JP2011198853A - マイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子及びその製造方法並びに撮像装置 - Google Patents

マイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子及びその製造方法並びに撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2011198853A
JP2011198853A JP2010061621A JP2010061621A JP2011198853A JP 2011198853 A JP2011198853 A JP 2011198853A JP 2010061621 A JP2010061621 A JP 2010061621A JP 2010061621 A JP2010061621 A JP 2010061621A JP 2011198853 A JP2011198853 A JP 2011198853A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photoelectric conversion
conversion film
microlens
semiconductor substrate
solid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Abandoned
Application number
JP2010061621A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Inomata
浩 猪股
Eiji Watanabe
英治 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Corp
Fujifilm Digital Techno Co Ltd
Original Assignee
Fujifilm Corp
Fujifilm Digital Techno Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujifilm Corp, Fujifilm Digital Techno Co Ltd filed Critical Fujifilm Corp
Priority to JP2010061621A priority Critical patent/JP2011198853A/ja
Priority to US13/049,837 priority patent/US8970749B2/en
Publication of JP2011198853A publication Critical patent/JP2011198853A/ja
Abandoned legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14632Wafer-level processed structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14618Containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

【課題】撮像素子前面に貼り付ける透明基板の下に空隙を必要とせず、また、接着材として屈折率に依存しない透明樹脂を選択できるようにした小型,薄型の固体撮像素子を提供する。
【解決手段】半導体基板121と、半導体基板121の光入射側上層に積層された光電変換膜130と、半導体基板121の表面部に形成され光電変換膜130が入射光量に応じて検出した信号電荷量に応じた信号を撮像画像信号として外部に読み出す信号読出手段(図示省略)と、光電変換膜130の光入射側上層に透明樹脂を接着材として貼り付けられた透明基板(図示省略)と、前記信号読出手段に配線接続され半導体基板121に貫通して設けられると共に半導体基板121の光電変換膜130が設けられた面と反対側の面に露出して設けられた電気的接続端子113とを備える。
【選択図】図4

