層構造等を配線等に用いることができる。
具体的には、酸化インジウム、インジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛などの導電性酸化物を、配線等に用いることができる。
具体的には、グラフェンまたはグラファイトを含む膜を配線等に用いることができる。
例えば、酸化グラフェンを含む膜を形成し、酸化グラフェンを含む膜を還元することにより、グラフェンを含む膜を形成することができる。還元する方法としては、熱を加える方法や還元剤を用いる方法等を挙げることができる。
例えば、金属ナノワイヤーを含む膜を配線等に用いることができる。具体的には、銀を含むナノワイヤーを用いることができる。
具体的には、導電性高分子を配線等に用いることができる。
《画素回路530(i,j)》
画素回路530(i,j)は、信号線S2(j)、走査線G2(i)および導電膜ANOと電気的に接続される(図5参照)。
画素回路530(i,j)は、スイッチSW2、トランジスタMおよび容量素子C12を含む。
例えば、走査線G2(i)と電気的に接続されるゲート電極と、信号線S2(j)と電気的に接続される第1の電極と、を有するトランジスタを、スイッチSW2に用いることができる。
トランジスタMは、スイッチSW2に用いるトランジスタの第2の電極と電気的に接続されるゲート電極と、導電膜ANOと電気的に接続される第1の電極と、を有する。
なお、半導体膜をゲート電極との間に挟む領域を具備する導電膜を備えるトランジスタを、トランジスタMに用いることができる。例えば、トランジスタMのゲート電極と同じ電位を供給することができる配線と電気的に接続される導電膜を当該導電膜に用いることができる。
容量素子C12は、スイッチSW2に用いるトランジスタの第2の電極と電気的に接続される第1の電極と、トランジスタMの第1の電極と電気的に接続される第2の電極と、を有する。
なお、表示素子550(i,j)の第3の電極をトランジスタMの第2の電極と電気的に接続し、表示素子550(i,j)の第4の電極を第4の導電膜VCOM2と電気的に接続する。これにより、表示素子550(i,j)を駆動することができる。
《スイッチSW2、トランジスタM、トランジスタMD》
例えば、ボトムゲート型またはトップゲート型等のトランジスタをスイッチSW2、トランジスタM、トランジスタMD等に用いることができる。
例えば、14族の元素を含む半導体を半導体膜に用いるトランジスタを利用することができる。具体的には、シリコンを含む半導体を半導体膜に用いることができる。例えば、単結晶シリコン、ポリシリコン、微結晶シリコンまたはアモルファスシリコンなどを半導体膜に用いるトランジスタを利用することができる。
例えば、酸化物半導体を半導体膜に用いるトランジスタを利用することができる。具体的には、インジウムを含む酸化物半導体またはインジウムとガリウムと亜鉛を含む酸化物半導体を半導体膜に用いることができる。
トランジスタMは、半導体膜508および半導体膜508と重なる領域を備える導電膜504を備える(図3(B)参照)。また、トランジスタMは、半導体膜508と電気的に接続される導電膜512Aおよび導電膜512Bを備える。
なお、導電膜504はゲート電極の機能を備え、絶縁膜506はゲート絶縁膜の機能を備える。また、導電膜512Aはソース電極の機能またはドレイン電極の機能の一方を備え、導電膜512Bはソース電極の機能またはドレイン電極の機能の他方を備える。
また、導電膜504との間に半導体膜508を挟む領域を具備する導電膜524を備えるトランジスタを、トランジスタMに用いることができる。
例えば、タンタルおよび窒素を含む厚さ10nmの膜と、銅を含む厚さ300nmの膜と、をこの順で積層した導電膜を導電膜504に用いることができる。
例えば、シリコンおよび窒素を含む厚さ400nmの膜と、シリコン、酸素および窒素を含む厚さ200nmの膜と、を積層した材料を絶縁膜506に用いることができる。
例えば、インジウム、ガリウムおよび亜鉛を含む厚さ25nmの膜を、半導体膜508に用いることができる。
例えば、タングステンを含む厚さ50nmの膜と、アルミニウムを含む厚さ400nmの膜と、チタンを含む厚さ100nmの膜と、をこの順で積層した導電膜を、導電膜512Aまたは導電膜512Bに用いることができる。
《遮光膜BM》
光の透過を妨げる材料を遮光膜BMに用いることができる。これにより、遮光膜BMを例えばブラックマトリクスに用いることができる。
《絶縁膜771》
例えば、ポリイミド、エポキシ樹脂、アクリル樹脂等を絶縁膜771に用いることができる。
《機能膜770P》
例えば、反射防止フィルム、偏光フィルム、位相差フィルム、光拡散フィルムまたは集光フィルム等を機能膜770Pに用いることができる。
また、ゴミの付着を抑制する帯電防止膜、汚れを付着しにくくする撥水性の膜、使用に伴う傷の発生を抑制するハードコート膜などを、機能膜770Pに用いることができる。
具体的には、円偏光フィルムを機能膜770Pに用いることができる。
《表示素子550(i,j)》
例えば、発光素子を表示素子550(i,j)に用いることができる。具体的には、有機エレクトロルミネッセンス素子、無機エレクトロルミネッセンス素子または発光ダイオードなどを、表示素子550(i,j)に用いることができる。
例えば、発光性の有機化合物を発光性の材料を含む層553(j)に用いることができる。
例えば、量子ドットを発光性の材料を含む層553(j)に用いることができる。これにより、半値幅が狭く、鮮やかな色の光を発することができる。
例えば、青色の光を射出するように積層された積層材料、緑色の光を射出するように積層された積層材料または赤色の光を射出するように積層された積層材料等を、発光性の材料を含む層553(j)に用いることができる。
例えば、信号線S2(j)に沿って列方向に長い帯状の積層材料を、発光性の材料を含む層553(j)に用いることができる。
また、例えば、白色の光を射出するように積層された積層材料を、発光性の材料を含む層553(j)に用いることができる。具体的には、青色の光を射出する蛍光材料を含む発光性の材料を含む層と、緑色および赤色の光を射出する蛍光材料以外の材料を含む層または黄色の光を射出する蛍光材料以外の材料を含む層と、を積層した積層材料を、発光性の材料を含む層553(j)に用いることができる。
例えば、配線等に用いることができる材料を第3の電極551(i,j)に用いることができる。
例えば、配線等に用いることができる材料から選択された、可視光について反射性を有する材料を、第3の電極551(i,j)に用いることができる。
例えば、配線等に用いることができる材料を第4の電極552に用いることができる。具体的には、可視光について透光性を有する材料を、第4の電極552に用いることができる。
具体的には、導電性酸化物またはインジウムを含む導電性酸化物、酸化インジウム、インジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛などを、第3の電極551(i,j)に用いることができる。または、光が透過する程度に薄い金属膜を第3の電極551(i,j)に用いることができる。または、光の一部を透過し、光の他の一部を反射する金属膜を第3の電極551(i,j)に用いることができる。これにより、微小共振器構造を表示素子550(i,j)に設けることができる。その結果、所定の波長の光を他の光より効率よく取り出すことができる。
《駆動回路GD》
シフトレジスタ等のさまざまな順序回路等を駆動回路GDに用いることができる。例えば、トランジスタMD、容量素子等を駆動回路GDに用いることができる。具体的には、トランジスタMと同一の工程で形成することができる半導体膜を備えるトランジスタを、トランジスタMDに用いることができる。例えば、トランジスタMと同一の構成を備えるトランジスタを、トランジスタMDに用いることができる。また、トランジスタMと異なる構成を備えるトランジスタをトランジスタMDに用いることができる。
《駆動回路SD》
駆動回路SDは、画像信号を供給する機能を有する。
例えば、シフトレジスタ等のさまざまな順序回路等を駆動回路SDに用いることができる。具体的には、シリコン基板上に形成された集積回路を駆動回路SDに用いることができる。
例えば、COG(Chip on glass)法を用いて、駆動回路SDを電極519Bに実装することができる。具体的には、異方性導電膜を用いて、集積回路を電極519Bに実装することができる。または、COF(Chip on Film)法を用いて、集積回路を電極519Bに実装することができる。
<酸化物半導体膜の抵抗率の制御方法>
酸化物半導体膜の抵抗率を制御する方法について説明する。
所定の抵抗率を備える酸化物半導体膜を、半導体膜508または導電膜524等に用いることができる。
例えば、酸化物半導体膜に含まれる水素、水等の不純物の濃度及び/又は膜中の酸素欠損を制御する方法を、酸化物半導体膜の抵抗率を制御する方法に用いることができる。
具体的には、プラズマ処理を水素、水等の不純物濃度及び/又は膜中の酸素欠損を増加または低減する方法に用いることができる。
具体的には、希ガス(He、Ne、Ar、Kr、Xe)、水素、ボロン、リン及び窒素の中から選ばれた一種以上を含むガスを用いて行うプラズマ処理を適用できる。例えば、Ar雰囲気下でのプラズマ処理、Arと水素の混合ガス雰囲気下でのプラズマ処理、アンモニア雰囲気下でのプラズマ処理、Arとアンモニアの混合ガス雰囲気下でのプラズマ処理、または窒素雰囲気下でのプラズマ処理などを適用できる。これにより、キャリア密度が高く、抵抗率が低い酸化物半導体膜にすることができる。
または、イオン注入法、イオンドーピング法またはプラズマイマージョンイオンインプランテーション法などを用いて、水素、ボロン、リンまたは窒素を酸化物半導体膜に注入して、抵抗率が低い酸化物半導体膜にすることができる。
または、水素を含む絶縁膜を酸化物半導体膜に接して形成し、絶縁膜から酸化物半導体膜に水素を拡散させる方法を用いることができる。これにより、酸化物半導体膜のキャリア密度を高め、抵抗率を低くすることができる。
例えば、膜中の含有水素濃度が1×1022atoms/cm以上の絶縁膜を酸化物半導体膜に接して形成することで、効果的に水素を酸化物半導体膜に含有させることができる。具体的には、窒化シリコン膜を酸化物半導体膜に接して形成する絶縁膜に用いることができる。
酸化物半導体膜に含まれる水素は、金属原子と結合する酸素と反応して水になると共に、酸素が脱離した格子(または酸素が脱離した部分)に酸素欠損を形成する。該酸素欠損に水素が入ることで、キャリアである電子が生成される場合がある。また、水素の一部が金属原子と結合する酸素と結合することで、キャリアである電子を生成する場合がある。これにより、キャリア密度が高く、抵抗率が低い酸化物半導体膜にすることができる。
具体的には、二次イオン質量分析法(SIMS:Secondary Ion Mass Spectrometry)により得られる水素濃度が、8×1019atoms/cm以上、好ましくは1×1020atoms/cm以上、より好ましくは5×1020atoms/cm以上である酸化物半導体を導電膜524に好適に用いることができる。
一方、抵抗率の高い酸化物半導体をトランジスタのチャネルが形成される半導体膜に用いることができる。具体的には半導体膜508に好適に用いることができる。
