JP4825542B2 - 固体撮像素子の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体基板上方に光電変換層を1層積層した構成の固体撮像素子の製造方法に関する。
CCD型やCMOS型のイメージセンサに代表される単板式カラー固体撮像素子では、光電変換する受光部の配列上に3種または4種の色フィルタをモザイク状に配置している。これにより、各受光部から色フィルタに対応した色信号が出力され、これ等の色信号を信号処理することでカラー画像が生成される。
しかし、モザイク状に色フィルタを配列したカラー固体撮像素子は、原色の色フィルタの場合、およそ入射光の2/3が色フィルタで吸収されてしまうため、光利用効率が悪く、感度が低いという問題がある。また、各受光部で1色の色信号しか得られないため、解像度も悪く、特に、偽色が目立つという問題もある。
そこで、斯かる問題を克服するために、信号読出回路が形成された半導体基板の上に3層の光電変換層を積層する構造の撮像素子が研究・開発されている(例えば、下記の特許文献1,2)。この撮像素子は、例えば、光入射面から順次、青(B),緑(G),赤(R)の光に対して信号電荷(電子,正孔)を発生する光電変換層を重ねた受光部構造を備え、しかも各受光部毎に、各光電変換層で光発生した信号電荷を独立に読み出すことができる信号読み出し回路が設けられる。
斯かる構造の撮像素子の場合、入射光が殆ど光電変換されて読み出され、可視光の利用効率は100%に近く、しかも各受光部でR,G,Bの3色の色信号が得られるため、高感度で、高解像度(偽色が目立たない)の良好な画像が生成できる。
特表2002−502120号公報 特開2002−83946号公報
特許文献1、2記載のような撮像素子を具体的に実現するためには、半導体基板上方に形成される光電変換部を例えば次のような構成にする。即ち、半導体基板上方に積層された第一電極と、第一電極上に形成された光電変換層と、光電変換層上に形成された第二電極とを含む光電変換部が、半導体基板上方の同一平面上に多数配列されており、第一電極が多数の光電変換部毎に分割されており、光電変換層及び第二電極が多数の光電変換部で共通となっている構成である。
このような多数の光電変換部を有する固体撮像素子には、単板式の固体撮像素子と同様に、この固体撮像素子に電源を接続するための電極パッドを設けておく必要がある。単板式の固体撮像素子では、半導体基板上に電極パッドを形成した後、半導体基板上に積層物(カラーフィルタやマイクロレンズ等)を形成する度に電極パッド上にフォトリソグラフィ法によって開口を形成し、電極パッドを露出させている。
上記多数の光電変換部を有する固体撮像素子においても、電極パッドを露出させる必要がある。しかし、有機材料からなる光電変換層は熱や水分に弱いため、単板式の固体撮像素子と同じように、半導体基板上に積層物(第一電極、光電変換層、第二電極等)を形成する度に電極パッド上にフォトリソグラフィによって開口を形成する工程を採用すると、光電変換層の性能が劣化してしまう。又、上記多数の光電変換部を有する固体撮像素子では、第二電極を形成する際に、第二電極と電極パッドとを接続するための配線を形成する必要がある。第二電極自体は各光電変換部で共通の1枚構成であるため、フォトリソグラフィ等は不要であるが、第二電極と電極パッドとを接続するための配線については、フォトリソグラフィ法によるパターニングが必要となってしまう。このように、上記多数の光電変換部を有する固体撮像素子では、光電変換層を形成した後に、フォトリソグラフィ法を用いずに、電極パッドを露出させたり、第二電極と電極パッドとの配線を形成したりすることが、光電変換層の性能劣化を防止する上で重要となる。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、半導体基板上に光電変換層を1層積層した構成の固体撮像素子の製造方法であって、光電変換層の性能劣化を防ぐことが可能な製造方法を提供することを目的とする。
