JP6227196B2 - クロック診断装置及びクロック診断方法 - Google Patents

クロック診断装置及びクロック診断方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6227196B2
JP6227196B2 JP2017520153A JP2017520153A JP6227196B2 JP 6227196 B2 JP6227196 B2 JP 6227196B2 JP 2017520153 A JP2017520153 A JP 2017520153A JP 2017520153 A JP2017520153 A JP 2017520153A JP 6227196 B2 JP6227196 B2 JP 6227196B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock
clock value
values
software
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017520153A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2016189688A1 (ja
Inventor
怜也 市岡
怜也 市岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Application granted granted Critical
Publication of JP6227196B2 publication Critical patent/JP6227196B2/ja
Publication of JPWO2016189688A1 publication Critical patent/JPWO2016189688A1/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/04Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
    • G06F1/14Time supervision arrangements, e.g. real time clock
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/04Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/24Marginal checking or other specified testing methods not covered by G06F11/26, e.g. race tests
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/273Tester hardware, i.e. output processing circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

本発明は、クロックの故障診断に関する。
クロックの故障診断に関して、例えば、特許文献1に開示の技術がある。
特許文献1では、2つのクロックのクロック値を解析することで、クロックの故障診断を行っている。
特開2013−156732号公報
クロックの故障診断では、ソフトウェアによりクロック値を取得する方式がある。
ソフトウェアによりクロック値を取得する場合には、クロック値の取得処理に要する時間(以下、クロック値取得処理時間という)にジッタ(揺らぎ)が発生する。
例えば、ソフトウェアに対する割込みがあった場合は、割込みによる遅延により、クロック値取得処理時間が長くなる。
一般に、クロックの故障診断で求められる精度は、数百ppm(ppm:10−6)である。
これは、「1秒に対し0.1ミリ秒ずれているかどうか」ということを検出する必要があることを意味する。
ソフトウェアによるクロック値の取得では、クロック値取得処理時間に、マイクロ秒オーダ又はミリ秒オーダの揺らぎが発生する場合がある。
このように、ソフトウェアによりクロック値を取得する方式では、クロックの故障診断の精度に与えるジッタの影響が大きく、クロックの故障を正確に検出するためにはジッタの影響を抑制する必要がある。
本発明は、かかる事情に鑑みたものであり、ソフトウェアによりクロック値を取得するクロックの故障診断において、クロック値を取得する際に生じるジッタの影響を抑制することを主な目的とする。
本発明に係るクロック診断装置は、
ソフトウェアにより一定の間隔で繰り返しクロック値を取得するクロック診断装置であって、
前記ソフトウェアにより取得されたクロック値の中から、取得タイミングにおいて、前記ソフトウェアによるクロック値の取得の際に発生するジッタに比べて十分大きい規定時間の隔たりがある2つのクロック値を選択する選択部と、
前記選択部により選択された2つのクロック値の差を算出する演算部とを有する。
本発明によれば、ジッタに比べて十分大きい規定時間分離れている2つのクロック値を用いるため、クロックの故障診断においてジッタの影響を抑制することができる。
実施の形態1に係るクロック値の比較例を示す図。 実施の形態1に係るクロック診断装置の構成例を示す図。 実施の形態1に係るクロック診断装置の動作例を示すフローチャート図。
実施の形態1.
***故障診断の概要***
本実施の形態では、ソフトウェアによりクロック値を取得する際にジッタが発生しても、正確にクロックの故障が検出できるクロック診断装置を説明する。