例えば、酸素を含む絶縁膜、別言すると、酸素を放出することが可能な絶縁膜を酸化物半導体膜に接して形成し、絶縁膜から酸化物半導体膜に酸素を供給させて、膜中または界面の酸素欠損を補填することができる。これにより、抵抗率が高い酸化物半導体膜にすることができる。
例えば、酸化シリコン膜または酸化窒化シリコン膜を、酸素を放出することが可能な絶縁膜に用いることができる。
酸素欠損が補填され、水素濃度が低減された酸化物半導体膜は、高純度真性化、又は実質的に高純度真性化された酸化物半導体膜といえる。ここで、実質的に真性とは、酸化物半導体膜のキャリア密度が、8×1011/cm未満、好ましくは1×1011/cm未満、さらに好ましくは1×1010/cm未満であることを指す。高純度真性または実質的に高純度真性である酸化物半導体膜は、キャリア発生源が少ないため、キャリア密度を低くすることができる。また、高純度真性または実質的に高純度真性である酸化物半導体膜は、欠陥準位密度が低いため、トラップ準位密度を低減することができる。
また、高純度真性または実質的に高純度真性である酸化物半導体膜を備えるトランジスタは、オフ電流が著しく小さく、チャネル幅が1×10μmでチャネル長Lが10μmの素子であっても、ソース電極とドレイン電極間の電圧(ドレイン電圧)が1Vから10Vの範囲において、オフ電流が、半導体パラメータアナライザの測定限界以下、すなわち1×10−13A以下という特性を備えることができる。
上述した高純度真性または実質的に高純度真性である酸化物半導体膜をチャネル領域に用いるトランジスタは、電気特性の変動が小さく、信頼性の高いトランジスタとなる。
具体的には、二次イオン質量分析法(SIMS:Secondary Ion Mass Spectrometry)により得られる水素濃度が、2×1020atoms/cm以下、好ましくは5×1019atoms/cm以下、より好ましくは1×1019atoms/cm以下、5×1018atoms/cm未満、好ましくは1×1018atoms/cm以下、より好ましくは5×1017atoms/cm以下、さらに好ましくは1×1016atoms/cm以下である酸化物半導体を、トランジスタのチャネルが形成される半導体に好適に用いることができる。
なお、半導体膜508よりも水素濃度及び/又は酸素欠損量が多く、抵抗率が低い酸化物半導体膜を、導電膜524に用いる。
また、半導体膜508に含まれる水素濃度の2倍以上、好ましくは10倍以上の濃度の水素を含む膜を、導電膜524に用いることができる。
また、半導体膜508の抵抗率の1×10−8倍以上1×10−1倍未満の抵抗率を備える膜を、導電膜524に用いることができる。
具体的には、1×10−3Ωcm以上1×10Ωcm未満、好ましくは、1×10−3Ωcm以上1×10−1Ωcm未満である膜を、導電膜524に用いることができる。
《検知素子775(g,h)》
例えば静電容量、照度、磁力、電波または圧力等を検知して、検知した物理量に基づく情報を供給する素子を、検知素子775(g,h)に用いることができる。
具体的には、容量素子、光電変換素子、磁気検知素子、圧電素子または共振器等を検知素子775(g,h)に用いることができる。
例えば、大気中において、大気より大きな誘電率を備える指などが導電膜に近接すると、指などと導電膜の間の静電容量が変化する。この静電容量の変化を検知して検知情報を供給することができる。具体的には、自己容量方式の検知素子を用いることができる。
例えば、電極C(g)と、電極M(h)と、を検知素子に用いることができる。具体的には、制御信号が供給される電極C(g)と、電極C(g)との間に近接するものによって一部が遮られる電界が形成されるように配設される電極M(h)と、を用いることができる。これにより、近接するものに遮られて変化する電界を検知信号線ML(h)の電位を用いて検知して、検知信号として供給することができる。その結果、電界を遮るように近接するものを検知することができる。具体的には、相互容量方式の検知素子を用いることができる。
《制御線CL(g)、検知信号線ML(h)、導電膜BR(g,h)》
導電性を備え、可視光について透光性を有する材料を、制御線CL(g)、検知信号線ML(h)または導電膜BR(g,h)に用いることができる。例えば、配線等に用いることができる材料から選択された、可視光について透光性を備える材料を、制御線CL(g)、検知信号線ML(h)または導電膜BR(g,h)に用いることができる。
例えば、導電性酸化物、光が透過する程度に薄い金属膜または金属ナノワイヤーを制御線CL(g)、検知信号線ML(h)または導電膜BR(g,h)に用いることができる。
具体的には、インジウムを含む導電性酸化物を制御線CL(g)、検知信号線ML(h)または導電膜BR(g,h)に用いることができる。または、厚さ1nm以上10nm以下の金属薄膜を制御線CL(g)、検知信号線ML(h)または導電膜BR(g,h)に用いることができる。また、銀を含む金属ナノワイヤーを制御線CL(g)、検知信号線ML(h)または導電膜BR(g,h)に用いることができる。
具体的には、酸化インジウム、インジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加した酸化亜鉛、アルミニウムを添加した酸化亜鉛などを、制御線CL(g)、検知信号線ML(h)または導電膜BR(g,h)に用いることができる。
《絶縁膜706》
例えば、絶縁膜521に用いることができる材料を絶縁膜706等に用いることができる。具体的には、シリコンおよび酸素を含む膜を絶縁膜706に用いることができる。
<入出力装置の構成例2.>
本発明の一態様の入出力装置の構成について、図31を参照しながら説明する。
図31は、本発明の一態様の入出力装置800TP1の構成を説明する図である。図31(A)は折り曲げられた状態の入出力装置の構成を説明する投影図であり、図31(B)は図31(A)の切断線Y1−Y2における断面の構成を説明する断面図である。図31(C)は、入出力装置の可撓性を備える領域の詳細な構成を説明する断面図である。
本実施の形態で説明する入出力装置800TP1は、表示パネルと、入力部と、筐体820と、を有する(図31(A)参照)。
入力部は表示パネルと重なる領域を備え、当該領域は可撓性を具備する領域801を備える。例えば、上記で説明した入出力装置700TP1を表示パネルおよび入力部に用いることができる。
筐体820は、曲率半径がR(mm)以上の曲面を領域801が具備するように、領域801を屈曲する機能を備える(図31(B)参照)。例えば、筐体820は、部材821、部材822およびヒンジ部823を備える(図31(A)参照)。ヒンジ部823は、部材821に対して部材822を回動可能に接続する機能を備える。ヒンジ部823は、曲率半径がR以上の曲面を、ヒンジ部823と重なる領域801に形成する機能を備える。
なお、例えば、領域801に形成される曲面の曲率半径がR(mm)になるようにヒンジ部823を折り畳んだ状態において、部材821および部材822が接触する形状を、部材821および部材822に用いることができる。これにより、領域801に曲率半径がR(mm)より小さい曲面が形成されてしまう不具合を防ぐことができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供することができる。または、曲率半径が小さすぎる過度な折り曲げがもたらす入出力装置700TP1の破壊を防ぐことができる。または、例えば、入出力装置800TP1の屈曲および展開を10万回以上繰り返すことができる。
領域801は、機能層520、機能層720および接合層709を備える(図31(C)参照)。例えば、表示素子550(i,j)を機能層520に用いることができる。また、例えば、着色膜CF1または検知素子775(g,h)を機能層720に用いることができる。
機能層720は、機能層520と重なる領域を備える。なお、例えば、機能層520は、2μmの厚さを備え、100GPaのヤング率および0.25のポアソン比を備える。また、機能層720は、1μmの厚さを備え、100GPaのヤング率および0.25のポアソン比を備える。
接合層709は機能層520および機能層720の間に挟まれる領域を備え、接合層709はT(μm)の厚さを備える。なお、例えば、接合層709は3GPaのヤング率および0.3のポアソン比を備える。
厚さTは、曲率半径Rとの間に次式で示す関係を備える。なお、曲率半径Rの単位はmmであり、厚さTの単位はμmである。例えば、厚さTは0.1μm以上500μm以下、好ましくは、1μm以上100μm以下である。
Figure 0006879726
例えば、13μmの厚さを具備する接合層709を備える入出力装置700TP1を、5mm以上の曲率半径で屈曲することができる筐体と組み合わせて用いることができる。
または、10μmの厚さを具備する接合層709を備える入出力装置700TP1を、3mm以上の曲率半径で屈曲することができる筐体と組み合わせて用いることができる。
または、8μmの厚さを具備する接合層709を備える入出力装置700TP1を、3mm以上の曲率半径で屈曲することができる筐体と組み合わせて用いることができる。
または、6μmの厚さを具備する接合層709を備える入出力装置700TP1を、2mm以上の曲率半径で屈曲することができる筐体と組み合わせて用いることができる。
なお、23μmの厚さ、7GPaのヤング率および0.3のポアソン比を備える基材510Bおよび10μmの厚さ、3GPaのヤング率および0.3のポアソン比を備える接合層510Cを、基材510Lに用いることができる。
また、23μmの厚さ、7GPaのヤング率および0.3のポアソン比を備える基材710Bおよび10μmの厚さ、3GPaのヤング率および0.3のポアソン比を備える接合層710Cを、基材710Lに用いることができる。
なお、本実施の形態は、本明細書で示す他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。
(実施の形態2)
本実施の形態では、本発明の一態様の入出力装置の構成について、図7乃至図13を参照しながら説明する。
図7は本発明の一態様の入出力装置の構成を説明する図である。図7(A)は本発明の一態様の入出力装置の上面図である。図7(B−1)は本発明の一態様の入出力装置の入力部の一部を説明する模式図であり、図7(B−2)は図7(B−1)の一部を説明する模式図である。
図8は本発明の一態様の入出力装置の画素の構成を説明する図である。図8(A)は本発明の一態様の入出力装置の画素の上面図であり、図8(B)は図8(A)の一部を説明する図である。
図9および図10は本発明の一態様の入出力装置の構成を説明する断面図である。図9(A)は図7(A)の切断線X1−X2、切断線X3−X4、図7(B−2)の切断線X5−X6における断面図であり、図9(B)は図9(A)の一部を説明する図であり、図9(C)は、図9(A)の一部を説明する模式図である。
図10は図7(B−2)の切断線X7−X8、図7(A)の切断線X9−X10、切断線X11−X12における断面図である。
図11は本発明の一態様の入出力装置の画素回路の構成を説明する回路図である。
図12は本発明の一態様の入出力装置が備える表示パネルの構成を説明するブロック図である。
