JP6658681B2 - 積層インダクタの製造方法および積層インダクタ - Google Patents

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Description

本発明は、積層インダクタの製造方法および積層インダクタに関する。
従来、積層インダクタとしては、特開2009−117664号公報(特許文献1)に記載されたものがある。この積層インダクタは、複数の磁性層を含む積層体と、積層体内に設けられた複数のコイル導体層とを有する。
積層インダクタを製造するには、グリーンシートに第1コイル導体層を塗布し、第1コイル導体層の幅方向の端部を覆うようにグリーンシートに第1磁性層を塗布する。その後、第1コイル導体層に第2コイル導体層を塗布し、第2コイル導体層の幅方向の端部を覆うように第1磁性層に第2磁性層を塗布する。これを複数繰り返した後、焼成して積層インダクタを製造する。
特開2009−117664号公報
ところで、前記従来の積層インダクタを製造しようとすると、次の問題があることが分かった。コイル導体層と磁性層とが接触した状態で焼成されるので、コイル導体層と磁性層の熱膨張係数に差があると、磁性層は、コイル導体層の収縮の影響を受けた状態で収縮される。この結果、磁性層に残留応力が発生して、残留応力が磁性層の磁気特性を劣化させ、これによって、L値(インダクタンス値)やQ値(品質係数値)が劣化する。また、磁性層の残留応力が発生するので、製品ごとのL値やQ値のバラツキが大きくなって、一定した品質の製品を安定して製造することができない。
そこで、本発明の課題は、L値やQ値の劣化を低減できると共に、製品ごとのL値やQ値のバラツキを小さくできる積層インダクタの製造方法を提供することにある。
前記課題を解決するため、本発明の積層インダクタの製造方法は、
第1磁性層に第1コイル導体層を積層する第1工程と、
前記第1コイル導体層の幅方向の側面に第1焼失材を積層する第2工程と、
前記第1コイル導体層に接触しないように前記第1焼失材と前記第1磁性層に第2磁性層を積層する第3工程と、
前記第1コイル導体層の上面の幅方向外側の前記第2磁性層に第2焼失材を積層する第4工程と、
前記第2磁性層に接触しないように前記第1コイル導体層の上面と前記第2焼失材に第2コイル導体層を積層する第5工程と、
前記第2コイル導体層の幅方向の側面および上面に第3焼失材を積層する第6工程と、
前記第2コイル導体層に接触しないように前記第3焼失材の幅方向の側面と前記第2磁性層に第3磁性層を積層する第7工程と、
前記第3焼失材と前記第3磁性層に第4磁性層を積層する第8工程と、
前記第1、前記第2および前記第3焼失材を焼成により焼失する第9工程と
を備える。
本発明の積層インダクタの製造方法によれば、第1コイル導体層の側面と、第2コイル導体層の側面、下面および上面とは、磁性層との間に、焼失材を有するので、第1コイル導体層の側面と、第2コイル導体層の側面、下面および上面とが、磁性層と接触していない状態で、焼成される。これにより、コイル導体層と磁性層の熱膨張係数に差があっても、磁性層は、コイル導体層の収縮の影響を受け難い状態で収縮される。この結果、磁性層の残留応力を低減でき、L値(インダクタンス値)やQ値(品質係数値)の劣化を低減できる。また、磁性層の残留応力を低減できるので、製品ごとのL値やQ値のバラツキを小さくでき、一定した品質の製品を安定して製造することができる。
また、積層インダクタの製造方法の一実施形態では、前記第1工程では、前記第1コイル導体層の下面の一部と前記第1磁性層との間に、焼失材を設ける。
前記実施形態によれば、第1コイル導体層の下面の一部が、第1磁性層と接触していない状態で、焼成されるので、第1磁性層の残留応力を一層低減できて、L値やQ値の劣化を一層低減でき、製品ごとのL値やQ値のバラツキを一層小さくできる。
また、積層インダクタの製造方法の一実施形態では、前記第5工程では、前記第2コイル導体層の最大幅を前記第1コイル導体層の最大幅よりも小さくする。
前記実施形態によれば、第2コイル導体層の最大幅を小さくすることで、第2コイル導体層の磁性層との対向する面積を小さくすることができる。これにより、焼成時、磁性層は、第2コイル導体層の影響を一層受け難くなる。したがって、磁性層の残留応力を一層低減できて、L値やQ値の劣化を一層低減でき、製品ごとのL値やQ値のバラツキを一層小さくできる。また、第2コイル導体層の最大幅を小さくすることで、第1コイル導体層に第2コイル導体層を安定して積層することができる。
