JP6818468B2 - 光電変換装置及びカメラ - Google Patents

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Description

本発明は、光電変換装置及びカメラに関する。
ウェハレベルチップサイズパッケージ(WL−CSP)を使用した光電変換装置は、キャビティ構造を有するものと、充填構造を有するものとに大別される。キャビティ構造を有する光電変換装置は、光電変換基板と透光板とが環状の結合部材によって互いに結合されており、光電変換基板のマイクロレンズアレイと透光板との間に空隙を有する。充填構造を有する光電変換装置は、光電変換基板の上面全体と透光板とが結合部材によって互いに結合されている。充填構造を有する光電変換装置は、キャビティ構造を有する光電変換装置と比較して、構造的強度の点で優れるものの、空気よりも屈折率が高い結合部材によってマイクロレンズアレイが覆われているので、マイクロレンズのパワーの点で劣る。そこで、特許文献1では、結合部材よりも屈折率が低い低屈折率部材でマイクロレンズアレイの上面を覆った後に、光電変換基板と透光板とを結合部材によって互いに結合する。
特開2015−159275号公報
低屈折率部材の材料によっては、低屈折率部材の構造的強度や、低屈折率部材と他の部材との結合強度が低くなってしまい、光電変換基板から透光板が外れやすくなる。本発明は、透光板と光電変換基板との結合を向上にするための技術を提供することを目的とする。
上記課題に鑑みて、光電変換装置であって、複数の光電変換部、および、前記複数の光電変換部の上に配されたマイクロレンズアレイを有する光電変換基板と、透光板と、前記光電変換基板と前記透光板との間に配され、単一の材料で形成され、前記光電変換基板と前記透光板とを結合する第1部材と、前記第1部材と前記マイクロレンズアレイとの間に配された第2部材と、を備え、前記第2部材は、前記マイクロレンズアレイよりも低い屈折率および前記マイクロレンズアレイよりも高い空隙率の少なくとも一方を有し、前記第1部材の前記光電変換基板側の面は、前記複数の光電変換部の上にある部分から前記光電変換装置の側面にかけて、複数の段差を有し、前記複数の段差は、前記第2部材と前記透光板との間から前記第2部材の端部を覆うように前記第1部材が延在することによって形成された段差を含むことを特徴とする光電変換装置が提供される。
上記手段により、透光板と光電変換基板との結合を向上にするための技術が提供される。
一部の実施形態の光電変換装置の構造例を説明する図。 一部の実施形態の光電変換装置の構造例を説明する図。 一部の実施形態の低屈折率部材の材料例を説明する図。 一部の実施形態の光電変換装置の製造方法例を説明する図。 一部の実施形態の光電変換装置の製造方法例を説明する図。 一部の実施形態の光電変換装置の製造方法例を説明する図。 一部の実施形態の光電変換装置の別の構造例を説明する図。 一部の実施形態の光電変換装置の別の構造例を説明する図。 一部の実施形態の光電変換装置の別の構造例を説明する図。
添付の図面を参照しつつ本発明の実施形態について説明する。様々な実施形態を通じて同様の要素には同一の参照符号を付し、重複する説明を省略する。また、各実施形態は適宜変更、組み合わせが可能である。添付の図面では、説明される要素の理解を容易にするために、各要素の縮尺は実際の装置のものとは異なりうる。以下では表面照射型の光電変換装置について説明するが、裏面照射型の光電変換装置に対しても同様に本発明を適用できる。光電変換装置は、画像形成に用いられる場合に、固体撮像装置とも呼ばれうる。
図1〜図3を参照して、本発明の一部の実施形態に係る光電変換装置100の構造の一例について説明する。図1(a)は光電変換装置100の平面図であり、図1(b)は図1(a)のAA線における断面図であり、図2(a)は図1(a)のBB線における断面図であり、図2(b)は図1(a)のCC線における断面図である。光電変換装置100は、ウェハレベルチップサイズパッケージの光電変換装置である。すなわち、後述する製造方法で説明されるように、光電変換装置100は、半導体ウェハに複数の光電変換装置の構成要素を形成した後、半導体ウェハをダイシングして光電変換装置を個片化することによって得られる。
図1(a)に示すように、光電変換装置100は、破線DL1の内側に画素領域PXを有し、破線DL1と破線DL2との間に周辺領域PEを有し、破線DL2の外側にスクライブ領域SCを有する。画素領域PXは、入射光を信号電荷に変換する複数の画素がアレイ状に配された領域である。周辺領域PEは、画素に蓄積された信号電荷を読み出す回路や画素を駆動する回路が配された領域である。スクライブ領域SCは、光電変換装置100の製造過程でダイシングの対象となる領域であり、光電変換装置100の動作に用いられる回路は配されない。図1(a)では、図の理解を容易にするために、各領域の境界を示す破線DL1、DL2と、低屈折率部材111のみを示す。
図1(b)を参照して、光電変換装置100の断面構造について説明する。図1(b)の断面図は、画素領域PXの一部から光電変換装置100の側面100aを越えて光電変換装置100の外部までに着目する。図1(b)では、光電変換装置100の1つの側面100a(図1(a)で左側の側面)について説明するが、光電変換装置100は他の側面についても同様の断面構造を有する。
