JP6387911B2 - 電子装置 - Google Patents

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Description

本発明は、出力部と温度センサとを備えた電子装置に関する。
従来、出力部と温度センサとを備えた電子装置の一例として、特許文献1に開示されたインバータ装置がある。インバータ装置は、モータの各相(U相、V相、W相)の夫々に対応するU相部、V相部、及びW相部を備えている。また、各相部は、上アームのスイッチング素子と下アームのスイッチング素子とを備えている。そして、インバータ装置は、上アーム及び下アームのいずれか一方の実装領域に重なる領域に温度検出回路(温度センサ)が配置されている。
特開2012−65431号公報
しかしながら、上記インバータ装置は、各相部の上アーム及び下アームのいずれか一方に対して温度センサが配置されている。従って、インバータ装置は、相部の数だけ温度センサを設ける必要があり、部品コストがかかってしまうという問題がある。
本発明は、上記問題点に鑑みなされたものであり、温度センサの個数を減らしつつ、過熱している相部を特定できる電子装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために本発明は、
出力部(20〜25)と、
出力部の温度に応じた検出信号を出力する温度センサ(31〜33)と、を有する電子装置であって、
出力部は、直列に接続されオンオフ動作を行う上下二つのスイッチング素子(201〜208、201a〜206a)を含む三つ以上の相部(20a〜20d)を有し、
温度センサは、相部の数よりも一つ少なく、相部間に一つずつ配置されており、
さらに、全ての検出信号に基づいて全ての相部のうち過熱している相部を特定する制御部(40)と、を備えていることを特徴とする。
このように、本発明は、各相部に一つずつ温度センサが設けられている場合、及び各スイッチング素子に一つずつ温度センサが設けられている場合よりも、温度センサの個数を減らすことができる。さらに、本発明は、全ての検出信号に基づいて全ての相部のうち過熱している相部を特定するため、温度センサの個数を減らしつつ、過熱している相部を特定できると言える。
なお、特許請求の範囲、及びこの項に記載した括弧内の符号は、ひとつの態様として後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものであって、発明の技術的範囲を限定するものではない。
実施形態における電子装置の概略構成を示す平面図である。 実施形態における電子装置の概略構成を示す回路図である。 実施形態におけるU相が過熱した場合における各温度センサの検出結果と制御部の処理動作を示すタイムチャートである。 実施形態におけるV相が過熱した場合における各温度センサの検出結果と制御部の処理動作を示すタイムチャートである。 実施形態におけるW相が過熱した場合における各温度センサの検出結果と制御部の処理動作を示すタイムチャートである。 実施形態における3相全てが過熱した場合における各温度センサの検出結果と制御部の処理動作を示すタイムチャートである。 変形例1における電子装置の概略構成を示す平面図である。 変形例1における過熱相を判定するためのマップである。 変形例2における電子装置の概略構成を示す平面図である。 変形例3における電子装置の概略構成を示す平面図である。 図10のXI‐XI線に沿う断面図である。 変形例4における電子装置の概略構成を示す断面図である。 変形例5における電子装置の概略構成を示す平面図である。 変形例6における電子装置の概略構成を示す平面図である。 変形例7における電子装置の概略構成を示す平面図である。 変形例8におけるスイッチング素子の概略構成を示す平面図である。 変形例8における電子装置の概略構成を示す平面図である。 変形例9における電子装置の概略構成を示す平面図である。
以下において、図面を参照しながら、発明を実施するための複数の形態を説明する。各形態において、先行する形態で説明した事項に対応する部分には同一の参照符号を付して重複する説明を省略する場合がある。各形態において、構成の一部のみを説明している場合は、構成の他の部分については先行して説明した他の形態を参照し適用することができる。
本実施形態では、本発明を電子装置100に適用した例を採用する。この電子装置100に関して、図1〜図6を用いて説明する。電子装置100は、3相インバータが形成されている。例えば、電子装置100は、車両に搭載されて、走行用モータや各種コントローラ(補機)用モータ等に通電可能に構成されている。
電子装置100は、図1、図2に示すように、実装基板10に、出力部20と第1温度センサ31と第2温度センサ32とが形成されている。さらに、電子装置100は、図2に示すように、制御部40を備えて構成されている。
実装基板10は、樹脂やセラミックスなどの絶縁基材に、導体を主成分とした配線が形成された回路基板である。実装基板10は、配線の一部として、自身に実装された回路素子と電気的及び機械的に接続されたランドを備えている。
出力部20は、U相部20aと、V相部20bと、W相部20cとを備えて構成されている。U相部20aと、V相部20bと、W相部20cとは、図2に示すように、並列に接続されている。以下においては、U相部20aと、V相部20bと、W相部20cを纏めて三つの相と称することもある。また、U相部20aと、V相部20bと、W相部20cの夫々は、単に相と称することもある。
