JP2013201619A - クロック故障検出装置及びクロック故障検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】情報処理装置のインタフェースを増やさずに入力タイマークロックの故障検出を実現する。
【解決手段】クロック故障検出装置１０は、入力した外部クロック６０の立ち上がり又は立ち下りのエッジ間隔を計測するエッジ間隔計測部２０と、エッジ間隔計測部２０による複数の計測値６１〜６５の平均からエッジ間隔の基準値６６を作成するエッジ間隔基準値作成部３０と、エッジ間隔基準値作成部３０で基準値６６が作成された後に、エッジ間隔計測部２０による計測値６７と基準値６６とを比較することにより外部クロック６０のエラーを検出するエラー検出部４０と、を備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、タイマークロックの故障を検出するためのクロック故障検出装置及びクロック故障検出方法に関する。

従来、外部からタイマークロックが供給される情報処理装置の信頼性向上のためには、タイマークロック供給信号以外にその誤りを検出するパリティなどの信号が必要であり、入力インタフェースが増えてしまう結果になっていた。これ以外のエラー検出方法では、二つ以上のクロックが存在するシステムにて、二つのクロックを用いたカウント数をチェックすることにより故障を検出できるが、１サイクル毎の正当性を確認しておらず、故障を検出するのに時間がかかっていた。特許文献１では、二つの異なるクロックを用いてクロック故障を検出しているが、一定時間（実時間）当たりのカウント数で故障判定をしており、故障が判明するのは一定時間後であり、１サイクル毎の判定は行っていない。また、タイマークロックが故障した際に継続動作をさせるためにはＴＣＳ装置（Timer Clock Syncronizer：時刻同期化装置）をメイン用と予備用の二つ用意し、二重化構成をせざるを得ず、システムのコスト増加を招いていた。

特開平３−１００８１５号公報

外部からタイマークロック信号が供給されている情報処理装置にて、その入力信号に対するエラー検出方法は、入力信号に対するパリティや二重化を用いたチェックで行われている、しかし、それを実現するためには、チェック用の入力信号が別途必要になり、ハードウェアインタフェースの増加を招いていた。

また、タイマークロック入力信号に故障が発生した場合、タイマークロックを基にカウントアップしているタイマー装置が止まったり正確に動作しなくなったりする。このことから、ＴＯＤ（Time Of Day：日付時刻機構）のズレや、情報処理装置のストールやＯＳのクラッシュなどを招いていた。

そこで、本発明の目的は、情報処理装置のインタフェースを増やさずに入力タイマークロックの故障検出を実現し得るクロック故障検出装置等を提供することにある。

本発明に係るクロック故障検出装置は、
入力した外部クロックの立ち上がり又は立ち下りのエッジ間隔を計測するエッジ間隔計測部と、
このエッジ間隔計測部による複数の計測値の平均から前記エッジ間隔の基準値を作成するエッジ間隔基準値作成部と、
このエッジ間隔基準値作成部で前記基準値が作成された後に、前記エッジ間隔計測部による計測値と前記基準値とを比較することにより前記外部クロックのエラーを検出するエラー検出部と、
を備えたものである。

本発明に係るクロック故障検出方法は、
入力した外部クロックの立ち上り又は立ち下りのエッジ間隔を計測し、その複数の計測値の平均から前記エッジ間隔の基準値を作成し、
前記基準値が作成された後に前記エッジ間隔を計測し、その計測値と前記基準値とを比較することにより、前記外部クロックのエラーを検出する、
ものである。

本発明によれば、情報処理装置のインタフェースを増やさずに入力タイマークロックの故障検出を実現することができる。その理由は、システム初期設定時に計測したタイマークロックのエッジ間隔を基準値とし、その後システム稼働中に入力タイマークロックのエッジ間隔値を基準値と比較することにより故障を検出することができるためである。

本発明に係るクロック故障検出装置の一実施形態を示すブロック図である。 図１のクロック故障検出装置を内蔵する情報処理装置を示すブロック図である。 図１のクロック故障検出装置におけるエラー判定条件の一覧を示す図表である。 図１のクロック故障検出装置におけるエラー波形の第一例を示すタイミングチャートである。 図１のクロック故障検出装置におけるエラー波形の第二例を示すタイミングチャートである。

以下、添付図面を参照しながら、本発明を実施するための形態（以下「実施形態」という。）について説明する。なお、本発明に係るクロック故障検出方法は、本発明に係るクロック故障検出装置の動作を方法の発明として捉えたものであるので、以下の実施形態の説明の中で同時に説明する。