また、積層インダクタの製造方法の一実施形態では、前記第5工程の後に前記第2工程から前記第5工程を複数繰り返して、互いに積層される3層以上のコイル導体層から1つのコイル配線を形成すると共に、2つ以上のコイル配線を電気的に並列に接続する。
前記実施形態によれば、3層以上のコイル導体層から1つのコイル配線を形成すると共に、2つ以上のコイル配線を電気的に並列に接続するので、直接に積層されて面接触するコイル導体層を分けて配置することができ、直流抵抗の低いコイル配線を安定して形成できる。
また、積層インダクタの製造方法の一実施形態では、互いに積層される2層のコイル導体層から1つのコイル配線を形成すると共に、2つ以上のコイル配線を電気的に並列に接続する。
前記実施形態によれば、1つのコイル配線を構成するコイル導体層の層数は、2層であるので、直接に積層されて面接触するコイル導体層の数量を少なくでき、直流抵抗の低いコイル配線を安定して形成できる。
また、積層インダクタの製造方法の一実施形態では、電気的に並列に接続された前記2つ以上のコイル配線において、少なくとも1つのコイル配線を構成するコイル導体層の層数は、他のコイル配線を構成するコイル導体層の層数と異なる。
前記実施形態によれば、インピーダンスを容易に調整することができる。
また、積層インダクタの製造方法の一実施形態では、
前記第7工程と前記第8工程の間に、前記第3焼失材の上面に第4焼失材を積層する工程を有し、
前記第8工程は、前記第4焼失材と前記第3磁性層に前記第4磁性層を積層し、
前記第9工程は、前記第1、前記第2、前記第3および前記第4焼失材を焼成により焼失する。
前記実施形態によれば、第3磁性層が乾燥すると、第3焼失材が幅方向外側に第3磁性層に引っ張られて、第3焼失材に亀裂が入るおそれがあるが、第4焼失材が第3焼失材の亀裂に入り込んでいるので、第4磁性層が第3焼失材の亀裂に浸入することを防止できる。これにより、第2コイル導体層が第4磁性層に接触することを防止できる。
また、積層インダクタの一実施形態では、
磁性層を積層方向に積層して構成される素体と、
前記素体内に設けられ、螺旋状に巻回されたコイルと
を備え、
前記コイルは、平面状に巻回された複数のコイル配線を前記積層方向に積層して構成され、前記コイル配線は、互いに面接触して前記積層方向に積層された複数のコイル導体層を有し、
前記複数のコイル配線のうちの少なくとも1つのコイル配線の前記積層方向に沿った断面において、複数のコイル導体層の幅方向の側面と、最上層のコイル導体層の上面と、2層目以降の少なくとも1つのコイル導体層の下面とは、前記磁性層との間に、空洞部を有する。
前記実施形態によれば、少なくとも1つのコイル配線の積層方向に沿った断面において、複数のコイル導体層の幅方向の側面と、最上層のコイル導体層の上面と、2層目以降の少なくとも1つのコイル導体層の下面とは、磁性層との間に、空洞部を有する。これにより、コイル導体層と磁性層の熱膨張係数に差があっても、磁性層のコイル導体層との接触を低減しているので、磁性層の残留応力を低減でき、L値やQ値の劣化を低減できる。また、磁性層の残留応力を低減できるので、製品ごとのL値やQ値のバラツキを小さくでき、一定した品質の製品を安定して製造することができる。
また、積層インダクタの一実施形態では、前記少なくとも1つのコイル配線において、2層目以降のコイル導体層の最大幅は、最下層のコイル導体層の最大幅よりも小さい。
前記実施形態によれば、複数のコイル導体層の積層が安定する。
また、積層インダクタの一実施形態では、2つ以上のコイル配線を電気的に並列に接続する。
前記実施形態によれば、直接に積層されて面接触するコイル導体層の数量を少なくでき、直流抵抗の低いコイル配線を安定して形成できる。
また、積層インダクタの一実施形態では、電気的に並列に接続された前記2つ以上のコイル配線において、少なくとも1つのコイル配線を構成するコイル導体層の層数は、他のコイル配線を構成するコイル導体層の層数と異なる。
前記実施形態によれば、インピーダンスを容易に調整することができる。