U相部20aは、モータのU相への出力を行う部位である。U相部20aは、実装基板10に実装された回路素子として、第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202とを含む。第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202とは、図2に示すように、電源とGNDとの間で、直列接続されている。このように、U相部20aは、上アーム及び下アームのスイッチング素子として、第2スイッチング素子202と第1スイッチング素子201とを含んでいる。
第1スイッチング素子201は、一例として、IGBTとFWDとが一体的に構成されたディスクリート部品を採用している。第2スイッチング素子202〜第6スイッチング素子206の夫々は、第1スイッチング素子201と同様に構成されているため詳細な説明は省略する。なお、IGBTは、Insulated Gate Bipolar Transistorの略称である。また、FWDは、Free Wheeling Diodeの略称である。
V相部20bは、モータのV相への出力を行う部位である。V相部20bは、上アーム及び下アームのスイッチング素子として、第4スイッチング素子204と第3スイッチング素子203とを含んでいる。V相部20bは、U相部20aと同様に構成されているため詳細な説明は省略する。
W相部20cは、モータのW相への出力を行う部位である。W相部20cは、上アーム及び下アームのスイッチング素子として、第6スイッチング素子206と第5スイッチング素子205とを含んでいる。W相部20cは、U相部20aと同様に構成されているため詳細な説明は省略する。
なお、第1スイッチング素子201、第3スイッチング素子203、第5スイッチング素子205は、ローサイド側のスイッチング素子とも言える。一方、第2スイッチング素子202、第4スイッチング素子204、第6スイッチング素子206は、ハイサイド側のスイッチング素子とも言える。
このように、電子装置100は、六つのスイッチング素子201〜206を備えて構成されている。また、電子装置100は、3相分の直列回路を備えた3相出力の回路と言うことができる。なお、第1スイッチング素子201〜第6スイッチング素子206の夫々は、実装基板10の同一面に実装されている。また、電子装置100は、第1スイッチング素子201〜第6スイッチング素子206、及び、実装基板10における第1スイッチング素子201〜第6スイッチング素子206が実装されている面を覆う封止樹脂が設けられていてもよい。この封止樹脂は、金型を用いてコンプレッション法やトランスファー法によって形成されたモールド樹脂を採用できる。
ここで、各スイッチング素子201〜206の実装基板10における配置例に関して説明する。以下に説明する配置例は、一例である。よって、本発明は、これに限定されない。
第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202は、図1に示すように、平面形状が矩形形状をなしており、四つの側面を有している。第1スイッチング素子201は、自身の一つの側面が、第2スイッチング素子202の一つの側面と対向して配置されている。また、第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202の夫々は、平行な二つの仮想直線上に、二つの側面が配置されている。このように、第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202は、一つの仮想直線に沿って配置されていると言える。
なお、第3スイッチング素子203と第4スイッチング素子204は、第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202と同様の形状及び位置関係を有している。さらに、第5スイッチング素子205と第6スイッチング素子206は、第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202と同様の形状及び位置関係を有している。
各相部20a〜20cは、互いに平行に配置されている。第1スイッチング素子201は、自身の一つの側面が、第3スイッチング素子203の一つの側面と対向して配置されている。また、第3スイッチング素子203は、自身の一つの側面が、第5スイッチング素子205の一つの側面と対向して配置されている。同様に、第2スイッチング素子202は、自身の一つの側面が、第4スイッチング素子204の一つの側面と対向して配置されている。また、第4スイッチング素子204は、自身の一つの側面が、第6スイッチング素子206の一つの側面と対向して配置されている。そして、第1スイッチング素子201と第3スイッチング素子203と第5スイッチング素子205の夫々は、平行な二つの仮想直線上に、二つの側面が配置されている。同様に、第2スイッチング素子202と第4スイッチング素子204と第6スイッチング素子206の夫々は、平行な二つの仮想直線上に、二つの側面が配置されている。このように、電子装置100は、第1スイッチング素子201〜第6スイッチング素子206が2×3で配置されている。
