JP6309674B2 - X線分光計のコンパクトなゴニオメータのための測定チャンバ - Google Patents

X線分光計のコンパクトなゴニオメータのための測定チャンバ Download PDF

Info

Publication number
JP6309674B2
JP6309674B2 JP2017114190A JP2017114190A JP6309674B2 JP 6309674 B2 JP6309674 B2 JP 6309674B2 JP 2017114190 A JP2017114190 A JP 2017114190A JP 2017114190 A JP2017114190 A JP 2017114190A JP 6309674 B2 JP6309674 B2 JP 6309674B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
goniometer
arm
measurement chamber
bearing block
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017114190A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2018013472A (ja
Inventor
ハンマーシュミット ゲルハルト
ハンマーシュミット ゲルハルト
ベンツ カロリン
ベンツ カロリン
フィルシンガー フランク
フィルシンガー フランク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bruker AXS GmbH
Original Assignee
Bruker AXS GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bruker AXS GmbH filed Critical Bruker AXS GmbH
Publication of JP2018013472A publication Critical patent/JP2018013472A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6309674B2 publication Critical patent/JP6309674B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
    • G01N23/2076Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions for spectrometry, i.e. using an analysing crystal, e.g. for measuring X-ray fluorescence spectrum of a sample with wavelength-dispersion, i.e. WDXFS
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
    • G01N23/20016Goniometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/2209Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using wavelength dispersive spectroscopy [WDS]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076X-ray fluorescence

