JP6840269B2 - 電子構成素子を機械的に接続させる方法及び電子構成素子アセンブリ - Google Patents
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Description
例えばプリント回路基板素子などの電子構成素子、フレックスフィルム、直接接合銅(DBC)要素及び/又はセンサドームは、機械的及び電気的に相互に接続されなければならない。電気的接続に対しては、ケーブルコネクタ、ジャンパなどが頻繁に使用される。2つの電子構成素子の機械的接続に対しては、ねじ、リベットなどが頻繁に使用される。ねじ、リベットなどの使用は、接続過程中の電子構成素子の機械的負荷につながる。機械的接続のためにねじ、リベットなどを使用するにあたっては、それらが通常は、電子構成素子から突出することも欠点になる。また、金属製のねじ、リベットなどが不都合な条件下で使用されると、金属くずを生じる可能性があり、それらは短絡を引き起こしかねない。その上さらに、2つの電子構成素子が異なる高さレベルに位置する場合、機械的応力が生じる可能性がある。
発明の利点
本発明の実施形態は、好適には、2つの電子構成素子を、技術的に容易にかつ機械的応力なしで相互に接続させることを可能にする。
第2の貫通開口部若しくは盲孔が第1の方向で完全に第1の貫通開口部の下方に配置されるように、
又は、
第1の貫通開口部が第1の方向で完全に第2の貫通開口部若しくは盲孔の上方に配置されるように、
第2の電子構成素子の上方に配置される。これによる1つの利点は、通常、注封材料が、特に容易に、第1の貫通開口部と第2の貫通開口部若しくは盲孔とに達することにある。これにより、通常、2つの電子構成素子の間で特に堅固な機械的接続が達成される。
図1は、本発明に係る電子構成素子20,30アセンブリ10の第1の実施形態の断面図を示している。このアセンブリ10は、第1の電子構成素子20、具体的には第1のプリント回路基板素子と、第2の電子構成素子30、具体的には第2のプリント回路基板素子とを含んでいる。この第1又は第2のプリント回路基板素子は、それぞれ、リジッドプリント回路基板(PCB)、フレキシブルプリント回路基板(PCB)、フレックスフィルム、直接接合銅(DBC)、フレキシブルプリント回路基板(FPC)、センサ又はセンサドームなどであってもよい。
Claims (15)
- 第1の電子構成素子(20)を、第2の電子構成素子(30)に機械的に接続させる方法であって、
前記第1の電子構成素子(20)は、第1の方向(90)で第1の貫通開口部(25,26)を有し、前記第2の電子構成素子(30)は、前記第1の方向(90)で第2の貫通開口部(35,36)又は盲孔を有する、方法において、
前記第2の貫通開口部(35,36)又は前記盲孔が前記第1の方向(90)で少なくとも部分的に前記第1の貫通開口部(25,26)の下方に配置されるように、前記第1の電子構成素子(20)を前記第1の方向(90)で前記第2の電子構成素子(30)の上方に配置して位置決めするステップと、
前記第1の貫通開口部(25,26)と前記第2の貫通開口部(35,36)とに、又は、前記第1の貫通開口部(25,26)と前記盲孔とに、注封材料(50)を導入するステップと、
前記第2の電子構成素子(30)に対する前記第1の電子構成素子(20)のロックのために前記注封材料(50)を硬化させるステップと、
を含み、
前記注封材料(50)を硬化させるステップの後には、前記注封材料(50)が、前記第2の電子構成素子(30)の、前記第1の電子構成素子(20)とは反対側の冷却体(70)との間に、前記第2の電子構成素子(30)と前記冷却体(70)との間の高さの違いを補償調整するように配置されている、
方法。 - 前記第1の電子構成素子(20)は、
前記第2の貫通開口部(35,36)若しくは前記盲孔が前記第1の方向(90)で完全に前記第1の貫通開口部(25,26)の下方に配置されるように、
又は、
前記第1の貫通開口部(25,26)が前記第1の方向(90)で完全に前記第2の貫通開口部(35,36)若しくは前記盲孔の上方に配置されるように、
前記第1の方向(90)で前記第2の電子構成素子(30)の上方に配置される、
請求項1に記載の方法。 - 前記第1の貫通開口部(25,26)と前記第2の貫通開口部(35,36)又は前記盲孔とは、それぞれ前記第1の方向(90)に対して垂直な断面で見て楕円形状を有し、前記第1の電子構成素子(20)は、前記第2の電子構成素子(30)に対して、前記第1の貫通開口部(25,26)が前記第2の貫通開口部(35,36)と同軸に位置決めされるように又は前記盲孔と同軸に位置決めされるように、位置決めされる、
請求項1又は2に記載の方法。 - 前記第1の貫通開口部(25,26)と前記第2の貫通開口部(35,36)又は前記盲孔とは、それぞれ前記第1の方向(90)に対して垂直な断面で見て円形形状を有する、