図13は本発明の一態様の入出力装置の画素に用いることができる反射膜の形状を説明する模式図である。
<入出力装置の構成例1.>
本実施の形態で説明する入出力装置700TP2は、表示パネルと、入力部と、を有する(図7または図9参照)。
《表示パネルの構成例》
本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルは、画素702(i,j)と、絶縁膜501Cと、第3の導電膜511Bと、電極519Bと、を有する(図9(A)参照)。
絶縁膜501Cは画素702(i,j)と重なる領域を備え、絶縁膜501Cは開口部591Bを備える。
第3の導電膜511Bは画素702(i,j)と電気的に接続される。第3の導電膜511Bは絶縁膜501Cと重なる領域を備える。第3の導電膜511Bは開口部591Bと重なる領域を備える。
電極519Bは、第3の導電膜511Bと電気的に接続される。電極519Bは、第1の領域519B1および第2の領域519B2を備える(図9(C)参照)。
第1の領域519B1は第3の導電膜511Bと接し、第2の領域519B2は接点の機能を備える。開口部591Bは、第3の導電膜511Bまたは電極519Bに塞がれる領域を備える。ところで、絶縁膜501Cに設けられた開口部591Bの一部を塞ぐ第3の導電膜511Bまたは電極519Bを、貫通電極ということができる。言い換えると、開口部591Bの一部を埋める第3の導電膜511Bまたは電極519Bを、貫通電極ということができる。また、例えば、第2の領域519B2は、絶縁膜501Cの表面から突出する形状を備える。
絶縁膜501Cは0.2μm以上1.5μm以下の厚さを備え、10−3g/(m・day)以下、好ましくは10−4g/(m・day)以下、より好ましくは10−5g/(m・day)以下の水蒸気透過率を備える。
本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルは、第1の基材570と、第2の基材770と、を有する(図9(A)参照)。
第1の基材570は絶縁膜501Cと重なる領域を備え、第2の基材770は第1の基材570との間に、絶縁膜501Cを挟む領域を備える。
本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルは、画素と、画素と電気的に接続される第3の導電膜と、第3の導電膜と重なる開口部を備える絶縁膜と、第3の導電膜と接する第1の領域および接点の機能を具備する第2の領域を備える電極と、を含んで構成される。これにより、絶縁膜を用いて保護された画素に信号または電力等を供給することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供することができる。
また、本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルは、一群の複数の画素702(i,1)乃至画素702(i,n)と、他の一群の複数の画素702(1,j)乃至画素702(m,j)と、信号線S2(j)と、走査線G2(i)と、を有する(図12参照)。また、信号線S1(j)と、走査線G1(i)と、を有する。なお、iは1以上m以下の整数であり、jは1以上n以下の整数であり、mまたはnの一方は1より大きい整数である。
一群の複数の画素702(i,1)乃至画素702(i,n)は、画素702(i,j)を含む。一群の複数の画素702(i,1)乃至画素702(i,n)は、行方向(図中に矢印R1で示す)に配設される。
他の一群の複数の画素702(1,j)乃至画素702(m,j)は、画素702(i,j)を含む。他の一群の複数の画素702(1,j)乃至画素702(m,j)は、行方向と交差する列方向(図中に矢印C1で示す)に配設される。
走査線G2(i)は、一群の複数の画素702(i,1)乃至画素702(i,n)と電気的に接続される。また、走査線G1(i)は、一群の複数の画素702(i,1)乃至画素702(i,n)と電気的に接続される。
他の一群の複数の画素702(1,j)乃至画素702(m,j)は、信号線S2(j)と電気的に接続される。また、他の一群の複数の画素702(1,j)乃至画素702(m,j)は、信号線S1(j)と電気的に接続される。
走査線G2(i)または信号線S2(j)は、第3の導電膜511Bと電気的に接続される。もしくは、走査線G1(i)または信号線S1(j)は、第3の導電膜511Bと電気的に接続される。
また、本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルは、駆動回路SDを有する(図12参照)。駆動回路SDは画像信号を供給する機能を備え、駆動回路SDは第2の領域519B2と電気的に接続される。信号線S2(j)は、第3の導電膜511Bと電気的に接続される。または、信号線S1(j)は、第3の導電膜511Bと電気的に接続される。
また、本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルの画素702(i,j)は、画素回路530(i,j)と、第1の導電膜と、第1の表示素子750(i,j)と、第2の表示素子550(i,j)と、を備える。
画素回路530(i,j)は、信号線S2(j)と電気的に接続される(図9(A)または図11参照)。また、画素回路530(i,j)は、信号線S1(j)と電気的に接続される。
第1の導電膜は第2の導電膜と重なる領域を備える。例えば、第1の導電膜を、第1の表示素子750(i,j)の第1の電極751(i,j)に用いることができる。また、画素回路530(i,j)のスイッチSW1に用いるトランジスタのソース電極またはドレイン電極として機能する導電膜512Bを、第2の導電膜に用いることができる(図9(A)および図10参照)。
第1の導電膜は第2の導電膜との間に絶縁膜501Cを挟む領域を備え、第1の導電膜は第2の導電膜との間に開口部591Aを挟む領域を備える。そして、第1の導電膜は開口部591Aにおいて第2の導電膜と電気的に接続される。例えば、第1の電極751(i,j)は、導電膜512Bと電気的に接続される。ところで、絶縁膜501Cに設けられた開口部591Aにおいて第2の導電膜と電気的に接続される第1の導電膜を、貫通電極ということができる。言い換えると、開口部591Aの一部を埋める第1の導電膜を、貫通電極ということができる。
第1の表示素子750(i,j)は第1の導電膜と電気的に接続され、第2の表示素子550(i,j)は、画素回路530(i,j)と電気的に接続される。
第1の表示素子750(i,j)は、反射膜および反射膜が反射する光の強さを制御する機能を備える。例えば、第1の表示素子750(i,j)の反射膜に、第1の導電膜または第1の電極751(i,j)等を用いることができる。
第2の表示素子550(i,j)は、絶縁膜501Cに向けて光を射出する機能を備える(図9(A)参照)。
反射膜は第2の表示素子550(i,j)が射出する光を遮らない領域が形成される形状を備える。例えば、反射膜は単数または複数の開口部751Hを備える(図13参照)。
第2の表示素子550(i,j)は、開口部751Hに向けて光を射出する機能を備える。なお、開口部751Hは第2の表示素子550(i,j)が射出する光を透過する。
これにより、例えば同一の工程を用いて形成することができる画素回路を用いて、第1の表示素子と、第1の表示素子とは異なる方法を用いて表示をする第2の表示素子と、を駆動することができる。具体的には、反射型の表示素子を第1の表示素子に用いて、消費電力を低減することができる。または、外光が明るい環境下において高いコントラストで画像を良好に表示することができる。または、光を射出する第2の表示素子を用いて、暗い環境下で画像を良好に表示することができる。また、絶縁膜を用いて、第1の表示素子および第2の表示素子の間または第1の表示素子および画素回路の間における不純物の拡散を抑制することができる。また、制御情報に基づいて制御された電圧を供給される第2の表示素子が射出する光の一部は、第1の表示素子が備える反射膜に遮られない。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供することができる。
例えば、画素702(i,j)に隣接する画素702(i,j+1)の開口部751Hは、画素702(i,j)の開口部751Hを通る行方向(図中に矢印R1で示す方向)に延びる直線上に配設されない(図13(A)参照)。または、例えば、画素702(i,j)に隣接する画素702(i+1,j)の開口部751Hは、画素702(i,j)の開口部751Hを通る、列方向(図中に矢印C1で示す方向)に延びる直線上に配設されない(図13(B)参照)。
例えば、画素702(i,j+2)の開口部751Hは、画素702(i,j)の開口部751Hを通る、行方向に延びる直線上に配設される(図13(A)参照)。また、画素702(i,j+1)の開口部751Hは、画素702(i,j)の開口部751Hおよび画素702(i,j+2)の開口部751Hの間において当該直線と直交する直線上に配設される。
または、例えば、画素702(i+2,j)の開口部751Hは、画素702(i,j)の開口部751Hを通る、列方向に延びる直線上に配設される(図13(B)参照)。また、例えば、画素702(i+1,j)の開口部751Hは、画素702(i,j)の開口部751Hおよび画素702(i+2,j)の開口部751Hの間において当該直線と直交する直線上に配設される。
これにより、例えば、画素702(i,j)に隣接する画素702(i+1,j)に、画素702(i,j)が備える第2の表示素子とは異なる色を表示する第2の表示素子を、容易に配設することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供することができる。
なお、例えば、第2の表示素子550(i,j)が射出する光を遮らない領域751Eが形成されるように、端部が切除されたような形状を備える材料を、反射膜に用いることができる(図13(C)参照)。具体的には、列方向(図中に矢印C1で示す方向)が短くなるように端部が切除された第1の電極751(i,j)を反射膜に用いることができる。
また、本実施の形態で説明する入出力装置の表示パネルの第2の表示素子550(i,j)は、第1の表示素子750(i,j)を用いた表示を視認できる範囲の一部において第2の表示素子550(i,j)を用いた表示が視認できるように配設される。例えば、外光を反射する強度を制御して表示する第1の表示素子750(i,j)に外光が入射し反射する方向を、破線の矢印で図中に示す(図10参照)。また、第1の表示素子750(i,j)を用いた表示を視認できる範囲の一部に第2の表示素子550(i,j)が光を射出する方向を、実線の矢印で図中に示す(図9(A)参照)。
これにより、第1の表示素子を用いた表示を視認することができる領域の一部において、第2の表示素子を用いた表示を視認することができる。または、表示パネルの姿勢等を変えることなく使用者は表示を視認することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルを提供することができる。