本発明の固体撮像素子の製造方法は、基板上方に積層された第一電極と、前記第一電極上に形成された光電変換層と、前記光電変換層上に形成された第二電極とを含む光電変換部が、前記基板上方の同一平面上に多数配列された固体撮像素子の製造方法であって、
前記第一電極は、前記多数の光電変換部毎に分割されており、前記第二電極は、前記多数の光電変換部で共通であって、前記固体撮像素子は、平面視において、前記光電変換部が形成される光電変換領域と、前記固体撮像素子に電源を接続するための多数の電極パッドが形成されるパッド領域と、前記光電変換領域と前記パッド領域と間の境界領域とを含み、前記多数の電極パッドは、前記第二の電極に電源を接続するための電極パッドである第二電極用パッドと、それ以外の他の電極パッドとからなり、前記基板上方に、前記第一電極を形成する第一電極形成工程と、前記基板上に、少なくとも一部を露出させた前記各電極パッドを形成する電極パッド形成工程と、前記境界領域の前記基板上に、前記第二電極用パッドと電気的に接続される第三電極であって、少なくとも一部を露出させた第三電極を形成する第三電極形成工程と、前記境界領域の前記第三電極及び前記基板上に、前記光電変換領域と前記パッド領域とを分離する分離部材を、平面視において前記分離部材と前記光電変換領域との間に前記第三電極の露出面が存在するように形成する分離部材形成工程と、前記第三電極の露出面と前記多数の電極パッドの露出面を少なくとも覆う第一のマスク介して前記第一電極上に前記光電変換層を形成する光電変換層形成工程とを含み、前記光電変換層を形成した後、前記多数の電極パッドの露出面を少なくとも覆う第二のマスクを介して、前記光電変換層上と、前記光電変換領域と前記分離部材との間にある前記第三電極の露出面の少なくとも一部上とに前記第二電極を形成する第二電極形成工程を含む。
本発明の固体撮像素子の製造方法は、前記パッド領域は、前記光電変換領域を挟んで対向する第一のパッド領域と第二のパッド領域を含み、前記境界領域は、前記光電変換領域と前記第一のパッド領域との間の第一の境界領域と、前記光電変換領域と前記第二のパッド領域との間の第二の境界領域とを含み、前記電極パッド形成工程では、前記第一のパッド領域と前記第二のパッド領域の各々に前記第二電極用パッドを形成し、前記第三電極形成工程では、前記第一の境界領域と前記第二の境界領域の各々に前記第三電極を形成し、前記分離部材形成工程では、前記第一の境界領域の前記第三電極及び前記基板上に前記光電変換領域と前記第一のパッド領域とを分離する第一の分離部材を形成し、前記第二の境界領域の前記第三電極及び前記基板上に、前記光電変換領域と前記第二のパッド領域とを分離する第二の分離部材を形成する。
また、本発明の固体撮像素子の製造方法は、前記第一の分離部材と前記第二の分離部材上に、前記第一の分離部材及び前記第二の分離部材よりも前記光電変換領域側の領域を保護する透明な保護部材を配置する保護部材形成工程を含む。
本発明の固体撮像素子の製造方法は、前記各工程によって多数の前記固体撮像素子を同一のウェハに形成する工程と、前記ウェハをダイシングして前記多数の固体撮像素子をそれぞれ分離する分離工程とを含む。
本発明の固体撮像素子の製造方法は、前記分離部材として金属を用いる。
本発明の固体撮像素子は、基板上方に積層された第一電極と、前記第一電極上に形成された光電変換層と、前記光電変換層上に形成された第二電極とを含む光電変換部が、前記基板上方の同一平面上に多数配列された固体撮像素子であって、前記第一電極は、前記多数の光電変換部毎に分割されており、前記第二電極は、前記多数の光電変換部で共通であって、前記固体撮像素子は、平面視において、前記光電変換部が形成される光電変換領域と、前記固体撮像素子に電源を接続するための多数の電極パッドが形成されるパッド領域と、前記光電変換領域と前記パッド領域との間の境界領域とを含み、前記パッド領域は、前記光電変換領域を挟んで対向する第一のパッド領域と第二のパッド領域を含み、前記境界領域は、前記光電変換領域と前記第一のパッド領域との間の第一の境界領域と、前記光電変換領域と前記第二のパッド領域との間の第二の境界領域とを含み、前記第一のパッド