第1温度センサ31と第2温度センサ32は、各相部20a〜20cの温度を検出するためのセンサである。つまり、第1温度センサ31と第2温度センサ32は、各スイッチング素子201〜206がオンオフを繰り返すことで発する温度に応じた検出信号を検出結果として出力する。また、第1温度センサ31と第2温度センサ32は、検出信号を制御部40に出力する。
電子装置100は、各相部20a〜20cの温度を検出するための温度センサとして、U相部20aとV相部20bとW相部20cの3相よりも少ない二つの温度センサ31,32のみを備えている。このように、電子装置100は、出力部20の相数n=3、温度センサの数m=n−1である例を採用している。つまり、電子装置100は、n(3以上の自然数)個の相部における隣り合う相部間に、n−1個の温度センサが配置されている。
第1温度センサ31と第2温度センサ32は、実装基板10における第1スイッチング素子201〜第6スイッチング素子206が実装された面に実装されている。また、第1温度センサ31は、U相部20aとV相部20bとに挟まれた位置に配置されている。一方、第2温度センサ32は、V相部20bとW相部20cとに挟まれた位置に配置されている。このように、第1温度センサ31と第2温度センサ32は、異なる位置に配置されているために、互いに異なる値を示す検出信号を出力することがある。
詳述すると、第1温度センサ31は、第1スイッチング素子201〜第4スイッチング素子204の夫々との間隔が等しい位置に配置されている。また、第1温度センサ31は、第1スイッチング素子201〜第4スイッチング素子204で囲まれた領域の中心に配置されていると言える。この領域は、第1スイッチング素子201と第4スイッチング素子204とにおける最も近い角部と、第2スイッチング素子202と第3スイッチング素子203とにおける最も近い角部とによって囲まれた範囲である。つまり、第1温度センサ31は、これらの角度の夫々との距離が等しい位置に配置されていると言える。このように、第1温度センサ31は、自身と隣り合う二つの相部20a,20bにおける全てのスイッチング素子201〜204と等間隔となる位置に配置されている。
一方、第2温度センサ32は、第3スイッチング素子203〜第6スイッチング素子206の夫々との間隔が等しい位置に配置されている。また、第2温度センサ32は、第3スイッチング素子203〜第6スイッチング素子206で囲まれた領域の中心に配置されていると言える。この領域は、第3スイッチング素子203と第6スイッチング素子206とにおける最も近い角部と、第4スイッチング素子204と第5スイッチング素子205とにおける最も近い角部とによって囲まれた範囲である。つまり、第2温度センサ32は、これらの角度の夫々との距離が等しい位置に配置されていると言える。このように、第2温度センサ32は、自身と隣り合う二つの相部20b,20cにおける全てのスイッチング素子203〜206と等間隔となる位置に配置されている。
制御部40は、例えば、マイクロコンピュータなどによって構成されている。制御部40は、各スイッチング素子202〜206を制御する部位であり、モータを動作させるために各スイッチング素子202〜206のオンとオフを切り替える。つまり、制御部40は、各スイッチング素子202〜206をスイッチング動作させることで、モータを駆動させる。スイッチング動作は、オンオフ動作と言い換えることができる。
また、制御部40は、第1温度センサ31と第2温度センサ32の夫々が出力した検出信号に基づいて、U相部20aとV相部20bとW相部20cで過熱している相部を特定する。つまり、制御部40は、各スイッチング素子202〜206をスイッチング動作させている際に、第1温度センサ31と第2温度センサ32の夫々が出力した検出信号に基づいて過熱している相部を特定する。なお、制御部40は、U相部20aとV相部20bとW相部20cで過熱している相を判定するとも言える。
制御部40は、過熱を検出した場合、全てのスイッチング素子201〜206のスイッチング動作を停止させる。
制御部40は、取得した各検出信号と、予め記憶された第1閾値Vth1及び第2閾値Vth2とを比較して過熱している相を判定する。なお、第1閾値Vth1は、各スイッチング素子202〜206が過熱していない場合、検出信号が超えることがない値である。また、第2閾値Vth2は、第1閾値Vth1よりも高い値であり、温度センサ31を挟むU相部20aとV相部20bの両方、温度センサ32を挟むV相部20bとW相部20cの両方が過熱しない限り、検出信号が超えることがない値である。
ここで、図3〜図6を用いて制御部40の処理動作に関して説明する。制御部40は、モータを動作させる場合、各スイッチング素子202〜206のスイッチング動作を停止させている状態からスイッチング動作させる。各スイッチング素子202〜206は、スイッチング動作中に、故障などによって過熱することがありうる。つまり、各スイッチング素子202〜206は、許容範囲を超えた熱を発することがありうる。第1温度センサ31と第2温度センサ32は、この過熱に応じた検出信号を制御部40に出力することができる。制御部40は、第1閾値Vth1を超えた時点で、過熱を検出しているため、全てのスイッチング素子201〜206のスイッチング動作を停止させる。その後、制御部40は、温度センサ31を挟むU相部20aとV相部20bの両方が加熱していた場合には、過熱が温度センサ31に伝わり、第2閾値Vth2を超えるように検出遅延時間を設定する。また、制御部40は、同様に温度センサ32を挟むV相部20bとW相部20cの両方が加熱していた場合には、過熱が温度センサ32に伝わり、第2閾値Vth2を超えるように検出遅延時間を設定する。