また、画素回路530(i,j)は、信号線S1(j)と電気的に接続される。なお、導電膜512Aは、信号線S1(j)と電気的に接続される(図10および図11参照)。また、例えば、第2の導電膜をソース電極またはドレイン電極として機能する導電膜512Bに用いたトランジスタを、画素回路530(i,j)のスイッチSW1に用いることができる。
また、本実施の形態で説明する表示パネルは、走査線G2(i)と、配線CSCOMと、導電膜ANOと、信号線S2(j)と、を有する(図11参照)。
また、本実施の形態で説明する表示パネルの第2の表示素子550(i,j)は、第3の電極551(i,j)と、第4の電極552と、発光性の材料を含む層553(j)と、を備える(図9(A)参照)。
第4の電極552は、第3の電極551(i,j)と重なる領域を備える。
発光性の材料を含む層553(j)は、第3の電極551(i,j)および第4の電極552の間に挟まれる領域を備える。
第3の電極551(i,j)は、接続部522において、画素回路530(i,j)と電気的に接続される。
また、本実施の形態で説明する表示パネルの第1の表示素子750(i,j)は、液晶材料を含む層753と、第1の電極751(i,j)および第2の電極752と、を備える。第2の電極752は、第1の電極751(i,j)との間に液晶材料の配向を制御する電界が形成されるように配置される(図9(A)および図10参照)。
また、本実施の形態で説明する表示パネルは、配向膜AF1および配向膜AF2を備える。配向膜AF2は、配向膜AF1との間に液晶材料を含む層753を挟むように配設される。
また、本実施の形態で説明する表示パネルは、遮光膜BMと、絶縁膜771と、機能膜770Pと、機能膜770Dと、を有する。また、着色膜CF1および着色膜CF2を有する。
遮光膜BMは、第1の表示素子750(i,j)と重なる領域に開口部を備える。着色膜CF2は、絶縁膜501Cおよび第2の表示素子550(i,j)の間に挟まれる領域を備え、開口部751Hと重なる領域を備える(図9(A)参照)。
絶縁膜771は、着色膜CF1と液晶材料を含む層753の間または遮光膜BMと液晶材料を含む層753の間に挟まれる領域を備える。これにより、着色膜CF1の厚さに基づく凹凸を平坦にすることができる。または、遮光膜BMまたは着色膜CF1等から液晶材料を含む層753への不純物の拡散を、抑制することができる。
機能膜770Pは、第1の表示素子750(i,j)と重なる領域を備える。
機能膜770Dは、第1の表示素子750(i,j)と重なる領域を備える。機能膜770Dは、第1の表示素子750(i,j)との間に基材770を挟むように配設される。これにより、例えば、第1の表示素子750(i,j)が反射する光を拡散することができる。
また、本実施の形態で説明する表示パネルは、基材570と、基材770と、機能層520と、を有する。
基材770は、基材570と重なる領域を備える。
機能層520は基材570および基材770の間に挟まれる領域を備える。機能層520は、画素回路530(i,j)と、第2の表示素子550(i,j)と、絶縁膜521と、絶縁膜528と、を含む。また、機能層520は、絶縁膜518および絶縁膜516を含む(図9(A)および図9(B)参照)。
絶縁膜521は、画素回路530(i,j)および第2の表示素子550(i,j)の間に挟まれる領域を備える。
絶縁膜528は、絶縁膜521および基材570の間に挟まれる領域を備え、第2の表示素子550(i,j)と重なる領域と、に開口部を備える。
第3の電極551(i,j)の周縁に沿って形成される絶縁膜528は、第3の電極551(i,j)および第4の電極の短絡を防止する。
絶縁膜518は、絶縁膜521および画素回路530(i,j)の間に挟まれる領域を備える。絶縁膜516は、絶縁膜518および画素回路530(i,j)の間に挟まれる領域を備える。
また、本実施の形態で説明する表示パネルは、接合層505と、封止材705と、構造体KB1と、を有する。
接合層505は、機能層520および基材570の間に挟まれる領域を備え、機能層520および基材570を貼り合せる機能を備える。
封止材705は、機能層520および基材770の間に挟まれる領域を備え、機能層520および基材770を貼り合わせる機能を備える。
構造体KB1は、機能層520および基材770の間に所定の間隙を設ける機能を備える。
また、本実施の形態で説明する表示パネルは、電極519Bおよび電極519Cを有する。
電極519Bは、導電膜511Bと接する。電極519Bは、例えば信号線S1(j)と電気的に接続される。
電極519Cは、導電膜511Cと接する。導電膜511Cは、例えば配線VCOM1と電気的に接続される。
導電材料CPは、電極519Cと第2の電極752の間に挟まれ、電極519Cと第2の電極752を電気的に接続する機能を備える。例えば、導電性の粒子を導電材料CPに用いることができる。
また、本実施の形態で説明する表示パネルは、駆動回路GDと、駆動回路SDと、を有する(図7または図12参照)。
駆動回路GDは、走査線G1(i)と電気的に接続される。駆動回路GDは、例えばトランジスタMDを備える(図9(A)参照)。具体的には、画素回路530(i,j)が備えるトランジスタに含まれる半導体膜と同じ工程で形成することができる半導体膜を含むトランジスタを、トランジスタMDに用いることができる。
駆動回路SDは、信号線S1(j)と電気的に接続される。駆動回路SDは、例えば電極519Bと電気的に接続される。
《入力部の構成例》
なお、本実施の形態で説明する入力部は、画素と重なる領域に開口部を備える電極C(g)を有する点、画素と重なる領域に開口部を備える電極M(h)を有する点、制御線CL(g)または検知信号線ML(h)と電気的に接続する導電膜511Dを有する点、導電膜511Dと電気的に接続する電極519Dを有する点が、図1乃至図6を参照しながら説明する入出力装置とは異なる。ここでは、異なる部分について詳細に説明し、同様の構成を用いることができる部分について上記の説明を援用する。
本実施の形態で説明する入出力装置の制御線CL(g)は開口部が設けられた電極C(g)と電気的に接続され、検知信号線ML(h)は開口部が設けられた電極M(h)と電気的に接続される。また、開口部は画素と重なる領域を備える。例えば、制御線CL(g)が備える導電膜の開口部は、画素702(i,j)と重なる領域を備える(図7(B−1)、図7(B−2)および図9(A)参照)。
本実施の形態で説明する入出力装置は、制御線CL(g)および第2の電極752の間または検知信号線ML(h)および第2の電極752の間に0.2μm以上16μm以下、好ましくは1μm以上8μm以下、より好ましくは2.5μm以上4μm以下の間隔を備える。
上記本発明の一態様の入出力装置は、画素と重なる領域に開口部が設けられた第1の電極と、画素と重なる領域に開口部が設けられた第2の電極と、を含んで構成される。これにより、表示パネルの表示を遮ることなく、表示パネルと重なる領域に近接するものを検知することができる。また、入出力装置の厚さを薄くすることができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な入出力装置を提供することができる。
また、本実施の形態で説明する入出力装置の入力部は、機能層720を、基材770、絶縁膜501Cおよび封止材705に囲まれる領域に有する。これにより、基材710および接合層709を用いることなく入出力装置を構成することができる。
また、本実施の形態で説明する入出力装置は、導電膜511Dを有す(図10参照)。
なお、制御線CL(g)および導電膜511Dの間に導電材料CP等を配設し、制御線CL(g)と導電膜511Dを電気的に接続することができる。または、検知信号線ML(h)および導電膜511Dの間に導電材料CP等を配設し、検知信号線ML(h)と導電膜511Dを、電気的に接続することができる。
また、本実施の形態で説明する入出力装置は、導電膜511Dと電気的に接続する電極519Dを有する。電極519Dは導電膜511Dと電気的に接続される(図10参照)。電極519Dは、第1の領域および第2の領域を備える。第1の領域は導電膜511Dと接し、第2の領域は接点の機能を備える。開口部591Dは、導電膜511Dまたは電極519Dに塞がれる領域を備える。また、例えば第2の領域は、絶縁膜501Cの表面から突出する形状を備える。
なお、例えば、導電材料ACF2を用いて、電極519Dとフレキシブルプリント基板FPC2を電気的に接続することができる。これにより、例えば、電極519Dを用いて制御信号を制御線CL(g)に供給することができる。または、電極519Dを用いて検知信号を、検知信号線ML(h)から供給されることができる。
《構成例》
本発明の一態様の入出力装置は、表示パネルまたは入力部を有する。
本発明の一態様の表示パネルは、基材570、基材770、機能層520、構造体KB1、封止材705または接合層505を有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、信号線S1(j)、信号線S2(j)、走査線G1(i)、走査線G2(i)、配線CSCOMまたは導電膜ANOを有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、第1の導電膜または第2の導電膜を有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、電極519B、電極519C、導電膜511Bまたは導電膜511Cを有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、画素回路530(i,j)またはスイッチSW1を有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、第1の表示素子750(i,j)、第1の電極751(i,j)、反射膜、開口部、液晶材料を含む層753または第2の電極752を有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、配向膜AF1、配向膜AF2、着色膜CF1、着色膜CF2、遮光膜BM、絶縁膜771、機能膜770Pまたは機能膜770Dを有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、第2の表示素子550(i,j)、第3の電極551(i,j)、第4の電極552または発光性の材料を含む層553(j)を有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、絶縁膜501Cを有する。
また、本発明の一態様の表示パネルは、駆動回路GDまたは駆動回路SDを有する。
また、入力部は、基材710と、機能層720と、接合層709と、端子719と、を有する(図4および図5参照)。
機能層720は、基材770および基材710の間に挟まれる領域を備える。機能層720は、検知素子775(g,h)と、絶縁膜706と、を備える。
接合層709は、機能層720および基材770の間に挟まれる領域を備え、機能層720および基材770を貼り合せる機能を備える。
端子719は、検知素子775(g,h)と電気的に接続される。
《基材570》