領域と前記第二のパッド領域には、それぞれ前記第二の電極に電源を接続するための電極パッドである第二電極用パッドが形成され、前記第一の境界領域の前記基板上に形成された、前記第一のパッド領域に形成された前記第二電極用パッドと電気的に接続される第三電極と、前記第二の境界領域の前記基板上に形成された、前記第二のパッド領域に形成された前記第二電極用パッドと電気的に接続される第四電極と、前記第一の境界領域の前記第三電極及び前記基板上に形成された、前記光電変換領域と前記第一のパッド領域とを分離する第一の分離部材であって、平面視において前記第一の分離部材と前記光電変換領域との間に前記第三電極が存在するように形成された第一の分離部材と、前記第二の境界領域の前記第四電極及び前記基板上に形成された、前記光電変換領域と前記第二のパッド領域とを分離する第二の分離部材であって、平面視において前記第二の分離部材と前記光電変換領域との間に前記第四電極が存在するように形成された第二の分離部材と、前記第一の分離部材上と前記第二の分離部材上に配置され、前記第一の分離部材と前記第二の分離部材とで挟まれる部分を保護する透明な保護部材とを備え、前記第二電極は、前記光電変換領域の前記第一の境界領域側の端部から、前記第一の分離部材と前記光電変換領域との間の前記第三電極まで延びて形成され、且つ、前記光電変換領域の前記第二の境界領域側の端部から、前記第二の分離部材と前記光電変換領域との間の前記第四電極まで延びて形成されおり、前記第一の分離部材と前記第二の分離部材は、前記各電極パッド、前記第三の電極、及び前記第四の電極の形成後に形成され、かつ、前記光電変換層及び前記第二電極の形成前に形成されたものである。
本発明の固体撮像素子は、前記第二電極は、前記光電変換領域の前記第一の境界領域側の端部から、前記第一の分離部材と前記光電変換領域との間の前記第三電極及び前記第一の分離部材まで延びて形成され、且つ、前記光電変換領域の前記第二の境界領域側の端部から、前記第二の分離部材と前記光電変換領域との間の前記第四電極及び前記第二の分離部材まで延びて形成されている。
本発明によれば、半導体基板上に光電変換層を1層積層した構成の固体撮像素子の製造方法であって、光電変換層の性能劣化を防ぐことが可能な製造方法を提供することができる。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
図1は、本発明の実施形態を説明するための固体撮像素子の1部分の概略構成を示す断面模式図である。
本実施形態で説明する固体撮像素子100は、基板となるp型シリコン基板1上方に積層されたITO等からなる透明な第一電極11と、第一電極11上に形成された入射光のうちのGの波長を検出する光電変換層12と、光電変換層12上に形成されたITO等からなる透明な第二電極13とを含む光電変換部が、p型シリコン基板1上方の同一平面上に多数配列された構成となっている。第二電極13上には、第二電極13表面を保護するための透明な絶縁材料等からなる保護層25が形成されている。
第一電極11は、電極9と電極10の2層構造であるが、単層構造であっても良い。第一電極11は、多数の光電変換部毎に分割されている。光電変換層12及び第二電極13は、多数の光電変換部で共通の1枚構成となっている。尚、光電変換層12は、多数の光電変換部毎に分割されていても良い。
光電変換層12の構造は、単層構造でも多層構造でもよく、主に緑に感度がある有機半導体材料、有機色素を含む有機材料で形成される。
p型シリコン基板1内には、多数の光電変換部のそれぞれに対応して、高濃度のn型不純物領域2(以下n+領域2という)が形成されている。n+領域2上には、n+領域2と第一電極11とを電気的に接続するためのアルミニウムやタングステン等の金属からなるコンタクト部7が形成され、コンタクト部7上には第一電極11とコンタクト部7との密着性を確保するためのTiNやAlCuからなる密着層8が形成され、この上に第一電極11が形成されている。第一電極11及び第二電極13に電圧が印加されると、光電変換層12で発生した電荷が第一電極11に移動する。この電荷は、第一電極11からコンタクト部7を通ってn+領域2に移動し、ここに蓄積される。コンタクト部7及び密着層8はそれぞれシリコン基板1上に形成されたSi等からなる透明な絶縁層6内に埋設されている。