光電変換装置100は、半導体層101を有する。半導体層101は、例えばシリコン層である。画素領域PXにおいて、半導体層101に複数の光電変換部102がアレイ状に配される。複数の光電変換部102のそれぞれは、画素の一部を構成する。トランジスタ等の画素の他の要素は周知であるので、説明を省略する。
光電変換装置100はさらに、半導体層101の上に絶縁層103を有する。光電変換装置100はさらに、絶縁層103の内部に形成された配線層104と、絶縁層103の上に形成された配線層105とを有する。そのため、絶縁層103は層間絶縁層とも呼ばれうる。配線層104、105は導電部材によって構成され、電気信号を伝達する。図1(b)の例では2層の配線層104を有するが、配線層104の層数はこれに限られない。配線層104、105は、画素領域PX及び周辺領域PEに配される。光電変換装置100はさらに、周辺領域PEにおいて、絶縁層103の内部に形成され絶縁層103の上側に突出する環状の耐湿リング114を有する。耐湿リング114は、配線層104、105の周囲を全体的に囲む。耐湿リング114は配線層104と同じ材料で形成されてもよい。
光電変換装置100はさらに、絶縁層103及び配線層105の上にパッシベーション膜106を有する。パッシベーション膜106は、光電変換装置100の全体にわたって配される。すなわち、パッシベーション膜106の端部は、光電変換装置100の側面100aまで延びる。図1(b)の例で、パッシベーション膜106の上面は、配線層105のパターンに応じた凹凸を有する。これに代えて、パッシベーション膜106の上面は平坦であってもよい。
光電変換装置100はさらに、パッシベーション膜106の上に平坦化層107を有する。平坦化層107は、例えば樹脂で形成された樹脂層である。平坦化層107の上面は平坦である。平坦化層107は、画素領域PX及び周辺領域PEの全体にわたって配されており、スクライブ領域SCには配されない。図1(b)の例で、平坦化層107の端部は周辺領域PEとスクライブ領域SCとの境界(破線DL2)まで延びる。これに代えて、平坦化層107の端部は周辺領域PEの途中まで延びてもよい。
光電変換装置100はさらに、平坦化層107の上にカラーフィルタ層108を有する。カラーフィルタ層108は、例えば樹脂で形成される。カラーフィルタ層108には、複数の画素に対応する複数のカラーフィルタが形成されている。複数のカラーフィルタは、例えばベイヤー配列で配置される。カラーフィルタごとに高さが異なるので、カラーフィルタ層108の上面は凹凸を有する。カラーフィルタ層108は、画素領域PXの全体から周辺領域PEの途中までにわたって配されており、スクライブ領域SCには配されない。すなわち、カラーフィルタ層108の端部は、周辺領域PEの途中まで延びる。
光電変換装置100はさらに、平坦化層107及びカラーフィルタ層108の上に平坦化層109を有する。平坦化層109は、例えば樹脂で形成された樹脂層である。平坦化層109の上面のうちカラーフィルタ層108の上にある部分は平坦であり、平坦化層109の上面のうちカラーフィルタ層108の外側にある部分も平坦である。平坦化層109の上面のうちカラーフィルタ層108の上にある部分と外側にある部分とは、半導体層101から異なる高さにある。平坦化層109は、画素領域PX及び周辺領域PEの全体にわたって配されており、スクライブ領域SCには配されない。図1(b)の例で、平坦化層109の端部は周辺領域PEとスクライブ領域SCとの境界(破線DL2)まで延びる。これに代えて、平坦化層109の端部は周辺領域PEの途中まで延びてもよい。図1(b)の例では、平坦化層107の端部と平坦化層109の端部とは同じ位置まで延びる。光電変換装置100において色の識別が必要ない場合に、光電変換装置100はカラーフィルタ層108及び平坦化層109を有していなくてもよい。
光電変換装置100はさらに、平坦化層109の上にマイクロレンズアレイ110を有する。マイクロレンズアレイ110は、例えば樹脂で形成される。マイクロレンズアレイ110は、有機材料で形成されてもよいし、無機材料で形成されてもよい。マイクロレンズアレイ110は、アレイ状に配された複数のマイクロレンズの集合体である。複数のマイクロレンズは複数の光電変換部102に対応して配され、各マイクロレンズの上面は凸曲面である。マイクロレンズアレイ110は、画素領域PXの全体から周辺領域PEの途中までにわたって配されており、スクライブ領域SCには配されない。マイクロレンズアレイ110は平坦化層109と同じ材料で形成されてもよいし、異なる材料で形成されてもよい。マイクロレンズアレイ110の端部は、カラーフィルタ層108の端部よりも内側(側面100aから遠い側)に位置する。
光電変換装置100はさらに、マイクロレンズアレイ110の上に低屈折率部材111を有する。低屈折率部材111は、画素領域PXの全体から周辺領域PEの途中までにわたって配されており、スクライブ領域SCには配されない。低屈折率部材111の端部は、マイクロレンズアレイ110の端部よりも内側(側面100aから遠い側)に位置する。このように、低屈折率部材111はマイクロレンズアレイ110の一部を覆う。