作製工程中の熱処理に耐えうる程度の耐熱性を有する材料を基材570等に用いることができる。例えば、実施の形態1で説明する基材510L等に用いることができる材料を用いることができる。
《基材770》
例えば、透光性を備える材料を基材770に用いることができる。具体的には、基材570に用いることができる材料から選択された材料を基材770に用いることができる。
《封止材705》
無機材料、有機材料または無機材料と有機材料の複合材料等を封止材705等に用いることができる。例えば、実施の形態1で説明する接合層709等に用いることができる材料を用いることができる。
《絶縁膜521》
例えば、絶縁性の無機材料、絶縁性の有機材料または無機材料と有機材料を含む絶縁性の複合材料を、絶縁膜521等に用いることができる。例えば、実施の形態1で説明する絶縁膜521等に用いることができる材料を用いることができる。
《絶縁膜528》
例えば、絶縁膜521に用いることができる材料を絶縁膜528等に用いることができる。具体的には、厚さ1μmのポリイミドを含む膜を絶縁膜528に用いることができる。
《絶縁膜501C》
例えば、絶縁膜521に用いることができる材料を絶縁膜501Cに用いることができる。具体的には、シリコンおよび酸素を含む材料を絶縁膜501Cに用いることができる。これにより、画素回路または第2の表示素子550(i,j)等への不純物の拡散を抑制することができる。
例えば、シリコン、酸素および窒素を含む厚さ200nmの膜を絶縁膜501Cに用いることができる。
《配線、電極、端子、導電膜》
導電性を備える材料を配線等に用いることができる。具体的には、導電性を備える材料を、信号線S1(j)、信号線S2(j)、走査線G1(i)、走査線G2(i)、配線CSCOM、導電膜ANO、電極519B、電極519C、端子719、導電膜511B、導電膜511Cまたは導電膜511D等に用いることができる。例えば、実施の形態1で説明する配線等に用いることができる材料を用いることができる。
《画素回路530(i,j)》
画素回路530(i,j)は、信号線S1(j)、信号線S2(j)、走査線G1(i)、走査線G2(i)、配線CSCOMおよび導電膜ANOと電気的に接続される(図11参照)。
画素回路530(i,j)は、スイッチSW1、容量素子C11を含む。
画素回路530(i,j)は、スイッチSW2、トランジスタMおよび容量素子C12を含む。
例えば、走査線G1(i)と電気的に接続されるゲート電極と、信号線S1(j)と電気的に接続される第1の電極と、を有するトランジスタを、スイッチSW1に用いることができる。
容量素子C11は、スイッチSW1に用いるトランジスタの第2の電極と電気的に接続される第1の電極と、配線CSCOMと電気的に接続される第2の電極と、を有する。
例えば、走査線G2(i)と電気的に接続されるゲート電極と、信号線S2(j)と電気的に接続される第1の電極と、を有するトランジスタを、スイッチSW2に用いることができる。
トランジスタMは、スイッチSW2に用いるトランジスタの第2の電極と電気的に接続されるゲート電極と、導電膜ANOと電気的に接続される第1の電極と、を有する。
なお、半導体膜をゲート電極との間に挟む領域を具備する導電膜を備えるトランジスタを、トランジスタMに用いることができる。例えば、トランジスタMのゲート電極と同じ電位を供給することができる配線と電気的に接続される導電膜を当該導電膜に用いることができる。
容量素子C12は、スイッチSW2に用いるトランジスタの第2の電極と電気的に接続される第1の電極と、トランジスタMの第1の電極と電気的に接続される第2の電極と、を有する。
なお、第1の表示素子750(i,j)の第1の電極をスイッチSW1に用いるトランジスタの第2の電極と電気的に接続し、第1の表示素子750(i,j)の第2の電極を配線VCOM1と電気的に接続する。これにより、第1の表示素子750を駆動することができる。
また、第2の表示素子550(i,j)の第3の電極をトランジスタMの第2の電極と電気的に接続し、第2の表示素子550(i,j)の第4の電極を第4の導電膜VCOM2と電気的に接続する。これにより、第2の表示素子550(i,j)を駆動することができる。
《スイッチSW1、スイッチSW2、トランジスタM、トランジスタMD》
例えば、ボトムゲート型またはトップゲート型等のトランジスタをスイッチSW1、スイッチSW2、トランジスタMまたはトランジスタMD等に用いることができる。
例えば、14族の元素を含む半導体を半導体膜に用いるトランジスタを利用することができる。具体的には、シリコンを含む半導体を半導体膜に用いることができる。例えば、単結晶シリコン、ポリシリコン、微結晶シリコンまたはアモルファスシリコンなどを半導体膜に用いるトランジスタを利用することができる。
例えば、酸化物半導体を半導体膜に用いるトランジスタを利用することができる。具体的には、インジウムを含む酸化物半導体またはインジウムとガリウムと亜鉛を含む酸化物半導体を半導体膜に用いることができる。
一例を挙げれば、オフ状態におけるリーク電流が、アモルファスシリコンを半導体膜に用いたトランジスタと比較して小さいトランジスタをスイッチSW1、スイッチSW2、トランジスタMまたはトランジスタMD等に用いることができる。具体的には、酸化物半導体を半導体膜508に用いたトランジスタをスイッチSW1、スイッチSW2、トランジスタMまたはトランジスタMD等に用いることができる。
これにより、アモルファスシリコンを半導体膜に用いたトランジスタを利用する画素回路と比較して、画素回路が画像信号を保持することができる時間を長くすることができる。具体的には、フリッカーの発生を抑制しながら、選択信号を30Hz未満、好ましくは1Hz未満より好ましくは一分に一回未満の頻度で供給することができる。その結果、情報処理装置の使用者に蓄積する疲労を低減することができる。また、駆動に伴う消費電力を低減することができる。
スイッチSW1に用いることができるトランジスタ、トランジスタMおよびトランジスタMDは、絶縁膜501Cと重なる領域を備える導電膜504と、絶縁膜501Cおよび導電膜504の間に挟まれる領域を備える半導体膜508と、を備える。なお、導電膜504はゲート電極の機能を備える(図9(B)参照)。
半導体膜508は、導電膜504と重ならない第1の領域508Aおよび第2の領域508Bと、第1の領域508Aおよび第2の領域508Bの間に導電膜504と重なる第3の領域508Cと、を備える。
スイッチSW1に用いることができるトランジスタ、トランジスタMおよびトランジスタMDは、第3の領域508Cおよび導電膜504の間に絶縁膜506を備える。なお、絶縁膜506はゲート絶縁膜の機能を備える。
第1の領域508Aおよび第2の領域508Bは、第3の領域508Cに比べて抵抗率が低く、ソース領域の機能またはドレイン領域の機能を備える。
なお、例えば実施の形態1において詳細に説明する酸化物半導体膜の抵抗率の制御方法を用いて、第1の領域508Aおよび第2の領域508Bを半導体膜508に形成することができる。具体的には、希ガスを含むガスを用いるプラズマ処理を適用することができる。
また、例えば、導電膜504をマスクに用いることができる。これにより、第3の領域508Cの一部の形状を、導電膜504の端部の形状に自己整合させることができる。
スイッチSW1に用いることができるトランジスタ、トランジスタMおよびトランジスタMDは、第1の領域508Aと接する導電膜512Aと、第2の領域508Bと接する導電膜512Bと、を備える。導電膜512Aおよび導電膜512Bは、ソース電極またはドレイン電極の機能を備える。
スイッチSW1に用いることができるトランジスタ、トランジスタMおよびトランジスタMDは、同一の工程で形成することができる。
《遮光膜BM》
光の透過を妨げる材料を遮光膜BMに用いることができる。これにより、遮光膜BMを例えばブラックマトリクスに用いることができる。
《絶縁膜771》
例えば、ポリイミド、エポキシ樹脂、アクリル樹脂等を絶縁膜771に用いることができる。
《機能膜770P、機能膜770D》
例えば、反射防止フィルム、偏光フィルム、位相差フィルム、光拡散フィルムまたは集光フィルム等を機能膜770Pまたは機能膜770Dに用いることができる。
具体的には、2色性色素を含む膜を機能膜770Pまたは機能膜770Dに用いることができる。または、基材の表面と交差する方向に沿った軸を備える柱状構造を有する材料を、機能膜770Pまたは機能膜770Dに用いることができる。これにより、光を軸に沿った方向に透過し易く、他の方向に散乱し易くすることができる。
また、ゴミの付着を抑制する帯電防止膜、汚れを付着しにくくする撥水性の膜、使用に伴う傷の発生を抑制するハードコート膜などを、機能膜770Pに用いることができる。
具体的には、円偏光フィルムを機能膜770Pに用いることができる。また、光拡散フィルムを機能膜770Dに用いることができる。
《第2の表示素子550(i,j)》
例えば、発光素子を第2の表示素子550(i,j)に用いることができる。具体的には、実施の形態1で説明する表示素子550(i,j)等に用いることができる表示素子を用いることができる。
《駆動回路GD》
シフトレジスタ等のさまざまな順序回路等を駆動回路GDに用いることができる。例えば、トランジスタMD、容量素子等を駆動回路GDに用いることができる。具体的には、トランジスタMと同一の工程で形成することができる半導体膜を備えるトランジスタを用いることができる。例えば、トランジスタMと同一の構成を備えるトランジスタを、トランジスタMDに用いることができる。また、トランジスタMと異なる構成を備えるトランジスタをトランジスタMDに用いることができる。
《駆動回路SD》
駆動回路SDは、画像信号を供給する機能を有する。例えば、シフトレジスタ等のさまざまな順序回路等を駆動回路SDに用いることができる。具体的には、シリコン基板上に形成された集積回路を駆動回路SDに用いることができる。
例えば、COG(Chip on glass)法を用いて、駆動回路SDを電極519Bに実装することができる。具体的には、異方性導電膜を用いて、集積回路を電極519Bに実装することができる。または、COF(Chip on Film)法を用いて、集積回路を電極519Bに実装することができる。
なお、本実施の形態は、本明細書で示す他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。
(実施の形態3)
本実施の形態では、本発明の一態様の入出力装置の作製方法について、図14乃至図22を参照しながら説明する。
図14は本発明の一態様の入出力装置の作製方法を説明するフロー図である。
図15乃至図22は作製工程中の本発明の一態様の表示パネルの構成を説明する図である。図15、図17、図19および図21は図1(A)の切断線X1−X2、切断線X3−X4、切断線X5−X6における断面図である。また、図16、図18、図20および図22は図1(A)の切断線X7−X8、切断線X9−X10、切断線X11−X12における断面図である。なお、図17(D)は、図17(C)の一部を説明する図である。
<入出力装置の作製方法1.>
本実施の形態で説明する入出力装置の作製方法は、以下の11のステップを有する(図14参照)。
《第1のステップ》
第1のステップにおいて、剥離膜510Wを工程用基板510に形成する(図14(U1)参照)。