なお、電子装置100は、三つの相のうち二つの相のみが同時に故障することは考えにくい。よって、本実施形態では、三つの相のうち一つの相のみが過熱した場合と、三つの相全てが過熱した場合を考える。
第1温度センサ31は、U相部20aとV相部20bとに挟まれた位置に配置されているため、W相部20cの発熱状態よりも、U相部20aにおける発熱状態と、V相部20bにおける発熱状態の影響を受けやすい。このため、第1温度センサ31は、W相部20cの発熱状態よりもU相部20aとV相部20bの発熱状態に応じた検出信号を出力しやすい。
一方、第2温度センサ32は、V相部20bとW相部20cとに挟まれた位置に配置されているため、U相部20aの発熱状態よりも、V相部20bにおける発熱状態と、W相部20cにおける発熱状態の影響を受けやすい。このため、第2温度センサ32は、U相部20aの発熱状態よりも、V相部20bとW相部20cの発熱状態に応じた検出信号を出力しやすい。
従って、図3に示すように、第1温度センサ31の検出信号が第1閾値Vth1を超えて、第2温度センサ32の検出信号が第1閾値Vth1を超えていない場合、制御部40は、U相部20aが過熱しているとみなす。つまり、制御部40は、第1スイッチング素子201及び第2スイッチング素子202の少なくとも一方が加熱していると判定する。そして、制御部40は、全てのスイッチング素子201〜206のスイッチング動作を停止させる。
また、図4に示すように、第1温度センサ31と第2温度センサ32の検出信号がともに第1閾値Vth1を超え、且つ第2閾値Vth2を超えていない場合、制御部40は、V相部20bが過熱しているとみなす。つまり、制御部40は、第3スイッチング素子203及び第4スイッチング素子204の少なくとも一方が加熱していると判定する。そして、制御部40は、全てのスイッチング素子201〜206のスイッチング動作を停止させる。
また、図5に示すように、第2温度センサ32の検出信号が第1閾値Vth1を超えて、第1温度センサ31の検出信号が第1閾値Vth1を超えていない場合、制御部40は、W相部20cが過熱しているとみなす。つまり、制御部40は、第5スイッチング素子205及び第6スイッチング素子206の少なくとも一方が加熱していると判定する。そして、制御部40は、全てのスイッチング素子201〜206のスイッチング動作を停止させる。
さらに、図6に示すように、第1温度センサ31と第2温度センサ32の検出信号がともに第2閾値Vth2を超えていた場合、制御部40は、U相部20a、V相部20b、W相部20cの全てが過熱しているとみなす。つまり、制御部40は、第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202の少なくとも一方と、第3スイッチング素子203と第4スイッチング素子204の少なくとも一方と、第5スイッチング素子205と第6スイッチング素子206の少なくとも一方とが加熱していると判定する。そして、制御部40は、全てのスイッチング素子201〜206のスイッチング動作を停止させる。
なお、制御部40は、過熱している相を特定すると、特定した相を示す情報を記憶部に記憶してもよい。このようにすることで、電子装置100は、開発時にインバータ制御のデバッグが容易化が期待できる。また、製品時にはダイアグ機能による故障個所の特定ができるため、電子装置100は、メンテナンスの容易化が期待できる。
以上のように、電子装置100は、U相部20aとV相部20bとW相部20cの3相に対して設けられている温度センサが第1温度センサ31と第2温度センサ32の二つでありながら、各相の温度を検出できる。つまり、電子装置100は、相数よりも少ない温度センサによって、過熱している相部を特定できる。言い換えると、電子装置100は、全ての検出信号に基づいて全ての相部20a〜20cのうち過熱している相部を特定するため、温度センサの個数を減らしつつ、過熱している相部を特定できると言える。
よって、電子装置100は、各相、又は各スイッチング素子201〜206に対して、一つの温度センサを設ける場合よりも、温度センサの数を減らすことができ、その分コストを低減できる。さらに、電子装置100、温度センサのコストを低減しつつ、過熱しているスイッチング素子201〜206を継続的に使い続けることを抑制できる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明した。しかしながら、本発明は、上記実施形態に何ら制限されることはなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、種々の変形が可能である。以下に、本発明の変形例1〜8に関して説明する。上記実施形態及び変形例1〜8は、夫々単独で実施することも可能であるが、適宜組み合わせて実施することも可能である。本発明は、実施形態において示された組み合わせに限定されることなく、種々の組み合わせによって実施可能である。
(変形例1)