上述した半導体層101からマイクロレンズアレイ110までによって構成される構造を光電変換基板と呼ぶ。光電変換装置100はさらに、低屈折率部材111、結合部材112及び透光板113を有する。低屈折率部材111の屈折率は、マイクロレンズアレイ110の屈折率よりも低い。低屈折率部材111が単一の部材で形成される場合に、その部材の屈折率が低屈折率部材111の屈折率である。低屈折率部材111が積層構造を有しており、各層が異なる材料で形成される場合に、マイクロレンズアレイ110に最も近い層の屈折率を低屈折率部材111の屈折率としてもよい。マイクロレンズアレイ110のマイクロレンズのパワーは、マイクロレンズに接する部分の部材の屈折率によって定まるからである。同様に、マイクロレンズアレイ110が単一の部材で形成される場合に、その部材の屈折率がマイクロレンズアレイ110の屈折率である。マイクロレンズアレイ110が積層構造を有しており、各層が異なる材料で形成される場合に、低屈折率部材111に最も近い層の屈折率をマイクロレンズアレイ110の屈折率としてもよい。一般的に、部材の空隙率が高いほど、屈折率が低くなる。そのため、低屈折率部材111の空隙率は、マイクロレンズアレイ110の空隙率よりも高くてもよい。
透光板113は、光を透過する板状の部材であり、例えばガラスで形成される。透光板113は、光電変換基板を保護するような強度を有していてもよい。透光板113の上面113aは、光電変換装置100へ入射する光を受光する受光面である。上面113aから入射した光が光電変換基板によって電気信号に変換される。
結合部材112は、光電変換基板と透光板113との間に配されており、光電変換基板と透光板113とを互いに結合する。低屈折率部材111は、結合部材112とマイクロレンズアレイ110との間に位置する。後述する製造方法で説明するように、結合部材112は接着剤が硬化することによって形成される。そのため、結合部材112は、単一の材料で構成された部材である。接着剤の材料として、硬化後に透明になる有機材料、例えばアクリル系エポキシが用いられうる。
結合部材112の側面は光電変換装置100の側面100aの一部を構成する。結合部材112の上面112a(すなわち、透光板113側の面)は、透光板113に接触し、結合される。そこで、結合部材112の上面112aを接触面又は結合面と呼ぶこともできる。上面112aは光電変換装置100の側面100aまで延びており、上面112aの全面が透光板113に結合される。透光板113は板状の部材なので、上面112aは平坦である。
結合部材112の下面112b(すなわち、光電変換基板側の面)は、光電変換基板及び低屈折率部材111に接触し、結合される。そこで、結合部材112の下面112bを接触面又は結合面と呼ぶこともできる。上面112aと下面112bとは互いに反対側にある。下面112bは光電変換装置100の側面100aまで延びており、下面112bの外周付近において光電変換基板に結合される。具体的に、下面112bは、低屈折率部材111の上面及び側面と、マイクロレンズアレイ110の上面のうち低屈折率部材111で覆われていない部分とに接触し、結合される。下面112bはさらに、平坦化層109の上面のうちマイクロレンズアレイ110で覆われていない部分と、平坦化層107の端部と、パッシベーション膜106のうち平坦化層107で覆われていない部分とに接触し、結合される。
下面112bの形状について以下に説明する。光電変換基板の上面及び低屈折率部材111の端部によって、破線DL3で囲まれた部分に段差が形成されている。光電変換基板の上面は、破線DL5で囲まれた部分に、平坦化層109のうちカラーフィルタ層108の端部を覆う部分によって形成された段差を有する。光電変換基板の上面はさらに、破線DL6で囲まれた部分に、平坦化層107の端部及び平坦化層109の端部によって形成された段差を有する。平坦化層107の端部及び平坦化層109の端部は同じ位置にあるので、これらの端部によって1つの段差が形成される。光電変換基板の上面はさらに、破線DL7で囲まれた部分に、パッシベーション膜106の段差を有する。光電変換基板の上面はさらに、破線DL4で囲まれた部分に、マイクロレンズアレイの上面の一部による凹凸を有する。この凹凸も段差とみなしうる。下面112bは、これらの光電変換基板の上面の段差に接触し、結合されるので、下面112bは対応する段差を有する。このように、下面112bが、複数の光電変換部102の上にある部分から光電変換装置100の側面100aにかけて複数の段差を有するので、アンカー効果により、結合部材112と光電変換基板との結合が向上する。また、平坦化層107、カラーフィルタ層108及び平坦化層109をまとめて1つの部材と考えると、この部材は、複数の段差(破線DL5と破線DL6)を有しており、下面112bはこの複数の段差に接触し、結合される。平坦化層107、カラーフィルタ層108及び平坦化層109が低屈折率部材111よりも構造的強度が高い場合に、この部材の複数の段差に下面112bが結合されることによって、結合部材112と光電変換基板との結合が一層向上する。
続いて、図2(a)を参照して、光電変換装置100の別の断面構造について説明する。図2(a)は、図1(b)とは別の位置にある断面であり、電極116を通る断面を示す。図2(a)の断面図も、画素領域PXの一部から光電変換装置100の側面100aを越えて光電変換装置100の外部までに着目する。図2(a)では、光電変換装置100の1つの側面100a(図1(a)で左側の側面)について説明するが、光電変換装置100は他の側面についても同様の断面構造を有してもよい。