例えば、無機材料または有機樹脂等を剥離膜510Wに用いることができる。
例えば、単膜の材料または複数の膜が積層された材料を剥離膜510Wに用いることができる。
具体的には、タングステン、モリブデン、チタン、タンタル、ニオブ、ニッケル、コバルト、ジルコニウム、亜鉛、ルテニウム、ロジウム、パラジウム、オスミウム、イリジウム、シリコンから選択された元素を含む金属、該元素を含む合金または該元素を含む化合物等の無機材料を剥離膜510Wに用いることができる。
タングステンを含む膜またはタングステンを含む膜およびタングステンの酸化物を含む膜が積層された材料を、剥離膜510Wに用いることができる。
タングステンを含む膜に他の膜を積層する方法を用いて、タングステンの酸化物を含む膜を形成することができる。具体的には、タングステンを含む膜にシリコンおよび酸素を含む膜を積層する。例えば、亜酸化窒素(NO)を含むガスを用いて、シリコンおよび酸素を含む膜を積層する。
また、タングステンを含む膜の表面に、さまざまな処理を施してタングステンの酸化物を含む膜を形成することができる。例えば、熱酸化処理、酸素プラズマ処理、亜酸化窒素(NO)プラズマ処理または酸化力の強い溶液(例えば、オゾン水等)を用いる処理等を施す。
具体的には、亜酸化窒素(NO)を含む雰囲気でプラズマ処理された表面を備える、厚さ30nmのタングステンを含む膜を、剥離膜510Wに用いることができる。または、シランおよび亜酸化窒素(NO)を含む雰囲気でプラズマ処理された表面を備える厚さ30nmのタングステンを含む膜を、剥離膜510Wに用いることができる。
ポリイミド、ポリエステル、ポリオレフィン、ポリアミド、ポリカーボネート若しくはアクリル樹脂等の有機材料を剥離膜510Wに用いることができる。具体的には、ポリイミドを含む膜を剥離膜510Wに用いることができる。200℃以上、好ましくは250℃以上、より好ましくは300℃以上、より好ましくは350℃以上の耐熱性を備えるポリイミドを含む膜を剥離膜510Wに用いることができる。
作製工程中の熱処理に耐えうる程度の耐熱性を有する材料を工程用基板510に用いることができる。
例えば、第6世代(1500mm×1850mm)、第7世代(1870mm×2200mm)、第8世代(2200mm×2400mm)、第9世代(2400mm×2800mm)、第10世代(2950mm×3400mm)等の面積が大きなガラス基板を工程用基板510に用いることができる。これにより、大型の表示装置を作製することができる。
例えば、ガラス、セラミックス、金属等の無機材料を工程用基板510に用いることができる。
具体的には、無アルカリガラス、ソーダ石灰ガラス、カリガラス、クリスタルガラス、石英またはサファイア等を、工程用基板510に用いることができる。具体的には、無機酸化物膜、無機窒化物膜または無機酸窒化物膜等を、工程用基板510に用いることができる。例えば、酸化シリコン膜、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、酸化アルミニウム膜等を、工程用基板510に用いることができる。ステンレス・スチールまたはアルミニウム等を、工程用基板510に用いることができる。
《第2のステップ》
第2のステップにおいて、剥離膜510Wと重なる領域を備える絶縁膜501Aを形成する(図14(U2)、図15(A)および図16(A)参照)。
後のステップで工程用基板510から分離することができる材料を絶縁膜501Aに用いる。例えば、工程用基板510側に剥離膜510Wを残して工程用基板510から分離することができる材料を、絶縁膜501Aに用いることができる。または、剥離膜510Wと共に工程用基板510から分離することができる材料を、絶縁膜501Aに用いることができる。
例えば、シラン等を原料ガスに用いる化学気相成長法により、絶縁膜501Aを形成することができる。
具体的には、膜501A1と、膜501A2と、をこの順で積層した材料を、絶縁膜501Aに用いることができる。
例えば、200nm以上600nm以下の厚さの膜を膜501A1に用いることができる。また、シリコンおよび酸素を含む材料またはシリコン、酸素および窒素を含む材料を膜501A1に用いることができる。
例えば、200nm程度の膜を膜501A2に用いることができる。また、シリコンおよび窒素を含む材料を膜501A2に用いることができる。
絶縁膜501Aは、後のステップにおいて加熱され、水素を供給する機能を備える。また、膜501A2は水素の透過を抑制する機能を備える。後のステップにおいて加熱された絶縁膜501Aが供給する水素は、絶縁膜501Aと剥離膜510Wの界面に向かって拡散する。
《第3のステップ》
第3のステップにおいて、絶縁膜501Aを加熱する(図14(U3)参照)。
これにより、例えば、絶縁膜501Aは水素を供給し、水素は剥離膜510Wに到達する。これにより、絶縁膜501Aと工程用基板510の間に、後のステップにおいて工程用基板510から絶縁膜501Aを分離することができる構造が形成される。
《第4のステップ》
第4のステップにおいて、絶縁膜と重なる領域を備える絶縁膜501Cを形成する(図14(U4)、図15(B)および図16(B)参照)。
《第5のステップ》
第5のステップにおいて、絶縁膜501Cに開口部591Bを、絶縁膜501Aおよび剥離膜510Wに開口部591Bと重なる開口部を形成する(図14(U5)、図15(C)および図16(C)参照)。
例えば、フォトリソグラフィー法およびエッチング法を用いて所定の形状にする。なお、工程用基板510の開口部591Bと重なる領域に、窪みが形成される場合がある。
《第6のステップ》
第6のステップにおいて、工程用基板510に接する電極519Bを開口部591Bに形成する(図14(U6)、図17(A)、図17(B)、図18(A)および図18(B)参照)。ところで、絶縁膜501Cに設けられた開口部591Bの一部を塞ぐ電極519Bを、貫通電極ということができる。言い換えると、開口部591Bの一部を埋める電極519Bを、貫通電極ということができる。
例えば、無電解メッキ法またはスパッタリング法等を電極519Bの形成に用いることができる。例えば、不要な部分を除去して、電極519Bを所定の形状にすることができる。具体的には、化学機械研磨法等を用いることができる。または、フォトリソグラフィー法およびエッチング法を用いることができる。
なお、後のステップで工程用基板510から分離することができる材料を電極に用いる。例えば、工程用基板510にガラスを用いる場合、ガラスに対する密着性の悪い材料を電極に用いることができる。具体的には、銅等を電極に用いることができる。
《第7のステップ》
第7のステップにおいて、電極519Bと接する導電膜511Bおよび導電膜511Bと電気的に接続される画素回路530(i,j)を形成する(図14(U7)、図17(C)および図18(C)参照)。なお、導電膜511Bは絶縁膜501Cおよび開口部591Bと重なる領域を備える。また、導電膜511Bは電極519Bと接する領域を備える。
例えば、トランジスタMのソース電極またはドレイン電極として機能する導電膜512Bと同一の工程で形成される導電膜を、導電膜511Bに用いることができる。
《第8のステップ》
第8のステップにおいて、画素回路530(i,j)と電気的に接続される表示素子550(i,j)を形成する(図14(U8)、図19(A)および図20(A)参照)。
《第9のステップ》
第9のステップにおいて、絶縁膜501Cと重なるように第2の基材710Lを積層する(図14(U9)参照)。
例えば、印刷法またはコーティング法等を用いて接合層709を形成し、接合層709を用いて第2の基材710Lと機能層520を貼り合わせる。
《第10のステップ》
第10のステップにおいて、工程用基板510から分離する(図14(U10)、図19(B)および図20(B)参照)。
例えば、工程用基板510から絶縁膜501Aの一部が分離した構造を備える剥離の起点を、形成する。次いで、工程用基板510から絶縁膜501Aが分離した構造を備える領域を、当該剥離の起点から徐々に広げ、最終的に工程用基板510から絶縁膜501Aを分離する。
例えば、レーザを用いる方法(具体的にはレーザアブレーション法)等または鋭利な先端を備える刃物を用いる方法等により、剥離の起点を形成することができる。また、例えば、液体を工程用基板510および絶縁膜501Aの間に浸透させながら、絶縁膜501Aを工程用基板510から分離する。具体的には、水を含む液体を剥離膜510Wと絶縁膜501Aの間に浸透させながら、絶縁膜501Aを分離する。これにより、分離の際に絶縁膜501Aに加わる応力を低減し、工程中に引き起こされる絶縁膜501Aの破壊を防ぐことができる。
例えば、絶縁膜501Aを剥離膜510Wから分離する際に、絶縁膜501Aと接する剥離膜510Wの一部分が他の部分から分離して、絶縁膜501Aに付着してしまう場合がある。この場合、絶縁膜501Aに付着した剥離膜510Wの一部分を、エッチング法を用いて除去することができる。これにより、絶縁膜501Aを露出させることができる。
《第11のステップ》
第11のステップにおいて、第1の基材510Lを積層する(図14(U11)、図21および図22参照)。
本実施の形態で説明する表示パネルの作製方法は、剥離膜を工程用基板に形成するステップと、絶縁膜に開口部を形成し、当該開口部と重なる開口部を剥離膜に形成するステップと、工程用基板に接する電極を当該開口部に形成するステップと、電極に接する導電膜、導電膜と電気的に接続される画素回路および画素回路と電気的に接続される表示素子を形成するステップと、工程用基板から分離するステップと、を含んで構成される。これにより、一方の端部が導電膜に接し、他方の端部が開口部に露出する電極を形成することができる。その結果、利便性または信頼性に優れた新規な表示パネルの作製方法を提供することができる。
<入出力装置の作製方法2.>
本発明の一態様の入出力装置の別の作製方法について、図23乃至図29を参照しながら説明する。
図23は本発明の一態様の入出力装置の作製方法を説明するフロー図である。
図24乃至図29は作製工程中の本発明の一態様の表示パネルの構成を説明する図である。図24、図26および図28は図7(A)の切断線X1−X2、切断線X3−X4、切断線X5−X6における断面図である。また、図25、図27および図29は図7(A)の切断線X7−X8、切断線X9−X10、切断線X11−X12における断面図である。
なお、図23乃至図29を参照しながら説明する入出力装置の作製方法は、絶縁膜501Aを用いない点、剥離膜510Wと共に工程用基板510から分離する点、配向膜AF1を形成する点、第1の表示素子750(i,j)を形成する点等が、図14乃至図22を参照しながら説明する入出力装置の作製方法とは異なる。ここでは、異なるステップについて詳細に説明し、同様な方法を用いることができる部分については上記の説明を援用する。
本実施の形態で説明する入出力装置の作製方法は、以下の12のステップを有する(図23参照)。
《第1のステップ》
第1のステップにおいて、剥離膜510Wを工程用基板510に形成する(図23(V1)参照)。
例えば、無機材料または有機樹脂等を剥離膜510Wに用いることができる。具体的には、ポリイミドを含む膜を剥離膜510Wに用いることができる。また、無アルカリガラスを工程用基板510に用いることができる。