本実施の形態に係るクロック診断装置では、クロック値の取得の際に発生するジッタに比べて十分大きい時間が規定時間として設定されている。
そして、クロック診断装置は、ソフトウェアにより一定の間隔で繰り返し2つのクロックのクロック値を取得する。
また、クロック診断装置は、ソフトウェアにより取得されたクロック値の中から、取得タイミングにおいて規定時間の隔たりのある2つのクロック値を選択する。
更に、クロック診断装置は、クロックごとに、選択した2つのクロック値の差を算出し、クロックごとのクロック値の差を比較してクロックの故障診断を行う。
クロック診断装置は、クロック間で、クロック値の差が異なっている場合は、2つのクロックのうちのいずれかのクロックが故障していると判定する。
例えば、クロック値取得処理時間のジッタが平均1マイクロ秒である場合に、10ミリ秒間隔でクロック値の差をとると1マイクロ秒のジッタの影響は大きく、数百ppmの精度を満たすことができない。
一方で、1秒間隔でクロック値の差をとる場合では、1マイクロ秒のジッタの影響は吸収され、数百ppmの精度を満たすことができる。
このように、本実施の形態では、クロック値の取得の際に発生するジッタに比べて十分大きい間隔を規定時間とし、ソフトウェアによる取得タイミングにおいて規定時間の隔たりのある2つのクロック値をクロックの故障診断に用いる。
規定時間は、例えば、ジッタの100倍以上の時間である。
図1は、本実施の形態に係るクロック診断装置の動作の概要を示す。
図1では、クロック診断装置が、クロック1(CLK1と表記する)とクロック2(CLK2と表記する)から周期的に取得されたクロック値の中から、取得タイミングにおいて規定時間の隔たりのある2つのクロック値を選択し、選択した2つのクロック値の差をとる動作を示している。
クロック値取得周期は、CLK1及びCLK2からクロック値を取得する周期である。
図1では、T0〜T10の11回で、CLK1及びCLK2からクロック値が取得されている。
クロック値取得周期T0では、CLK1から取得されたクロック値は100であり、CLK2から取得されたクロック値は100である。
クロック値取得周期T1では、CLK1から取得されたクロック値は120であり、CLK2から取得されたクロック値は122である。
クロック値取得周期T2では、CLK1から取得されたクロック値は140であり、CLK2から取得されたクロック値は144である。
以降のクロック値取得周期でも、それぞれのクロック値取得周期で取得されたCLK1のクロック値とCLK2のクロック値が示されている。
図1の例では、規定時間をクロック値取得周期の5つ分に相当する時間としている。
本実施の形態に係るクロック診断装置は、ソフトウェアによる取得タイミングが5周期分離れている2つのクロック値を選択する。
具体的には、クロック診断装置は、クロック値取得周期=T0で取得されたCLK1のクロック値[100]とクロック値取得周期=T5で取得されたCLK1のクロック値[200]とを選択する。
また、クロック診断装置は、クロック値取得周期=T0で取得されたCLK2のクロック値[100]とクロック値取得周期=T5で取得されたCLK1のクロック値[210]とを選択する。
更に、クロック診断装置は、CLK1について、クロック値[100]とクロック値[200]の差をとり、CLK2について、クロック値[100]とクロック値[210]の差をとる。
更に、クロック診断装置は、CLK1のクロック値の差:100と、CLK2のクロック値の差:110とを比較する。
CLK1の差とCLK2の差とが一致しなければ、クロック診断装置は、CLK1とCLK2のいずれが故障している判定する。
以降の周期についても、クロック診断装置は、T1とT6、T2とT7、T3とT8というように、5周期分離れたクロック値を選択し、同様の演算を行う。
図1の例では、それぞれのクロック値が100であるとき(T=0)はCLK1とCLK2は同期しているが、以降は、CLK2のクロック値が早く進んでしまっている。
***構成の説明***
図2は、本実施の形態に係るクロック診断装置100の構成例を示す。
クロック診断装置100は、例えば、CPU(Central Processing Unit)等のプロセッサで実現される。
クロック値取得部101は、後述するクロック診断部103からのクロック値取得要求に基づき、クロック値取得周期ごとに、タイマ1(104)を用いてCLK1のクロック値を取得し、タイマ2(105)を用いてCLK2のクロック値を取得するソフトウェアである。
タイマ1(104)及びタイマ2(105)は、それぞれ、クロック値取得周期を計測する。
クロック値取得部101によるクロック値取得処理時間には、前述したように、割込み等によりジッタが発生する。
クロック値取得部101は、取得したCLK1及びCLK2のクロック値をクロック診断部103に出力する。
クロック値格納部102は、クロック値取得部101により取得されたCLK1及びCLK2のクロック値を格納する。
より具体的には、クロック値取得部101からクロック診断部103に出力されたCLK1及びCLK2のクロック値が、クロック診断部103により、クロック値格納部102に書き込まれる。
また、クロック値格納部102は、クロック診断部103からのクロック値読み出し要求に基づき、格納しているCLK1及びCLK2のクロック値をクロック診断部103に出力する。
クロック診断部103は、クロック値取得部101にクロック値取得要求を出力して、クロック値取得周期ごとに、クロック値取得部101にCLK1とCLK2のクロック値を取得させる。