本発明の積層インダクタによれば、L値やQ値の劣化を低減できると共に、製品ごとのL値やQ値のバラツキを小さくできる。
本発明の積層インダクタの第1実施形態を示す斜視図である。 積層インダクタの分解斜視図である。 積層インダクタの断面図である。 積層インダクタの第1実施形態の製造方法について説明する説明図である。 積層インダクタの第1実施形態の製造方法について説明する説明図である。 積層インダクタの第1実施形態の製造方法について説明する説明図である。 積層インダクタの第1実施形態の製造方法について説明する説明図である。 積層インダクタの第1実施形態の製造方法について説明する説明図である。 積層インダクタの第1実施形態の製造方法について説明する説明図である。 積層インダクタの第1実施形態の製造方法について説明する説明図である。 積層インダクタの第1実施形態の製造方法について説明する説明図である。 積層インダクタの第1実施形態の製造方法について説明する説明図である。 積層インダクタの第1実施形態の製造方法について説明する説明図である。 本発明の積層インダクタの製造方法の第2実施形態を示す断面図である。 本発明の積層インダクタの製造方法の第3実施形態を示す断面図である。 本発明の積層インダクタの製造方法の第4実施形態を示す断面図である。 2層2重巻きの積層インダクタの焼成前の画像図である。 2層2重巻きの積層インダクタの焼成後の画像図である。 4層1重巻きの積層インダクタの焼成前の画像図である。 4層1重巻きの積層インダクタの焼成後の画像図である。
以下、本発明を図示の実施の形態により詳細に説明する。
(第1実施形態)
図1は、本発明の積層インダクタの第1実施形態を示す斜視図である。図2は、本発明の積層インダクタの分解斜視図である。図1と図2に示すように、積層インダクタ1は、素体10と、素体10の内部に設けられたコイル20と、素体10の表面に設けられコイル20に電気的に接続された第1外部電極31および第2外部電極32とを有する。
積層インダクタ1は、第1、第2外部電極31,32を介して、図示しない回路基板の配線に電気的に接続される。積層インダクタ1は、例えば、ノイズ除去フィルタとして用いられ、パソコン、DVDプレーヤー、デジカメ、TV、携帯電話、カーエレクトロニクスなどの電子機器に用いられる。
素体10は、複数の磁性層11を含み、複数の磁性層11は、積層方向に積層される。磁性層11は、例えば、Ni−Cu−Zn系の材料などの磁性材料からなる。なお、素体10には、部分的に非磁性層を含んでいてもよい。
素体10は、略直方体状に形成されている。素体10の表面は、第1端面15と、第1端面15の反対側に位置する第2端面16と、第1端面15と第2端面16の間に位置する4つの側面17とを有する。第1端面15および第2端面16は、積層方向に直交する方向に対向している。
第1外部電極31は、素体10の第1端面15の全面と、素体10の側面17の第1端面15側の端部とを覆う。第2外部電極32は、素体10の第2端面16の全面と、素体10の側面17の第2端面16側の端部とを覆う。
コイル20は、積層方向に沿って、螺旋状に巻き回されている。コイル20の第1端は、素体10の第1端面15から露出して、第1外部電極31に電気的に接続される。コイル20の第2端は、素体10の第2端面16から露出して、第2外部電極32に電気的に接続される。コイル20は、例えば、AgまたはCuなどの導電性材料からなる。
コイル20は、平面状に巻回された複数のコイル配線21,22,23,24を含む。複数のコイル配線21,22,23,24は、磁性層11上に設けられ積層方向に積層される。
1層目の第1コイル配線21と2層目の第2コイル配線22は、電気的に並列に接続されて、第1並列群P1を構成する。3層目の第3コイル配線23と4層目の第4コイル配線24は、電気的に並列に接続されて、第2並列群P2を構成する。第1並列群P1と第2並列群P2は、第1外部電極31と第2外部電極32の間に、電気的に直列に接続される。
具体的に述べると、第1コイル配線21と第2コイル配線22は、同一形状である。第1コイル配線21の第1端と第2コイル配線22の第1端は、第1外部電極31に接続される。第1コイル配線21の第2端と第2コイル配線22の第2端は、接続部25を介して接続される。これにより、第1コイル配線21と第2コイル配線22は、同電位となる。接続部25は、磁性層11を積層方向に貫通して設けられる。