《第2のステップ》
第2のステップにおいて、開口部を剥離膜510Wに形成する(図23(V2)参照)。
例えば、フォトリソグラフィー法を用いて、感光性のポリイミド等に開口部を形成することができる。または、ハードマスクおよびアッシング法を用いて、ポリイミド等に開口部を形成することができる。
《第3のステップ》
第3のステップにおいて、工程用基板510に接する電極519Bを開口部に形成する(図23(V3)、図24(A)、および図25(A)参照)。
例えば、無電解メッキ法またはスパッタリング法等を電極519Bの形成に用いることができる。例えば、不要な部分を除去して、電極519Bを所定の形状にすることができる。具体的には、化学機械研磨法等を用いることができる。または、フォトリソグラフィー法およびエッチング法を用いることができる。
なお、後のステップで工程用基板510から分離することができる材料を電極に用いる。例えば、工程用基板510にガラスを用いる場合、ガラスに対する密着性の悪い材料を電極に用いることができる。具体的には、銅等を電極に用いることができる。
《第4のステップ》
第4のステップにおいて、第1の電極751(i,j)、開口部591Bを備える絶縁膜501C、電極519Bと接する導電膜511Bおよび導電膜511Bと電気的に接続される画素回路530(i,j)を形成する(図23(V4)、図24(B)および図25(B)参照)。なお、導電膜511Bは絶縁膜501Cおよび開口部591Bと重なる領域を備える。また、導電膜511Bは電極519Bと接する領域を備える。
例えば、トランジスタMのソース電極またはドレイン電極として機能する導電膜512Bと同一の工程で形成される導電膜を、導電膜511Bに用いることができる。ところで、絶縁膜501Cに設けられた開口部591Bの一部を塞ぐ導電膜511Bを、貫通電極ということができる。言い換えると、開口部591Bの一部を埋める導電膜511Bを、貫通電極ということができる。
《第5のステップ》
第5のステップにおいて、画素回路530(i,j)と電気的に接続される第2の表示素子550(i,j)を形成する(図23(V5)、図24(C)および図25(C)参照)。
《第6のステップ》
第6のステップにおいて、絶縁膜501Cと重なるように第2の基材710Lを積層する(図23(V6)参照)。
例えば、印刷法またはコーティング法等を用いて接合層709を形成し、接合層709を用いて第2の基材710Lと機能層520を貼り合わせる。
《第7のステップ》
第7のステップにおいて、工程用基板510から分離する(図23(V7)、図26(A)および図27(A)参照)。
例えば、工程用基板510側から剥離膜510Wにレーザを照射して、工程用基板510から剥離膜510Wを分離する。具体的には、ポリイミドを含む剥離膜510Wにエキシマレーザを照射する。例えば、355nmの波長を有するレーザ、308nmの波長を有するレーザを用いることができる。
《第8のステップ》
第8のステップにおいて、配向膜AF1を形成する(図23(V8)、図26(B)および図27(B)参照)。
例えば、配向膜AF1に用いるポリイミド膜を形成する。具体的には、アッシング法等を用いてポリイミドを含む剥離膜510Wを薄くして、配向膜AF1に用いることができる。具体的には、厚さを70nmまで薄くして配向膜AF1に用いることができる。または、剥離膜510Wを取り除き、所定の領域に印刷法を用いて可溶性のポリイミドを形成することができる。
《第9のステップ》
第9のステップにおいて、配向膜AF1との間に液晶材料を含む層753を挟むように基材770を積層し、封止材705を用いて層753を封止し、第1の表示素子を形成する(図23(V9)、図28および図29参照)。なお、あらかじめ、第2の電極752、着色膜CF1、遮光膜BMおよび検知素子775(g,h)等が形成された材料を基材770に用いる。
本実施の形態は、少なくともその一部を本明細書中に記載する他の実施の形態と適宜組み合わせて実施することができる。
(実施の形態4)
本実施の形態では、本発明の一態様の表示パネルを有する表示モジュール及び電子機器について、図30を用いて説明を行う。
図30(A)乃至図30(G)は、電子機器を示す図である。これらの電子機器は、筐体5000、表示部5001、スピーカ5003、LEDランプ5004、操作キー5005(電源スイッチ、又は操作スイッチを含む)、接続端子5006、センサ5007(力、変位、位置、速度、加速度、角速度、回転数、距離、光、液、磁気、温度、化学物質、音声、時間、硬度、電場、電流、電圧、電力、放射線、流量、湿度、傾度、振動、におい又は赤外線を測定する機能を含むもの)、マイクロフォン5008、等を有することができる。
図30(A)はモバイルコンピュータであり、上述したものの他に、スイッチ5009、赤外線ポート5010、等を有することができる。図30(B)は記録媒体を備えた携帯型の画像再生装置(たとえば、DVD再生装置)であり、上述したものの他に、第2表示部5002、記録媒体読込部5011、等を有することができる。図30(C)はゴーグル型ディスプレイであり、上述したものの他に、第2表示部5002、支持部5012、イヤホン5013、等を有することができる。図30(D)は携帯型遊技機であり、上述したものの他に、記録媒体読込部5011、等を有することができる。図30(E)はテレビ受像機能付きデジタルカメラであり、上述したものの他に、アンテナ5014、シャッターボタン5015、受像部5016、等を有することができる。図30(F)は携帯型遊技機であり、上述したものの他に、第2表示部5002、記録媒体読込部5011、等を有することができる。図30(G)は持ち運び型テレビ受像器であり、上述したものの他に、信号の送受信が可能な充電器5017、等を有することができる。
図30(A)乃至図30(G)に示す電子機器は、様々な機能を有することができる。例えば、様々な情報(静止画、動画、テキスト画像など)を表示部に表示する機能、タッチパネル機能、カレンダー、日付又は時刻などを表示する機能、様々なソフトウェア(プログラム)によって処理を制御する機能、無線通信機能、無線通信機能を用いて様々なコンピュータネットワークに接続する機能、無線通信機能を用いて様々なデータの送信又は受信を行う機能、記録媒体に記録されているプログラム又はデータを読み出して表示部に表示する機能、等を有することができる。さらに、複数の表示部を有する電子機器においては、一つの表示部を主として画像情報を表示し、別の一つの表示部を主として文字情報を表示する機能、または、複数の表示部に視差を考慮した画像を表示することで立体的な画像を表示する機能、等を有することができる。さらに、受像部を有する電子機器においては、静止画を撮影する機能、動画を撮影する機能、撮影した画像を自動または手動で補正する機能、撮影した画像を記録媒体(外部又はカメラに内蔵)に保存する機能、撮影した画像を表示部に表示する機能、等を有することができる。なお、図30(A)乃至図30(G)に示す電子機器が有することのできる機能はこれらに限定されず、様々な機能を有することができる。
図30(H)は、スマートウオッチであり、筐体7302、表示パネル7304、操作ボタン7311、7312、接続端子7313、バンド7321、留め金7322、等を有する。
ベゼル部分を兼ねる筐体7302に搭載された表示パネル7304は、非矩形状の表示領域を有している。なお、表示パネル7304としては、矩形状の表示領域としてもよい。表示パネル7304は、時刻を表すアイコン7305、その他のアイコン7306等を表示することができる。
なお、図30(H)に示すスマートウオッチは、様々な機能を有することができる。例えば、様々な情報(静止画、動画、テキスト画像など)を表示部に表示する機能、タッチパネル機能、カレンダー、日付又は時刻などを表示する機能、様々なソフトウェア(プログラム)によって処理を制御する機能、無線通信機能、無線通信機能を用いて様々なコンピュータネットワークに接続する機能、無線通信機能を用いて様々なデータの送信又は受信を行う機能、記録媒体に記録されているプログラム又はデータを読み出して表示部に表示する機能、等を有することができる。
また、筐体7302の内部に、スピーカ、センサ(力、変位、位置、速度、加速度、角速度、回転数、距離、光、液、磁気、温度、化学物質、音声、時間、硬度、電場、電流、電圧、電力、放射線、流量、湿度、傾度、振動、におい又は赤外線を測定する機能を含むもの)、マイクロフォン等を有することができる。なお、スマートウオッチは、発光素子をその表示パネル7304に用いることにより作製することができる。
なお、本実施の形態は、本明細書で示す他の実施の形態と適宜組み合わせることができる。
例えば、本明細書等において、XとYとが接続されている、と明示的に記載されている場合は、XとYとが電気的に接続されている場合と、XとYとが機能的に接続されている場合と、XとYとが直接接続されている場合とが、本明細書等に開示されているものとする。したがって、所定の接続関係、例えば、図または文章に示された接続関係に限定されず、図または文章に示された接続関係以外のものも、図または文章に記載されているものとする。
ここで、X、Yは、対象物(例えば、装置、素子、回路、配線、電極、端子、導電膜、層、など)であるとする。
XとYとが直接的に接続されている場合の一例としては、XとYとの電気的な接続を可能とする素子(例えば、スイッチ、トランジスタ、容量素子、インダクタ、抵抗素子、ダイオード、表示素子、発光素子、負荷など)が、XとYとの間に接続されていない場合であり、XとYとの電気的な接続を可能とする素子(例えば、スイッチ、トランジスタ、容量素子、インダクタ、抵抗素子、ダイオード、表示素子、発光素子、負荷など)を介さずに、XとYとが、接続されている場合である。
XとYとが電気的に接続されている場合の一例としては、XとYとの電気的な接続を可能とする素子(例えば、スイッチ、トランジスタ、容量素子、インダクタ、抵抗素子、ダイオード、表示素子、発光素子、負荷など)が、XとYとの間に1個以上接続されることが可能である。なお、スイッチは、オンオフが制御される機能を有している。つまり、スイッチは、導通状態(オン状態)、または、非導通状態(オフ状態)になり、電流を流すか流さないかを制御する機能を有している。または、スイッチは、電流を流す経路を選択して切り替える機能を有している。なお、XとYとが電気的に接続されている場合は、XとYとが直接的に接続されている場合を含むものとする。
XとYとが機能的に接続されている場合の一例としては、XとYとの機能的な接続を可能とする回路(例えば、論理回路(インバータ、NAND回路、NOR回路など)、信号変換回路(DA変換回路、AD変換回路、ガンマ補正回路など)、電位レベル変換回路(電源回路(昇圧回路、降圧回路など)、信号の電位レベルを変えるレベルシフタ回路など)、電圧源、電流源、切り替え回路、増幅回路(信号振幅または電流量などを大きく出来る回路、オペアンプ、差動増幅回路、ソースフォロワ回路、バッファ回路など)、信号生成回路、記憶回路、制御回路など)が、XとYとの間に1個以上接続されることが可能である。なお、一例として、XとYとの間に別の回路を挟んでいても、Xから出力された信号がYへ伝達される場合は、XとYとは機能的に接続されているものとする。なお、XとYとが機能的に接続されている場合は、XとYとが直接的に接続されている場合と、XとYとが電気的に接続されている場合とを含むものとする。