また、クロック診断部103は、クロック値取得部101から新たにCLK1及びCLK2のクロック値を取得した際に、クロック値取得部101により新たなCLK1及びCLK2が取得された周期から規定時間遡った周期でクロック値取得部101により取得されていたCLK1及びCLK2のクロック値をクロック値格納部102から読み出す。
図1の例のように規定時間を5周期としている場合は、クロック診断部103は、5周期前にクロック値取得部101により取得されたCLK1のクロック値とCLK2のクロック値を読み出す。
例えば、現在の周期がT=5であれば、クロック診断部103は、T=0のCK1及びCK2のクロック値を読み出す。
そして、クロック診断部103は、新たなCLK1のクロック値と、クロック値格納部102から読み出したCLK1のクロック値との差を算出し、また、新たなCLKのクロック値と、クロック値格納部102から読み出したCLKのクロック値との差を算出する。
そして、クロック診断部103は、CLK1のクロック値の差とCLK2のクロック値の差とを比較する。
CLK1のクロック値の差とCLK2のクロック値の差が異なっていれば、クロック診断部103は、CLK1及びCLK2のいずれかで故障が発生していると判定する。
なお、クロック診断部103は、選択部及び演算部の例に相当する。
クロック値取得部101は、前述のように、ソフトウェア(プログラム)で実現される。
また、クロック診断部103もソフトウェア(プログラム)で実現される。
クロック値格納部102は、例えば、CPU内のレジスタで実現される。
クロック値取得部101及びクロック診断部103の機能を実現するプログラムは、図2に図示していないメモリに格納されており、CPUがメモリから、クロック値取得部101及びクロック診断部103の機能を実現するプログラムをロードし、実行することで、前述のクロック値取得部101及びクロック診断部103の処理が行われる。
***動作の説明***
次に、本実施の形態に係るクロック診断装置100の動作例を、図3のフローチャートを参照して説明する。
図3のフローチャートに示す手順は、クロック診断方法の例に相当する。
先ず、クロック診断部103は、周期Tnにおいて、クロック値取得要求をクロック値取得部101に出力し、一定の周期で、クロック値取得部101にCLK1及びCLK2のクロック値を取得させる。
また、クロック診断部103は、クロック値取得部101からCLK1及びCLK2のクロック値を取得する(S11)。
次に、クロック診断部103は、規定時間が経過しているかどうかを判定する(S12)。
つまり、クロック診断部103は、現在の周期(現在の周期を周期Tnとする)から、規定時間遡った周期に取得されたクロック値がクロック値格納部102に格納されているかを判定する。
図1の例のように規定時間を5周期としている場合は、クロック診断部103は、現在の周期Tnから5周期遡った周期T(n−5)のクロック値がクロック値格納部102に格納されているかを判定する。
S12において規定時間が経過していないと判定した場合は、クロック診断部103は、S11で新たに取得したクロック値をクロック値格納部102に格納する(S17)。
S12において規定時間が経過していると判断した場合は、クロック診断部103は、クロック値読み出し要求を出力して、クロック値格納部102から、現在の周期から規定時間遡った周期に取得されたクロック値を読み出す(S13)。
図1の例のように規定時間を5周期としている場合は、クロック診断部103は、周期T(n−5)におけるCLK1のクロック値とCLK2のクロック値を読み出す。
次に、クロック診断部103は、CLK1のクロック値の差とCLK2のクロック値の差が異なるか否かを判定する(S14)。
つまり、クロック診断部103は、CLK1及びCLK2の各々に対して、S11で取得した新たなクロック値と、S13で読み出したクロック値との差を算出する。
そして、CLK1のクロック値の差とCLK2のクロック値の差が異なるか否かを判定する。
CLK1のクロック値の差とCLK2のクロック値の差が異なる場合は、クロック診断部103は、CLK1及びCLK2のいずれかが故障していると判定する(S15)。
一方、CLK1のクロック値の差とCLK2のクロック値の差が同じであれば、クロック診断部103は、S13で読み出したクロック値を破棄して(S16)、S11で新たに取得したクロック値をクロック値格納部102に格納する(S17)。
なお、図1に示したように、クロック値取得部101による取得タイミングにおいて規定時間の隔たりのある2つのクロック値の差を算出することができるのであれば、クロック診断装置100の処理フローは図3のフローチャートの通りでなくてもよい。
***実施の形態の効果***
以上のように、本実施の形態によれば、ジッタに比べて十分大きい規定時間分離れている2つのクロック値を用いるため、ジッタの影響を抑制して、高精度にクロックの故障診断を行うことができる。
また、本実施の形態では、クロックの故障診断をソフトウェアで実現しているので、診断専用のハードウェアを必要とせず、回路規模が抑えることができる。
また、本実施の形態では、タイマなど一般的なCPUに備わる機能を利用してクロック診断を行っているため、本実施の形態に係るクロック診断方法を様々なCPUに適用することができる。
なお、以上の説明では、2つのクロック(CLK1とCLK2)のクロック値の差を比較してクロックの故障を判定する例を説明したが、3つ以上のクロックのクロック値の差を比較してクロックの故障を判定するようにしてもよい。
100 クロック診断装置、101 クロック値取得部、102 クロック値格納部、103 クロック診断部、104 タイマ1、105 タイマ2。

