JP6383647B2 - 測定システムおよび測定方法 - Google Patents
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Description
図1は、実施形態における処理システム100の一例を示す図である。処理システム100は、複数のプラズマエッチング装置101(101−1および101−2)、搬送室102、および複数のカセット室103(103−1および103−2)を備える。複数のプラズマエッチング装置101および複数のカセット室103は、搬送室102の周囲に設けられる。処理システム100は、測定システムの一例である。
図2は、プラズマエッチング装置101の一例を示す概略断面図である。プラズマエッチング装置101は、例えば図2に示すように、気密に構成され、電気的に接地電位とされた処理容器1を有する。処理容器1は、例えば表面に陽極酸化被膜が施されたアルミニウム等により、略円筒状に形成されている。処理容器1内には、被処理基板である半導体ウエハWを水平に支持する載置台2が設けられている。
図3は、センサ基板20の一例を示す図である。センサ基板20は、例えば図3に示すように、ベース基板21、距離センサ23、無線通信機24、およびバッテリ26を有する。本実施形態において、ベース基板21は、被処理基板である半導体ウエハWと略同一の形状を有する。これにより、搬送装置110は、基板支持部111により、センサ基板20を、半導体ウエハWと同様に取り扱うことができる。また、ベース基板21の外周には、ベース基板21の方向を示す位置決め部22が形成されている。本実施形態において、位置決め部22は、例えばノッチである。なお、位置決め部22は、オリエンテーションフラットであってもよい。
図4は、測定装置30の一例を示すブロック図である。測定装置30は、例えば図4に示すように、アンテナ31、無線通信部32、取得部33、測定指示部34、測定部35、および搬送指示部36を有する。
図9は、フォーカスリング5の初期状態の測定処理の一例を示すフローチャートである。例えば、フォーカスリング5の交換が行われ、処理システム100のユーザから初期状態の測定処理を指示された場合に、測定装置30は、本フローチャートに示す処理を開始する。
図10は、フォーカスリング5の消耗量の測定処理の一例を示すフローチャートである。例えば、処理システム100のユーザから消耗量の測定処理を指示された場合に、測定装置30は、本フローチャートに示す処理を開始する。
図11は、測定装置30の機能を実現するコンピュータ40の一例を示す図である。コンピュータ40は、CPU(Central Processing Unit)41、RAM(Random Access Memory)42、ROM(Read Only Memory)43、補助記憶装置44、無線通信機45、入出力インターフェイス(I/F)46、およびメディアインターフェイス(I/F)47を備える。
101 プラズマエッチング装置
110 搬送装置
1 処理容器
2 載置台
5 フォーカスリング
20 センサ基板
23 距離センサ
30 測定装置
33 取得部
35 測定部
36 搬送指示部
Claims (7)
- 被処理基板が収容され、その内部が減圧可能な処理容器と、前記処理容器内に設けられ、搬送装置によって前記処理容器内に搬送された前記被処理基板が載置される下部電極と、前記下部電極の周囲を囲むように設けられたフォーカスリングとを有するプラズマエッチング装置における前記フォーカスリングの消耗量を測定する測定システムであって、
距離センサが設けられ、位置決めのためのオリエンテーションフラットまたはノッチである位置決め部が形成されたセンサ基板と、
前記フォーカスリングの消耗量を測定する測定装置と
を備え、
前記測定装置は、
前記搬送装置に指示して、前記センサ基板を前記処理容器内に搬送させる搬送指示部と、
前記距離センサが測定した、前記距離センサから前記フォーカスリングまでの距離に応じた物理量の情報を取得する取得部と、
取得した前記物理量の情報に基づいて、前記フォーカスリングの消耗量を測定する測定部と
を有し、
前記距離センサは、
前記センサ基板の表面において、前記センサ基板の中心と前記位置決め部とを通る直線から、前記センサ基板の半径の1/4〜1/2倍の距離、離れた位置に設けられていることを特徴とする測定システム。 - 前記距離センサは、
前記フォーカスリング上を通過する際に、前記フォーカスリングの幅方向における複数の位置で、前記距離センサから前記フォーカスリングまでの距離に応じた物理量の情報を測定することを特徴とする請求項1に記載の測定システム。 - 前記搬送指示部は、
前記被処理基板が前記下部電極に載置される位置よりも、前記被処理基板が前記処理容器内に搬入される際に通過するゲートから遠い位置まで、前記センサ基板を搬入させ、
前記距離センサは、
少なくとも、前記フォーカスリングの中心から前記ゲート側における前記フォーカスリングの部分と、前記フォーカスリングの中心から前記ゲートと反対側における前記フォーカスリングの部分とにおいて、前記距離センサから前記フォーカスリングまでの距離に応じた物理量の情報を測定することを特徴とする請求項1または2に記載の測定システム。 - 前記搬送指示部は、
前記搬送装置が前記センサ基板を前記処理容器内に搬入する際に、前記センサ基板上において、前記距離センサが、前記センサ基板の中心を通り、前記センサ基板の搬送方向を示す直線から所定距離以上離れて位置するように、前記搬送装置に前記センサ基板を保持させることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の測定システム。 - 前記距離センサは、静電容量センサであり、前記距離センサから前記フォーカスリングまでの距離に応じた物理量として静電容量を測定することを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の測定システム。
- 前記センサ基板は、
前記距離センサが測定した前記物理量の情報を無線送信する無線通信装置を有し、
前記取得部は、
前記無線通信装置によって無線送信された前記物理量の情報を取得することを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の測定システム。 - 被処理基板が収容され、その内部が減圧可能な処理容器と、前記処理容器内に設けられ、搬送装置によって前記処理容器内に搬送された前記被処理基板が載置される下部電極と、前記下部電極の周囲を囲むように設けられたフォーカスリングとを有するプラズマエッチング装置における前記フォーカスリングの消耗量の測定方法であって、
測定装置が、
前記搬送装置に指示して、距離センサが設けられ、位置決めのためのオリエンテーションフラットまたはノッチである位置決め部が形成されたセンサ基板を前記処理容器内に搬送させる工程と、
前記距離センサが測定した前記距離センサから前記フォーカスリングまでの距離に応じた物理量の情報を取得する工程と、
取得した前記物理量の情報に基づいて、前記フォーカスリングの消耗量を測定する工程と
を実行し、
前記距離センサは、
前記センサ基板の表面において、前記センサ基板の中心と前記位置決め部とを通る直線から、前記センサ基板の半径の1/4〜1/2倍の距離、離れた位置に設けられていることを特徴とする測定方法。
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