Description

本発明はデジタルカメラなどの撮像装置に搭載する固体撮像素子等に係り、特に、撮像装置に搭載するのに好適な構造を持つ光電変換膜積層型固体撮像素子及びその製造方法に関する。
固体撮像素子は、光の受光面に樹脂製等のマイクロレンズ(トップレンズ)やカラーフィルタ層を設ける関係で、表面が柔らかくなっている。このため、固体撮像素子の受光面表面が傷付かない様に、また、塵埃などが付着しない様に、保護する必要がある。そこで、従来から、特許文献1,2に示されるように、受光面表面にガラス基板の様な透明基板を接着材で貼り付ける様になっている。
しかし、この接着材の材質が問題となる。従来のCCD型イメージセンサやCMOS型イメージセンサ等の固体撮像素子は、入射光の利用効率を高めるために、各受光素子上方にマイクロレンズを設けており、このマイクロレンズの表面に屈折率がマイクロレンズの材質と同程度の接着材を塗ると、マイクロレンズ表面での光の屈折が起きずにマイクロレンズの機能が阻害され、入射光を集光できなくなってしまう。
このため、接着材の透明樹脂として、マイクロレンズの屈折率より低屈折率となる材料を選択する必要が生じる。また、接着材は、吸水率の低い材料でないと信頼性が低下するため、低屈折率でかつ吸水率の低い材料を選択する必要が生じ、材料の選択肢が少なくなり、コストが嵩んでしまうという問題がある。
マイクロレンズ表面全面と透明基板とを接着材で接着せずに、マイクロレンズと透明基板との間に空隙を設け、空気の屈折率を利用してマイクロレンズの集光効率を上げる技術も、特許文献3に記載されている。しかし、空隙を設ける工程が複雑で製造コストを上げる要因になっている。また、空隙を設ける関係で、固体撮像素子の厚さを薄くできないという問題もある。
特開2003―31782号公報 特開2008―92417号公報 特許第4271909号公報
本発明の目的は、マイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子を用いることで、上記の空隙を必要とせず、また、接着材として屈折率に依存しない透明樹脂を選択できるようにした小型,薄型の固体撮像素子及びその製造方法並びにこの固体撮像素子を搭載した撮像装置を提供することにある。
本発明のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子は、半導体基板と、該半導体基板の光入射側上層に積層された光電変換膜と、前記半導体基板の表面部に形成され前記光電変換膜が入射光量に応じて検出した信号電荷量に応じた信号を撮像画像信号として外部に読み出す信号読出手段と、前記光電変換膜の光入射側上層に透明樹脂を接着材として貼り付けられた透明基板と、前記信号読出手段に配線接続され該半導体基板に貫通して設けられると共に該半導体基板の前記光電変換膜が設けられた面と反対側の面に露出して設けられた電気的接続端子とを備えることを特徴とする。
本発明のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法は、半導体基板と、該半導体基板の光入射側上層に積層された光電変換膜と、前記半導体基板の表面部に形成され前記光電変換膜が入射光量に応じて検出した信号電荷量に応じた信号を撮像画像信号として外部に読み出す信号読出手段とを備えるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法であって、前記信号読出手段及び前記光電変換膜が形成された前記半導体基板が他の前記半導体基板と分離される前の複数の該半導体基板の集合体でなる半導体ウェハの前記光入射側上層に該半導体ウェハと同等面積の透明基板を透明樹脂で貼り合わせ、該貼り合わせ後に該半導体基板及び該透明基板をダイシングして個片化することを特徴とする。
また、本発明のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法は、前記信号読出手段及び前記光電変換膜が形成された前記半導体基板が他の前記半導体基板と分離される前の複数の該半導体基板の集合体でなる半導体ウェハのうち良品の前記半導体基板の前記光入射側上層に個片化された前記透明基板を透明樹脂で貼り付け、該貼り付け後にダイシングして前記半導体ウェハを個片化することを特徴とする。
また、本発明のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法は、前記信号読出手段及び前記光電変換膜が形成された前記半導体基板が他の前記半導体基板と分離される前の複数の該半導体基板の集合体でなる半導体ウェハの前記光入射側上層に厚手の透明樹脂を積層して硬化させ、該硬化後にダイシングして前記半導体ウェハを個片化することを特徴とする。
また、本発明のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法は、複数の前記信号読出手段及び前記光電変換膜が形成された前記半導体基板を前記光入射側上層の側を1枚の透明基板に透明樹脂で貼り付け、該貼り付け後に該透明基板をダイシングして前記半導体基板を個片化することを特徴とする。
また、本発明の撮像装置は、上記のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子又は上記のいずれかの製造方法で製造されたマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子を搭載することを特徴とする。
本発明によれば、マイクロレンズが無いため透明基板と撮像素子チップとの間に空隙を設ける必要が無く、透明接着材として屈折率に依存せずに接着材を選択でき、小型,薄型で量産性が高く信頼性も高い素子構造を持つ固体撮像素子を得ることができ、これを搭載する撮像装置の小型化や信頼性向上も図ることが可能となる。
本発明の一実施形態に係るデジタルカメラの機能ブロック図である。 図1に示す固体撮像素子の縦断面模式図である。 図2に示す固体撮像素子の製造工程説明図である。 図3のIV―IV線位置の断面模式図である。 図2に示す固体撮像素子の製造工程説明図である。 図2に代わる実施形態の固体撮像素子の製造工程説明図である。 図6で製造された固体撮像素子の断面模式図である。 本発明の更に別実施形態に係る固体撮像素子の説明図である。 本発明の更に別実施形態に係る固体撮像素子の説明図である。 本発明の更に別実施形態に係る固体撮像素子の説明図である。