各光電変換部の下方のp型シリコン基板1内には、その表面側から順に、n型不純物領域3(以下、n領域3という)と、p型不純物領域4(以下p領域4という)と、n型不純物領域5(以下、n領域5という)とが形成されている。n領域3とp領域4で形成されるpn接合は、シリコン基板1の表面部に近いため、そこに到達する光は光吸収係数が大きい青色(B)光の成分が支配的になり、入射光のうちのBの波長を検出するB光電変換素子(フォトダイオード)を構成する。n領域5とp型シリコン基板1で形成されるpn接合は、シリコン基板1の深部にあるため、そこに到達する光は光吸収係数が小さい赤色(R)光の成分が支配的になり、入射光のうちのRの波長を検出するR光電変換素子(フォトダイオード)を構成する。B光電変換素子で発生した電荷はn領域3に蓄積され、R光電変換素子で発生した電荷はn領域5に蓄積される。
p型シリコン基板1内には、n+領域2、n領域3、及びn領域5にそれぞれ蓄積された電荷に応じた信号を読み出すためのCCDやMOS回路からなる信号読み出し部(図示せず)が形成されている。
このような構成により、固体撮像素子100は、シリコン基板1上方の光電変換部でG光を検出し、シリコン基板1内の光電変換素子でR光とB光を検出することができ、カラー画像を生成することができる。尚、シリコン基板1上方の光電変換部とシリコン基板1内の光電変換素子で検出する光の波長は、上述した組み合わせに限らず、様々な組み合わせを採用することができる。
図2は、本発明の実施形態を説明するための固体撮像素子の平面模式図である。
固体撮像素子100は、平面視において、上述した光電変換部が形成される光電変換領域14と、固体撮像素子100に電源を接続するための多数の電極パッドがそれぞれ形成されるパッド領域17,19と、光電変換領域14とパッド領域17との間の境界領域16と、光電変換領域14とパッド領域19との間の境界領域18とを含む。パッド領域17とパッド領域19とに形成される多数の電極パッドには、それぞれ光電変換領域14にある第二電極13に電源を接続するための電極パッドである第二電極用パッドが1つ含まれる。光電変換領域14は、平面視における光電変換層12の面積と同一である。境界領域とは、平面視において、光電変換層12の端部と電極パッド20の光電変換領域側の端部との間の領域のことである。
次に、以上のように説明した固体撮像素子100の製造方法を説明する。この製造方法は、多数の固体撮像素子100を1枚のシリコンウェハ上に同時に形成した後、シリコンウェハをダイシングして固体撮像素子100を分離することで、1チップ化された固体撮像素子100を得る方法である。図1に示したシリコン基板1がシリコンウェハに相当するため、以下では、このシリコンウェハをシリコンウェハ1として説明する。
図3〜図8は、固体撮像素子100の各製造工程後の状態を示す図である。図3〜図6において、(a)はシリコンウェハの1つの固体撮像素子が形成される部分を1チップとしたときの2チップ分の平面模式図、(b)は(a)に示すA−A線断面模式図、(c)は(b)に示す断面模式図の境界領域16付近の拡大図である。図7,8では、平面模式図は省略し、(a)をA−A線断面模式図とし、(b)を(a)に示す断面模式図の境界領域16付近の拡大図としている。
まず、シリコンウェハ1にn+領域2、n領域3,5、p領域4、及び信号読み出し部を公知のプロセスによって形成する。次に、シリコンウェハ1上にアルミニウム等の金属材料を例えばスパッタ法によって成膜し、これを例えばフォトリソグラフィ法によってパターニングして、n+領域2上にコンタクト部7を形成すると共に、電極パッド領域17、19のシリコンウェハ1上にそれぞれ多数の電極パッド20(図3において一番上に位置する電極パッド20を第二電極用パッド20とする)を形成する。又、このパターニングによって、境界領域16,18のシリコンウェハ1上に、それぞれ、そこに隣接するパッド領域に形成される第二電極用パッド20と電気的に接続される第三電極21も形成する。尚、この第三電極21は、第二電極用パッド20と一体化した構成であっても、第二電極用パッド20と配線で接続された構成であっても、いずれでも良い。