図１は、本発明に係るクロック故障検出装置の一実施形態を示すブロック図である。図２は、図１のクロック故障検出装置を内蔵する情報処理装置を示すブロック図である。以下、これらの図面に基づき説明する。

本実施形態のクロック故障検出装置１０は、入力した外部クロック６０の立ち上がり又は立ち下りのエッジ間隔（発振間隔）を計測するエッジ間隔計測部２０と、エッジ間隔計測部２０による複数の計測値６１〜６５の平均からエッジ間隔の基準値６６を作成するエッジ間隔基準値作成部３０と、エッジ間隔基準値作成部３０で基準値６６が作成された後に、エッジ間隔計測部２０による計測値６７と基準値６６とを比較することにより外部クロック６０のエラーを検出するエラー検出部４０と、を備える。

エラー検出部４０は、計測値６７と基準値６６との差が一定以上になったときに、エラーを検出したとする。また、エラー検出部４０は、計測値６７と基準値６６との差が一定以上になることが一定回数になったときに、故障と判定する。

更に、クロック故障検出装置１０は、エッジ間隔基準値作成部３０で作成された基準値６６に基づき内部クロック８０を生成し、エラー検出部４０で故障と判定されたときに、外部クロック６０に代えて内部クロック８０に切り替えるクロック切替部５０を、備える。

なお、外部クロック６０とは外部から入力するタイマークロックのことであり、内部クロック８０とは内部で生成するタイマークロックのことである。

以下、本実施形態のクロック故障検出装置１０について更に詳細に説明する。

まずは、一般的なタイマークロックが用いられる情報処理装置２００について、図２に基づき説明する。情報処理装置２００は時刻制御用としてＴＯＤ（Time Of Day）機構からなるタイマー装置２０１を具備しており、そのＴＯＤ機構はレジスタで構成される。情報処理装置２００にタイマークロックが供給されることにより、これをタイマー装置２０１のレジスタがカウントアップすることにより、時刻を進めることができる。タイマークロックは、時刻補正の必要上、外部のＴＣＳ装置１００から供給される。本実施形態のクロック故障検出装置１０は、タイマー装置２０１とともに情報処理装置２００に内蔵される。また、情報処理装置２００がＴＣＳ装置１００から入力したタイマークロックは、クロック故障検出装置１０を経てタイマー装置２０１に供給される。

以下、図１に基づき、クロック故障検出装置１０の構成を説明する。エッジ間隔計測部２０は、エッジ間隔計測カウンタからなる。エッジ間隔基準値作成部３０は、計測値格納レジスタ３１〜３５、計測値平均算出回路３６、基準値格納レジスタ３７からなる。エラー検出部４０は、マージン値格納レジスタ４１、エラー判定回路４２、エラーカウントレジスタ４３、故障判定回路４４からなる。クロック切替部５０は、クロック生成回路５１、クロック切替判定回路５２、クロック選択回路５３からなる。

エッジ間隔計測部２０は、外部クロック６０の立ち上がりエッジ間隔を、情報処理装置２００のクロック周波数で計測するカウンタである。つまり、ある起点の立ち上がりエッジから次の立ち上がりエッジまで、情報処理装置２００のクロック周波数で何サイクルかかったかをカウントする。

エッジ間隔基準値作成部３０は、エラー判定の基となるクロック発振間隔の基準値（正解値）を算出するものであり、情報処理装置２００のシステムの初期設定時にのみ稼働する。まず、エッジ間隔計測部２０は、外部クロック６０のエッジ間隔を複数回計測し、その計測値をそれぞれ計測値格納レジスタ３１〜３５に格納する。本実施形態では、五回計測し、それらの計測値６１〜６５を五つの個別の計測値格納レジスタ３１〜３５に格納する。一回目の計測値６１は計測値格納レジスタ３１に格納、二回目の計測値６２は計測値格納レジスタ３２に格納、といった具合である。計測値平均算出回路３６は、エッジ間隔計測部２０による五回の計測が終わってから、計測値格納レジスタ３１〜３５内の五つの計測値６１〜６５の平均値を計算し、その値をエッジ間隔の基準値６６として基準値格納レジスタ３７に格納する。

エッジ間隔を複数回計測して、それらの計測値の平均を出す理由は、計測の誤差をなるべく少なくするためである。この平均値の計算方法はどのようなものでもよい。また、本実施形態では、五回分の計測値６１〜６５を五つのエッジ間隔格納レジスタ３１〜３５に格納する構成となっているが、その計測回数は何回でもよい。