以下、本発明の一実施形態について、図面を参照して説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係るデジタルカメラ(撮像装置)の構成図である。このデジタルカメラは20は、固体撮像素子100と、固体撮像素子100の前段に置かれた撮影レンズ21と、固体撮像素子100から出力されるアナログの画像データを自動利得調整(AGC)や相関二重サンプリング処理等のアナログ処理するアナログ信号処理部22と、アナログ信号処理部22から出力されるアナログ画像データをデジタル画像データに変換するアナログデジタル変換部(A/D)23と、後述のシステム制御部(CPU)29からの指示によって撮影レンズ21,A/D23,アナログ信号処理部22,固体撮像素子100の駆動制御を行う駆動制御部(タイミングジェネレータを含む)24と、CPU29からの指示によって発光するフラッシュ25とを備える。
本実施形態のデジタルカメラは更に、A/D23から出力されるデジタル画像データを取り込み補間処理やホワイトバランス補正,RGB/YC変換処理等を行うデジタル信号処理部26と、画像データをJPEG形式などの画像データに圧縮したり逆に伸長したりする圧縮/伸長処理部27と、メニューなどを表示したりスルー画像や撮像画像を表示する表示部28と、デジタルカメラ全体を統括制御するシステム制御部(CPU)29と、フレームメモリ等の内部メモリ30と、JPEG画像データ等を格納する記録メディア32との間のインタフェース処理を行うメディアインタフェース(I/F)部31と、これらを相互に接続するバス40とを備え、また、システム制御部29には、ユーザからの指示入力を行う操作部33が接続されている。
図2は、図1に示す固体撮像素子100の縦断面模式図である。この固体撮像素子100は、撮像素子チップ101と、撮像素子チップ101の光入射側の前面全領域に透明樹脂102で貼り付けられた透明ガラス基板103とを備える。
本実施形態では、面積的に、撮像素子チップ101=透明ガラス基板102となっており、撮像素子チップ101の電気的接続端子113は、詳細は後述するように、撮像素子チップ101を構成する半導体基板の背面側にスルーホールを通して延びるように設けられており、この背面側の接続端子(接続パッド)113と図1のアナログ信号処理回路22とが接続される。
このように、固体撮像素子100は、透明ガラス基板103に撮像素子チップ101を貼り合わせただけの構成となるため、小型となり、かつ薄型になっている。更に、本実施形態の固体撮像素子100は、完全な矩形体に成形され、個々の固体撮像素子100の取り扱いや工場出荷前の多数個の収納,輸送が容易となる。
なお、透明ガラス基板103や透明樹脂102,撮像素子チップ101の側面には、光学的に黒色の塗料等を塗布しておくのが良い。以下の実施形態でも同様であるが、黒色塗料を塗ることで、迷光が撮像素子チップ101内に入り込むことが阻止され、ノイズの少ない被写体画像を撮像することができる。
斯かる構成の固体撮像素子100を、図1のデジタルカメラ20に組み付ける場合、撮影レンズ21の結像面を、撮像素子チップ101の受光面に精度良く位置合わせする必要がある。
本実施形態の固体撮像素子100は、光電変換膜積層型であり、マイクロレンズ非搭載であるため、従来のCCD型やCMOS型のイメージセンサに比較してこの位置合わせが厳しく、位置合わせの精度が出ないと、精細感の乏しい被写体画像しか撮影できなくなってしまう。この位置合わせは、透明ガラス基板103の表面を、撮影レンズ21側の図示省略の組立体基準面に当接する様に組み付けることで可能となる。
図3は、撮像素子チップ101の製造説明図である。半導体ウェハ110に多数の撮像素子チップ101が、半導体装置製造技術や製膜技術を用いて形成され、後述するようにして個々の撮像素子チップ101がダイシングされることで、個片化される。
個々の撮像素子チップ101は、上面視で矩形に形成され、中央部に矩形の撮像領域112が形成され、周辺部に、接続パッド113が形成される。撮像素子チップ101の前面全領域上に、透明ガラス基板103が貼り付けられる。接続パッド113は、撮像素子チップ101内に設けられ、この接続パッド113から、撮像素子チップ101の背面側にスルーホールを通して金属線が延びるように形成される。
図4は、図3のIV―IV線位置の断面模式図である。撮像素子チップ101は、半導体基板121に形成される。半導体基板121には、各画素対応の信号電荷蓄積部122が形成され、更に、CMOS型イメージセンサと同様に、個々の画素対応に図示省略のMOSトランジスタ回路でなる信号読出回路が形成されている。各信号読出回路は、対応する信号電荷蓄積部122の蓄積電荷に応じた信号を撮像画像信号として該当の接続パッド113を介して外部に読み出す。
半導体基板121の上面には絶縁膜124が積層されており、その上に、個々の画素対応の画素電極膜125が撮像領域内に二次元アレイ状に配列形成されている。画素電極膜125は、導電性材料たとえばアルミニウムや酸化インジウム錫(ITO)で形成される。
各画素電極膜125と、画素対応の信号電荷蓄積部122とは、絶縁膜124内に立設されたビアプラグ126によって電気的に接続される。各ビアプラグ126の途中には、個々に分離された金属膜127が絶縁層124内に埋設されており、金属膜127が信号電荷蓄積部122の遮光を図る様になっている。
各画素電極膜125の上には、撮像領域全体に渡って一枚構成の光電変換膜130が積層される。光電変換膜130としては、本実施形態では入射光量に応じた電荷を発生させる有機膜が用いられる。有機膜の材料として、例えば、メタロシアニン,フタロシアニン,4Hピランが用いられる。有機膜130の厚さは、約1.0μmで形成される。
従って、図1の撮影レンズ21の結像面が、この約1.0μmの膜厚の有機膜130に合うように、図2で説明した位置合わせを行うと、高精細な被写体画像を撮影することが可能となる。
有機膜130の上には、一枚構成のITO等の透明な対向電極膜131を積層し、その上を透明な保護膜132で覆う。カラー画像を撮像する固体撮像素子の場合には、保護膜(あるいは平坦化層)132の上に、例えばベイヤ配列したRGBの3原色のカラーフィルタ層を積層し、その上を更に透明な保護膜で覆う。
対向電極膜131は、ビアプラグ133で半導体基板121の高濃度不純物層134に接続され、高濃度不純物層134及び図示省略の配線層及び該当の接続パッド113を介して外部から所要電圧が対向電極膜131に印加される。
接続パッド113は、金属膜127と同一製造工程で絶縁層124内に形成されるパッド部113aと、該パット部113aから半導体基板121を貫通し背面側に延びる金属配線層113bとで構成され、例えば信号読出回路の出力線が該当する接続パッド113に図示省略の配線層によって接続される。
この金属配線層113bは、半導体基板121を貫通しパッド部113aに到達するスルーホールを開け、このスルーホール内を金属で埋めることで形成される。このように、接続パッド113が基板背面側に設けられることで、撮像素子チップ101の前面全領域を、透明ガラス基板103で覆うことが可能となる。