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

本発明は、X線放射によって照射される被検測定サンプルから発せられるX線蛍光放射を解析するゴニオメータを備えるX線分光計の測定チャンバであって、測定チャンバ内へのX線蛍光放射の入射のための入射開口と、アナライザ結晶を保持して調節する第1のゴニオメータアームと、X線検出器を保持して調節する第2のゴニオメータアームとを備える測定チャンバに関する。この測定チャンバは、真空気密構成を有し、X線蛍光放射のための入射開口は、窓を介して真空気密的に封止される。
X線分光計とこれらの特徴を持つ測定チャンバとは、非特許文献1から周知である。
X線蛍光解析(XRF解析)は、まったく異なる材料を検出して特性評価を行うための有力な解析法である。解析課題に応じて、XRF解析の異なる変形例を用い、これらは測定ジオメトリの点で異なる。極めて頻繁に用いられる重要な変形例は、波長分散型XRF解析であり、X線放射を解析するのにブラッグ条件を用いる。
ブラッグ条件は物理学の基本法則であり、X線放射の光子エネルギーを測定するのに適用される。このような放射が結晶格子で回析する場合、次の関係が結晶パラメータと放射パラメータとの間に適用される:λ=2d・sinθ
λ:放射の波長
2dの値:結晶の格子面距離(格子構造の特性)
θ:結晶格子面に対する反射角
ここで、波長分散型XRF解析用のX線分光計は、一般的に、ゴニオメータ付きの測定チャンバを有する。
先行技術に係るゴニオメータでは、ブラッグ条件が作用結晶(又は多重層)と検出器システムとの間で再現可能に満たされるような、同軸関係にある2つの軸、すなわち、結晶の軸と検出器ユニットの軸との、互いに同調する回転運動を必要とする。異なる波長領域の解析を可能にするために、複数の結晶を有する結晶交換器であって、それらが作業位置内にセットされるようにモータ駆動か手動で調節可能である結晶交換器も、このような設計で用いられる。
この場合、重要な周辺条件は以下の通りである。
高い精度が必要である。これは、特に、ゴニオメータのアームの2つのスピンドルの互いに対する角度位置に関係し、また、たとえばマスク及びコリメータのようなX線光学部品に対するスピンドルの空間的方向に関係し、また、たとえば結晶表面に対するスピンドルの空間的方向にも関係する。
変動する気圧と測定チャンバ内の真空との圧力差によって排気後に歪む測定チャンバの変形による、ビームパスのジオメトリに対する影響は、構造的手段によって制限されなければならない。
装置全体の小型化については、軽量でコンパクトであるが、ねじれ剛性が高い構造が特に重要である。
ゴニオメータの熱流入と測定チャンバの温度変化とはできるだけ小さくなければならない。たとえば、これはアナライザ結晶に負の影響を及ぼす。重要なアナライザ結晶は、熱膨張係数が非常に際立っているペンタエリトリトール(PET)からなる。温度変化がある場合に、それに対応して、結晶構造の2dの値が際立って変化し、この結果、波長λのX線放射の反射角度θも同様に対応して変化する。したがって、際立った温度変化によって、誤った測定結果がもたらされる。
X線は空気中でガスによって吸収されるか、あまりに強く散乱されるので、たとえば軽元素のX線蛍光放射のような低エネルギーX線の場合の強度の正確な測定は空気中では可能ではない。このため、このようなゴニオメータは真空チャンバに収納することしかできない。変動する気圧と真空との圧力差の結果として、既知の装置は複雑であり、特に、ビームパスの安定性を確保するために厚い壁で設計される。
X線分光計では、解析されるサンプルがX線源により照射される。サンプルにより発せられるX線蛍光は、排気された測定チャンバに入射し、アナライザ結晶に入射し、アナライザ結晶からX線検出器に向かって反射する。結晶と検出器とは、解析される波長についてブラッグ条件が満たされるようにゴニオメータを用いて配置される。
一般的に、従来のゴニオメータは、適切な伝動装置を用いてゴニオメータのスピンドルを駆動するステッパモータ又はサーボモータを含む。XRFゴニオメータのビームパスは真空中になければならないので、このような従来の駆動概念に対して2つの基本的な選択肢が挙げられる。
1.真空チャンバ外モータ
この場合、伝動機構は真空チャンバ内に収容することができる。ただし、この目標を達成するためには、真空条件のために、伝動機構に利用できるグリスの選択の幅は狭く、伝動機構で生じる熱は不十分にしか散逸され得ず、これにより、真空チャンバ内の構造物からの干渉が生じる。これとは逆に、伝動機構を真空チャンバ外に置くこともできる。すなわち、ブルカーS8 Tigerの場合のように置くことができる。ブルカーS8 Tigerは、https://www.bruker.com/de/products/x−ray−diffraction−and−elemental−analysis/x−ray−fluorescence/s8−tiger/technical−details.html(非特許文献2)で公開されている。ただし、この場合の欠点は、真空チャンバ内へのシャフトの通過に大きい開口が必要であるということであり、前記大きい開口は、回転可能な部品を受けるのと同時に、真空気密である必要がある。したがって、圧力差のために伝動機構ホルダの重厚な構造が必要であり、したがって、圧力差のために測定チャンバの壁の重厚な構造が必要である。
2.真空チャンバ内モータ
これとは逆に、真空通路のための重厚な構造物をなくし、真空気密性を改善するために、真空チャンバ内にモータを取り付けることが望ましい。この場合にも、熱放射による熱散逸は十分ではない。冷却は、たとえば水冷やそれに準ずるものなどの複雑な手段によって実現することしかできない。
位置の静止保持中の熱電力ロス