電子装置110は、図7に示すように、出力部21の構成と、第3温度センサ33を備えている点が電子装置100と異なる。なお、本変形例では、符号20aを第1相部、符号20bを第2相部、符号20cを第3相部と称する。第1相部20a〜第3相部20cと第1温度センサ31と第2温度センサ32は、上記実施形態と同様である。
出力部21は、第1相部20a〜第3相部20cに加えて、第4相部20dを含んでいる。つまり、出力部21は、出力部20と異なり4相構成である。第4相部20dは、第1相部20a〜第3相部20cと並列に接続されている。また、第4相部20dは、上アーム及び下アームのスイッチング素子として、第8スイッチング素子208と第7スイッチング素子207とを含んでいる。第4相部20dは、第1相部20aと同様に構成されている。つまり、第7スイッチング素子207と第8スイッチング素子208は、図7に示すように、第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202と同様の形状及び位置関係を有している。さらに、第4相部20dは、第1相部20a〜第3相部20cと互いに平行に配置されている。
第3温度センサ33は、第1温度センサ31と第2温度センサ32と同様に、温度に応じた検出信号を検出結果として制御部40に出力する。第3温度センサ33は、実装基板10における第1温度センサ31と第2温度センサ32が実装された面に実装されている。
電子装置110は、第1相部20a〜第4相部20dの四相よりも少ない三つの温度センサ31〜33のみを備えている。このように、電子装置100は、出力部20の相数n=4、温度センサの数m=n−1である例を採用している。
第3温度センサ33は、第5スイッチング素子205〜第8スイッチング素子208の夫々との間隔が等しい位置に配置されている。また、第3温度センサ33は、第5スイッチング素子205〜第8スイッチング素子208で囲まれた領域の中心に配置されていると言える。この領域は、第5スイッチング素子205と第8スイッチング素子208とにおける最も近い角部と、第6スイッチング素子206と第7スイッチング素子207とにおける最も近い角部とによって囲まれた範囲である。つまり、第3温度センサ33は、これらの角度の夫々との距離が等しい位置に配置されていると言える。
制御部40は、各スイッチング素子202〜208をスイッチング動作させる。制御部40は、図8に示すように、温度センサ31〜33の夫々が出力した検出信号に基づいて、第1相部20a〜第4相部20dで過熱している相を判定する。
なお、電子装置110は、四つの相のうち二つの相のみ、三つの相のみが同時に故障することは考えにくい。よって、本実施形態では、四つの相のうち一つの相のみが過熱した場合と、四つの相全てが過熱した場合を考える。
第3温度センサ33は、第3相部20cと第4相部20dとに挟まれた位置に配置されているため、第1相部20aや第2相部20bの発熱状態よりも、第3相部20cと第4相部20dにおける発熱状態の影響を受けやすい。このため、第3温度センサ33は、第1相部20aや第2相部20bの発熱状態よりも第3相部20cと第4相部20dの発熱状態に応じた検出信号を出力しやすい。なお、第1温度センサ31及び第2温度センサ32は、上記実施形態と同様の相の発熱状態に応じた検出信号を出力しやすい。
従って、図8に示すように、第1温度センサ31の検出信号が第1閾値Vth1以上で、第2温度センサ32と第3温度センサ33の検出信号が第1閾値Vth1以下の場合、制御部40は、第1相部20aが過熱しているとみなす。つまり、制御部40は、第1スイッチング素子201及び第2スイッチング素子202の少なくとも一方が加熱していると判定する。そして、制御部40は、全てのスイッチング素子201〜208のスイッチング動作を停止させる。
また、第1温度センサ31と第2温度センサ32の検出信号が第1閾値Vth1以上で、第3温度センサ33の検出信号が第1閾値Vth1以下の場合、制御部40は、第2相部20bが過熱しているとみなす。つまり、制御部40は、第3スイッチング素子203及び第4スイッチング素子204の少なくとも一方が加熱していると判定する。そして、制御部40は、全てのスイッチング素子201〜208のスイッチング動作を停止させる。
また、第2温度センサ32と第3温度センサ33の検出信号が第1閾値Vth1以上で、第1温度センサ31の検出信号が第1閾値Vth1以下の場合、制御部40は、第3相部20cが過熱しているとみなす。つまり、制御部40は、第5スイッチング素子205及び第6スイッチング素子206の少なくとも一方が加熱していると判定する。そして、制御部40は、全てのスイッチング素子201〜208のスイッチング動作を停止させる。
また、第2温度センサ32と第3温度センサ33の検出信号が第1閾値Vth1以下で、第1温度センサ31の検出信号が第1閾値Vth1以上の場合、制御部40は、第4相部20dが過熱しているとみなす。つまり、制御部40は、第7スイッチング素子207及び第8スイッチング素子208の少なくとも一方が加熱していると判定する。そして、制御部40は、全てのスイッチング素子201〜208のスイッチング動作を停止させる。
