JP6490202B2 - 半導体ウェハ洗浄装置及び半導体ウェハ洗浄方法 - Google Patents
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Description
Claims (11)
- 半導体ウェハ洗浄装置であって、
ウェハの表面に対して機械的な外力を加えるためのブラシヘッドを有するブラシモジュールと、
一端に、前記ブラシモジュールが取付けられる旋回アームと、
前記旋回アームの他端に接続され、前記ウェハの表面全体に亘って前記旋回アームを旋回駆動することにより、前記ブラシヘッドを前記ウェハの表面全体に亘って移動させる、回転アクチュエータと、
前記旋回アームの他端に接続され、前記旋回アームを昇降駆動することにより、前記ブラシモジュールを昇降させる昇降アクチュエータと、を備え、
前記ブラシモジュールは、垂直に配置されるとともに、ブラシベース部と、軸受と、可撓性部品と、少なくとも1つの緩衝器と、コイルバネと、取付部と、ブラシ外殻と、を有し、
前記ブラシヘッドは前記ブラシベース部に取付けられ、
前記軸受の一端は前記ブラシベース部に接続され、他端は前記ブラシ外殻内へと貫通して、前記可撓性部品の一面に接続され、
前記可撓性部品の他面は、前記緩衝器に接続され、
前記緩衝器は、前記ブラシ外殻に取付けられ、
前記コイルバネの一端は、前記可撓性部品の他面に固定され、他端は取付部に固定され、
前記取付部は、前記ブラシ外殻の天板であって、前記可撓性部品の反対側に配置され、
前記ブラシモジュールは、前記コイルバネが弾性変形することにより、前記ブラシヘッドによる、前記ウェハの表面に作用する押圧力が生成され、
前記コイルバネの前記弾性変形は、前記ブラシモジュールの処理位置の高さにより決定されることを特徴とする半導体ウェハ洗浄装置。 - 請求項1に記載の半導体ウェハ洗浄装置において、
前記旋回アームは、前記回転アクチュエータ及び/又は前記昇降アクチュエータによる駆動により、旋回、昇降、又は旋回と同時に昇降することを特徴とする半導体ウェハ洗浄装置。 - 請求項1に記載の半導体ウェハ洗浄装置において、
前記昇降アクチュエータには、前記旋回アームが垂直に下降する距離を制限するための制止器が設けられ、
前記制止器は、前記ブラシヘッドが前記ウェハの表面に加える押圧力を、許容範囲内に制限することを特徴とする半導体ウェハ洗浄装置。 - 請求項1に記載の半導体ウェハ洗浄装置において、
前記旋回アーム上に位置し、前記ブラシヘッドが前記ウェハの表面を押圧している間、前記コイルバネの変形を計測するひずみ計測器を更に備えることを特徴とする半導体ウェハ洗浄装置。 - 請求項4に記載の半導体ウェハ洗浄装置において、
前記ひずみ計測器と前記昇降アクチュエータとに接続された制御部を更に備え、
前記ウェハの表面に作用する、前記ブラシモジュールの押圧力は、前記ひずみ計測器によって検出され、
前記ひずみ計測器は、検出信号を生成し、生成した前記検出信号を前記制御部へと送信し、
前記制御部は送信された前記検出信号を受信し、前記昇降アクチュエータへとフィードバックを行い、
前記昇降アクチュエータは、前記制御部からのフィードバックに基づき、前記旋回アームの処理位置の高さを調節することを特徴とする半導体ウェハ洗浄装置。 - 請求項1に記載の半導体ウェハ洗浄装置において、
前記ブラシヘッドを洗浄するための、ブラシ洗浄口を更に備えることを特徴とする半導体ウェハ洗浄装置。 - 請求項6に記載の半導体ウェハ洗浄装置において、
前記ブラシ洗浄口は、力センサと、信号ケーブルとを有し、
前記力センサは前記ブラシ洗浄口の底に設置され、
さらに、前記力センサは、前記ブラシモジュールが通常の状態か否かを確認するために、制御部に、前記信号ケーブルにより接続されることを特徴とする半導体ウェハ洗浄装置。 - 請求項7に記載の半導体ウェハ洗浄装置において、
前記ブラシ洗浄口は、前記力センサを覆うことにより、前記力センサが前記ブラシ洗浄口内の洗浄液と接触しないようにするカバーを有することを特徴とする半導体ウェハ洗浄装置。 - 請求項6に記載の半導体ウェハ洗浄装置において、
前記ブラシモジュールの状態を確認するために、前記ブラシ洗浄口を挟んで対向して設置される、一対のブラシ位置センサを更に備え、
前記ブラシ位置センサは、前記ブラシヘッドが前記ブラシ洗浄口内へと下降したときに始動し、前記ブラシ位置センサが始動した時点での、前記ブラシヘッドの垂直方向の移動距離は記録されかつ逐次比較され、前記垂直方向の移動距離が所定の範囲を超えた場合、前記ブラシモジュールが異常であることを示す信号が送信されることを特徴とする半導体ウェハ洗浄装置。 - 請求項1に記載の半導体ウェハ洗浄装置において、
洗浄チャンバを更に備え、
前記洗浄チャンバは、前記ウェハを保持しかつ位置決めするために、前記洗浄チャンバ内に配置されるウェハチャックと、前記ウェハチャックを回転駆動する回転駆動機構と、前記ウェハの表面上に、洗浄用化学薬品又は脱イオン水を吐出するための少なくとも1個のノズルとを含むことを特徴とする半導体ウェハ洗浄装置。 - 半導体ウェハ洗浄装置であって、
ウェハの表面に対して機械的な外力を加えるためのブラシヘッドを有するブラシモジュールと、
一端に、前記ブラシモジュールが取付けられる旋回アームと、
前記旋回アームの他端に接続され、前記ウェハの表面全体に亘って前記旋回アームを旋回駆動することにより、前記ブラシヘッドを前記ウェハの表面全体に亘って移動させる、回転アクチュエータと、
前記旋回アームの他端に接続され、前記旋回アームを昇降駆動することにより、前記ブラシモジュールを昇降させる昇降アクチュエータと、を備え、
前記ブラシモジュールは、垂直に配置されるとともに、ブラシベース部と、下部軸受と、下部取付部と、上部取付部と、上部軸受と、緩衝器と、コイルバネと、を有し、
前記ブラシヘッドは前記ブラシベース部に取付けられ、
前記下部軸受の一端は前記ブラシベース部に接続され、他端は前記下部取付部に接続され、
前記コイルバネの一端は前記下部取付部に固定され、他端は前記上部取付部に固定され、
前記上部取付部は、前記下部取付部の反対側に配置され、該上部軸受の一端は前記上部取付部に接続され、他端は前記緩衝器に接続され、
前記ブラシモジュールは、前記コイルバネが弾性変形することにより、前記ブラシヘッドによる、前記ウェハの表面に作用する押圧力が生成され、
前記コイルバネの前記弾性変形は、前記ブラシモジュールの処理位置の高さにより決定され、
前記緩衝器は、流体シリンダで構成され、
前記上部取付部は、前記緩衝器のピストンに接続されていることを特徴とする半導体ウェハ洗浄装置。
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