なお、XとYとが電気的に接続されている、と明示的に記載されている場合は、XとYとが電気的に接続されている場合(つまり、XとYとの間に別の素子又は別の回路を挟んで接続されている場合)と、XとYとが機能的に接続されている場合(つまり、XとYとの間に別の回路を挟んで機能的に接続されている場合)と、XとYとが直接接続されている場合(つまり、XとYとの間に別の素子又は別の回路を挟まずに接続されている場合)とが、本明細書等に開示されているものとする。つまり、電気的に接続されている、と明示的に記載されている場合は、単に、接続されている、とのみ明示的に記載されている場合と同様な内容が、本明細書等に開示されているものとする。
なお、例えば、トランジスタのソース(又は第1の端子など)が、Z1を介して(又は介さず)、Xと電気的に接続され、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)が、Z2を介して(又は介さず)、Yと電気的に接続されている場合や、トランジスタのソース(又は第1の端子など)が、Z1の一部と直接的に接続され、Z1の別の一部がXと直接的に接続され、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)が、Z2の一部と直接的に接続され、Z2の別の一部がYと直接的に接続されている場合では、以下のように表現することが出来る。
例えば、「XとYとトランジスタのソース(又は第1の端子など)とドレイン(又は第2の端子など)とは、互いに電気的に接続されており、X、トランジスタのソース(又は第1の端子など)、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)、Yの順序で電気的に接続されている。」と表現することができる。または、「トランジスタのソース(又は第1の端子など)は、Xと電気的に接続され、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)はYと電気的に接続され、X、トランジスタのソース(又は第1の端子など)、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)、Yは、この順序で電気的に接続されている」と表現することができる。または、「Xは、トランジスタのソース(又は第1の端子など)とドレイン(又は第2の端子など)とを介して、Yと電気的に接続され、X、トランジスタのソース(又は第1の端子など)、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)、Yは、この接続順序で設けられている」と表現することができる。これらの例と同様な表現方法を用いて、回路構成における接続の順序について規定することにより、トランジスタのソース(又は第1の端子など)と、ドレイン(又は第2の端子など)とを、区別して、技術的範囲を決定することができる。
または、別の表現方法として、例えば、「トランジスタのソース(又は第1の端子など)は、少なくとも第1の接続経路を介して、Xと電気的に接続され、前記第1の接続経路は、第2の接続経路を有しておらず、前記第2の接続経路は、トランジスタを介した、トランジスタのソース(又は第1の端子など)とトランジスタのドレイン(又は第2の端子など)との間の経路であり、前記第1の接続経路は、Z1を介した経路であり、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)は、少なくとも第3の接続経路を介して、Yと電気的に接続され、前記第3の接続経路は、前記第2の接続経路を有しておらず、前記第3の接続経路は、Z2を介した経路である。」と表現することができる。または、「トランジスタのソース(又は第1の端子など)は、少なくとも第1の接続経路によって、Z1を介して、Xと電気的に接続され、前記第1の接続経路は、第2の接続経路を有しておらず、前記第2の接続経路は、トランジスタを介した接続経路を有し、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)は、少なくとも第3の接続経路によって、Z2を介して、Yと電気的に接続され、前記第3の接続経路は、前記第2の接続経路を有していない。」と表現することができる。または、「トランジスタのソース(又は第1の端子など)は、少なくとも第1の電気的パスによって、Z1を介して、Xと電気的に接続され、前記第1の電気的パスは、第2の電気的パスを有しておらず、前記第2の電気的パスは、トランジスタのソース(又は第1の端子など)からトランジスタのドレイン(又は第2の端子など)への電気的パスであり、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)は、少なくとも第3の電気的パスによって、Z2を介して、Yと電気的に接続され、前記第3の電気的パスは、第4の電気的パスを有しておらず、前記第4の電気的パスは、トランジスタのドレイン(又は第2の端子など)からトランジスタのソース(又は第1の端子など)への電気的パスである。」と表現することができる。これらの例と同様な表現方法を用いて、回路構成における接続経路について規定することにより、トランジスタのソース(又は第1の端子など)と、ドレイン(又は第2の端子など)とを、区別して、技術的範囲を決定することができる。
なお、これらの表現方法は、一例であり、これらの表現方法に限定されない。ここで、X、Y、Z1、Z2は、対象物(例えば、装置、素子、回路、配線、電極、端子、導電膜、層、など)であるとする。
なお、回路図上は独立している構成要素同士が電気的に接続しているように図示されている場合であっても、1つの構成要素が、複数の構成要素の機能を併せ持っている場合もある。例えば配線の一部が電極としても機能する場合は、一の導電膜が、配線の機能、及び電極の機能の両方の構成要素の機能を併せ持っている。したがって、本明細書における電気的に接続とは、このような、一の導電膜が、複数の構成要素の機能を併せ持っている場合も、その範疇に含める。
CL(g) 制御線
CP 導電材料
ML(h) 検知信号線
ANO 導電膜
BR 導電膜
C(g) 電極
M(h) 電極
CSCOM 配線
BM 遮光膜
510W 剥離膜
ACF1 導電材料
ACF2 導電材料
AF1 配向膜
AF2 配向膜
C11 容量素子
C12 容量素子
CF1 着色膜
CF2 着色膜
G1 走査線
G2 走査線
KB1 構造体
S1 信号線
S2 信号線
SW1 スイッチ
SW2 スイッチ
VCOM1 配線
VCOM2 導電膜
FPC1 フレキシブルプリント基板
FPC2 フレキシブルプリント基板
501A 絶縁膜
501A1 膜
501A2 膜
501C 絶縁膜
504 導電膜
505 接合層
506 絶縁膜
508 半導体膜
508A 領域
508B 領域
508C 領域
510 工程用基板
510B 基材
510C 接合層
510L 基材
511B 導電膜
511C 導電膜
511D 導電膜
512A 導電膜
512B 導電膜
516 絶縁膜
518 絶縁膜
519B 電極
519B1 領域
519B2 領域
519C 電極
519D 電極
520 機能層
521 絶縁膜
522 接続部
524 導電膜
528 絶縁膜
530 画素回路
550 表示素子
551 電極
552 電極
552C 電極
553 層
570 基材
591A 開口部
591B 開口部
591C 開口部
591D 開口部
700TP1 入出力装置
700TP2 入出力装置
702 画素
705 封止材
706 絶縁膜
709 接合層
710 基材
710A 絶縁膜
710B 基材
710C 接合層
710L 基材
719 端子
720 機能層
750 表示素子
751 電極
751E 領域
751H 開口部
752 電極
753 層
770 基材
770D 機能膜
770P 機能膜
771 絶縁膜
775 検知素子
800TP1 入出力装置
801 領域
820 筐体
821 部材
822 部材
823 ヒンジ部
5000 筐体
5001 表示部
5002 表示部
5003 スピーカ
5004 LEDランプ
5005 操作キー
5006 接続端子
5007 センサ
5008 マイクロフォン
5009 スイッチ
5010 赤外線ポート
5011 記録媒体読込部
5012 支持部
5013 イヤホン
5014 アンテナ
5015 シャッターボタン
5016 受像部
5017 充電器
7302 筐体
7304 表示パネル
7305 アイコン
7306 アイコン
7311 操作ボタン
7312 操作ボタン
7313 接続端子
7321 バンド
7322 留め金

Claims (5)

  1. 画素と、絶縁膜と、第3の導電膜と、電極と、を有し、
    前記絶縁膜は、0.2μm以上1.5μm以下の厚さを備え、
    前記絶縁膜は、10 −3 g/(m ・day)以下の水蒸気透過率を備え、
    前記絶縁膜は、前記画素と重なる領域を備え、
    前記絶縁膜は、開口部を備え、
    前記第3の導電膜は、前記画素と電気的に接続され、
    前記第3の導電膜は、前記絶縁膜と重なる領域を備え、
    前記第3の導電膜は、前記開口部と重なる領域を備え、
    前記電極は、前記第3の導電膜と電気的に接続され、
    前記電極は、第1の領域および第2の領域を備え、
    前記第1の領域は、前記第3の導電膜と接し、
    前記第2の領域は、接点の機能を備え、
    前記開口部は、前記第3の導電膜または前記電極に塞がれる領域を備える表示パネル。
  2. 可撓性を備える第1の基材と、可撓性を備える第2の基材と、を有し、
    前記第1の基材は、前記絶縁膜と重なる領域を備え、
    前記第2の基材は、前記第1の基材との間に、前記絶縁膜を挟む領域を備える、請求項1に記載の表示パネル。
  3. 一群の複数の画素と、他の一群の複数の画素と、信号線と、走査線と、を有し、
    前記一群の複数の画素は、前記画素を含み、
    前記一群の複数の画素は、行方向に配設され、
    前記他の一群の複数の画素は、前記画素を含み、
    前記他の一群の複数の画素は、行方向と交差する列方向に配設され、
    前記走査線は、前記一群の複数の画素と電気的に接続され、
    前記他の一群の複数の画素は、前記信号線と電気的に接続され、
    前記走査線または前記信号線は、前記第3の導電膜と電気的に接続される、請求項1または請求項2に記載の表示パネル。
  4. 駆動回路を有し、
    前記駆動回路は、画像信号を供給する機能を備え
    前記駆動回路は、前記第2の領域と電気的に接続され、
    前記信号線は、前記第3の導電膜と電気的に接続される、請求項に記載の表示パネル。
  5. 前記画素は、画素回路と、表示素子と、を備え、
    前記画素回路は、前記信号線と電気的に接続され、
    前記表示素子は、前記画素回路と電気的に接続される、請求項に記載の表示パネル。
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