第3コイル配線23と第4コイル配線24は、同一形状である。第3コイル配線23の第1端と第4コイル配線24の第1端は、接続部25を介して接続される。第3コイル配線23の第2端と第4コイル配線24の第2端は、第2外部電極32に接続される。これにより、第3コイル配線23と第4コイル配線24は、同電位となる。
第1、第2コイル配線21,22の第2端と第3、第4コイル配線23,24の第1端は、接続部25を介して接続される。これにより、第1、第2コイル配線21,22(第1並列群P1)と第3、第4コイル配線23,24(第2並列群P2)は、直列に接続される。
図3は、積層インダクタ1の断面図である。図3に示すように、第1から第4コイル配線21〜24は、それぞれ、下層の第1コイル導体層211および上層の第2コイル導体層212を有する。第1コイル導体層211および第2コイル導体層212は、互いに面接触して積層方向に積層されている。
積層方向に沿った断面において、第1コイル導体層211および第2コイル導体層212は、それぞれ、略台形に形成されている。第1コイル導体層211は、上面211a、下面211b、および、幅方向の両側面211cを有する。上面211aの幅は、下面211bの幅よりも小さい。第2コイル導体層212は、第1コイル導体層211と同様に、上面212a、下面212b、および、幅方向の両側面212cを有する。第1コイル導体層211の上面211aと第2コイル導体層212の下面212bは、面接触している。
第1コイル配線21において、第1、第2コイル導体層211,212の幅方向の側面211c,212cと、第2コイル導体層212の上面212aとは、素体10(磁性層11)との間に、空洞部40を有する。
空洞部40は、第1延在部41および第2延在部42を有する。第1延在部41は、第2コイル導体層212の上面212a側で幅方向外側に向かって延在する。第2延在部42は、第2コイル導体層212の下面212b側で幅方向外側に向かって延在する。
第2、第3、第4コイル配線22,23,24において、第1コイル配線21と同様に、第1、第2コイル導体層211,212の幅方向の側面211c,212cと、第2コイル導体層212の上面212aとは、磁性層11との間に、空洞部40を有する。第3コイル配線23において、さらに、第2コイル導体層212の下面212bは、磁性層11との間に、空洞部40を有する。第2コイル導体層212の下面212bの空洞部40は、第1コイル導体層211の上面211aの一部と第2コイル導体層212の下面212bの間に、延在している。
次に、積層インダクタ1の製造方法について説明する。
図4Aに示すように、第1磁性層111に第1コイル導体層211を積層する(第1工程という)。第1磁性層111は、例えば、磁性ペーストを印刷し乾燥して形成される。第1コイル導体層211は、例えば、導電ペーストを印刷し乾燥して形成される。
図4Bに示すように、第1コイル導体層211の幅方向の側面211cに第1焼失材51を積層する(第2工程という)。第1焼失材51は、焼成により焼失する材料からなり、例えば、樹脂材料からなる。好ましくは、第1焼失材51を第1コイル導体層211の両端から幅方向外側に少しはみ出るように印刷することで、第1焼失材51の印刷の位置ずれ等が発生しても、第1コイル導体層211を確実に第1焼失材51で覆うことができる。
図4Cに示すように、第1コイル導体層211に接触しないように第1焼失材51と第1磁性層111に第2磁性層112を積層する(第3工程という)。第1コイル導体層211の上面211aと第1焼失材51の上面は、第2磁性層112から露出している。第1コイル導体層211の側面211cは、第1焼失材51により、第2磁性層112に接触しない。
図4Dに示すように、第1コイル導体層211の上面211aの幅方向外側の第2磁性層112に第2焼失材52を積層する(第4工程という)。第2焼失材52は、第1焼失材51の上面と第2磁性層112の上面に重なる。
図4Eに示すように、第2磁性層112に接触しないように第1コイル導体層211の上面211aと第2焼失材52に第2コイル導体層212を積層する(第5工程という)。第2コイル導体層212の下面211bは、第1コイル導体層211の上面211aに面接触する。第2コイル導体層212の下面211bの幅方向端部は、第2焼失材52に接触する。第2コイル導体層212の下面211bは、第2焼失材52により、第2磁性層112に接触しない。