図2(a)に示すように、半導体層101及び絶縁層103には貫通孔115が形成されている。貫通孔115の一端は、配線層105の一部105aに到達する。光電変換装置100はさらに、貫通孔115を通る電極116を有する。電極116の一部は配線層105の一部105aに接触し、結合されており、電極116の他の一部116aは、半導体層101の下面(すなわち、透光板113とは反対側の面)に平行に延びる。電極116の一部116aには、光電変換装置100を実装基板に半田接合するための半田117が設けられる。電極116の一部116aと、低屈折率部材111とは、透光板113の上面113aに対する平面視において、互いに間隔Wを置いて配される。このような配置によって、光電変換装置100を実装基板に半田接合する際に低屈折率部材111に及ぶ力を低減することができる。この配置は、低屈折率部材111の構造的強度が低い場合に有利である。
続いて、図2(b)を参照して、光電変換装置100の別の断面構造について説明する。図2(b)は、図1(b)とは別の位置にある断面であり、検査用のパッドを通る断面を示す。図2(b)の断面図も、画素領域PXの一部から光電変換装置100の側面100aを越えて光電変換装置100の外部までに着目する。図2(b)では、光電変換装置100の1つの側面100a(図1(a)で左側の側面)について説明するが、光電変換装置100は他の側面についても同様の断面構造を有してもよい。
配線層105の一部105bの上から、パッシベーション膜106、平坦化層107及び平坦化層109が除去されている。配線層105の一部105bは、周辺領域PEに位置する。配線層105の一部105bは、光電変換装置100の製造中に、光電変換基板を検査するためのパッドとして機能する。結合部材112の下面112bは、配線層105の一部105bにも接触し、結合される。図2(b)において、光電変換基板の上面はさらに、破線DL8で囲まれた部分にあるパッシベーション膜106、平坦化層107及び平坦化層109の端部による段差と、破線DL9で囲まれた部分にあるパッシベーション膜106の端部による段差とを有する。結合部材112の下面112bは、これらの段差にも接触し、結合される。
続いて、図3を参照して、低屈折率部材111の材料の例を説明する。図3(a)に示される例で、低屈折率部材111は、複数の鎖状フィラー301と、複数の鎖状フィラー301を結合するバインダ302(結合剤)とによって形成される。複数の鎖状フィラー301のそれぞれは例えばソリッドなシリカ粒子を含みうる。バインダは、例えばポリシロキサンやアクリル樹脂である。各鎖状フィラー301はバインダ302に包まれている。バインダ302によって複数の鎖状フィラー301が互いに結合することによって、複数の鎖状フィラー301は鎖が立体的に結合した構造が形成される。そのため、低屈折率部材111は、複数の鎖状フィラー301の間に空隙303を有する。
図3(b)に示される例では、低屈折率部材111は、複数の粒状フィラー304と、複数の粒状フィラー304を結合するバインダ305(結合剤)とによって形成される。複数の粒状フィラー304のそれぞれは内部に空隙306を含む中空構造を有し、例えば中空のシリカ粒子を含みうる。バインダは、例えばポリシロキサンやアクリル樹脂である。
図3のいずれの例の材料を用いても、低屈折率部材111が空隙303、306を含む構造であるので、空隙率をマイクロレンズアレイ110よりも高くすることができる。低屈折率部材111の空隙率は例えば40〜60%であってもよく、低屈折率部材111の屈折率は例えば1.15〜1.30であってもよい。マイクロレンズアレイ110の空隙率は例えば0〜20%であってもよく、マイクロレンズアレイ110の屈折率は例えば1.50〜1.90であってもよい。このように、低屈折率部材111は、マイクロレンズアレイ110よりも低い屈折率およびマイクロレンズアレイ110よりも高い空隙率の少なくとも一方を有する。空隙率は、全体のうち気体部分が占める体積の比率として定義可能である。空隙率は、断面図において、全体のうち空隙部分が占める面積の比率として測定することも可能である。
上述のように、光電変換装置100では、結合部材112の下面112bが複数の光電変換部102の上にある部分から光電変換装置100の側面100aにかけて複数の段差を有するので、結合部材112と光電変換基板との結合が向上する。また、結合部材112の下面112bが、マイクロレンズアレイ110の上面の一部及び平坦化層109の上面の一部とも接触し、結合するので、結合強度が相対的に弱い低屈折率部材111との結合面積の割合を減らすことができる。さらに、光電変換基板の一部(例えば、マイクロレンズアレイ110)が有機材料で形成されており、結合部材112の下面112bが有機材料の部分に接触し、結合される場合に、OH基やCOOH基等の極性基による密着性向上が図れる。結合部材112と光電変換基板との結合が向上することによって、光電変換装置100の使用時の吸湿、衝撃、温度変化による剥れやクラックを抑制できる。