請求項3に記載の方法。 - 前記第1の電子構成素子(20)を、前記第1の貫通開口部(25,26)、前記第2の貫通開口部(35,36)及び前記盲孔のうちの少なくとも1つから最大で0.75mmのところに位置する箇所において、前記第2の電子構成素子(30)に電気的に接続させるステップをさらに含む、
請求項1乃至4のいずれか一項に記載の方法。 - 前記第1の電子構成素子(20)を、前記第1の貫通開口部(25,26)、前記第2の貫通開口部(35,36)及び前記盲孔のうちの少なくとも1つから最大で0.55mmのところに位置する箇所において、前記第2の電子構成素子(30)に電気的に接続させるステップをさらに含む、
請求項1乃至4のいずれか一項に記載の方法。 - 前記第1の貫通開口部(25,26)を取り囲むダム材料(60)を、前記第1の電子構成素子(20)の、前記第2の電子構成素子(30)とは反対側の第1の側(21)に被着させるステップと、
前記注封材料(50)としての充填材料を、前記第1の電子構成素子(20)の前記第1の側(21)の、前記ダム材料(60)によって取り囲まれた部分に、当該充填材料が前記第1の貫通開口部(25,26)と前記第2の貫通開口部(35,36)又は前記盲孔とに導入されるように、被着させるステップと、
をさらに含む、
請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法。 - 前記第1の電子構成素子(20)は、第1のプリント回路基板素子であり、前記第2の電子構成素子(30)は、第2のプリント回路基板素子である、
請求項1乃至7のいずれか一項に記載の方法。 - 第1の電子構成素子(20)と、第2の電子構成素子(30)とを含む電子構成素子(20,30)アセンブリ(10)において、
前記第1の電子構成素子(20)が、第1の方向(90)で第1の貫通開口部(25,26)を有し、前記第2の電子構成素子(30)は、前記第1の方向(90)で第2の貫通開口部(35,36)又は盲孔を有し、
前記第2の貫通開口部(35,36)又は前記盲孔が前記第1の方向(90)で少なくとも部分的に前記第1の貫通開口部(25,26)の下方に配置されるように、前記第2の電子構成素子(30)は、前記第1の方向(90)で前記第1の電子構成素子(20)の下方に配置されており、
前記第1の電子構成素子(20)を前記第2の電子構成素子(30)に接続させる一体型注封材料(50)が、前記第1の貫通開口部(25,26)と前記第2の貫通開口部(35,36)又は前記盲孔とに配置されており、
前記一体型注封材料(50)は、前記第2の電子構成素子(30)の、前記第1の電子構成素子(20)とは反対側の冷却体(70)との間にも、前記第2の電子構成素子(30)と前記冷却体(70)との間の高さの違いを補償調整するように配置されている、
ことを特徴とするアセンブリ(10)。 - 前記第2の貫通開口部(35,36)若しくは前記盲孔は、前記第1の方向(90)で完全に前記第1の貫通開口部(25,26)の下方に配置されている、
又は、
前記第1の貫通開口部(25,26)は、前記第1の方向(90)で完全に前記第2の貫通開口部(35,36)若しくは前記盲孔の上方に配置されている、
請求項9に記載のアセンブリ(10)。 - 前記第2の電子構成素子(30)の、前記第1の電子構成素子(20)とは反対側に、前記注封材料(50)の一部が配置されている、
請求項9又は10に記載のアセンブリ(10)。 - 前記第1の貫通開口部(25,26)と前記第2の貫通開口部(35,36)又は前記盲孔とは、それぞれ前記第1の方向(90)に対して垂直な断面で見て楕円形状を有し、前記第1の貫通開口部(25,26)は、前記第2の貫通開口部(35,36)と同軸に又は前記盲孔と同軸に位置決めされている、
請求項9乃至11のいずれか一項に記載のアセンブリ(10)。 - 前記第1の貫通開口部(25,26)と前記第2の貫通開口部(35,36)又は前記盲孔とは、それぞれ前記第1の方向(90)に対して垂直な断面で見て円形形状を有する、
請求項12に記載のアセンブリ(10)。 - 前記注封材料(50)は、前記第1の電子構成素子(20)を前記第2の電子構成素子(30)に面状に接続させるために、前記第1の電子構成素子(20)と前記第2の電子構成素子(30)との間に部分的に配置されている、
請求項9乃至13のいずれか一項に記載のアセンブリ(10)。 - 前記第1の電子構成素子(20)は、第1のプリント回路基板素子であり、前記第2の電子構成素子(30)は、第2のプリント回路基板素子である、
請求項9乃至14のいずれか一項に記載のアセンブリ(10)。
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