JP6690670B2 - 判定装置、判定方法および判定プログラム - Google Patents
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Description
図5(a)は、第1実施形態に係る判定装置100のブロック図である。本実施形態においては、判定装置100は、一例として石炭の燃焼サイクルを利用する火力発電設備に設置される。判定装置100は、説明変数取得部10、複数の温度センサ20a〜20c、判定部30などを備える。判定部30は、モデル作成部31、閾値設定部32、異常判定部33および出力部34を備える。
第1実施形態においては、センサ検出値と、センサ検出値と相関を有する複数の他のセンサの検出値とを用いて基準モデルを作成したが、これに限られない。第2実施形態においては、複数のセンサの検出値同士の相関関係を用いて、センサ検出値の基準モデルを作成する。
(1)モデリング期間(現在時刻よりも古い、データが蓄積された一定期間)を設定し、その期間の各n個の温度センサの温度データの平均および温度データ群の不偏分散共分散行列と逆行列を求める。
(2)モデリング期間内の各時刻Tm(m=0,1,2,…)の温度データT1(m)〜Tn(Tm)に対して、(1)を用いて「モデリング期間のn個の温度センサの温度データ群」に対するマハラノビス平方距離を求める。それらの値の標準偏差(3σ等)から異常となる閾値を設定する。
(3)新たな時刻TのデータセットT1(T)〜Tn(T)が得られるたびに、この「モデリング期間のn個の温度センサの温度データ群」との間のマハラノビス平方距離を求め、それが閾値以下か否かを判定する。
許容値1 ±2℃
許容値2 ±10℃
有効時間の閾値 20分未満
(1)モデリング期間の説明変数群と目的変数1の値を用いて14行14列の分散共分散行列を生成する。具体的には、目的変数1の分散が14行14列目になるように最後段に配置する。
(2)目的変数の行/列を除く、13行13列に対して、逆行列を生成する。
(3)(2)で求めた逆行列と(1)で求めた14列目の14行目の要素を除く積を求めて、13個の数値を得て、これらを説明変数の各係数とする。
(4)モデリング期間の各説明変数の平均値を算出し、この各平均値に(3)で求めた係数を掛けてそれらの和を取る。
(5)モデリング期間の目的変数の平均値を算出してから(4)で求めた値を差し引き、これを推定式の定数とする。
つまり、
捲回部集合1 領域1 (X1a1,Z1a1),(X1a2,Z1a2)
領域2 (X1b1,Z1b1),(X1b2,Z1b2)
領域3 (X1c1,Z1c1),(X1c2,Z1c2)
捲回部集合2 領域1 (X2a1,Z2a1),(X2b2,Z2a2)
領域2 (X2b1,Z2b1),(X2b2,Z2b2)
といったように、領域を指定する。
許容値1 60
許容値2 50
有効時間の閾値 20分未満
上記第1実施形態および第2実施形態において、複数の温度センサ20a〜20cまたは温度センサ20の温度測定方式は、光ファイバ内のラマン散乱光を用いた方式であるが、これに限られるものではない。例えば、温度センサ20a〜20cまたは温度センサ20として、熱電対、測温抵抗体、カメラ撮像タイプの赤外線サーモグラフィ等が用いられる。
図15は、変形例2の判定システムを例示する図である。実施形態2においては、判定部30は、温度センサ20から直接データを取得している。これに対して、変形例2の判定システムは、判定部の機能を有するサーバが、電気通信回線を通じて温度センサからデータを取得するものである。
図16(a)および図16(b)は、センサ部21および測定器22を例示する図である。図16(a)で例示するように、センサ部21は、例えば、石炭を砕いて微粉を製造するための微粉炭機のミル中間ハウジング部40の外壁に取り付けられている。図16(a)で例示するように、ミル中間ハウジング部40は、石炭41が落下して一時的に貯留される貯留部42と、貯留部42に貯留されている石炭41を粉砕する粉砕リング43およびローラ44とを備える。粉砕によって得られた微粉炭45は、一次空気室46の空気によって上昇する。
第2実施形態とは別の目的を保持する実施形態として、第3実施形態について説明する。図10で例示した第2実施形態では、さまざまなセンシングデータを用いることを前提としていたものの、その具体的な方法は示していなかった。そこで、本実施形態ではまず、その方法の一例を示す。この方法自体は、特許第5308501号においても、確率変数への変換として開示されているものと同様で、通常の多変量解析では一般的な方法である。
S1_ave=Average(S1(t0),…,S1(t0−ΔT)),
S2_ave=Average(S2(t0),…,S2(t0−ΔT)),
…
SN_ave=Average(SN(t0),…,SN(t0−ΔT))
標準偏差S1_sigma〜SN_sigmaは、下記式で表される。
S1_sigma=Standard Deviation(S1(t0),…,S1(t0−ΔT)),
S2_sigma=Standard Deviation(S2(t0),…,S2(t0−ΔT)),
…
SN_sigma=Standard Deviation(SN(t0),…,SN(t0−ΔT))