さらに、第1温度センサ31〜第3温度センサ33の検出信号が全て第2閾値Vth2以上の場合、制御部40は、第1相部20a〜第4相部20dの全てが過熱しているとみなす。つまり、制御部40は、第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202の少なくとも一方と、第3スイッチング素子203と第4スイッチング素子204の少なくとも一方と、第5スイッチング素子205と第6スイッチング素子206の少なくとも一方とが加熱していると判定する。また、制御部40は、これらに加えて、第7スイッチング素子207と第8スイッチング素子208の少なくとも一方とが加熱していると判定する。そして、制御部40は、第1スイッチング素子201〜第8スイッチング素子208のスイッチング動作を停止させる。
以上のように、電子装置110は、電子装置100と同様の効果を奏することができる。なお、電子装置110は、5相(n=5)以上で、n−1個の温度センサを備えていても同様の効果を奏することができる。
(変形例2)
電子装置120は、図9に示すように、第1温度センサ31と第2温度センサ32の位置が電子装置100と異なる。なお、電子装置120は、ローサイド側のスイッチング素子201,203,205の方が、ハイサイド側のスイッチング素子202,204,206よりも温度上昇が大きい。
第1温度センサ31は、第1スイッチング素子201と第3スイッチング素子203との間に配置されている。第1温度センサ31は、第1スイッチング素子201と第3スイッチング素子203の夫々との間隔が等しい位置に配置されている。つまり、第1温度センサ31は、第1スイッチング素子201と第3スイッチング素子203との対向領域の中心に設けられている。第1温度センサ31は、自身と隣り合う二つの相部20a,20bの夫々における一つのスイッチング素子201,203と等間隔となる位置に配置されている。
第2温度センサ32は、第3スイッチング素子203と第5スイッチング素子205との間に配置されている。第2温度センサ32は、第3スイッチング素子203と第5スイッチング素子205の夫々との間隔が等しい位置に配置されている。つまり、第2温度センサ32は、第3スイッチング素子203と第5スイッチング素子205との対向領域の中心に設けられている。第2温度センサ32は、自身と隣り合う二つの相部20b,20cの夫々における一つのスイッチング素子203,205と等間隔となる位置に配置されている。
電子装置120は、電子装置100と同様の効果を奏することができる。さらに、電子装置120は、温度上昇が大きいローサイド側に第1温度センサ31と第2温度センサ32とを配置しているため、第1温度センサ31と第2温度センサ32による温度検出の感度を上げることができる。
なお、電子装置120は、ハイサイド側のスイッチング素子202,204,206の方が、ローサイド側のスイッチング素子201,203,205よりも温度上昇が大きい場合、ハイサイド側に第1温度センサ31と第2温度センサ32を配置すると好ましい。この場合、第1温度センサ31は、第2スイッチング素子202と第4スイッチング素子204の夫々との間隔が等しい位置に配置する。一方、第2温度センサ32は、第4スイッチング素子204と第6スイッチング素子206の夫々との間隔が等しい位置に配置する。
また、電子装置120は、変形例1と同様に、第4相部20dを備えていてもよい。この場合、電子装置120は、第5スイッチング素子205と第7スイッチング素子207との間に、第3温度センサ33が設けられることになる。なお、上記のように、電子装置120は、第6スイッチング素子206と第8スイッチング素子208との間に、第3温度センサ33が設けられてもよい。
(変形例3)
電子装置130は、図10、図11に示すように、各スイッチング素子201〜206と、各温度センサ31,32とが実装基板10の異なる面に実装されている点が電子装置100と異なる。つまり、電子装置130は、図11に示すように、実装基板10の一面に各スイッチング素子201〜206が実装されており、実装基板10の一面の反対面に各温度センサ31,32が実装されている。
電子装置130は、電子装置100と同様の効果を奏することができる。なお、変形例3は、変形例1や変形例2に適用することも可能である。
(変形例4)
電子装置140は、図12に示すように、実装基板10bにサーマルビア11が形成された実装基板10aを採用している点が電子装置130と異なる。例えば、実装基板10aは、各スイッチング素子201〜206に対向する領域や、各スイッチング素子201〜206の周辺に対向する領域にサーマルビア11が設けられている。サーマルビア11は、実装基板10の一面から反対面に達する導電性部材である。また、サーマルビア11は、各スイッチング素子201〜206や各温度センサ31,32と電気的に接続されていない。
電子装置140は、電子装置130と同様の効果を奏することができる。さらに、電子装置140は、電子装置130よりも各スイッチング素子201〜206から発せられた熱を各温度センサ31,32に伝達しやすくなる。例えば、電子装置140は、第1スイッチング素子201及び第2スイッチング素子202から発せられた熱を第1温度センサ31に伝達しやすくなる。このため、電子装置140は、電子装置130よりも温度検出の感度を向上できる。さらに、電子装置140は、ノイズ電圧が発生しやすいスイッチング配線や大電流配線と、各温度センサ31,32から制御部40に対して検出信号を伝える温度検出電圧用の配線とを面で分離できるため誤検出を抑制できる。なお、変形例4は、変形例1や変形例2に適用することも可能である。