次に、TiNやAlCu等の材料を例えばスパッタ法によって成膜し、これを例えばフォトリソグラフィ法によってパターニングして、コンタクト部7上に密着層8を形成する。次に、Si等の絶縁材料を成膜し、これを密着層8の表面が露出するまで、例えばCMP法によって平坦化して絶縁層6を形成する。次に、電極パッド20及び第三電極21上の絶縁層6を例えばフォトリソグラフィ法によって選択的に除去して、電極パッド20及び第三電極21を露出させる。このときの状態を示す図が図3である。
次に、境界領域16,18の第三電極21及びシリコンウェハ1上に、パッド領域17,19の各々と光電変換領域14とを分離する分離部材22を、図4に示すように、平面視において分離部材22と光電変換領域14との間に第三電極21の露出面が存在するように形成する。分離部材22は、図1に示す保護層25よりも高い位置に来る程度の高さがあれば良い。分離部材22は、ある程度の高さで形成できるような材料であれば良く、レジスト材料や金属材料等を用いることができる。分離部材22は、例えばフォトリソグラフィ法によって形成する。
次に、ITO等の材料を例えば蒸着によって成膜し、これを例えばフォトリソグラフィ法によってパターニングして、図4に示すように、絶縁層6上に第一電極11を形成する。分離部材22の材料としてITOを用いれば、第一電極11と分離部材22を同時に形成することが可能である。ここまでの工程では、光電変換層12をまだ形成していないため、フォトリソグラフィ法を自由に利用することができる。
次に、Si等の絶縁材料を成膜し、これを第一電極11の表面が露出するまで、例えばCMP法によって平坦化して絶縁層24を形成する。次に、分離部材22上に、光電変換領域14上方にのみ開口が形成された金属等からなる第一のマスク23を配置し、この上から有機の光電変換材料を蒸着することで、第一のマスク23を介して第一電極11上に光電変換層12を形成する。光電変換層12形成後の状態を示す図が図5である。
次に、第一のマスク23を取り外し、分離部材22上に、光電変換領域14と、平面視において分離部材22と光電変換領域14との間にある第三電極21の露出面との上方に開口の形成された第二のマスク26を配置し、この上からITO等の透明電極材料を蒸着することで、第二のマスク26を介して、光電変換層12上と、平面視において分離部材22よりも光電変換領域14側にはみ出ている第三電極21の露出面上とに第二電極13を形成する。これにより、第二電極13と第二電極用パッド20とを、第三電極21を介して電気的に接続することができる。次に、第二のマスク26の上から透明樹脂材料等を蒸着することで、第二のマスク26を介して、第二電極13上に保護層25を形成する。保護層25形成後の状態を示す図が図6である。
次に、シリコンウェハ1と同サイズのガラス基板28の表面に、シリコンウェハ1の各チップに対応する位置にカバーガラス27を仮止めする。次に、保護層25上に接着剤29を塗布し、分離部材22と接着剤29上にカバーガラス27を配置して、カバーガラス27と保護層25を接着する(図7)。カバーガラス27は、その平面視でのサイズが、1チップに形成される保護層25の平面視でのサイズと、その保護層25の両脇に形成される一対の分離部材22の平面視でのサイズとの和に等しい。カバーガラス27は、1つの固体撮像素子100において、分離部材22よりも光電変換領域14側の領域を保護するための透明な保護部材として機能する。
次に、ガラス基板28を除去し、チップ間の境界をダイシングラインとしてダイシングを行って、1チップ化された固体撮像素子100を得る(図8)。