続いて、図4〜図6を参照して、光電変換装置100の製造方法について説明する。まず、図4(a)、(b)に示すような半導体層101を準備する。図4(a)は半導体層101の平面図を示し、図4(b)はDD線における断面図を示す。図4(a)のDD線は、図1(a)のCC線に対応する位置にある。図4(a)に示すように、半導体層101には、画素領域PXとその周囲にある周辺領域PEとの組が複数、間隔を置いて3行3列に配されている。画素領域PX及び周辺領域PEの各組には、1つの光電変換装置100を構成するための不純物領域(例えば、光電変換部102)が形成されている。周辺領域PEの外側の領域がスクライブ領域SCとなる。図4(b)の断面図は、1つの画素領域PXの一部からスクライブ領域SCを越えて、他の光電変換装置100を形成するための周辺領域PEの一部までに着目する。
次に、図4(c)に示すように、半導体層101の上に、絶縁層103、配線層104、配線層105、耐湿リング114及びパッシベーション膜106を形成する。この工程には既存の技術を用いてもよいので、詳細な説明を省略する。次に、図5(a)に示すように、配線層105の一部105bを露出するように、パッシベーション膜106に開口を形成する。上述のように、配線層105の一部105bは検査用のパッドとして用いられる。
次に、図5(b)に示すように、パッシベーション膜106の上に、平坦化層107、カラーフィルタ層108、平坦化層109及びマイクロレンズアレイ110をこの順に形成する。例えば、平坦化層107及び平坦化層109はそれぞれ、樹脂材料をスピンコートした後にベークすることによって形成される。カラーフィルタ層108は、有機樹脂を塗布した後、フォトリソグラフィー工程を行うことで形成される。マイクロレンズアレイ110は、有機材料又は無機材料を塗布した後、フォトリソグラフィー工程やエッチバック工程を行うことで形成される。
次に、図6(a)に示すように、平坦化層107及び平坦化層109のうち、スクライブ領域SCを覆う部分と、配線層105の一部105bを覆う部分とを除去する。この工程において、図6(a)に示すように、平坦化層107及び平坦化層109のうち、スクライブ領域SCと配線層105の一部105bとの間を覆う部分も除去してもよい。その後、低屈折率部材111を形成する。例えば、低屈折率部材111は、ドライエッチング、ウェットエッチング又は印刷法などによって形成される。低屈折率部材111が感光性材料で形成される場合に、低屈折率部材111は、フォトリソグラフィー工程によって形成されてもよい。以上の工程によって、光電変換基板が形成される。
次に、図6(b)に示すように、上記の工程で形成された光電変換基板と、別途用意した透光板113とを接着剤112’によって貼り合わせ、その後に接着剤112’を硬化させる。硬化した接着剤112’が結合部材112となる。その後、半導体層101の下面を研磨することによって半導体層101を薄くする。そして、半導体層101及び絶縁層103を貫通する貫通孔115を形成し、この貫通孔115を通る電極116を形成する。さらに、スクライブ領域SCをダイシングすることによって、複数の(この例では9個の)光電変換装置100が得られる。
続いて、図7〜図9を参照して、光電変換装置100の様々な変形例について説明する。変形例に示される構成は、光電変換装置100の一部の側面に対してのみ適用されてもよいし、すべての側面に対して適用されてもよい。また、光電変換装置100の側面ごとに、適用する変形例が同じであってもよいし、異なっていてもよい。以下の説明において、光電変換装置100と同様の構成については説明を省略し、相違点について説明する。以下の説明する各図面は、図1(b)に示した光電変換装置100の断面図に対応する。図2(a)及び図2(b)に示した断面図についても同様の相違点を有する。
図7(a)に示される光電変換装置700では、低屈折率部材111の端部の位置が光電変換装置100とは異なる。低屈折率部材111は、マイクロレンズアレイ110の全体を覆う。透光板113の上面113aに対する平面視において、低屈折率部材111の端部は、マイクロレンズアレイ110の端部とカラーフィルタ層108の端部との間に位置する。低屈折率部材111の端部は、破線DL8で囲まれた部分に段差を形成する。結合部材112の下面112bは、この段差に接触し、結合される。
図7(b)に示される光電変換装置750では、低屈折率部材111の端部の位置が光電変換装置100とは異なる。低屈折率部材111は、マイクロレンズアレイ110の全体を覆う。透光板113の上面113aに対する平面視において、低屈折率部材111の端部は、カラーフィルタ層108の端部と平坦化層109の端部との間に位置する。低屈折率部材111の端部は、破線DL9で囲まれた部分に段差を形成する。結合部材112の下面112bは、この段差に接触し、結合される。
図8(a)に示される光電変換装置800では、マイクロレンズアレイ110の上面全体を覆う中間膜801をさらに有する点で光電変換装置100とは異なる。中間膜801は、マイクロレンズアレイ110の少なくとも一部と低屈折率部材111との間に配されている。中間膜801の屈折率は、マイクロレンズアレイ110の屈折率よりも低く、低屈折率部材111の屈折率よりも高い。例えば、マイクロレンズアレイ110がシリコン窒化物(屈折率は1.87)で形成される場合に、中間膜801はシリコン酸化物(屈折率は1.46)で形成されてもよい。中間膜801は、マイクロレンズアレイ110と低屈折率部材111との間から、低屈折率部材111の端部よりも外側に延在した部分を有する。この延在した部分は、光電変換基板と結合部材112との間に位置する。中間膜801は、一例では平坦化層109の端部まで延在しており、この延在した部分の端部は光電変換装置800の側面から離れている。中間膜801のうちマイクロレンズアレイ110を覆う部分の上面は、マイクロレンズアレイ110の上面と同様の曲面形状となる。そのため、マイクロレンズアレイ110と、中間膜801のうちマイクロレンズアレイ110の上にある部分とを合わせたものがマイクロレンズアレイを構成するとみなしてもよい。中間膜801は、反射防止、密着性向上、汚染防止、応力緩和などの様々な効果を有する。中間膜801は、例えば無機材料膜である。