ゴニオメータのモータは、通常、分解能を改善するために、マイクロステップ動作の範囲内で作動するステッパモータとして設計される。この形態では、ステータの次のフルステップまで後退しないために、モータの各相には、特定の比率で電力を絶え間なく供給しなければならない。この特性は、接続された伝動機構の種類とは無関係である。結果として、電力は、真空チャンバ内で熱に変換される。
アンバランスなスピンドルを静止位置に保持するために、サーボモータには、同様に、電力を絶え間なく供給しなければならない。これは、伝動機構なしで直接ゴニオメータスピンドルに作用する特定のダイレクトドライブにも適用される。
X線回折計用のゴニオメータのためのピエゾモータの使用は、特許文献1から周知であるが、一般的なX線分光計の場合のようにX線蛍光放射を解析するための測定チャンバの真空ハウジングとともに用いる用途向けのものは周知ではない。特許文献1には、2つの同軸シャフトを駆動するために水平ジオメトリにある2つのリング状ピエゾモータが記載されている。ピエゾモータは対称に設置されており、寸法が同じである。特許文献2にも、ピエゾモータで調節可能な可動アームを有するX線分光計が示されている。
特開2002−311199号公報 米国特許第9,008,272号明細書
The Rigaku Journal、1999年、第16巻、第2号 https://www.bruker.com/de/products/x−ray−diffraction−and−elemental−analysis/x−ray−fluorescence/s8−tiger/technical−details.html
これに対して、本発明は、先行技術と比較すると、よりコンパクトでより軽量でより安定しているX線分光計であって、X線蛍光放射を解析する目的で初めて定められるタイプの回転可能なゴニオメータを備え、システム全体にできるだけ小さい熱流入を生じさせるX線分光計を提供する目的に基づく。これと同時に、測定チャンバに関する機械的安定性要件は、コストと重量とを低減するように最適化しなければならない。
本目的は、同心的に且つ回転可能に両方のゴニオメータアームを受けて保持するベアリングブロックと、ゴニオメータアーム毎にそれぞれ1つのドライブプレートとを含む測定チャンバによって達成される。このドライブプレートは、ベアリングブロックに対して可動である。また、本目的は、ベアリングブロック又はそれぞれのゴニオメータアームのドライブプレートに強固に接続されるピエゾモータを用いて、各々が機械的に調節可能であるゴニオメータアームによって達成され、また、本目的は、ゴニオメータの全ての機械的構成要素を含む測定チャンバによって達成される。
発明の動作の原理及び先行技術に対するさらなる利点
このようにして、本発明は、容易に、X線分光計の安定性をより高くし、構造をよりコンパクトにし、熱流入をより小さくする、X線ゴニオメータのための測定チャンバを提案する。
ベアリングブロックと連携させてピエゾモータを使用することにより、X線分光計のより高い安定性とよりコンパクトな構造とが全体的にもたらされる。ピエゾモータは、調節動作と保持動作との両方において従来のモータよりも少ない熱を発生し、一般的に、より小型の実施形態を持つ。保持動作では、ピエゾモータとゴニオメータアーム上の対向面との間の摩擦力の増大が特に有効である。適切な設計の場合においては、保持動作に保持電流は必要ない。熱流入が減少すると、この結果、測定配置の変形が小さくなる。測定チャンバの壁から大部分が分離される手法で両方のゴニオメータアームを保持すると、測定配置の安定性もまた増大する。これは、ゴニオメータアームのスピンドルのための真空通路を備える従来の真空分光計の場合と同様に、真空を介して壁上に作用する力はゴニオメータの位置に直接影響しないからである。さらに、測定チャンバはゴニオメータの全ての機械的構成要素を含むので、より容易に、真空気密的に測定チャンバを構成することができる。
発明の好ましい実施の形態
測定チャンバが、その側壁及びカバー壁に対してより厚く設計され、且つ入射開口を備える保持壁を有し、ベアリングブロックが前記保持壁に強固に接続される本発明の実施の形態が特に好ましい。この場合、測定チャンバの1つの壁だけしか、ねじり剛性の高い実施の形態を持つ必要がなく、正確に加工する必要がない。残りの壁は、ビームパスにはもはや関係せず、壁厚を極めて薄くすることができ、精度要求を低くすることができる。また、これは特に、重量とコストとを抑えることに寄与する。さらに、ベアリングブロックはX線蛍光放射の入射方向に沿って向いているので、測定配置に対するこの保持壁の変形の影響は低い。例として、保持壁が内方に変形する場合、これはアナライザ結晶上での入射角の変化をもたらさない。
さらに有効な実施の形態は、検出器用のゴニオメータアームのドライブプレートと、アナライザ結晶用のゴニオメータアームのドライブプレートとがベアリングブロックの異なる側に位置することを特徴とする。これによって容易に、構造がより一層コンパクトになり、さらに、特に設置奥行きが削減され、配置の動作中の力の釣り合いが良好になる。
同様の利点は、アナライザ結晶が、アナライザ結晶用のゴニオメータアームのドライブプレートの反対側にあるベアリングブロックの側に位置する実施の形態で得ることもできる。
これも、本発明に係る測定チャンバの場合において、ピエゾモータがベアリングブロックに強固に接続されており、ピエゾモータが同じ側からゴニオメータアームのドライブプレートに作用するように配置されるとき、使用に好都合であり得る。この場合、ゴニオメータ及びモータを整備するとき、ゴニオメータの一方の側からアクセスを必要とするだけでよい。
ある種類の実施の形態の本発明の特に好ましい変形は、測定チャンバが開かれているとき、ゴニオメータのさらなる構成要素を取り外すことなく、ピエゾモータを取り外すことができるか、または、組み付けることができるように、ゴニオメータアームとドライブプレートとが設計されることを特徴とする。これにより、整備が単純化され、時間とコストとが抑えられる。これとは別に、これを達成するためには、ゴニオメータアームを整備位置まで駆動しなければならない。