斯かる構成の光電変換膜積層型固体撮像素子チップでは、入射光が保護膜132,対向電極膜131を通して有機膜130に入射すると、有機膜130内で入射光量に応じた正孔・電子対が発生する。正孔は、対向電極膜131に流れ、電子が各画素電極膜125を通して信号電荷蓄積部122に流れ、信号電荷蓄積部122の蓄積電荷量に応じた撮像画像信号が、信号読出回路によって外部に読み出される。
この光電変換膜積層型固体撮像素子チップ101では、信号読出回路が下層の半導体基板121に設けられるため、上層の受光面の全面で入射光を受光でき、従来のイメージセンサの様にマイクロレンズで個々のフォトダイオードに集光する必要が無い。このため、保護膜132の上、又はカラーフィルタを設けた場合にはその上の保護膜の上に、図2に示す透明ガラス基板102を貼り付けるときに使用する透明な接着材は、その屈折率を考慮する必要が無く、他の要因たとえば吸水率等を優先して透明樹脂材を選択し、素子の信頼性アップを図ったり、低コストの透明樹脂材を選択することが可能となる。
次に、上述した固体撮像素子100の製造方法について説明する。図3下段に示す様に、半導体ウェハ110の上に多数の撮像素子チップを製造した後、図5の上段に示す様に、この半導体ウェハ110の上面全面に、半導体ウェハ110と同等面積の円板状の透明ガラス基板115を、透明樹脂102を接着材として貼り合わせる。
そして、図5の下段に示す様に、個々の撮像素子チップ101をダイシングして個片化することで、図2の固体撮像素子100が得られる。なお、図5では、半導体ウェハ110を個片化したものが撮像素子チップ101となり、透明ガラス基板115を個片化したものが透明ガラス基板103となっている。
図6は、本発明の別実施形態に係る固体撮像素子200の製造方法を説明する図である。なお、図2と同様の部材には同一符号を付してその説明は省略する。
本実施形態では、図3下段に示す様に、半導体ウェハ110の上に多数の撮像素子チップを製造した後、図6(a)に示す様に、半導体ウェハ110の良品の撮像素子チップの上に、個片化した透明ガラス基板103を透明樹脂102で貼り付ける。この透明ガラス基板103は、図6(b)に示す様に、不良品(NG素子)の上には貼り付けないため、製造中では良品を示すマーキングの意味もある。
次に、図6(c)に示す様に、ダイシングし、個々の固体撮像素子100に個片化する。なお、ダイシングの方法は、ダイシングブレードを用いたり、レーザ光を用いたりすることができる。
個片化した固体撮像素子200の断面を図7に示す。図2に示す固体撮像素子100は、透明ガラス基板103と撮像素子チップ101とが同面積であったが、本実施形態の固体撮像素子200は、個片化した透明ガラス基板103を良品チップ上に貼り付ける関係で、撮像素子チップ101の面積に対して、透明ガラス基板103の面積が若干小面積となっている。
この構成でも、図2の固体撮像素子100と同様に、小型かつ薄型となり、撮像装置の小型化,薄型化を図ることが可能となる。しかも、透明樹脂102の材質選択肢が広いため、信頼性の高い透明樹脂を選んだり、安価な透明樹脂を選ぶことが容易となる。
図8(a)(b)は、本発明の更に別実施形態に係る固体撮像素子300の製造方法を示す図であり、図8(c)は、固体撮像素子300の断面模式図である。本実施形態では、図2の固体撮像素子100と比較して、透明ガラス基板103を用いずに、透明樹脂102を厚手に塗って透明ガラス基板103の代わりとした点が異なる。
即ち、図8(a)に示す様に、多数の撮像素子チップが形成された半導体ウェア110の上に厚手に透明樹脂102を塗り、この透明樹脂が硬化した後、図8(b)に示す様に、個々の撮像素子チップ101をダイシングすることで、図8(c)の固体撮像素子300が製造される。
本実施形態では、透明ガラス基板の代わりに厚手の透明樹脂102を用いるため、透明樹脂102としては、硬化したときガラス質程度の硬度となり表面が傷付き難い樹脂を選択するのが好ましい。
図9(a)(b)は、本発明の更に別実施形態に係る固体撮像素子400の製造方法を示す図であり、図9(c)は、固体撮像素子400の断面模式図である。本実施形態では、半導体ウェハ上に形成した複数の撮像素子チップ101をダイシングして個片化し、更に、良品のみを選択して、図9(a)に示す様に、円板状の透明ガラス基板115上に透明樹脂102で貼り付ける。
そして、図9(b)に示す様に、隣接する撮像素子チップ101間の透明ガラス基板115をダイシングして個片化した透明ガラス基板103とし、図9(c)に示す固体撮像素子400とする。
この構成によっても、図2の固体撮像素子100と同様に、小型,薄型の信頼性が高い固体撮像素子を得ることができる。
図10(a)(b)は、本発明の更に別実施形態に係る固体撮像素子500の製造方法を示す図であり、図10(c)は、固体撮像素子500の断面模式図である。
本実施形態は、基本的に、図9に示す固体撮像素子400と同じであるが、異なるのは、円板状の透明ガラス基板115上に良品の撮像素子チップ101を貼り付けたとき、図10(a)に示す様に、撮像素子チップ101間に隙間104ができるが、この隙間104を、図10(b)に示す様に、樹脂105で埋めてしまう。樹脂としては、光学的に黒色の樹脂を用いるのが好ましい。黒色とすることで、迷光が撮像素子チップ101に入らないようにすることができる。
そして、図10(c)に示す様に、樹脂105の部分をダイシングして固体撮像素子500を個片化する。これにより、固体撮像素子500は、完全な矩形体となり、取り扱いが容易になると共に、透明ガラス基板103の端部の損傷を防止することが可能となる。黒色樹脂とすることで、迷光の入射防止も図れる。
なお、図7の実施形態においても、透明ガラス基板103と撮像素子チップ101との段差部分を黒色の樹脂で覆って(埋めて)完全な矩形体とし、撮像素子チップ101の欠け防止及び迷光入射の防止を図っても良いことはいうまでもない。
以上述べた様に、上述した各実施形態に係る固体撮像素子100,200,300,400,500は、基本的に、透明ガラス基板103(又は厚手の透明樹脂)と撮像素子チップ101だけで撮像素子モジュールが形成されるため、従来のCCD型やCMOS型等のイメージセンサと比較して全体として厚さが薄くなる。このため、内視鏡の先端部や携帯電話機等の小型の電子機器に搭載するのに好適となる。