エラー検出部４０は、外部クロック６０のエラーを検出し、外部クロック６０の最終的な故障を判定する。前述のとおり、エッジ間隔計測部２０は、外部クロック６０の発振間隔を計測する。つまり、エッジ間隔計測部２０は、システムの初期設定時にはエッジ間隔の基準値を算出するために動作し、初期設定終了後のシステム稼働時にはエッジ間隔のエラーを検出するために動作する。エラー判定回路４２は、エッジ間隔計測部２０による計測値６７と基準値格納レジスタ３７内の基準値６６とを比較する。

外部クロック６０の周波数は、供給元のＴＣＳ装置１００に内蔵される水晶発振器自体の精度誤差以外に、時刻補正を行うための意図的な周波数変動がある。したがって、正常な外部クロック６０であっても、周波数は一定ではなく変動する場合がある。これに対応するため、マージン値格納レジスタ４１は、システムで認められた変動許容値すなわちマージン値７０を保持する。マージン値７０は、予め固定値を設定しておくか、診断パスを用いてエラー判定が開始される前に設定しておく。

エラー判定回路４２のエラー判定条件は以下のとおりである。まず、基準値格納レジスタ３７内の基準値６６をＡ、エッジ間隔計測部２０による計測値６７をＢ、マージン値格納レジスタ４１内のマージン値７０をαとする。そして、Ａ±αとＢを比較し、Ａ−αからＡ＋αまでの範囲内にＢがあるならば外部クロック６０を「正常」とする。この条件を式で表すと次のようになる。
（Ａ−α）≦Ｂ≦（Ａ＋α）

一方、ＢがＡ−αよりも小さい場合、エラー判定回路４２は、エラーカウントアップ指示７１をエラーカウントレジスタ４３へ出力することにより、「短周期エラー」としてエラーカウントレジスタ４３に「１」を足し込む。この条件を式で表すと次のようになる。
Ｂ＜（Ａ−α）

また、ＢがＡ＋αよりも大きい場合は、エラー判定回路４２は、エラーカウントアップ指示７１をエラーカウントレジスタ４３へ出力することにより、「長周期エラー」としてエラーカウントレジスタ４３に「１」を足し込む。この条件を式で表すと次のようになる。
Ｂ＞（Ａ＋α）

故障判定回路４４は、エラーカウントレジスタ４３からエラーカウント数７２を入力することにより、エラーカウント数７２を監視する。そして、故障判定回路４４は、エラーカウント数７２が一定期間中に規定の値（エラー回数）を超えた場合、外部クロック６０が故障であると判定して故障通知７３を出力する。このように、短周期エラー又は長周期エラーが１回起きただけでは、外部クロック６０の故障とは判定しない。これは数回の間欠故障が発生した程度では、タイマー装置２０１にはそれほど影響を与えないためである。

これとは別に、エッジ間隔計測部２０は、次の立ち上がりエッジを待って計測している。このとき、いつまで経っても立ち上がりエッジが来ない場合、つまり長周期エラーが一定回数継続されている場合、エッジ間隔計測部２０は、オーバーフロー通知６８を故障判定回路４４へ出力することによって、固定故障の「タイマーストールエラー」が起こったことを報告する。故障判定回路４４は、オーバーフロー通知６８を受け取った場合は、エラーカウント数７２がいくつであっても即、外部クロック６０の故障と判定する。

クロック切替部５０は、外部クロック６０が故障となった際に、外部クロック６０から内部クロック８０に切り替える。クロック生成回路５１は、基準値格納レジスタ３７内の基準値６６が確定した時点で、基準値６６を使って外部クロック６０と同様のエッジ間隔を持った信号を作成する。クロック生成回路５１が生成する信号が内部クロック８０である。故障判定回路４４は、外部クロック６０の故障であると判定すると、クロック切替判定回路５２へ故障通知７３を出力する。この場合、クロック切替判定回路５２は、その故障判定をセレクト条件として、切り替え指示８１をクロック選択回路５３へ出力することにより、タイマー装置２０１へのタイマークロック供給を、外部クロック６０から内部クロック８０に切り替える。

次に、本実施形態のクロック故障検出装置１０の動作について説明する。

始めに、タイマークロック発振間隔の基準値を算出する動作を説明する。情報処理装置２００のシステムの初期設定時にて以下を行う。エッジ間隔計測部２０は、外部クロック６０を入力すると、外部クロック６０の立ち上がりエッジ間隔を計測する。例えば情報処理装置２００のクロック周波数が５００ＭＨｚ、外部クロック６０が１ＭＨｚであった場合、エッジ間隔計測部２０の計測値はカウント数で５００回となる。エッジ間隔計測部２０は、１回目の計測が終わったら、その計測値６１を計測値格納レジスタ３１に格納する。