本発明に係る測定チャンバのさらに有効な実施の形態は、ピエゾモータと、ゴニオメータアームの回転位置を認識するエンコーダ用のセンサとが、別個にベアリングブロックに固定されることを特徴とする。この結果、ピエゾモータの整備は、角度測定の較正に影響しない(いずれの場合にも負の影響を与えない)。
ゴニオメータアームのためのバランスウェイトもさらに設けられている本発明の実施の形態が特に好ましく、前記バランスウェイトは、それぞれの回転軸から数ミリメートルまで、好ましくは約2mmまで、ゴニオメータアームの重心と、動く付属物とを移動させる。この結果、位置を保つために必要な接触圧であって、トラックに対するピエゾモータの接触圧を、最小にすることができる。その結果、動きの精度と均一性とが増大する。機構のためのさらなる輸送の保護が不要になり、装置は顧客側で直ちに使える状態になっている。
本発明のさらに有効な実施の形態は、ピエゾモータが伝動機構のない設計を有し、ピエゾモータにはゴニオメータアームを位置決めする電子調整デバイスが設けられることを特徴とする。これにより伝動機構での機械的パワーロスをなくし、熱流入が一層小さくなる。さらに、伝動機構誤差、生じ得る伝達誤差、又は、バックラッシュに関して、配置の位置決めに対する負の影響がない。
ゴニオメータアーム又はベアリングブロックが、硬質材料、好ましくは硬化材料、特に金属又はセラミックから形成される、ピエゾモータに接触するトラックを備える本発明に係る測定チャンバであって、さらに、X線検出器用のゴニオメータアームのトラックの半径が、アナライザ結晶用のゴニオメータアームのトラックの半径よりも小さく、半径の比が0.25〜0.75である、本発明に係る測定チャンバによる実施の形態の種類が特に非常に好ましい。一般的には、摩耗はピエゾモータのプラスチックコンタクトフィンガで生じ、プラスチックコンタクトフィンガは、通常は、より軟質になるように、特に、プラスチックを含んで設計される。コンタクトフィンガの硬度が低いことで、摩耗は、コンタクトフィンガ上で生じ易くなる。コンタクトフィンガはより容易に交換することができるので、これにより、整備中の時間とコストとが抑えられる。
さらに、角度精度に対する要求と、異なる半径において厳しく要求される角速度とに関する最適な適応が存在し得ることが有効である。一般的には、好ましくは、検出ユニットは2倍の速度で駆動しなければならないが、検出ユニットは、アナライザ結晶よりも低い角度精度しか必要としない。本発明によると、ピエゾモータの行程が同じ場合、半径が異なるだけでより高い精度が実現される。
実施の形態のこの種類の有効な発展例は、トラックが、ゴニオメータアームの回転軸に対する径方向外側領域においてゴニオメータアーム上に配置されることを特徴とする。モータ駆動ドライブの高い角度分解能はこの結果として実現される。
実施の形態のこの種類の特に好ましい変形例は、トラックが各々、1つ、好ましくは1つだけ、円弧形部品、特に、環状円弧形部品を有することを特徴とする。この手段によっても構造は容易に、よりコンパクトになる。このタイプの使用設計による測定チャンバによって、トラックを好都合な角度範囲に限定することができる。ゴニオメータアームの完全な360°回転は必須ではない。通常、角度範囲0〜180°の検出器を用いる測定で十分である。したがって、円弧の角度範囲を適応させることができる。この場合、X線検出器は、アナライザ結晶の角度が変化する場合に角度の2倍を必ず通過しなければならないので、アナライザ結晶用のトラックの角度範囲はX線検出器の角度範囲よりも小さくなるように具体化してもよい。
アナライザ結晶の角度範囲を90°以下に限定することができ、X線検出器の角度範囲を180°未満に限定することができることが有効である。
本発明に係る測定チャンバの特に好ましい実施の形態のさらなる種類は、ゴニオメータアームの正確な現在角度位置を確認するエンコーダストリップがゴニオメータアームに取り付けられることを特徴とする。これらのストリップにより、動かされる構成要素についての直接的な角度測定が容易になり、ドライブの激しい摩耗は角度測定に影響しない。さらに、常にゴニオメータアームの絶対位置を確認することができるので、これにより、加熱による面倒なならし動作が不要になる。各場合においてピエゾモータの次に組み付けられる読み出しユニットによってエンコーダストリップを読むことが有効である。
実現するのが特に簡単な実施の形態のこの種類の発展例が、円環形又は円弧形に曲げられるエンコーダストリップのために提供される。これにより、角度測定の理想的な形態がもたらされる。このようなエンコーダストリップを、ゴニオメータアームの、同様に環状に曲げられた部品に、特に、ドライブプレートの端の側で、取り付けることが有効である。
本発明のさらなる利点は説明と図面とから明らかになる。
示され説明されている実施の形態は、網羅的に挙げられているものであると理解すべきではなく、本発明を説明するための例示的な性格を持つ。
本発明は以下の通り図面に示され、典型的な実施の形態に基づいてより詳細に説明される。
本発明に係る測定チャンバを有するX線分光計の概略設計を示す側面図。 本発明に係るピエゾゴニオメータシステムの実施の形態の概略図を示す側面図。図1と比較して回転されている。 本発明に係るピエゾゴニオメータシステムの実施の形態の概略図を示す断面図。断面は、X線ビームの入射方向とゴニオメータの回転軸とにわたっている。 本発明に係るゴニオメータアームの実施の形態を斜め上から見た概略空間平面図。この場合は、アナライザ結晶のためのゴニオメータアームを示す。 結晶表面に対するX線放射の入射角が浅い場合の、ゴニオメータ配置の、角度方向についての本発明に係る測定チャンバの実施の形態の設計全体の概略側面図。 結晶表面に対するX線放射の入射角が急である場合の、ゴニオメータ配置の、角度方向についての本発明に係る測定チャンバの実施の形態の設計全体の概略側面図。