図4Fに示すように、第2コイル導体層212の幅方向の側面212cおよび上面212aに第3焼失材53を積層する(第6工程という)。つまり、第2コイル導体層212の露出面を第3焼失材53で覆う。
図4Gに示すように、第2コイル導体層212に接触しないように第3焼失材53の幅方向の側面と第2磁性層112に第3磁性層113を積層する(第7工程という)。第3焼失材53の上面は、第3磁性層113から露出している。第2コイル導体層212の側面212cは、第3焼失材53により、第3磁性層113に接触しない。
このとき、第3磁性層113が乾燥すると、第3焼失材53を第2コイル導体層212の上面212aの全てに積層しているので、第3焼失材53が幅方向外側に第3磁性層113に引っ張られて、第3焼失材53に亀裂53aが入るおそれがある。以下、亀裂53aが発生しているとして、説明する。
図4Hに示すように、第3焼失材53の上面に第4焼失材54を積層する(第8工程という)。第4焼失材54は、第3焼失材53の上面の幅よりも大きくなる。第4焼失材54は、第3焼失材53の亀裂53aに入り込む。
図4Iに示すように、第4焼失材54と第3磁性層113に第4磁性層114を積層する(第9工程という)。第4焼失材54が第3焼失材53の亀裂53aに入り込んでいるので、第4磁性層114が第3焼失材53の亀裂53aに浸入することを防止できる。第2コイル導体層212の上面212aは、第3,第4焼失材53,54により、第4磁性層114に接触しない。このようにして、第1コイル配線21を作製する。
その後、第2工程から第9工程を3回繰り返して、図4Jに示すように、第2コイル配線22、第3コイル配線23および第4コイル配線24を作製する。その後、第1、第2、第3および第4焼失材51〜54を焼成により焼失する(第10工程という)。これにより、図3に示すように、第1から第4コイル配線21〜24と磁性層11との間に、空洞部40が形成される。その後、図1に示すように、素体10に第1、第2外部電極31,32を形成して、積層インダクタ1を製造する。
前記積層インダクタ1の製造方法によれば、第1コイル導体層211の側面211cと、第2コイル導体層212の側面212c、下面212bおよび上面212aとは、磁性層111〜114との間に、焼失材51〜54を有するので、第1コイル導体層211の側面211cと、第2コイル導体層212の側面212c、下面212bおよび上面212aとが、磁性層111〜114と接触していない状態で、焼成される。これにより、コイル導体層211,212と磁性層111〜114の熱膨張係数に差があっても、磁性層111〜114は、コイル導体層211,212の収縮の影響を受け難い状態で収縮される。この結果、磁性層111〜114の残留応力を低減でき、L値(インダクタンス値)やQ値(品質係数値)の劣化を低減できる。また、磁性層111〜114の残留応力を低減できるので、製品ごとのL値やQ値のバラツキを小さくでき、一定した品質の製品を安定して製造することができる。また、各コイル配線21〜24は、面接触した第1コイル導体層211と第2コイル導体層212から構成されるので、インダクタの直流抵抗を低減できる。
焼失材51〜54の焼成後、図3に示すように、第3コイル配線23において、第2コイル導体層212の下面212bと磁性層11との間に空洞部40が発生する。一方、第1、第2、第4コイル配線21,22,24において、第2コイル導体層212の下面212bと磁性層11との間に空洞部40が発生しないが、焼失材51〜54の焼成時に、第2コイル導体層212の下面212bと磁性層11とは第2焼失材52により接触していないので、磁性層11の残留応力を低減できる。なお、焼失材51〜54の焼成後、少なくとも一つのコイル配線において、第2コイル導体層212の下面212bと磁性層11との間に空洞部40が発生する。
前記積層インダクタ1によれば、第1コイル導体層211と第2コイル導体層212とは、磁性層111〜114との間に、空洞部40を有するので、コイル導体層211,212と磁性層111〜114の熱膨張係数に差があっても、磁性層111〜114のコイル導体層211,212との接触を低減できる。この結果、磁性層111〜114の残留応力を低減でき、L値やQ値の劣化を低減できる。また、磁性層111〜114の残留応力を低減できるので、製品ごとのL値やQ値のバラツキを小さくでき、一定した品質の製品を安定して製造することができる。