以上述べた様に、本実施形態によるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子は、半導体基板と、該半導体基板の光入射側上層に積層された光電変換膜と、前記半導体基板の表面部に形成され前記光電変換膜が入射光量に応じて検出した信号電荷量に応じた信号を撮像画像信号として外部に読み出す信号読出手段と、前記光電変換膜の光入射側上層に透明樹脂を接着材として貼り付けられた透明基板と、前記信号読出手段に配線接続され前記半導体基板に貫通して設けられると共に該半導体基板の前記光電変換膜が設けられた面と反対側の面に露出して設けられた電気的接続端子とを備えることを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子は、前記電気的接続端子が露出した前記反対側の面と前記透明基板の表面との距離が全体の厚さとなることを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子は、前記透明基板と前記半導体基板とが同面積であることを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子は、前記透明基板の代わりに前記透明樹脂を厚手に形成したことを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子は、前記透明基板が前記半導体基板より小面積であることを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子は、前記透明基板が前記半導体基板より大面積であることを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子は、前記透明基板と前記半導体基板との面積の違いによる段差部分を樹脂で埋めて全体を完全な矩形体としたことを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子は、側面が黒色に塗られていることを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法は、半導体基板と、該半導体基板の光入射側上層に積層された光電変換膜と、前記半導体基板の表面部に形成され前記光電変換膜が入射光量に応じて検出した信号電荷量に応じた信号を撮像画像信号として外部に読み出す信号読出手段とを備えるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法であって、前記信号読出手段及び前記光電変換膜が形成された前記半導体基板が他の前記半導体基板と分離される前の複数の該半導体基板の集合体でなる半導体ウェハの前記光入射側上層に該半導体ウェハと同等面積の透明基板を透明樹脂で貼り合わせ、該貼り合わせ後に該半導体基板及び該透明基板をダイシングして個片化することを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法は、半導体基板と、該半導体基板の光入射側上層に積層された光電変換膜と、前記半導体基板の表面部に形成され前記光電変換膜が入射光量に応じて検出した信号電荷量に応じた信号を撮像画像信号として外部に読み出す信号読出手段とを備えるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法であって、前記信号読出手段及び前記光電変換膜が形成された前記半導体基板が他の前記半導体基板と分離される前の複数の該半導体基板の集合体でなる半導体ウェハのうち良品の前記半導体基板の前記光入射側上層に個片化された前記透明基板を透明樹脂で貼り付け、該貼り付け後にダイシングして前記半導体ウェハを個片化することを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法は、半導体基板と、該半導体基板の光入射側上層に積層された光電変換膜と、前記半導体基板の表面部に形成され前記光電変換膜が入射光量に応じて検出した信号電荷量に応じた信号を撮像画像信号として外部に読み出す信号読出手段とを備えるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法であって、前記信号読出手段及び前記光電変換膜が形成された前記半導体基板が他の前記半導体基板と分離される前の複数の該半導体基板の集合体でなる半導体ウェハの前記光入射側上層に厚手の透明樹脂を積層して硬化させ、該硬化後にダイシングして前記半導体ウェハを個片化することを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法は、半導体基板と、該半導体基板の光入射側上層に積層された光電変換膜と、前記半導体基板の表面部に形成され前記光電変換膜が入射光量に応じて検出した信号電荷量に応じた信号を撮像画像信号として外部に読み出す信号読出手段とを備えるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法であって、複数の前記信号読出手段及び前記光電変換膜が形成された前記半導体基板を前記光入射側上層の側を1枚の透明基板に透明樹脂で貼り付け、該貼り付け後に該透明基板をダイシングして前記半導体基板を個片化することを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法は、前記1枚の透明基板に複数の前記半導体基板を貼り付けた後に隣接する該半導体基板間の隙間を樹脂で充填し、該樹脂が硬化した後、該樹脂及び前記透明基板をダイシングして前記半導体基板を個片化することを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法は、前記樹脂が光学的に黒色の樹脂であることを特徴とする。
また、実施形態のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子は、上記のいずれかに記載の製造方法で製造したことを特徴とする。
また、実施形態の撮像装置は、上記のいずれかに記載のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子を搭載したことを特徴とする。
本実施形態によれば、小型,薄型で量産性の高い素子構造を持つ固体撮像素子の製造ができ、中空構造がなく信頼性の高い固体撮像素子を得ることができ、撮像素子チップ上に塵埃等が浸入しない構造のため信頼性がより高い固体撮像素子を得ることが可能となる。
本発明に係るマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子は、小型,薄型でしかも量産性,信頼性が高くなるため、デジタルスチルカメラ,デジタルビデオカメラ,カメラ付携帯電話機,カメラ付電子装置,監視カメラ,内視鏡,車載カメラ等に搭載すると有用である。
20 撮像装置(デジタルカメラ)
21 撮影レンズ
26 デジタル信号処理部
29 システム制御部
100 光電変換膜積層型固体撮像素子
101 撮像素子チップ
102 透明樹脂(接着材)
103 透明ガラス基板
104 隙間
105 黒色の樹脂
110 半導体ウェハ
112 撮像領域
113 接続パッド
115 円板状の透明ガラス基板
121 半導体基板
125 画素電極膜
130 光電変換膜
131 対向電極膜
132 保護膜