(変形例5)
電子装置150は、図13に示すように、出力部22を備えて構成されている点が電子装置120と異なる。
出力部22は、各相部20a〜20cの位置が出力部20と異なる。なお、出力部22における各相部20a〜20bは、出力部20と同様であるため同じ符号を用いている。
出力部22は、U相部20aとV相部20bとの間隔と、V相部20bとW相部20cとの間隔とが異なる。つまり、出力部22は、第1温度センサ31と第1スイッチング素子201との間隔が第1温度センサ31と第3スイッチング素子203との間隔と同じである。また、出力部22は、第2温度センサ32と第3スイッチング素子203との間隔が第2温度センサ32と第5スイッチング素子205との間隔と同じである。しかしながら、出力部22は、第1温度センサ31と第1スイッチング素子201との間隔と、第2温度センサ32と第3スイッチング素子203との間隔が異なる。
さらに、出力部22は、第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202との配列方向において、各相部20a〜20cがずれた位置に配置されている。つまり、出力部22は、例えば、第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202の対向している側面を通る二つの仮想直線に対して、第3スイッチング素子203と第4スイッチング素子204の対向している側面がずれて配置されている。同様に、出力部22は、V相部20bに対してもW相部20cがずれて配置されている。
電子装置150は、電子装置120と同様の効果を奏することができる。なお、変形例5は、実施形態、変形例1、3のいずれかに適用することも可能である。
(変形例6)
電子装置160は、図14に示すように、出力部23を備えている点が電子装置100と異なる。
出力部23は、各相部20a〜20cが平行に配置されていない。出力部23は、U相部20aに対して、U相部20aとW相部20cとが傾斜して配置されている。なお、出力部23における各相部20a〜20bは、出力部20と同様であるため同じ符号を用いている。
電子装置160は、電子装置100と同様の効果を奏することができる。なお、変形例6は、変形例1〜4のいずれかに適用することも可能である。
(変形例7)
電子装置170は、図15に示すように、出力部24を備えている点が電子装置100と異なる。
出力部24は、各相部20a〜20cにおける各スイッチング素子201〜206の位置が出力部20と異なる。U相部20aは、第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202が一つの仮想直線に沿って配置されていない。また、V相部20bは、第3スイッチング素子203と第4スイッチング素子204が一つの仮想直線に沿って配置されていない。そして、W相部20cは、第5スイッチング素子205と第6スイッチング素子206が一つの仮想直線に沿って配置されていない。なお、出力部24は、各スイッチング素子201〜206の配置が出力部20と異なるだけなので、便宜的に出力部20と同じ符号を用いている。
電子装置170は、電子装置100と同様の効果を奏することができる。なお、変形例7は、変形例1〜6のいずれかに適用することも可能である。
(変形例8)
電子装置180は、図16、図17に示すように、各スイッチング素子201a〜206aの構成が電子装置170と異なる。
各スイッチング素子201a〜206aは、同様の構成を有している。このため、ここでは、第1スイッチング素子201aを用いて説明する。第1スイッチング素子201aは、図16に示すように、IGBT201bとFWD201cが個別のディスクリート部品である。また、第1スイッチング素子201aは、第1スイッチング素子201と異なり、平面形状が矩形形状をなしていない。第1スイッチング素子201aは、平面形状がL字形状をなしていると言える。
電子装置180は、出力部25を備えている。出力部25は、U相部20aと、V相部20bと、W相部20cとを備えて構成されている。U相部20aは、第1スイッチング素子201aと第2スイッチング素子202aとを含んでいる。また、V相部20bは、第3スイッチング素子203aと第4スイッチング素子204aとを含んでいる。そして、W相部20cは、第5スイッチング素子205aと第6スイッチング素子206aとを含んでいる。
電子装置180は、電子装置170と同様の効果を奏することができる。なお、変形例8は、実施形態、変形例1〜6のいずれかに適用することも可能である。
(変形例9)
電子装置190は、図18に示すように、ダミー配線12が形成された実装基板10bを備えている点が電子装置100と異なる。
実装基板10bは、各スイッチング素子201〜206及び各温度センサ31,32と電気的に接続されていないダミー配線12が形成されている。ダミー配線12は、CuやAuなどの導体を主成分として構成されている。