図8(b)に示される光電変換装置850では、マイクロレンズアレイ110の上面の一部を覆う中間膜851をさらに有する点で光電変換装置100とは異なる。中間膜851の材料は中間膜801の材料と同じであってもよい。中間膜851の端部は低屈折率部材111の端部と一致する。そのため、中間膜851の上面は低屈折率部材111で覆われているので、結合部材112の下面112bに接触する部分を含まない。
図9(a)に示される光電変換装置900では、破線DL10で囲まれた部分に絶縁層103が段差を有する点で光電変換装置100とは異なる。結合部材112の下面112bは、この段差に接触し、結合される。この段差の底の部分に絶縁層103の一部が残っているので、結合部材112は半導体層101に接触しない。
図9(b)に示される光電変換装置950では、平坦化層107、カラーフィルタ層108、平坦化層109及びマイクロレンズアレイ110がそれぞれ光電変換装置100の側面100aまで延びている点で光電変換装置100とは異なる。マイクロレンズアレイ110のうち破線DL11で囲まれる部分は低屈折率部材111で覆われていない。そのため、結合部材112の下面112bは、マイクロレンズアレイ110のこの部分に接触し、結合される。
以下、上記の各実施形態に係る光電変換装置の応用例として、この光電変換装置が組み込まれたカメラについて例示的に説明する。カメラの概念には、撮影を主目的とする装置のみならず、撮影機能を補助的に有する装置(例えば、パーソナルコンピュータ、携帯端末、自動車等)も含まれる。また、カメラはたとえばカメラヘッドなどのモジュール部品であってもよい。カメラは、上記の実施形態として例示された本発明に係る光電変換装置と、この光電変換装置から出力された信号を処理する信号処理部とを含む。この信号処理部は、例えば、光電変換装置で得られた信号に基づくデジタルデータを処理するプロセッサを含みうる。このデジタルデータを生成するためのA/D変換器を、光電変換装置の半導体層に設けてもよいし、別の半導体層に設けてもよい。また、半導体層101を1μm〜500μm程度に薄化する場合には半導体層101に対して透光板113とは反対側に配された支持基板を別途用いることができる。この支持基板にA/D変換器やプロセッサ、メモリを配置してもよい。
100 光電変換装置、110 マイクロレンズアレイ、111 低屈折率部材、112 結合部材、113 透光板

Claims (19)

  1. 光電変換装置であって、
    複数の光電変換部、および、前記複数の光電変換部の上に配されたマイクロレンズアレイを有する光電変換基板と、
    透光板と、
    前記光電変換基板と前記透光板との間に配され、単一の材料で形成され、前記光電変換基板と前記透光板とを結合する第1部材と、
    前記第1部材と前記マイクロレンズアレイとの間に配された第2部材と、を備え、
    前記第2部材は、前記マイクロレンズアレイよりも低い屈折率を有し、
    前記第1部材の前記光電変換基板側の面は、前記複数の光電変換部の上にある部分から前記光電変換装置の側面にかけて、複数の段差を有し、
    前記複数の段差は、前記第2部材と前記透光板との間から前記第2部材の端部を覆うように前記第1部材が延在することによって形成された段差を含むことを特徴とする光電変換装置。
  2. 光電変換装置であって、
    複数の光電変換部、および、前記複数の光電変換部の上に配されたマイクロレンズアレイを有する光電変換基板と、
    透光板と、
    前記光電変換基板と前記透光板との間に配され、前記光電変換基板と前記透光板とを結合する第1部材と、
    前記第1部材と前記マイクロレンズアレイとの間に配された第2部材と、を備え、
    前記第2部材は、前記マイクロレンズアレイよりも低い屈折率を有し、
    前記マイクロレンズアレイは、前記第2部材で覆われていない第1領域と、前記第2部材で覆われた第2領域とを含み、
    前記第1部材の前記光電変換基板側の面は、前記第1領域において前記マイクロレンズアレイの凹部に結合されており、前記第2領域において前記第2部材によって前記マイクロレンズアレイのレンズのピークから隔てられており、
    前記第1部材の前記光電変換基板側の面は、前記第2部材と前記透光板との間から前記第2部材の端部を覆うように前記第1部材が延在することによって形成された段差を含むことを特徴とする光電変換装置。
  3. 前記第1部材の前記面の一部は、前記マイクロレンズアレイによって構成された凹凸に対応した凹凸を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の光電変換装置。
  4. 前記第2部材は、バインダによって結合された複数のフィラーを含み、
    前記第2部材は、前記複数のフィラーの間に空隙を有することを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の光電変換装置。