11 レーザ
12 ビームスプリッタ
13 光スイッチ
14 フィルタ
15a,15b 検出器
16 演算部
20 温度センサ
21 センサ部
22 測定器
30 判定部
31 モデル作成部
32 閾値設定部
33 異常判定部
34 出力部
40 ミル中間ハウジング部
41 石炭
42 貯留部
43 粉砕リング
44 ローラ
45 微粉炭
46 一次空気室
100 判定装置
Claims (17)
- 複数の第1センサ検出値の基準モデルを作成するモデル作成部と、
所定の時点から、第2センサ検出値と作成された前記基準モデルとから求められた推定誤差が第1閾値を超過するか否かを判定し、前記第2センサ検出値と作成された前記基準モデルとから求められた前記推定誤差の積算値が第2閾値を超過するか否かを判定し、前記推定誤差が前記第1閾値を超えるまでの第1時間が第1の所定時間よりも短いか否かを判定し、前記推定誤差の積算値が前記第2閾値を超えるまでの第2時間が第2の所定時間より短いか否かを判定する判定部と、
前記判定部が、前記推定誤差が前記第1閾値を超過したと判定し、且つ、前記第1時間が前記第1の所定時間より短いと判定した場合、及び前記積算値が前記第2閾値を超過したと判定し、且つ、前記第2時間が前記第2の所定時間より短いと判定した場合、異常に係る信号を出力する出力部と、を備えることを特徴とする判定装置。 - 前記判定部が、前記推定誤差が前記第1閾値を超過したと判定し、前記積算値が前記第2閾値を超過したと判定し、前記第1時間が前記第1の所定時間よりも短いと判定し、且つ、前記第2時間が前記第2の所定時間より短いと判定した場合、前記出力部は、異常に係る信号を出力することを特徴とする請求項1に記載の判定装置。
- 前記モデル作成部は、前記複数の第1センサ検出値を用いて回帰分析により前記基準モデルを作成することを特徴とする請求項1又は2に記載の判定装置。
- 前記判定部が、前記推定誤差が前記第1閾値を超過したと判定し、且つ前記第1時間が前記第1の所定時間より短いと判定した場合、及び前記積算値が前記第2閾値を超過したと判定し、且つ、前記第2時間が前記第2の所定時間より短いと判定した場合、前記モデル作成部は、その時点から一定の過去時間における前記複数の第1センサ検出値を用いて前記基準モデルを再作成することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の判定装置。
- 前記複数の第1センサ検出値及び/又は前記第2センサ検出値は、同一光ファイバの異なる長さ位置の後方散乱光によって得られる結果であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の判定装置。
- 前記第1閾値は、前記基準モデルの作成後の一定期間の推定誤差を基に決定され、前記第2閾値は、前記基準モデルの作成後の一定期間の推定誤差の積算値を基に決定されることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の判定装置。
- 前記判定部は、更に前記第2センサ検出値と作成された前記基準モデルとから求められた推定誤差が前記第1閾値及び前記第2閾値よりも大きい第3閾値を超えたことを判定し、超えたと判定された場合は、前記出力部は、異常に係る信号を出力することを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の判定装置。
- 前記判定部が更に新しい第2検出値を取得した時点が強制更新時間以内かどうかを判定し、強制更新時間以内でないと判断した場合は、前記モデル作成部は、前記時点からの過去データを用いて再度基準モデルを作成し、前記時点の第2検出値を用いて、前記判定部が異常判定を行うことを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の判定装置。
- 複数の第1センサ検出値を用いて基準モデルを作成するモデル作成部と、
所定の時点から、複数の第2センサ検出値と作成された前記基準モデルとから求められたマハラノビス平方距離が第1閾値を超過するか否かを判定し、複数の前記第2センサ検出値と作成された前記基準モデルとから求められたマハラノビス平方距離の平均値が第2閾値を超過するか否かを判定し、前記マハラノビス平方距離が前記第1閾値及び前記第2閾値よりも大きい第3閾値を超過したか否かを判定し、前記マハラノビス平方距離が前記第1閾値を超えるまでの第1時間が第1の所定時間よりも短いか否かを判定し、前記マハラノビス平方距離の平均値が前記第2閾値を超えるまでの第2時間が第2の所定時間より短いか否かを判定する判定部と、
前記判定部が、前記マハラノビス平方距離が前記第1閾値と前記第3閾値とを超過したと判定し、且つ、前記第1時間が前記第1の所定時間より短いと判定した場合、及び前記平均値が前記第2閾値を超過したと判定し、前記マハラノビス平方距離が前記第3閾値を超過したと判定し、且つ、前記第2時間が前記第2の所定時間より短いと判定した場合、異常に係る信号を出力する出力部と、を備えることを特徴とする判定装置。 - 前記出力部は、前記判定部が、前記マハラノビス平方距離が前記第1閾値を超過したと判定し、前記平均値が前記第2閾値を超過したと判定し、前記第1時間が前記第1の所定時間よりも短いと判定し、且つ、前記第2時間が前記第2の所定時間より短いと判定した場合、異常に係る信号を出力することを特徴とする請求項9に記載の判定装置。