Claims (6)

  1. ソフトウェアにより一定の間隔で繰り返しクロック値を取得するクロック診断装置であって、
    前記ソフトウェアにより取得されたクロック値の中から、取得タイミングにおいて、前記ソフトウェアによるクロック値の取得の際に発生するジッタに比べて十分大きい規定時間の隔たりがある2つのクロック値を選択する選択部と、
    前記選択部により選択された2つのクロック値の差を算出する演算部とを有するクロック診断装置。
  2. 前記クロック診断装置は、
    前記ソフトウェアにより一定の間隔で繰り返し複数のクロックのクロック値を取得し、
    前記選択部は、
    クロックごとに、前記取得タイミングにおいて前記規定時間の隔たりがある2つのクロック値を選択し、
    前記演算部は、
    クロックごとに、前記選択部により選択された2つのクロック値の差を算出する請求項1に記載のクロック診断装置。
  3. 前記演算部は、
    算出したクロックごとの差を比較する請求項2に記載のクロック診断装置。
  4. 前記選択部は、
    前記規定時間として、前記ジッタの100倍以上の時間を用いる請求項1に記載のクロック診断装置。
  5. 前記クロック診断装置は、更に、
    前記ソフトウェアにより取得されたクロック値を格納するクロック値格納部を有し、
    前記選択部は、
    前記ソフトウェアにより新たにクロック値が取得された際に、前記新たなクロック値の取得タイミングから前記規定時間遡ったタイミングで前記ソフトウェアにより取得されたクロック値を前記クロック値格納部から読み出し、
    前記2つのクロック値として、前記クロック値格納部から読み出したクロック値と前記新たなクロック値とを選択する請求項1に記載のクロック診断装置。
  6. ソフトウェアにより一定の間隔で繰り返しクロック値を取得するクロック診断装置が、
    前記ソフトウェアにより取得されたクロック値の中から、取得タイミングにおいて、前記ソフトウェアによるクロック値の取得の際に発生するジッタに比べて十分大きい規定時間の隔たりがある2つのクロック値を選択し、
    選択した2つのクロック値の差を算出するクロック診断方法。
JP2017520153A 2015-05-27 2015-05-27 クロック診断装置及びクロック診断方法 Active JP6227196B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2015/065228 WO2016189688A1 (ja) 2015-05-27 2015-05-27 クロック診断装置及びクロック診断方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP6227196B2 true JP6227196B2 (ja) 2017-11-08
JPWO2016189688A1 JPWO2016189688A1 (ja) 2017-12-28

Family

ID=57393018

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017520153A Active JP6227196B2 (ja) 2015-05-27 2015-05-27 クロック診断装置及びクロック診断方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10303204B2 (ja)
JP (1) JP6227196B2 (ja)
CN (1) CN107615205B (ja)
TW (1) TWI574151B (ja)
WO (1) WO2016189688A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113227915B (zh) * 2019-03-26 2024-06-25 日立安斯泰莫株式会社 电子控制装置、电子控制装置的诊断方法
TWI759186B (zh) * 2021-04-23 2022-03-21 友達光電股份有限公司 脈診裝置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1131022A (ja) * 1997-07-11 1999-02-02 Nec Corp クロック冗長化方式
JP2005284426A (ja) * 2004-03-29 2005-10-13 Fujitsu Ltd 非同期回路検証方法および非同期回路検証プログラム
JP2007316815A (ja) * 2006-05-24 2007-12-06 Nec Corp クロック異常検出方法及びクロック異常検出プログラム