  5. 前記第2部材は、バインダによって結合された複数のフィラーを含み、
    前記複数のフィラーは、中空構造を有することを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の光電変換装置。
  6. 前記複数のフィラーは、シリカ粒子を含むことを特徴とする請求項4又は5に記載の光電変換装置。
  7. 前記第1部材は、前記第2部材に接触することを特徴とする請求項1乃至6の何れか1項に記載の光電変換装置。
  8. 前記光電変換基板は、導電部材を更に有し、
    前記第1部材は、前記導電部材に接触することを特徴とする請求項1乃至7の何れか1項に記載の光電変換装置。
  9. 前記光電変換基板は、
    前記複数の光電変換部が配された半導体層と、
    前記半導体層の上に配され、配線層が配された絶縁層と、
    前記絶縁層の上に配された第3部材と、を更に有し、
    前記マイクロレンズアレイは前記第3部材の上に配され、
    前記第3部材は複数の段差を有しており、
    前記第1部材は、前記第3部材の前記複数の段差を覆うことを特徴とする請求項1乃至8の何れか1項に記載の光電変換装置。
  10. 前記第3部材は、
    第1樹脂層と、
    前記第1樹脂層の上に配されたカラーフィルタ層と、
    前記カラーフィルタ層を覆う第2樹脂層と、を含み、
    前記第3部材の前記複数の段差は、
    前記第2樹脂層のうち前記カラーフィルタ層の端部を覆う部分によって構成された段差と、
    前記第1樹脂層の端部及び前記第2樹脂層の端部によって構成された段差と、を含むことを特徴とする請求項9に記載の光電変換装置。
  11. 前記絶縁層は段差を有しており、
    前記第1部材は、前記絶縁層の前記段差を覆うことを特徴とする請求項9又は10に記載の光電変換装置。
  12. 前記光電変換装置は、前記透光板とは反対側の面に、半田接合のための電極を有し、
    前記透光板の上面に対する平面視において、前記電極と前記第2部材とは互いに間隔を置いて配されることを特徴とする請求項1乃至11の何れか1項に記載の光電変換装置。
  13. 前記光電変換装置は、前記マイクロレンズアレイの少なくとも一部と前記第2部材との間に配された膜を更に備えることを特徴とする請求項1乃至12の何れか1項に記載の光電変換装置。
  14. 前記膜は、前記マイクロレンズアレイと前記第2部材との間から、前記第2部材の端部よりも外側に延在した部分を有し、前記延在した部分が前記第1部材と前記光電変換基板との間に位置することを特徴とする請求項13に記載の光電変換装置。
  15. 前記膜は、前記マイクロレンズアレイと前記第2部材との間から、前記第2部材の端部よりも外側に延在した部分を有し、前記延在した部分の端部が前記光電変換装置の側面から離れていることを特徴とする請求項13に記載の光電変換装置。
  16. 前記第1部材は、有機材料で構成された部材であることを特徴とする請求項1乃至14の何れか1項に記載の光電変換装置。
  17. 前記光電変換基板は、有機材料で構成された部分を含み、
    前記有機材料で構成された部分によって段差が構成され、
    前記第1部材は、前記有機材料で構成された部分による前記段差に接触することを特徴とする請求項1乃至16の何れか1項に記載の光電変換装置。
  18. 前記マイクロレンズアレイは、前記光電変換装置の側面まで延びていることを特徴とする請求項1乃至17の何れか1項に記載の光電変換装置。
  19. 請求項1乃至18の何れか1項に記載の光電変換装置と、
    前記光電変換装置から出力された信号を処理する信号処理部と、
    を備えることを特徴とするカメラ。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11069729B2 (en) * 2018-05-01 2021-07-20 Canon Kabushiki Kaisha Photoelectric conversion device, and equipment
JP2020031136A (ja) 2018-08-22 2020-02-27 キヤノン株式会社 撮像装置およびカメラ
JP7303698B2 (ja) * 2019-08-08 2023-07-05 キヤノン株式会社 半導体装置および機器
JP2021089979A (ja) * 2019-12-04 2021-06-10 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 半導体素子および電子機器
CN113296277A (zh) * 2020-02-24 2021-08-24 宁波激智科技股份有限公司 一种准直膜、及一种减干涉准直膜及其制备方法
JP7503399B2 (ja) 2020-03-16 2024-06-20 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置及びその製造方法、並びに電子機器
US11257858B2 (en) * 2020-04-28 2022-02-22 Himax Technologies Limited Method of fabricating a sensor device