また、互いに積層される2層のコイル導体層211,212から1つのコイル配線21〜24を形成することに加え、第1コイル配線21と第2コイル配線22は、電気的に並列に接続されて、第1並列群P1を構成し、第3コイル配線23と第4コイル配線24は、電気的に並列に接続されて、第2並列群P2を構成している。これによれば、直接に積層されて面接触するコイル導体層211,212の数量を少なくでき、直流抵抗の低いコイル配線21〜24を安定して形成できる。このとき、第1並列群P1、第2並列群P2は、3つ以上のコイル配線を電気的に並列に接続してもよい。これによれば、一層直流抵抗の低いコイル配線21〜24を安定して形成できる。
また、1つのコイル配線21〜24を2層のコイル導体層211,212から構成することで、コイル導体層と磁性層の収縮挙動の差を小さくして、空洞部を安定して形成できる。
好ましくは、コイル導体層のペーストの収縮率は、磁性層のペーストの収縮率より大きく、空洞部を容易に形成することができる。好ましくは、コイル導体層のペーストの収縮開始温度は、磁性層のペーストの収縮開始温度より低く、空洞部を容易に形成することができる。
なお、コイルは、4層以外の複数のコイル配線から構成されてもよい。また、コイル配線は、3層以上のコイル導体層から構成されていてもよい。このとき、複数のコイル配線のうちの少なくとも1つのコイル配線の積層方向に沿った断面において、複数のコイル導体層の幅方向の側面と、最上層のコイル導体層の上面と、2層目以降の少なくとも1つのコイル導体層の下面とは、磁性層との間に、空洞部を有する。
また、積層インダクタの製造方法において、第3焼失材に亀裂が発生しない場合、第4焼失材を設ける第8工程を省略してもよい。このとき、第3磁性層と第4磁性層を同時に形成してもよい。
また、上下の磁性層をグリーンシートで作製する場合、密着のために、圧着する工程を行ってもよい。また、上下のコイル配線が接続部以外で重ならない場合、上下のコイル配線の間に、絶縁のための磁性層を形成しなくてもよい。また、第1から第4コイル配線を電気的に直列に接続してもよい。すなわち、コイル配線が電気的に並列に接続されていないコイルであってもよい。
また、第5工程の後に第2工程から第5工程を複数繰り返して、互いに積層される3層以上のコイル導体層から1つのコイル配線を形成すると共に、2つ以上のコイル配線を電気的に並列に接続してもよい。これによれば、直接に積層されて面接触するコイル導体層を分けて配置することができ、直流抵抗の低いコイル配線を安定して形成できる。
(第2実施形態)
図5は、本発明の積層インダクタの製造方法の第2実施形態を示す断面図である。第2実施形態は、第1実施形態とは、第1工程が相違する。この相違する構成を以下に説明する。なお、第2実施形態において、第1実施形態と同一の符号は、第1実施形態と同じ構成であるため、その説明を省略する。
図5に示すように、第2実施形態の第1工程では、第1実施形態の第1工程(図4A)と比べて、第1コイル導体層211の下面の一部と第1磁性層111との間に、焼失材55を設けている。焼失材55は、例えば、第1コイル導体層211の下面211bの幅方向の両端から内側に、下面211bの幅の1/3の範囲に設けられている。以下、第1実施形態の工程と同様にして、第1コイル配線21Aを作製する。その後、同様の工程を繰り返して、第2コイル配線、第3コイル配線および第4コイル配線を作製し、焼成により全ての焼失材を焼失する。
第2実施形態によれば、第1コイル導体層211の下面の一部が、第1磁性層111と接触していない状態で、焼成されるので、第1磁性層111の残留応力を一層低減できて、L値やQ値の劣化を一層低減でき、製品ごとのL値やQ値のバラツキを一層小さくできる。このようにして製造された積層インダクタにおいて、所定のコイル配線において、1層目の第1コイル導体層211の下面の一部は、第1磁性層111との間に、空洞部を有する。
(第3実施形態)