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03100815A (ja) 1989-09-14 1991-04-25 Nec Field Service Ltd クロック故障検出回路
US7350116B1 (en) * 1999-06-08 2008-03-25 Cisco Technology, Inc. Clock synchronization and fault protection for a telecommunications device
JP3457626B2 (ja) * 2000-04-20 2003-10-20 Necエレクトロニクス株式会社 ジッタ検出回路
KR100423155B1 (ko) * 2001-12-15 2004-03-16 엘지전자 주식회사 디피-피엘엘의 지터 감쇠 장치 및 방법
US7816960B2 (en) * 2007-08-09 2010-10-19 Qualcomm Incorporated Circuit device and method of measuring clock jitter
EP2193444A2 (en) * 2007-09-03 2010-06-09 Nxp B.V. Clock supervision unit
CN101719765B (zh) * 2009-11-25 2012-01-25 中兴通讯股份有限公司 一种低抖动时钟的产生方法和装置
US8453043B2 (en) * 2010-09-13 2013-05-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Built-in bit error rate test circuit
US8203472B2 (en) * 2010-09-20 2012-06-19 Raytheon Company Compensation of clock jitter in analog-digital converter applications
CN102073008B (zh) 2010-11-08 2013-05-01 龙芯中科技术有限公司 片上时钟不确定性的测量电路装置及系统
US8913704B2 (en) * 2011-07-01 2014-12-16 Infineon Technologies Ag Method and system for jitter reduction
JP2013077921A (ja) * 2011-09-29 2013-04-25 Toshiba Corp クロック診断回路
JP2013156732A (ja) * 2012-01-27 2013-08-15 Hitachi Ltd エレベータの制御装置及び制御方法
TWI474152B (zh) 2012-04-20 2015-02-21 Realtek Semiconductor Corp 時脈相位差的估計裝置及方法
GB2527007B (en) * 2013-03-29 2018-01-10 Mitsubishi Electric Corp Signal processing device for time synchronization control
JP6382029B2 (ja) * 2013-09-20 2018-08-29 パナソニック インテレクチュアル プロパティ コーポレーション オブ アメリカPanasonic Intellectual Property Corporation of America 送信方法、受信方法、送信装置、及び受信装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1131022A (ja) * 1997-07-11 1999-02-02 Nec Corp クロック冗長化方式
JP2005284426A (ja) * 2004-03-29 2005-10-13 Fujitsu Ltd 非同期回路検証方法および非同期回路検証プログラム
JP2007316815A (ja) * 2006-05-24 2007-12-06 Nec Corp クロック異常検出方法及びクロック異常検出プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
US20180129244A1 (en) 2018-05-10
CN107615205A (zh) 2018-01-19
US10303204B2 (en) 2019-05-28
TW201642133A (zh) 2016-12-01
TWI574151B (zh) 2017-03-11
WO2016189688A1 (ja) 2016-12-01
CN107615205B (zh) 2020-03-13
JPWO2016189688A1 (ja) 2017-12-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10054635B2 (en) Integrated system and method for testing system timing margin
KR20150094112A (ko) 반도체 메모리 장치 및 동작 방법
JP6227196B2 (ja) クロック診断装置及びクロック診断方法
US9600023B2 (en) Method and data processing unit for providing a timestamp
US11150715B2 (en) Parallel processor and arithmetic processing method
JP2007026028A (ja) マイクロコンピュータの異常検出装置
JP2011154459A (ja) コンピュータシステムのプログラム異常動作検出装置
US9830242B2 (en) Loading calculation method and loading calculation system for processor in electronic device
JP2020061124A (ja) 並列処理装置及び演算処理方法
JP2013161429A (ja) トレース制御装置及びトレース制御方法
JP2005092430A (ja) ウォッチドッグタイマ
JP2019080242A (ja) データ取得方法およびデータ取得装置
US10014072B2 (en) Diagnosis method for diagnosing memory, transmission apparatus, and computer-readable recording medium
US11378400B2 (en) Offset calculation device, offset correction device, and offset calculation method
JP2016217739A (ja) システム時刻修正装置およびシステム時刻修正方法
JP6266190B2 (ja) 多重系システム
JP4842036B2 (ja) 半導体装置と、タイミング制御回路の異常検出方法
JP2013201619A (ja) クロック故障検出装置及びクロック故障検出方法
JP2016062219A (ja) 電子制御装置
JP2015135538A (ja) プロセッサ
JP2023035058A (ja) データ通信装置およびデータ途切れ検出方法
EP2535818A1 (en) Error generation indicator circuit, storage device, information processing device and control method of error generation indicator circuit
JP2010211391A (ja) Cpuの動作監視方法および装置
JP4968035B2 (ja) エッジ信号生成装置及び半導体試験装置
JP2018097559A (ja) デバック回路およびデバック試験方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170817

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170817

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20170817

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20170904

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170912

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20171010

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6227196

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250