Claims (16)

  1. 半導体基板と、該半導体基板の光入射側上層に積層された光電変換膜と、前記半導体基板の表面部に形成され前記光電変換膜が入射光量に応じて検出した信号電荷量に応じた信号を撮像画像信号として外部に読み出す信号読出手段と、前記光電変換膜の光入射側上層に透明樹脂を接着材として貼り付けられた透明基板と、前記信号読出手段に配線接続され前記半導体基板に貫通して設けられると共に該半導体基板の前記光電変換膜が設けられた面と反対側の面に露出して設けられた電気的接続端子とを備えるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子。
  2. 請求項1に記載のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子であって、前記電気的接続端子が露出した前記反対側の面と前記透明基板の表面との距離が全体の厚さとなるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子。
  3. 請求項1又は請求項2に記載のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子であって、前記透明基板と前記半導体基板とが同面積であるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子。
  4. 請求項3に記載のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子であって、前記透明基板の代わりに前記透明樹脂を厚手に形成したマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子。
  5. 請求項1又は請求項2に記載のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子であって、前記透明基板が前記半導体基板より小面積であるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子。
  6. 請求項1又は請求項2に記載のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子であって、前記透明基板が前記半導体基板より大面積であるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子。
  7. 請求項5又は請求項6に記載のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子であって、前記透明基板と前記半導体基板との面積の違いによる段差部分を樹脂で埋めて全体を完全な矩形体としたマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子。
  8. 請求項1乃至請求項6のいずれかに記載のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子であって、側面が黒色に塗られているマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子。
  9. 半導体基板と、該半導体基板の光入射側上層に積層された光電変換膜と、前記半導体基板の表面部に形成され前記光電変換膜が入射光量に応じて検出した信号電荷量に応じた信号を撮像画像信号として外部に読み出す信号読出手段とを備えるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法であって、前記信号読出手段及び前記光電変換膜が形成された前記半導体基板が他の前記半導体基板と分離される前の複数の該半導体基板の集合体でなる半導体ウェハの前記光入射側上層に該半導体ウェハと同等面積の透明基板を透明樹脂で貼り合わせ、該貼り合わせ後に該半導体基板及び該透明基板をダイシングして個片化するマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法。
  10. 半導体基板と、該半導体基板の光入射側上層に積層された光電変換膜と、前記半導体基板の表面部に形成され前記光電変換膜が入射光量に応じて検出した信号電荷量に応じた信号を撮像画像信号として外部に読み出す信号読出手段とを備えるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法であって、前記信号読出手段及び前記光電変換膜が形成された前記半導体基板が他の前記半導体基板と分離される前の複数の該半導体基板の集合体でなる半導体ウェハのうち良品の前記半導体基板の前記光入射側上層に個片化された前記透明基板を透明樹脂で貼り付け、該貼り付け後にダイシングして前記半導体ウェハを個片化するマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法。
  11. 半導体基板と、該半導体基板の光入射側上層に積層された光電変換膜と、前記半導体基板の表面部に形成され前記光電変換膜が入射光量に応じて検出した信号電荷量に応じた信号を撮像画像信号として外部に読み出す信号読出手段とを備えるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法であって、前記信号読出手段及び前記光電変換膜が形成された前記半導体基板が他の前記半導体基板と分離される前の複数の該半導体基板の集合体でなる半導体ウェハの前記光入射側上層に厚手の透明樹脂を積層して硬化させ、該硬化後にダイシングして前記半導体ウェハを個片化するマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法。
  12. 半導体基板と、該半導体基板の光入射側上層に積層された光電変換膜と、前記半導体基板の表面部に形成され前記光電変換膜が入射光量に応じて検出した信号電荷量に応じた信号を撮像画像信号として外部に読み出す信号読出手段とを備えるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法であって、複数の前記信号読出手段及び前記光電変換膜が形成された前記半導体基板を前記光入射側上層の側を1枚の透明基板に透明樹脂で貼り付け、該貼り付け後に該透明基板をダイシングして前記半導体基板を個片化するマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法。
  13. 請求項12に記載のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法であって、前記1枚の透明基板に複数の前記半導体基板を貼り付けた後に隣接する該半導体基板間の隙間を樹脂で充填し、該樹脂が硬化した後、該樹脂及び前記透明基板をダイシングして前記半導体基板を個片化するマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法。
  14. 請求項13に記載のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法であって、前記樹脂は光学的に黒色の樹脂であるマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法。
  15. 請求項9乃至請求項14のいずれかに記載のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子の製造方法で製造したマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子。
  16. 請求項1乃至請求項8のいずれか、又は、請求項15に記載のマイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子を搭載した撮像装置。
JP2010061621A 2010-03-17 2010-03-17 マイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子及びその製造方法並びに撮像装置 Abandoned JP2011198853A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010061621A JP2011198853A (ja) 2010-03-17 2010-03-17 マイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子及びその製造方法並びに撮像装置
US13/049,837 US8970749B2 (en) 2010-03-17 2011-03-16 Photoelectric conversion film-stacked solid-state imaging device without microlenses, its manufacturing method, and imaging apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010061621A JP2011198853A (ja) 2010-03-17 2010-03-17 マイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子及びその製造方法並びに撮像装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011198853A true JP2011198853A (ja) 2011-10-06