続けて、エッジ間隔計測部２０は、外部クロック６０の立ち上がりエッジ間隔を計測し、２回目の計測値６２を計測値格納レジスタ３２に格納し、３回目の計測値６３を計測値格納レジスタ３３に格納し、本実施形態では５回目までの計測値６４，６５を、計測値格納レジスタ３４，３５に格納する。計測値平均算出回路３６は、計測値６１〜６５が計測値格納レジスタ３１〜３６に格納されたら、計測値格納レジスタ３１〜３６から５つの計測値６１〜６５を入力し、これらの平均値を算出する。計測値平均算出回路３６は、算出した平均値をタイマークロック発振間隔の基準値６６として、基準値格納レジスタ３７に格納する。これにて、エラー判定の基となる基準値６６の算出が終了する。

次に、エラーをチェックする動作を説明する。外部クロック６０に対するエラーチェックの開始は、基準値格納レジスタ３７に基準値６６が格納された後のシステム稼働となってからである。システム稼働となったら、エッジ間隔計測部２０は、外部クロック６０のエッジ間隔を計測し、その計測値６７をエラー判定回路４２へ送る。エラー判定回路４２は、計測値６７と基準値格納レジスタ３７内の基準値６６とを比較する。ここで、計測値６７をＢ、基準値６６をＡ、マージン値格納レジスタ４１に格納されているマージン値７０をαとしたとき、エラー判定回路４２は、ＢがＡ−αからＡ＋αまでの範囲内であれば問題なしとする一方、Ｂがその範囲を外れると短周期又は長周期エラーとしてエラーカウントレジスタ４３の値を「１」足し込むようにエラーカウントアップ指示７１を出す。

エラー判定条件の一覧を図３に、エラー波形の例を図４及び図５に示す。図３乃至図５に示す「短周期エラー」又は「長周期エラー」は、外部クロック６０の周期が一時的におかしくなっただけで、再びタイマークロックが供給される場合、すなわち、間欠故障の場合である。故障判定回路４４は、間欠故障が続き、エラーカウント数７２が一定期間に規定回数を超えたときに、クロック故障と判定する。これは、例えば８時間の間に３回以上エラーが生じたらクロック故障とするなど、期間と回数が定められる。図３乃至図５の「タイマーストールエラー」は、長周期エラーが一定回数継続されている場合、すなわち固定故障の場合である。固定故障の場合、情報処理装置システムに影響が出るので即、外部クロック６０の故障とする。

これは、エッジ間隔計測部２０がオーバーフロー通知６８を故障判定回路４４へ出力することにより、故障判定回路４４が判断する。例えば、基準値６６のカウント数が大体「５００（１０進）」と予測されるシステムにおいて、「２５００（１０進）」のカウント幅の容量を有するエッジ間隔計測部２０を用意しておく。エラーでない場合、エッジ間隔計測部２０は、およそ「５００」のカウント数前後でクリアされて「０」となり、再びカウントを始める。一方、エラーである場合、エッジ間隔計測部２０は、クリアされずに「２５００」までカウント数が進むと、基準値６６の５倍のカウント数が進んだことになり、５周期分のタイマークロックエッジが来ていないことになる。そこで、カウント数が「２５００」を超えたらエッジ間隔計測部２０がオーバーフロー通知６８を出すように設定しておけば、故障判定回路４４はこれがタイマーストールエラー（固定故障）であると判定できることになる。

次に、クロック故障時のタイマークロック切り替えについて説明する。クロック生成回路５１は、情報処理装置２００のクロック周波数をカウントアップする汎用カウンタで実現できる。その汎用カウンタは、内部クロック８０の出力波形の初期値としてまず「０」を出力する。汎用カウンタのカウント数が基準値格納レジスタ３７の基準値６６の１／２になったとき、内部クロック８０の出力波形を「１」に反転させる。汎用カウンタのカウント数が基準値６６の２／２になったら、内部クロック８０の出力波形を「０」に反転させ、汎用カウンタのカウント数を「０」に戻す。これを繰り返すことにより、内部クロック８０の波形が実現できる。