図6は、本発明の積層インダクタの製造方法の第3実施形態を示す断面図である。第3実施形態は、第1実施形態とは、第5工程が相違する。この相違する構成を以下に説明する。なお、第3実施形態において、第1実施形態と同一の符号は、第1実施形態と同じ構成であるため、その説明を省略する。
図6に示すように、第3実施形態の第5工程では、第1実施形態の第5工程(図4E)と比べて、第2コイル導体層212の最大幅W2(下面212b側の幅)を第1コイル導体層211の最大幅W1(下面211bの幅)よりも小さくしている。以下、第1実施形態の工程と同様にして、第1コイル配線21Bを作製する。その後、同様の工程を繰り返して、第2コイル配線、第3コイル配線および第4コイル配線を作製し、焼成により全ての焼失材を焼失する。
第3実施形態によれば、第2コイル導体層212の最大幅W2を小さくすることで、第2コイル導体層212の磁性層との対向する面積を小さくすることができる。これにより、焼成時、磁性層は、第2コイル導体層212の影響を一層受け難くなる。したがって、磁性層の残留応力を一層低減できて、L値やQ値の劣化を一層低減でき、製品ごとのL値やQ値のバラツキを一層小さくできる。また、第2コイル導体層212の最大幅W2を小さくすることで、第1コイル導体層211に第2コイル導体層212を安定して積層することができる。そして、これにより製造された積層インダクタにおいて、第2コイル導体層212の最大幅W2は、第1コイル導体層211の最大幅W1よりも小さくなる。
なお、コイル配線を3層以上のコイル導体層から構成してもよく、このとき、最下層(1層目)のコイル導体層の最大幅に対して、2層目以降の各コイル導体層の最大幅を小さくすればよい。少なくとも1つのコイル配線において、2層目以降のコイル導体層の最大幅は、最下層のコイル導体層の最大幅よりも小さくてもよい。
(第4実施形態)
図7は、本発明の積層インダクタの製造方法の第4実施形態を示す断面図である。第4実施形態は、第1実施形態とは、コイル配線の層数が相違する。この相違する構成を以下に説明する。なお、第4実施形態において、第1実施形態と同一の符号は、第1実施形態と同じ構成であるため、その説明を省略する。
図7に示すように、第4実施形態では、電気的に並列に接続された第1コイル配線21Cおよび第2コイル配線22Cにおいて、第1コイル配線21Cを構成するコイル導体層211,212の層数(2層である)は、第2コイル配線22Cを構成するコイル導体層211の層数(1層である)と異なる。これによれば、インピーダンスを容易に調整することができる。
なお、3つ以上のコイル配線を電気的に並列に接続してもよく、このとき、少なくとも1つのコイル配線を構成するコイル導体層の層数を、他のコイル配線を構成するコイル導体層の層数と異なるようにする。
なお、本発明は上述の実施形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で設計変更可能である。例えば、第1から第4実施形態のそれぞれの特徴点を様々に組み合わせてもよい。
(実施例)
図8Aは、焼成前の積層インダクタの画像図であり、図8Bは、焼成後の積層インダクタの画像図であり、走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)により撮影したものである。図8Aと図8Bに示す積層インダクタは、2層のコイル導体層から構成されたコイル配線を4層設け、そのコイル配線を2層ずつ並列に接続した構造であり、いわゆる、2層2重巻きの構造である。つまり、図8Aは、図4Jに対応する画像図であり、図8Bは、図3に対応する画像図である。図8Aと図8Bに示すように、焼失材が焼成されて、空洞部が形成されている。
同様に、図9Aは、焼成前の積層インダクタの画像図であり、図9Bは、焼成後の積層インダクタの画像図である。図9Aと図9Bに示す積層インダクタは、4層のコイル導体層から構成されたコイル配線を2層設け、2層のコイル配線を直列に接続した構造であり、いわゆる、4層1重巻きの構造である。図9Aと図9Bに示すように、焼失材が焼成されて、空洞部が形成されている。
1 積層インダクタ
10 素体
11 磁性層
20 コイル
21,21A〜21C 第1コイル配線
22,22C 第2コイル配線
23 第3コイル配線
24 第4コイル配線
25 接続部
31 第1外部電極
32 第2外部電極
40 空洞部
51 第1焼失材