1チップ化された固体撮像素子100は、公知の技術により、回路基板上に実装される。実装方法としては、1チップ化された固体撮像素子100をパッケージ化して回路基板上に固定した後、固定した固体撮像素子100と回路基板との電気的接続をとる方法がある。又、1チップ化された固体撮像素子100は既にカバーガラスが設けられているため、パッケージをせずに、ベアチップとして回路基板に実装する方法もある。又、固体撮像素子100と回路基板との電気的接続をとる方法としては、露出している電極パッドに表面から配線を接続する方法と、シリコン基板1の素子形成面とは反対面から電極パッド20まで通じる貫通孔を形成し、この貫通孔に配線を形成して貫通配線とし、この貫通配線によって回路基板と電気的に接続する方法等がある。
以上のように、本実施形態で説明した製造方法は、電極パッド20と第三電極21とをフォトリソグラフィ法によって露出させた後、その露出部分を第一のマスク23によって覆い、この第一のマスク23を介して光電変換層12を形成するようにしている。このため、光電変換層12形成後は、上述したように、第二のマスク26を使って第二電極13を形成することで、第二電極13と第二電極用パッド20との電気的接続を、フォトリソグラフィ法を用いることなく実現することができる。つまり、光電変換層12形成後にフォトリソグラフィ法を用いずとも、製品を作り上げることができ、光電変換層12の性能劣化を防止することが可能となる。
尚、以上の説明では、第一のマスク23を光電変換領域14上方にのみ開口が形成されたものとしたが、第一のマスク23は、多数の電極パッド20と第三電極21の露出面に光電変換材料が蒸着されてしまうのを防ぐことができ、且つ、光電変換領域14に光電変換材料を蒸着することができれば良い。このため、第一のマスク23は、光電変換領域14以外の領域のうち、第三電極21の露出面及び多数の電極パッド20の露出面を少なくとも覆うものであれば良い。
又、以上の説明では、第二のマスク26を、光電変換領域14と、分離部材22と光電変換領域14との間にある第三電極21の露出面との上方に開口の形成されたものとしたが、第二のマスク26は、多数の電極パッド20の露出面に第二電極13の材料が蒸着されてしまうのを防ぐことができ、且つ、光電変換領域14と、分離部材22と光電変換領域14との間にある第三電極21の露出面の少なくとも一部とに第二電極13の材料を蒸着することができれば良い。このため、第二のマスク26は、光電変換領域14と、分離部材22と光電変換領域14との間にある第三電極21の露出面の少なくとも一部とを除く領域のうち、多数の電極パッド20の露出面を少なくとも覆うものであれば良い。
又、以上の説明では、第一のマスク23と第二のマスク26とを固定するために、分離部材22を形成しているが、分離部材22を用いてマスクを固定しなくても良い。この場合、光電変換層12の材料、第二電極13の材料、及び保護層25の材料を蒸着する装置側に、第一のマスク23と第二のマスク26とを固定する機構を設けておけば良い。但し、分離部材22を用いないで第二電極13の材料を蒸着すると、この材料が多数の電極パッド20にも流れてしまい、ショートする可能性がある。本実施形態のように、分離部材22を設けた場合には、このような事態を確実に防ぐことができるという利点がある。
又、本実施形態のように、分離部材22を設けた場合には、光電変換部をカバーガラス27と共に封止してしまうことが可能であり、固体撮像素子100をチップ化した後のパッケージ工程が不要になるというメリットもある。
又、分離部材22の材料として金属を用いれば、第二電極13が、第三電極21と接触不良を起こしていた場合でも、分離部材22を介して第二電極用パッド20と電気的に接続することができ、歩留まりを向上させることができる。