故障判定回路４４から故障通知７３が出力されたら、クロック切替判定回路５２は、外部クロック６０から内部クロック８０に切り替えるよう、クロック選択回路５３へ切り替え指示８１を出力する。つまり、情報処理装置２００内のタイマー装置２０１へ正常なタイマークロックを供給することにより、情報処理装置２００のシステムに影響が出ないようにする。クロック切り替え時にタイマークロックの位相に差が発生する場合が予想されるが、１サイクル内の誤差であり影響は無い。内部クロック８０は、外部クロック６０と違い、時刻補正のための周波数変動はできないが、保守員が故障部を復旧させるまでの繋ぎとしてはシステムの機能を十分に果たせるものである。

次に、本実施形態の効果について説明する。

第１の効果は、情報処理装置２００のインタフェースを増やさずに外部クロック６０の故障検出を実現できることである。その理由は、システム初期設定時に計測した外部クロック６０のエッジ間隔を基準値６６とし、その後システム稼働中に外部クロック６０のエッジ間隔の計測値６７を基準値６６と比較することにより、故障を検出できるためである。

第２の効果は、外部クロック６０が故障した際、内部で生成した内部クロック８０に切り替えることにより、情報処理装置２００内に供給するタイマークロックが途切れることが無くなり、システムの継続動作が可能となることである。また、外部にＴＣＳ装置１００をもう一つ持たず、つまり二重化せずにシステム動作を継続できるので、その分コストを削減できることである。その理由は、外部クロック６０のエッジ間隔が基準値６６として分かっているので、この情報を基に外部クロック６０と同じ周波数の内部クロック８０を生成できるからである。

第３の効果は、周波数変動に対応した故障時のタイマークロック切り替え用の信号を実現できる。その理由は、外部クロック６０のエッジ間隔の基準値６６を基に、外部クロック６０と同じ周波数の内部クロック８０を生成できるからである。外部クロック６０という周波数変動がある信号に対して、故障予備用として内部に水晶発振器を持つこと（つまり固定周波数を持つこと）では、周波数変動に対応できない。

次に、本発明について総括する。

本発明は、外部から情報処理装置へ入力されるタイマークロック信号に対し、システム初期設定時にタイマークロックの立ち上がりエッジ間隔を計測してこれを基準値とし、その後のシステム稼働中に同タイマークロック入力信号の立ち上がりエッジ間隔と基準値とを比較監視することにより、ハードウェアインタフェースを増やさずにタイマークロック入力信号の故障検出を可能とし、また、故障となった際、タイマークロックの供給を外部入力信号から、基準値を用いて内部生成した信号に切り替えることにより、情報処理システムの継続動作を可能とし、タイマークロックの高信頼性を実現することを特徴とするものである。

換言すると、本発明は、
システム初期設定時にタイマークロックの立ち上がりエッジ間隔を複数回計測し、その複数回の平均値を算出した結果をタイマークロックのエッジ間隔基準値とする手段と、
システム稼働中に入力されるタイマークロックの立ち上がりエッジ間隔と基準値とを比較することによりエラーを検出し、そのエラー回数が規定回数を上回った場合、タイマークロック入力信号を故障と判定する手段と、
基準値からタイマークロックを内部生成し、タイマークロック入力信号が故障となった際、タイマークロックの供給を入力信号から、この内部生成信号に切り替える手段と、
を有する。

以上、上記各実施形態を参照して本発明を説明したが、本発明は上記各実施形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細については、当業者が理解し得るさまざまな変更を加えることができる。また、本発明には、上記各実施形態の構成の一部又は全部を相互に適宜組み合わせたものも含まれる。

上記の実施形態の一部又は全部は以下の付記のようにも記載され得るが、本発明は以下の構成に限定されるものではない。

［付記１］入力した外部クロックの立ち上がり又は立ち下りのエッジ間隔を計測するエッジ間隔計測部と、
このエッジ間隔計測部による複数の計測値の平均から前記エッジ間隔の基準値を作成するエッジ間隔基準値作成部と、
このエッジ間隔基準値作成部で前記基準値が作成された後に、前記エッジ間隔計測部による計測値と前記基準値とを比較することにより前記外部クロックのエラーを検出するエラー検出部と、
を備えたクロック故障検出装置。

［付記２］前記エラー検出部は、前記計測値と前記基準値との差が一定以上になったときに、前記エラーを検出したとする、
付記１記載のクロック故障検出装置。

［付記３］前記エラー検出部は、前記差が一定以上になることが一定回数になったときに、故障と判定する、
付記１記載のクロック故障検出装置。

［付記４］前記エッジ間隔基準値作成部で作成された前記基準値に基づき内部クロックを生成し、前記エラー検出部で前記故障と判定されたときに、前記外部クロックに代えて前記内部クロックに切り替えるクロック切替部を、
更に備えた付記３記載のクロック故障検出装置。