52 第2焼失材
53 第3焼失材
54 第4焼失材
55 焼失材
111 第1磁性層
112 第2磁性層
113 第3磁性層
114 第4磁性層
211 第1コイル導体層
211a 上面
211b 下面
211c 側面
212 第2コイル導体層
212a 上面
212b 下面
212c 側面
P1 第1並列群
P2 第2並列群
W1 第1コイル導体層の最大幅
W2 第2コイル導体層の最大幅

Claims (11)

  1. 第1磁性層に第1コイル導体層を積層する第1工程と、
    前記第1コイル導体層の幅方向の側面に第1焼失材を積層する第2工程と、
    前記第1コイル導体層に接触しないように前記第1焼失材と前記第1磁性層に第2磁性層を積層する第3工程と、
    前記第1コイル導体層の上面の幅方向外側の前記第2磁性層に第2焼失材を積層する第4工程と、
    前記第2磁性層に接触しないように前記第1コイル導体層の上面と前記第2焼失材に第2コイル導体層を積層する第5工程と、
    前記第2コイル導体層の幅方向の側面および上面に第3焼失材を積層する第6工程と、
    前記第2コイル導体層に接触しないように前記第3焼失材の幅方向の側面と前記第2磁性層に第3磁性層を積層する第7工程と、
    前記第3焼失材と前記第3磁性層に第4磁性層を積層する第8工程と、
    前記第1、前記第2および前記第3焼失材を焼成により焼失する第9工程と
    を備える、積層インダクタの製造方法。
  2. 前記第1工程では、前記第1コイル導体層の下面の一部と前記第1磁性層との間に、焼失材を設ける、請求項1に記載の積層インダクタの製造方法。
  3. 前記第5工程では、前記第2コイル導体層の最大幅を前記第1コイル導体層の最大幅よりも小さくする、請求項1または2に記載の積層インダクタの製造方法。
  4. 前記第5工程の後に前記第2工程から前記第5工程を複数繰り返して、互いに積層される3層以上のコイル導体層から1つのコイル配線を形成すると共に、2つ以上のコイル配線を電気的に並列に接続する、請求項1から3の何れか一つに記載の積層インダクタの製造方法。
  5. 互いに積層される2層のコイル導体層から1つのコイル配線を形成すると共に、2つ以上のコイル配線を電気的に並列に接続する、請求項1から3の何れか一つに記載の積層インダクタの製造方法。
  6. 電気的に並列に接続された前記2つ以上のコイル配線において、少なくとも1つのコイル配線を構成するコイル導体層の層数は、他のコイル配線を構成するコイル導体層の層数と異なる、請求項4または5に記載の積層インダクタの製造方法。
  7. 前記第7工程と前記第8工程の間に、前記第3焼失材の上面に第4焼失材を積層する工程を有し、
    前記第8工程は、前記第4焼失材と前記第3磁性層に前記第4磁性層を積層し、
    前記第9工程は、前記第1、前記第2、前記第3および前記第4焼失材を焼成により焼失する、請求項1から6の何れか一つに記載の積層インダクタの製造方法。
  8. 磁性層を積層方向に積層して構成される素体と、
    前記素体内に設けられ、螺旋状に巻回されたコイルと
    を備え、
    前記コイルは、平面状に巻回された複数のコイル配線を前記積層方向に積層して構成され、前記コイル配線は、互いに面接触して前記積層方向に積層された複数のコイル導体層を有し、
    前記複数のコイル配線のうちの少なくとも1つのコイル配線の前記積層方向に沿った断面において、複数のコイル導体層の幅方向の側面と、最上層のコイル導体層の上面と、2層目以降の少なくとも1つのコイル導体層の下面とは、前記磁性層との間に、空洞部を有する、積層インダクタ。
  9. 前記少なくとも1つのコイル配線において、2層目以降のコイル導体層の最大幅は、最下層のコイル導体層の最大幅よりも小さい、請求項8に記載の積層インダクタ。
  10. 2つ以上のコイル配線を電気的に並列に接続する、請求項8または9に記載の積層インダクタ。
  11. 電気的に並列に接続された前記2つ以上のコイル配線において、少なくとも1つのコイル配線を構成するコイル導体層の層数は、他のコイル配線を構成するコイル導体層の層数と異なる、請求項10に記載の積層インダクタ。
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