本発明に係るピエゾゴニオメータの基本設計
●ゴニオメータは以下の主要な構成要素からなる。
○ドライブ及び位置センサ付きベアリングブロック
○2つのスピンドルのための2つの同心ボールベアリング
○以下のように設計される結晶交換ユニットのためのスピンドル
・ベアリングブロックを貫通する中央シャフト
・異なるアナライザ結晶を自動的に選択する結晶交換器は、ベアリングブロックの一方の側に位置する。ビームパスの他の光学部品の全てもまた、ベアリングブロックのこの側に位置する。ジオメトリな回転軸は、ちょうど、作用結晶表面の平面に位置する。
・ベアリングブロックの他方の側には、以下を備えるドライブプレートがある:
・関連ピエゾモータのトラック
・環状に曲げられて設けられたエンコーダストリップ
・スピンドルの重心と動く付属物とを、回転軸から数ミリメートル(この場合約2mm)まで移動させるためのバランスウェイト
○検出器システムを動かすスピンドル。スピンドルは以下のように設計される:
・機械式ベアリングが結晶交換ユニットの回転軸まわりにリング状に配置される。
・ベアリングブロックを貫通する分離シャフト(separate shaft)はない。検出ユニット、トラック及びエンコーディングストリップのための動くドライブプレートは、ベアリングリング上に直接配置され、この場合も、回転軸から数ミリメートル(この場合約3.5mm)までスピンドルの重心と動く付属物とを移動させるためのバランスウェイトを搭載する。
●ゴニオメータの全ての機械的構成要素は、
○真空チャンバ(測定チャンバ)内に配置される。
○ビーム入射側でチャンバに接続される、コンパクトで薄いベアリングブロックに固定される。
●ドライブのタイプ:
○位置決め目的の制御ループによるピエゾモータ(伝動機構なし)。
○直接スピンドル上にある、角度エンコーダによる位置モニタ。
ゴニオメータの、少なくとも広範囲に及ぶキャリヤプレート、トラック及びエンコーダストリップが円弧として具体化されることが本発明の本概念を実施するのに有効である。真空チャンバ内の空間要件は、この具体化によって最小化することができる。この場合、円弧であるトラック及びエンコーダは、大径であっても、回転軸がベアリングブロックのビーム入射用の入射コリメータのできるだけ近傍になるように、設けられる。
図1は、本発明に係る測定チャンバ2を有するX線分光計1の設計全体を概略的に示し、測定チャンバ2はゴニオメータ3を備える。X線分光計1は、X線蛍光放射を解析するのに用いられ、X線蛍光放射は、X線放射によって照射される被検測定サンプル4から発せられる。測定チャンバ2は、X線蛍光放射が測定チャンバに入射するための入射開口7aと、結晶交換器5’付きアナライザ結晶5aを保持して調節する第1のゴニオメータアーム5と、X線検出器6a,6bを保持して調節する第2のゴニオメータアーム6とを備え、測定チャンバ2は真空気密構成を有し、X線蛍光放射のための入射開口7aは窓7によって真空気密的に封止されている。
X線分光計1は、X線源20とサンプルチャンバ21とを備える。コリメータ22が測定チャンバ2の窓7の下流に配置されている。
本発明に係る測定チャンバ2は、ベアリングブロック8又はそれぞれのゴニオメータアーム5,6のドライブプレート9’,9”に強固に接続されるピエゾモータ15,16を用いて、それぞれ機械的に調節可能である2つのゴニオメータアーム5,6を同心的且つ回転可能に受けて保持するベアリングブロック8と、ゴニオメータ3の全ての機械的構成要素とを含むことによって特徴づけられている。
X線分光計は、図1では垂直に配置されている。この結果、測定サンプル4は水平に向けられ、これにより、サンプル容器内の液体の測定が容易になる。
測定チャンバ2は、入射開口を備える保持壁10を有し、前記保持壁は、側壁及びカバー壁よりも厚く設計されており、ベアリングブロック8に強固に接続されている(図1を参照)。
ピエゾモータ15,16は、ベアリングブロック8に強固に接続されており、同じ側からゴニオメータアーム5,6のドライブプレート9’,9”に作用するように配置されている。示されている実施の形態では、この場合における第1のゴニオメータアームは、アナライザ結晶とともに全ての可動部品を備え、特に、ベアリングブロックのベアリングを貫通する。これに対して、第2のゴニオメータアームは、検出器とともに動かされる部品を備える。示されている実施の形態では、このアームは、ボールベアリングによってベアリングブロックに保持されている(図2(b)を参照)。さらに、ピエゾモータ15,16は、伝動機構のない設計であり、ゴニオメータアーム5,6を位置決めする電子調整デバイスが設けられている。ゴニオメータアーム5,6とドライブプレート9’,9”とは、測定チャンバ2が開かれている場合に、ゴニオメータ3のさらなる構成要素を取り外すことなくピエゾモータ15,16を取り外すことができるか、または、組み付けることができるように設計される。目的を達成するために、アナライザ結晶用のピエゾモータ15がドライブプレート9”で覆われるのを防ぐために、ゴニオメータアームを整備位置まで駆動するようにしている。
ゴニオメータアーム5,6又はベアリングブロック8は、ピエゾモータ15,16に接触するトラック25,26を備え、前記トラックは、硬質材料、好ましくは硬化材料、特に金属又はセラミックから形成される。第2のゴニオメータアーム6のトラック26の半径は、第1のゴニオメータアーム5のトラック25の半径よりも小さく、2つの半径の比は0.25〜0.75である。トラック25,26は、ゴニオメータアーム5,6の回転軸に対する径方向外側領域においてゴニオメータアーム5,6上に配置され、各々は、1つ、好ましくは1つだけ、円弧形部品、特に、環状円弧形部品を有する。