ダミー配線12は、実装基板10bにおける各スイッチング素子201〜206及び各温度センサ31,32が実装された面に設けられている。ダミー配線12は、各相部20a〜20c間、及び上アームと下アームとの間に設けられている。つまり、ダミー配線12は、第1スイッチング素子201と第2スイッチング素子202との間、第3スイッチング素子203と第4スイッチング素子204との間、第5スイッチング素子205と第6スイッチング素子206との間に設けられている。また、ダミー配線12は、第1スイッチング素子201と第3スイッチング素子203との間、第3スイッチング素子203と第5スイッチング素子205との間に設けられている。また、ダミー配線12は、第2スイッチング素子202と第4スイッチング素子204との間、第4スイッチング素子204と第6スイッチング素子206との間に設けられている。さらに、ダミー配線12は、上記した第1スイッチング素子201〜第4スイッチング素子204で囲まれた領域と、第3スイッチング素子203〜第6スイッチング素子206で囲まれた領域とに設けられている。なお、ダミー配線12は、実装基板10bの内層に設けられていてもよい。
電子装置190は、電子装置100と同様の効果を奏することができる。さらに、電子装置190は、電子装置100よりも各スイッチング素子201〜206から発せられた熱を各温度センサ31,32に伝達しやすくなる。例えば、電子装置190は、第1スイッチング素子201及び第2スイッチング素子202から発せられた熱を第1温度センサ31に伝達しやすくなる。このため、電子装置190は、電子装置100よりも温度検出の感度を向上できる。なお、変形例9は、変形例1〜8のいずれかに適用することも可能である。
10〜10b 実装基板、20〜25 出力部、20a U相部、201 第1スイッチング素子、202 第2スイッチング素子、20b V相部、203 第3スイッチング素子、204 第4スイッチング素子、20c W相部、205 第5スイッチング素子、206 第6スイッチング素子、20d 第4相部、207 第7スイッチング素子、208 第8スイッチング素子、31 第1温度センサ、32 第2温度センサ、33 第3温度センサ、40 制御部、100〜190 電子装置

Claims (10)

  1. 出力部(20〜25)と、
    前記出力部の温度に応じた検出信号を出力する温度センサ(31〜33)と、を有する電子装置であって、
    前記出力部は、直列に接続されオンオフ動作を行う上下二つのスイッチング素子(201〜208、201a〜206a)を含む相部(20a〜20d)を三つ以上有し、
    前記温度センサは、前記相部の数よりも一つ少なく、前記相部間に一つずつ配置され、
    さらに、全ての前記検出信号に基づいて全ての前記相部のうち過熱している前記相部を特定する制御部(40)と、を備えていることを特徴とする電子装置。
  2. 前記制御部は、過熱している前記相部を特定した場合、特定した前記相部に含まれている前記スイッチング素子のオンオフ動作を停止させることを特徴とする請求項1に記載の電子装置。
  3. 前記制御部は、前記検出信号と、第1閾値及び前記第1閾値よりも大きな値である第2閾値とを比較することで、過熱している前記相部を特定するものであり、一つの前記検出信号のみが前記第1閾値に達していた場合、前記第1閾値に達した前記検出信号を出力している前記温度センサと隣り合う前記相部であり、且つ、前記第1閾値に達した前記検出信号を出力している前記温度センサと他の前記温度センサとで挟まれていない前記相部を加熱していると前記相部として特定することを特徴とする請求項1又は2に記載の電子装置。
  4. 前記制御部は、二つの前記検出信号が前記第1閾値に達しており、且つ前記第2閾値に達していない場合、前記第1閾値に達した前記検出信号を出力している二つの前記温度センサに挟まれた前記相部を加熱していると前記相部として特定することを特徴とする請求項3に記載の電子装置。
  5. 前記制御部は、全ての前記検出信号が前記第2閾値に達していた場合、全ての前記相部が加熱していると特定することを特徴とする請求項3に記載の電子装置。
  6. 各温度センサは、自身と隣り合う二つの前記相部における全ての前記スイッチング素子と等間隔となる位置に配置されていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の電子装置。
  7. 各温度センサは、自身と隣り合う二つの前記出力部の夫々における一つの前記スイッチング素子と等間隔となる位置に配置されていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の電子装置。
  8. 前記スイッチング素子と、前記温度センサは、同一の実装基板(10,10a,10b)に実装されていることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の電子装置。
  9. 前記スイッチング素子は、前記実装基板(10a)の一面に実装されており、
    前記温度センサは、前記実装基板の前記一面の反対面に実装されており、
    前記実装基板は、前記スイッチング素子の対向領域に、前記一面から前記反対面に達するサーマルビア(11)が形成されていることを特徴とする請求項8に記載の電子装置。
  10. 前記実装基板(10b)は、前記スイッチング素子間に、導体を主成分とするダミー配線(12)が形成されていることを特徴とする請求項8に記載の電子装置。
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