［付記５］前記外部クロックが外部タイマークロックである、
付記１乃至４のいずれか一つに記載のクロック故障検出装置。

［付記６］入力した外部クロックの立ち上り又は立ち下りのエッジ間隔を計測し、その複数の計測値の平均から前記エッジ間隔の基準値を作成し、
前記基準値が作成された後に前記エッジ間隔を計測し、その計測値と前記基準値とを比較することにより、前記外部クロックのエラーを検出する、
クロック故障検出方法。

［付記７］計測値と前記基準値とを比較する際に、前記計測値と前記基準値との差が一定以上になったときに、前記エラーを検出したとする、
付記６記載のクロック故障検出方法。

［付記８］前記差が一定以上になることが一定回数になったときに、故障と判定する、
付記７記載のクロック故障検出方法。

［付記９］前記基準値に基づき内部クロックを生成し、前記故障と判定したときに、前記外部クロックに代えて前記内部クロックに切り替える、
付記８記載のクロック故障検出方法。

［付記１０］前記外部クロックが外部タイマークロックである、
付記６乃至９のいずれか一つに記載のクロック故障検出方法。

１０ クロック故障検出装置
２０ エッジ間隔計測部
３０ エッジ間隔基準値作成部
３１〜３５ 計測値格納レジスタ
３６ 計測値平均算出回路
３７ 基準値格納レジスタ
４０ エラー検出部
４１ マージン値格納レジスタ
４２ エラー判定回路
４３ エラーカウントレジスタ
４４ 故障判定回路
５０ クロック切替部
５１ クロック生成回路
５２ クロック切替判定回路
５３ クロック選択回路
６０ 外部クロック
６１〜６５，６７ 計測値
６６ 基準値
６８ オーバーフロー通知
７０ マージン値
７１ エラーカウントアップ指示
７２ エラーカウント数
７３ 故障通知
８０ 内部クロック
８１ 切り替え指示
１００ ＴＣＳ装置
２００ 情報処理装置
２０１ タイマー装置

Claims (10)

1. 入力した外部クロックの立ち上がり又は立ち下りのエッジ間隔を計測するエッジ間隔計測部と、
   このエッジ間隔計測部による複数の計測値の平均から前記エッジ間隔の基準値を作成するエッジ間隔基準値作成部と、
   このエッジ間隔基準値作成部で前記基準値が作成された後に、前記エッジ間隔計測部による計測値と前記基準値とを比較することにより前記外部クロックのエラーを検出するエラー検出部と、
   を備えたクロック故障検出装置。
2. 前記エラー検出部は、前記計測値と前記基準値との差が一定以上になったときに、前記エラーを検出したとする、
   請求項１記載のクロック故障検出装置。
3. 前記エラー検出部は、前記差が一定以上になることが一定回数になったときに、故障と判定する、
   請求項１記載のクロック故障検出装置。
4. 前記エッジ間隔基準値作成部で作成された前記基準値に基づき内部クロックを生成し、前記エラー検出部で前記故障と判定されたときに、前記外部クロックに代えて前記内部クロックに切り替えるクロック切替部を、
   更に備えた請求項３記載のクロック故障検出装置。
5. 前記外部クロックが外部タイマークロックである、
   請求項１乃至４のいずれか一つに記載のクロック故障検出装置。
6. 入力した外部クロックの立ち上り又は立ち下りのエッジ間隔を計測し、その複数の計測値の平均から前記エッジ間隔の基準値を作成し、
   前記基準値が作成された後に前記エッジ間隔を計測し、その計測値と前記基準値とを比較することにより、前記外部クロックのエラーを検出する、
   クロック故障検出方法。
7. 計測値と前記基準値とを比較する際に、前記計測値と前記基準値との差が一定以上になったときに、前記エラーを検出したとする、
   請求項６記載のクロック故障検出方法。
8. 前記差が一定以上になることが一定回数になったときに、故障と判定する、
   請求項７記載のクロック故障検出方法。
9. 前記基準値に基づき内部クロックを生成し、前記故障と判定したときに、前記外部クロックに代えて前記内部クロックに切り替える、
   請求項８記載のクロック故障検出方法。
10. 前記外部クロックが外部タイマークロックである、
    請求項６乃至９のいずれか一つに記載のクロック故障検出方法。

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