図2(a)及び図2(b)は、本発明に係るピエゾゴニオメータシステムの実施の形態を概略的に示す。図2(a)は、測定チャンバがないゴニオメータの側面図を示し、図1と比較して回転するように示されており、これにより、放射は、この場合の上部から垂直に入射する。図2(b)は、ゴニオメータアーム、ピエゾモータ、トラック及びドライブプレートの空間的配置を示す、ゴニオメータを通る断面を示す。
アナライザ結晶5aとそのドライブプレート9’とは、ベアリングブロック8の反対側に配置されている。第1のゴニオメータアーム5のドライブプレート9’と第2のゴニオメータアーム6のドライブプレート9”も同様にベアリングブロック8の反対側に配置されている(この場合も図2(b)を参照)。
図3は、ベアリングブロック8(太線による)と、結晶交換ユニット用のゴニオメータアーム5とを詳細に示す。回転構成要素は細線を用いて示されている。結晶交換器5’は、ベアリングブロック8の前方に位置し、エンコーダテープ12、トラック25及びカウンタウェイト11付きのドライブプレートは、ベアリングブロック8の後方に位置している。モータホルダ、ピエゾモータ15及びエンコーダの読み出しユニット13は、チャンバの壁10に静的に固定されているベアリングブロック8に固定されている。スピンドルは、ベアリングブロック8に取り付けられ、ベアリングブロック8を貫通する。エンコーダストリップ12、ドライブ15のトラック25及びバランスウェイト11付きのドライブプレートは、スピンドルに強固に接続されており、ベアリングブロック8の後方にある。結晶交換器5’も、同様にスピンドルに強固に接続されており、ベアリングブロック8の前方にある。
回転軸から数ミリメートルまで、好ましくは約2mmまで、スピンドルの重心と、動く付属物とを移動させるバランスウェイト11がゴニオメータアーム5,6に設けられている(図3を参照)。
ゴニオメータアーム5,6の正確な現在角度位置を確認する円環形又は円弧形に曲げられたエンコーダストリップ12はゴニオメータアーム5,6に取り付けられている(図3を参照)。ピエゾモータ15,16とエンコーダ用のセンサとは、別個にベアリングブロック8に固定されている。電子読み出しユニット13はエンコーダに設けられている。
最後に、図4(a)及び図4(b)は、2つの測定位置にある本発明に係るピエゾゴニオメータを側面図で示し、すなわち、図4(a)では結晶表面に対するX線放射の入射角が浅い測定位置にあるものを示し、図4(b)では入射角が急な測定位置にあるものを示す。結晶交換器5’用のピエゾモータ15が、検出器6a用のピエゾモータ16よりも、共通の回転軸に対して外側により離れて位置することが図で容易に認識することができる。この結果、ステップの数が同じ場合において、検出器6aがより大きい角度範囲にわたって通過するか、又は、アナライザ結晶5aがより高い角度分解能を得る。また、環状円弧として具体化されている、トラック25,26に接続される2つのピエゾモータ15,16用のトラック25,26は、重ね合わせることができる。両方とも限定された角度範囲に対して設計されており、この結果、X線分光計1はよりコンパクトに設計され得る。
図に示されているように、この設計において2つの検出器6a,6bを利用することも有効である。この結果、測定されるX線放射のエネルギーに応じて理想的な検出器を用いることができる。
ピエゾドライブを有するゴニオメータのための本発明に係る新規の手法には以下の利点がある。
●真空チャンバ内で、ゴニオメータのコンパクトなベアリングブロックは、測定チャンバの側壁上で支持されておらず、さらに、測定チャンバの側壁に向かってフランジがサンプルチャンバに設けられている。残りの全ての壁は、ビームパスに関してこのような正確な幾何学的関係を維持する必要はなく、したがって、圧力差に対してより薄く、かつ、より小さな剛性を持つように設計されてもよい。本概念により、測定チャンバの重量を極めて低減することができる。
●本概念では、ピエゾモータは、短い距離でゴニオメータマウントのベアリングブロックに直接取り付けられる。
○距離が短いことにより、真空にもかかわらず、ホルダを用いて良好な熱散逸が可能になる。
○軽量且つ優れた剛性
●ウォーム駆動を有する前述のブルカーS8 TIGERと比較して、機械的伝動機構は必要ないので、熱流入は極めて小さい。
しかし、本発明に係る機械的設計も、少数のさらなる利点を提供する。
●ピエゾモータの最適作動半径:結晶交換器付きのシャフトは、検出ユニット付きのシャフトに対して角度経路(angular path)の半分だけ変位することしか必要としない。これと同時に、結晶は、良好な角度分解能で動かす必要がある。この新規の概念において、良好な角度分解能は、結晶交換器ドライブの作動半径が検出器ドライブよりも極めて大きいことによる(ただし、厳密に1:2の比率にあるわけではない)。この手法を実施することは簡単でない:作動半径に対する要求とは対照的に、結晶交換器がスピンドルの近傍で中央に配置される一方で、検出ユニットはスピンドルからより離れている。
●測定チャンバが開いている場合、両方のピエゾモータはともにゴニオメータブロックの前側から簡単に取り外すことができ、測定チャンバからユニット全部を取り外す必要はない。これにより、定期的な整備作業が極めて簡単になる。
X線蛍光解析は本発明に係る構成の用途の主な分野である。
1 X線分光計
2 測定チャンバ
3 ゴニオメータ
4 測定サンプル
5 第1のゴニオメータアーム
5a アナライザ結晶
5’ 結晶交換器
6 第2のゴニオメータアーム
7 窓
7a 入射開口
8 ベアリングブロック
9’ 第1のゴニオメータアームのドライブプレート
9” 第2のゴニオメータアームのドライブプレート
10 保持壁
11 バランスウェイト
12 エンコーダストリップ
13 エンコーダ用の読み出しユニット
15 結晶交換器用のピエゾモータ
16 検出器用のピエゾモータ
20 X線源
21 サンプルチャンバ
22 コリメータ
25 第1のゴニオメータアームのトラック
26 第2のゴニオメータアームのトラック