又、上述した貫通配線を用いて回路基板と電極パッド20との接続を実現する場合には、上記製造方法において第二のマスク26は用いなくても良い。この場合は、図9(a)に示すように、第三電極21及び電極パッド20上に絶縁層6を形成した後、絶縁層6の第三電極21上にのみ開口を形成して、第三電極21の少なくとも一部を露出させ、この第三電極21上に分離部材22を形成する。分離部材22は、平面視において、分離部材22から光電変換領域14側に第三電極21の露出面が存在するように形成する。次に、図9(b)に示すように、絶縁層24を形成した後、光電変換領域14以外の領域のうち第三電極21の露出面を少なくとも覆う第一のマスク23’を介して光電変換層12を形成する。次に、第一のマスク23’を外して、図9(c)に示すように、シリコンウェハ1全面に第二電極13を形成する。このとき、電極パッド20上にも第二電極13が形成されることになるが、電極パッド20は露出していないため、ショートすることはない。このようにすることで、第二のマスク26の使用を省略することができ、第二のマスク26の作成や位置合わせにかかる時間や費用を削減することができる。
又、貫通配線を用いる場合には、上記製造方法において分離部材22を省略することも可能である。この場合は、図10(a)に示すように、第三電極21及び電極パッド20上に絶縁層6を形成した後、絶縁層6の第三電極21上にのみ開口を形成して、第三電極21の少なくとも一部を露出させる。次に、図10(b)に示すように、絶縁層24を形成した後、蒸着装置側に、光電変換領域14以外の領域のうち第三電極21の露出面を少なくとも覆う第一のマスク23’’を配置し、これを介して光電変換層12を形成する。次に、第一のマスク23’’を外して、図10(c)に示すように、シリコンウェハ1全面に第二電極13を形成する。このとき、電極パッド20上にも第二電極13が形成されることになるが、電極パッド20は露出していないため、ショートすることはない。このようにすることで、第二のマスク26と分離部材22の使用を省略することができ、分離部材22及び第二のマスク26の作成や位置合わせにかかる時間や費用を削減することができる。
又、分離部材22を用いない場合には、第三電極21の形成も省略することができる。この場合は、絶縁層6に開口を形成する際に、第二電極用パッド20上にのみに開口を形成し、第二電極用パッド20の少なくとも一部を露出させておく。そして、光電変換領域14以外の領域のうち第二電極用パッド20の露出面を少なくとも覆うマスクを介して、光電変換層12を形成し、その後、マスクを外して、シリコンウェハ1全面に第二電極13を形成すれば良い。
又、分離部材22と第三電極21を用いずに、更に、貫通配線も用いない場合も考えられる。この場合は、絶縁層6に開口を形成して、多数の電極パッド20の各々の少なくとも一部を露出させておく。次に、光電変換領域14以外の領域のうち多数の電極パッド20の露出面を少なくとも覆う第一のマスクを介して光電変換層12を形成する。光電変換層12を形成した後、光電変換領域14と、第二電極用パッド20の少なくとも一部とを除く領域のうち、第二電極用パッド20以外の多数の電極パッド20の露出面を少なくとも覆う第二のマスクを介して、光電変換層12上と第二電極用パッド20の露出面の少なくとも一部上とに第二電極13を形成すれば良い。
又、以上の説明では、光電変換層12の下方のシリコン基板1内に、B光電変換素子とR光電変換素子とが形成されるものとしたが、上述した製造方法による効果は、シリコン基板1上方に光電変換部を1層積層した構成の固体撮像素子であれば得ることができる。例えば、図1において、n領域3,5とp領域4を無くした構成であっても良い。
本発明の実施形態を説明するための固体撮像素子の1部分の概略構成を示す断面模式図 本発明の実施形態を説明するための固体撮像素子の平面模式図 本発明の実施形態を説明するための固体撮像素子の各製造工程後の状態を示す図 本発明の実施形態を説明するための固体撮像素子の各製造工程後の状態を示す図 本発明の実施形態を説明するための固体撮像素子の各製造工程後の状態を示す図 本発明の実施形態を説明するための固体撮像素子の各製造工程後の状態を示す図 本発明の実施形態を説明するための固体撮像素子の各製造工程後の状態を示す図 本発明の実施形態を説明するための固体撮像素子の各製造工程後の状態を示す図 本発明の実施形態を説明するための固体撮像素子の各製造工程後の状態を示す図 本発明の実施形態を説明するための固体撮像素子の各製造工程後の状態を示す図