Family

ID=44646962

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010061621A Abandoned JP2011198853A (ja) 2010-03-17 2010-03-17 マイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子及びその製造方法並びに撮像装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8970749B2 (ja)
JP (1) JP2011198853A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160025320A (ko) * 2014-08-27 2016-03-08 삼성전자주식회사 적층형 촬상 소자
JP2021063990A (ja) * 2015-12-29 2021-04-22 ビアビ・ソリューションズ・インコーポレイテッドViavi Solutions Inc. 金属ミラーベースのマルチスペクトルフィルタアレイ
US11450698B2 (en) 2015-12-29 2022-09-20 Viavi Solutions Inc. Dielectric mirror based multispectral filter array

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006100766A (ja) * 2004-08-31 2006-04-13 Fuji Photo Film Co Ltd 光電変換素子、及び撮像素子、並びに、これらに電場を印加する方法。
JP2007134735A (ja) * 2000-07-11 2007-05-31 Seiko Epson Corp 光素子及びその製造方法並びに電子機器
JP2007227657A (ja) * 2006-02-23 2007-09-06 Fujifilm Corp 固体撮像素子の製造方法、固体撮像素子
JP2008085195A (ja) * 2006-09-28 2008-04-10 Fujifilm Corp 固体撮像装置の製造方法及び固体撮像装置
JP2008263178A (ja) * 2007-03-16 2008-10-30 Fujifilm Corp 固体撮像素子
JP2009064839A (ja) * 2007-09-04 2009-03-26 Panasonic Corp 光学デバイス及びその製造方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4021928A1 (de) 1990-07-10 1992-01-16 Daimler Benz Ag Elastisches lenkerlager fuer radaufhaengungen von kraftfahrzeugen
JP2002094082A (ja) * 2000-07-11 2002-03-29 Seiko Epson Corp 光素子及びその製造方法並びに電子機器
JP3778817B2 (ja) 2001-07-11 2006-05-24 富士フイルムマイクロデバイス株式会社 固体撮像装置およびその製造方法
US20030189215A1 (en) * 2002-04-09 2003-10-09 Jong-Lam Lee Method of fabricating vertical structure leds
EP1357606A1 (en) * 2002-04-22 2003-10-29 Scientek Corporation Image sensor semiconductor package
JP4271909B2 (ja) 2002-07-29 2009-06-03 富士フイルム株式会社 固体撮像装置およびその製造方法
US6995462B2 (en) * 2003-09-17 2006-02-07 Micron Technology, Inc. Image sensor packages
JP4905762B2 (ja) * 2005-08-23 2012-03-28 富士フイルム株式会社 光電変換素子、撮像素子、および該光電変換素子の製造方法
KR100790994B1 (ko) * 2006-08-01 2008-01-03 삼성전자주식회사 이미지 센서 패키지, 그 제조 방법 및 이미지 센서패키지를 포함하는 이미지 센서 모듈
JP2008092417A (ja) 2006-10-04 2008-04-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体撮像素子およびその製造方法並びに半導体撮像装置および半導体撮像モジュール