Claims (20)

  1. X線放射によって照射される被検測定サンプル(4)から発せられるX線蛍光放射を解析するゴニオメータ(3)を備えるX線分光計(1)の測定チャンバ(2)であって、
    前記測定チャンバ(2)は、
    前記測定チャンバ(2)内へのX線蛍光放射の入射のための入射開口と、
    アナライザ結晶(5a)を保持して調節する第1のゴニオメータアーム(5)と、
    X線検出器(6a,6b)を保持して調節する第2のゴニオメータアーム(6)とを備える測定チャンバ(2)であって、
    前記測定チャンバ(2)は、真空気密構成を有し、前記X線蛍光放射のための前記入射開口は、窓(7)を介して真空気密的に封止される測定チャンバにおいて、
    前記測定チャンバ(2)は、同心的に且つ回転可能に両方のゴニオメータアーム(5,6)を受けて保持するベアリングブロック(8)と、ゴニオメータアーム(5,6)毎にそれぞれ1つのドライブプレート(9’,9”)とを含み、前記ドライブプレートは、前記ベアリングブロック(8)に対して可動であり、
    前記ゴニオメータアーム(5,6)は各々、前記ベアリングブロック(8)又は前記それぞれのゴニオメータアーム(5,6)のドライブプレート(9’,9”)に強固に接続されるピエゾモータ(15,16)を用いて機械的に調節可能であり、
    前記測定チャンバ(2)は、前記ゴニオメータ(3)の全ての機械的構成要素を含むことを特徴とする測定チャンバ。
  2. 前記測定チャンバ(2)は、その側壁及びカバー壁に対してより厚く設計され、且つ前記入射開口を備える保持壁(10)を有し、前記ベアリングブロック(8)は前記保持壁に強固に接続されることを特徴とする請求項1に記載の測定チャンバ。
  3. 前記第2のゴニオメータアーム(6)の前記ドライブプレート(9”)と前記第1のゴニオメータアーム(5)の前記ドライブプレート(9’)とは、前記ベアリングブロック(8)の異なる側に配置されることを特徴とする請求項1又は2に記載の測定チャンバ。
  4. 前記アナライザ結晶(5a)は、前記第1のゴニオメータアーム(5)の前記ドライブプレート(9’)の反対側にある前記ベアリングブロック(8)の側に配置されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の測定チャンバ。
  5. 前記ピエゾモータ(15,16)は、前記ベアリングブロック(8)に強固に接続されており、同じ側から前記ゴニオメータアーム(5,6)の前記ドライブプレート(9’,9”)に作用するように配置されることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の測定チャンバ。
  6. 前記ゴニオメータアーム(5,6)と前記ドライブプレート(9’,9”)とは、前記測定チャンバ(2)が開かれているとき、前記ゴニオメータ(3)のさらなる構成要素を取り外すことなく、前記ピエゾモータ(15,16)を取り外すことができるか、または、組み付けることができるように設計されることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の測定チャンバ。
  7. 前記ゴニオメータアーム(5,6)のためのバランスウェイト(11)が設けられ、前記バランスウェイトは、それぞれの回転軸から数ミリメートルまで前記ゴニオメータアーム(5,6)の重心と、動く付属物とを移動させることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の測定チャンバ。
  8. 前記バランスウェイトは、前記ゴニオメータアーム(5,6)の回転軸から約2mmまで前記ゴニオメータアーム(5,6)の重心と、前記動く付属物とを移動させることを特徴とする請求項7に記載の測定チャンバ。
  9. 前記ピエゾモータ(15,16)は、伝動機構のない設計を有し、前記ゴニオメータアーム(5,6)を位置決めする電子調整デバイスが設けられることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の測定チャンバ。
  10. 前記ゴニオメータアーム(5,6)又は前記ベアリングブロック(8)は、硬質材料から形成される、前記ピエゾモータ(15,16)に接触するトラック(25,26)を備え、前記第2のゴニオメータアーム(6)の前記トラック(26)の半径は、前記第1のゴニオメータアーム(5)の前記トラック(25)の半径よりも小さく、前記2つの半径の比は0.25〜0.75であることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載の測定チャンバ。
  11. 前記ゴニオメータアーム(5,6)又は前記ベアリングブロック(8)を形成する硬質材料は硬化材料であることを特徴とする請求項10に記載の測定チャンバ。
  12. 前記硬化材料は金属又はセラミックであることを特徴とする請求項11に記載の測定チャンバ。
  13. 前記トラック(25,26)は、前記ゴニオメータアーム(5,6)の回転軸に対する径方向外側領域において前記ゴニオメータアーム(5,6)上に配置されることを特徴とする請求項10乃至12のいずれか1項に記載の測定チャンバ。
  14. 前記トラック(25,26)は各々、1つ円弧形部品を有することを特徴とする請求項10乃至13のいずれか1項に記載の測定チャンバ。
  15. 前記トラック(25,26)は各々、1つだけ円弧形部品を有することを特徴とする請求項14に記載の測定チャンバ。
  16. 前記円弧形部品は環状円弧形部品であることを特徴とする請求項14又は15に記載の測定チャンバ。
  17. 前記アナライザ結晶の角度範囲は90°以下に限定され、前記X線検出器の前記角度範囲は180°未満に限定されることを特徴とする請求項14乃至16のいずれか1項に記載の測定チャンバ。
  18. 前記ゴニオメータアーム(5,6)の正確な現在角度位置を確認するエンコーダストリップ(12)が前記ゴニオメータアーム(5,6)に取り付けられることを特徴とする請求項1乃至17のいずれか1項に記載の測定チャンバ。
  19. 前記エンコーダストリップ(12)は、円環形又は円弧形に曲げられることを特徴とする請求項18に記載の測定チャンバ。
  20. 前記ピエゾモータ(15,16)とエンコーダ用のセンサとは、別個に前記ベアリングブロック(8)に固定されることを特徴とする請求項18又は19に記載の測定チャンバ。
JP2017114190A 2016-06-10 2017-06-09 X線分光計のコンパクトなゴニオメータのための測定チャンバ Active JP6309674B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102016210304.0 2016-06-10
DE102016210304.0A DE102016210304B8 (de) 2016-06-10 2016-06-10 Messkammer für ein kompaktes Goniometer in einem Röntgenspektrometer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018013472A JP2018013472A (ja) 2018-01-25
JP6309674B2 true JP6309674B2 (ja) 2018-04-11