JP2022150746A (ja) * 2021-03-26 2022-10-07 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 半導体チップおよびその製造方法、半導体装置およびその製造方法、並びに電子機器

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2887210B2 (ja) * 1991-02-12 1999-04-26 株式会社クラレ 撮像装置
JPH09261519A (ja) * 1996-03-22 1997-10-03 Canon Inc 撮像装置
JP2000164836A (ja) * 1998-11-25 2000-06-16 Nikon Corp 固体撮像装置等の半導体装置の製造方法
CN100463200C (zh) * 2004-02-03 2009-02-18 松下电器产业株式会社 固体摄像装置及其制造方法以及照相机
JP4838501B2 (ja) * 2004-06-15 2011-12-14 富士通セミコンダクター株式会社 撮像装置及びその製造方法
JP4629473B2 (ja) * 2005-03-25 2011-02-09 大日本印刷株式会社 固体撮像素子の製造方法
JP4469781B2 (ja) 2005-07-20 2010-05-26 パナソニック株式会社 固体撮像装置及びその製造方法
CN1901215A (zh) 2005-07-20 2007-01-24 松下电器产业株式会社 固体摄像装置及其制造方法
JP4794283B2 (ja) 2005-11-18 2011-10-19 パナソニック株式会社 固体撮像装置
KR100790225B1 (ko) * 2005-12-26 2008-01-02 매그나칩 반도체 유한회사 이미지 센서 및 그 제조 방법
JP4110192B1 (ja) 2007-02-23 2008-07-02 キヤノン株式会社 光電変換装置及び光電変換装置を用いた撮像システム
JP2009016405A (ja) 2007-06-30 2009-01-22 Zycube:Kk 固体撮像装置
JP2009016574A (ja) 2007-07-04 2009-01-22 Panasonic Corp 固体撮像装置およびその製造方法
JP2009064839A (ja) 2007-09-04 2009-03-26 Panasonic Corp 光学デバイス及びその製造方法
JP2009260269A (ja) 2008-03-18 2009-11-05 Panasonic Corp 光学デバイス及びその製造方法
JP2010034313A (ja) 2008-07-29 2010-02-12 Panasonic Corp 半導体装置及びそれを用いた電子機器
JP2010040621A (ja) * 2008-08-01 2010-02-18 Toshiba Corp 固体撮像デバイス及びその製造方法
JP5185019B2 (ja) 2008-08-25 2013-04-17 パナソニック株式会社 半導体装置及びそれを用いた電子機器
JP2010073819A (ja) 2008-09-17 2010-04-02 Canon Inc 光電変換装置及び撮像システム
JP5511180B2 (ja) * 2008-12-19 2014-06-04 キヤノン株式会社 固体撮像装置の製造方法及び固体撮像装置
JP2010186870A (ja) * 2009-02-12 2010-08-26 Toshiba Corp 半導体装置
JP5434252B2 (ja) * 2009-05-14 2014-03-05 ソニー株式会社 固体撮像装置、および、その製造方法、電子機器
JP2011146633A (ja) * 2010-01-18 2011-07-28 Sony Corp 固体撮像素子の製造方法
JP5694670B2 (ja) * 2010-02-05 2015-04-01 キヤノン株式会社 固体撮像装置およびその製造方法
WO2014084288A1 (ja) * 2012-11-30 2014-06-05 富士フイルム株式会社 硬化性樹脂組成物、これを用いたイメージセンサチップの製造方法及びイメージセンサチップ
JP6103947B2 (ja) 2013-01-16 2017-03-29 キヤノン株式会社 固体撮像装置及びその製造方法
JP6270335B2 (ja) * 2013-04-26 2018-01-31 オリンパス株式会社 撮像装置
WO2014174994A1 (ja) * 2013-04-26 2014-10-30 オリンパス株式会社 撮像装置
KR102149772B1 (ko) * 2013-11-14 2020-08-31 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 이를 제조하는 방법
JP6299406B2 (ja) 2013-12-19 2018-03-28 ソニー株式会社 半導体装置、半導体装置の製造方法、及び電子機器
JP6300029B2 (ja) 2014-01-27 2018-03-28 ソニー株式会社 撮像素子、製造装置、製造方法
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