- 前記モデル作成部は、前記複数の第1センサ検出値の平均値及び分散共分散行列を用いて前記基準モデルを作成することを特徴とする請求項9または10に記載の判定装置。
- 前記判定部が、更に新しい第2センサ検出値を取得した時点が強制更新時間以内かどうかを判定し、強制更新時間以内でないと判断した場合、前記モデル作成部は、前記時点からの過去データを用いて再度基準モデルを作成し、前記時点の第2センサ検出値を用いて、前記判定部は再度異常判定を行うことを特徴とする請求項9〜11のいずれか一項に記載の判定装置。
- 前記複数の第1センサ検出値及び/又は前記複数の第2センサ検出値は、同一光ファイバの異なる長さ位置の後方散乱光によって得られる結果であることを特徴とする請求項9〜12のいずれか一項に記載の判定装置。
- 複数の第1センサ検出値の基準モデルを作成し、
所定の時点から、第2センサ検出値と作成された前記基準モデルとから求められた推定誤差が第1閾値を超過するか否かを判定し、
前記第2センサ検出値と作成された前記基準モデルとから求められた推定誤差の積算値が第2閾値を超過するか否かを判定し、
前記推定誤差が前記第1閾値を超えるまでの第1時間が第1の所定時間よりも短いか否かを判定し、
前記推定誤差の積算値が前記第2閾値を超えるまでの第2時間が第2の所定時間より短いか否かを判定し、
前記推定誤差が前記第1閾値を超過したと判定され、且つ、前記第1時間が前記第1の所定時間より短いと判定された場合、及び前記積算値が前記第2閾値を超過したと判定され、且つ、前記第2時間が前記第2の所定時間より短いと判定された場合、異常に係る信号を出力する、ことを特徴とする判定方法。 - コンピューターに、
複数の第1センサ検出値の基準モデルを作成する処理と、
所定の時点から、第2センサ検出値と作成された前記基準モデルとから求められた推定誤差が第1閾値を超過するか否かを判定し、前記第2センサ検出値と作成された前記基準モデルとから求められた前記推定誤差の積算値が第2閾値を超過するか否かを判定し、前記推定誤差が前記第1閾値を超えるまでの第1時間が第1の所定時間よりも短いか否かを判定し、前記推定誤差の積算値が前記第2閾値を超えるまでの第2時間が第2の所定時間より短いか否かを判定する処理と、
前記判定する処理において、前記推定誤差が前記第1閾値を超過したと判定し、且つ、前記第1時間が前記第1の所定時間より短いと判定した場合、及び前記積算値が前記第2閾値を超過したと判定し、且つ、前記第2時間が前記第2の所定時間より短いと判定した場合、異常に係る信号を出力する処理と、を実行させることを特徴とする判定プログラム。 - 複数の第1センサ検出値の基準モデルを作成し、
所定の時点から、複数の第2センサ検出値と作成された前記基準モデルとから求められたマハラノビス平方距離が第1閾値を超過するか否かを判定し、
複数の前記第2センサ検出値と作成された前記基準モデルとから求められたマハラノビス平方距離の平均値が第2閾値を超過するか否かを判定し、
前記マハラノビス平方距離が前記第1閾値及び前記第2閾値よりも大きい第3閾値を超えたことを判定し、
前記マハラノビス平方距離が前記第1閾値を超えるまでの第1時間が第1の所定時間よりも短いか否かを判定し、
前記マハラノビス平方距離の平均値が前記第2閾値を超えるまでの第2時間が第2の所定時間より短いか否かを判定し、
前記マハラノビス平方距離が前記第1閾値と前記第3閾値とを超過したと判定され、且つ、前記第1時間が前記第1の所定時間よりも短いと判定された場合、及び前記平均値が前記第2閾値を超過したと判定され、前記マハラノビス平方距離が前記第3閾値を超過したと判定され、且つ、前記第2時間が前記第2の所定時間より短いと判定された場合、異常に係る信号を出力することを特徴とする判定方法。 - コンピューターに、
複数の第1センサ検出値の基準モデルを作成する処理と、
所定の時点から、複数の第2センサ検出値と作成された前記基準モデルとから求められたマハラノビス平方距離が第1閾値を超過するか否かを判定し、複数の前記第2センサ検出値と作成された前記基準モデルとから求められたマハラノビス平方距離の平均値が第2閾値を超過するか否かを判定し、前記マハラノビス平方距離が前記第1閾値及び前記第2閾値よりも大きい第3閾値を超過したか否かを判定し、前記マハラノビス平方距離が前記第1閾値を超えるまでの第1時間が第1の所定時間よりも短いか否かを判定し、前記マハラノビス平方距離の平均値が前記第2閾値を超えるまでの第2時間が第2の所定時間より短いか否かを判定する処理と、
前記マハラノビス平方距離が前記第1閾値と前記第3閾値とを超過したと判定され、且つ、前記第1時間が前記第1の所定時間よりも短いと判定された場合、及び前記平均値が前記第2閾値を超過したと判定され、前記マハラノビス平方距離が前記第3閾値を超過したと判定され、且つ、前記第2時間が前記第2の所定時間より短いと判定された場合、異常に係る信号を出力する処理と、を実行させることを特徴とする判定プログラム。
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