Family

ID=58584560

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017114190A Active JP6309674B2 (ja) 2016-06-10 2017-06-09 X線分光計のコンパクトなゴニオメータのための測定チャンバ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10094790B2 (ja)
EP (1) EP3255419B1 (ja)
JP (1) JP6309674B2 (ja)
DE (1) DE102016210304B8 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018114307B4 (de) * 2018-06-14 2021-07-01 Radiant Dyes Laseraccessoires GmbH Rotationsvorrichtung für ein Gitter, einen Spiegel oder einen Kristall zur Einstellung einer Laservorrichtung und Laservorrichtung mit einer derartigen Rotationsvorrichtung
AT525137B1 (de) 2021-05-27 2024-05-15 Anton Paar Gmbh Röntgenuntersuchungsvorrichtung
CN114720496B (zh) * 2022-06-08 2022-08-26 四川大学 实现全场x射线荧光成像分析的衍射分析装置及方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4417355A (en) * 1981-01-08 1983-11-22 Leningradskoe Npo "Burevestnik" X-Ray fluorescence spectrometer
JPS6453144A (en) 1987-08-24 1989-03-01 Oki Electric Ind Co Ltd Method for evaluating thin film by fluorescent x-ray analysis
JPH0239150A (ja) 1988-07-29 1990-02-08 Fuji Photo Film Co Ltd 感光材料処理装置
JPH0239150U (ja) * 1988-09-07 1990-03-15
GB8926998D0 (en) * 1989-11-29 1990-01-17 Fisons Plc Analysis crystal
GB9223592D0 (en) * 1992-11-11 1992-12-23 Fisons Plc X-ray analysis apparatus
DE19820321B4 (de) * 1998-05-07 2004-09-16 Bruker Axs Gmbh Kompaktes Röntgenspektrometer
JP3567176B2 (ja) 1998-12-28 2004-09-22 理学電機工業株式会社 蛍光x線分析装置
US6292532B1 (en) 1998-12-28 2001-09-18 Rigaku Industrial Corporation Fluorescent X-ray analyzer useable as wavelength dispersive type and energy dispersive type
JP3317927B2 (ja) 1999-06-15 2002-08-26 エヌイーシーアクセステクニカ株式会社 アンテナ回路
JP2002311199A (ja) * 2001-04-10 2002-10-23 Rigaku Corp X線回折装置用ゴニオメータ
US6546069B1 (en) * 2002-04-24 2003-04-08 Rigaxu/Msc, Inc. Combined wave dispersive and energy dispersive spectrometer
US9008272B2 (en) * 2012-07-18 2015-04-14 Uchicago Argonne, Llc Precision mechanical structure of an ultra-high-resolution spectrometer for inelastic X-ray scattering instrument

Also Published As

Publication number Publication date
EP3255419A1 (de) 2017-12-13
JP2018013472A (ja) 2018-01-25
US10094790B2 (en) 2018-10-09
US20170356862A1 (en) 2017-12-14
DE102016210304B8 (de) 2017-08-17
EP3255419B1 (de) 2018-10-03
DE102016210304B3 (de) 2017-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6309674B2 (ja) X線分光計のコンパクトなゴニオメータのための測定チャンバ
US5509043A (en) Asymmetrical 4-crystal monochromator
US4642811A (en) EXAFS spectrometer
US6885726B2 (en) Fluorescent X-ray analysis apparatus
CN109709118B (zh) 索勒狭缝、x射线衍射装置以及方法
JP7129624B2 (ja) X線検出器及び当該x線検出器の制御方法
JP6478289B2 (ja) X線発生装置及びx線分析装置
JP2019015725A5 (ja)
US20060159229A1 (en) Positioning apparatus
JP6478288B2 (ja) X線発生装置及びx線分析装置
JP3245475B2 (ja) Exafs測定装置
JP2000206061A (ja) 蛍光x線測定装置
JP5455792B2 (ja) X線分析装置
JP2000258366A (ja) 微小部x線回折装置
JPH08136698A (ja) 円弧状スライダー駆動式ゴニオメータおよび立体角回折計
JPH0416753A (ja) エキザフス装置
JP3098806B2 (ja) X線分光装置およびexafs測定装置
Frahm et al. Status And New Applications Of Time‐Resolved X‐Ray Absorption Spectroscopy
JP3903184B2 (ja) X線反射率測定装置およびx線反射率測定方法
CN111508633B (zh) 单能x射线辐射装置
JP2010286288A (ja) X線分光器の制御方法及び該制御方法を用いたx線分光器
JP2912670B2 (ja) X線回折装置
JP2000009666A (ja) X線分析装置
JPH0254496B2 (ja)
JPS60122362A (ja) X−線検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20171025

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20171107

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180206

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180227

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180314

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6309674

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250