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007134735A (ja) * 2000-07-11 2007-05-31 Seiko Epson Corp 光素子及びその製造方法並びに電子機器
JP2006100766A (ja) * 2004-08-31 2006-04-13 Fuji Photo Film Co Ltd 光電変換素子、及び撮像素子、並びに、これらに電場を印加する方法。
JP2007227657A (ja) * 2006-02-23 2007-09-06 Fujifilm Corp 固体撮像素子の製造方法、固体撮像素子
JP2008085195A (ja) * 2006-09-28 2008-04-10 Fujifilm Corp 固体撮像装置の製造方法及び固体撮像装置
JP2008263178A (ja) * 2007-03-16 2008-10-30 Fujifilm Corp 固体撮像素子
JP2009064839A (ja) * 2007-09-04 2009-03-26 Panasonic Corp 光学デバイス及びその製造方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160025320A (ko) * 2014-08-27 2016-03-08 삼성전자주식회사 적층형 촬상 소자
KR102296736B1 (ko) * 2014-08-27 2021-08-31 삼성전자주식회사 적층형 촬상 소자
JP2021063990A (ja) * 2015-12-29 2021-04-22 ビアビ・ソリューションズ・インコーポレイテッドViavi Solutions Inc. 金属ミラーベースのマルチスペクトルフィルタアレイ
US11450698B2 (en) 2015-12-29 2022-09-20 Viavi Solutions Inc. Dielectric mirror based multispectral filter array
US11670658B2 (en) 2015-12-29 2023-06-06 Viavi Solutions Inc. Metal mirror based multispectral filter array
JP7336428B2 (ja) 2015-12-29 2023-08-31 ビアビ・ソリューションズ・インコーポレイテッド デバイス

Also Published As

Publication number Publication date
US8970749B2 (en) 2015-03-03
US20110228151A1 (en) 2011-09-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9305958B2 (en) Solid-state image sensing apparatus and electronic apparatus to improve quality of an image
KR102429308B1 (ko) 고체 촬상 소자, 전자 기기, 및 촬상 방법
US11043436B2 (en) Semiconductor device, manufacturing method, imaging device, and electronic apparatus for enabling component mounting with high flatness
KR101939413B1 (ko) 광학 센서, 렌즈 모듈, 및 카메라 모듈
KR102528610B1 (ko) 반도체 장치, 전자 기기
US20100315546A1 (en) Imaging Device and Manufacturing method therefor
US20070019102A1 (en) Micro camera module and method of manufacturing the same
US20110298074A1 (en) Solid-state imaging element and electronic information device
US10714526B2 (en) Solid-state imaging device, manufacturing method thereof, and electronic apparatus
JP2005072364A (ja) 固体撮像素子及びその製造方法
JP2005142575A (ja) 撮像素子とその製造方法
JP5392458B2 (ja) 半導体イメージセンサ
JP2004055674A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2012009547A (ja) 固体撮像装置、電子機器
CN115914865A (zh) 图像传感器、制造方法和电子设备
US20090283809A1 (en) Image sensor structure and integrated lens module thereof
US9111826B2 (en) Image pickup device, image pickup module, and camera
JP5520646B2 (ja) マイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子及び撮像装置
JP2011198853A (ja) マイクロレンズ非搭載の光電変換膜積層型固体撮像素子及びその製造方法並びに撮像装置
JP2009049290A (ja) 撮像装置及びその製造方法
JP2011100903A (ja) 電子素子モジュールおよびその製造方法、電子素子ウエハモジュールおよびその製造方法、並びに電子情報機器
JP4503452B2 (ja) 固体撮像装置の製造方法
JP5348405B2 (ja) 半導体イメージセンサの製造方法
KR100945445B1 (ko) 웨이퍼 레벨 카메라 모듈 및 그 제조방법
JP4344759B2 (ja) 固体撮像素子およびその製造方法、固体撮像装置、電子情報機器

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20111219

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120613

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20121004

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130904

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130910

A762 Written abandonment of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762

Effective date: 20131011