符号の説明
1 p型シリコン基板
11 第一電極
12 光電変換層
13 第二電極
20 電極パッド
21 第三電極
22 分離部材
23 第一のマスク
26 第二のマスク
27 カバーガラス

Claims (5)

  1. 基板上方に積層された第一電極と、前記第一電極上に形成された光電変換層と、前記光電変換層上に形成された第二電極とを含む光電変換部が、前記基板上方の同一平面上に多数配列された固体撮像素子の製造方法であって、
    前記第一電極は、前記多数の光電変換部毎に分割されており、
    前記第二電極は、前記多数の光電変換部で共通であって、
    前記固体撮像素子は、平面視において、前記光電変換部が形成される光電変換領域と、前記固体撮像素子に電源を接続するための多数の電極パッドが形成されるパッド領域と、前記光電変換領域と前記パッド領域と間の境界領域とを含み、
    前記多数の電極パッドは、前記第二の電極に電源を接続するための電極パッドである第二電極用パッドと、それ以外の他の電極パッドとからなり、
    前記基板上方に、前記第一電極を形成する第一電極形成工程と、
    前記基板上に、少なくとも一部を露出させた前記各電極パッドを形成する電極パッド形成工程と、
    前記境界領域の前記基板上に、前記第二電極用パッドと電気的に接続される第三電極であって、少なくとも一部を露出させた第三電極を形成する第三電極形成工程と、
    前記境界領域の前記第三電極及び前記基板上に、前記光電変換領域と前記パッド領域とを分離する分離部材を、平面視において前記分離部材と前記光電変換領域との間に前記第三電極の露出面が存在するように形成する分離部材形成工程と、
    前記第三電極の露出面と前記多数の電極パッドの露出面を少なくとも覆う第一のマスクを介して前記第一電極上に前記光電変換層を形成する光電変換層形成工程とを含み、
    前記光電変換層を形成した後、前記多数の電極パッドの露出面を少なくとも覆う第二のマスクを介して、前記光電変換層上と、前記光電変換領域と前記分離部材との間にある前記第三電極の露出面の少なくとも一部上とに前記第二電極を形成する第二電極形成工程を含む固体撮像素子の製造方法。
  2. 請求項1記載の固体撮像素子の製造方法であって、
    前記パッド領域は、前記光電変換領域を挟んで対向する第一のパッド領域と第二のパッド領域を含み、
    前記境界領域は、前記光電変換領域と前記第一のパッド領域との間の第一の境界領域と、前記光電変換領域と前記第二のパッド領域との間の第二の境界領域とを含み、
    前記電極パッド形成工程では、前記第一のパッド領域と前記第二のパッド領域の各々に前記第二電極用パッドを形成し、
    前記第三電極形成工程では、前記第一の境界領域と前記第二の境界領域の各々に前記第三電極を形成し、
    前記分離部材形成工程では、前記第一の境界領域の前記第三電極及び前記基板上に前記光電変換領域と前記第一のパッド領域とを分離する第一の分離部材を形成し、前記第二の境界領域の前記第三電極及び前記基板上に、前記光電変換領域と前記第二のパッド領域とを分離する第二の分離部材を形成する固体撮像素子の製造方法。
  3. 請求項2記載の固体撮像素子の製造方法であって、
    前記第一の分離部材と前記第二の分離部材上に、前記第一の分離部材及び前記第二の分離部材よりも前記光電変換領域側の領域を保護する透明な保護部材を配置する保護部材形成工程を含む固体撮像素子の製造方法。
  4. 請求項3記載の固体撮像素子の製造方法であって、
    前記各工程によって多数の前記固体撮像素子を同一のウェハに形成する工程と、
    前記ウェハをダイシングして前記多数の固体撮像素子をそれぞれ分離する分離工程とを含む固体撮像素子の製造方法。
  5. 請求項1〜4のいずれか記載の固体撮像素子の製造方法であって、
    前記分離部材として金属を用いる固体撮像素子の製造方法。
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