JP6140681B2 - 測定ユニットを備えた蒸発システム - Google Patents
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Claims (15)
- 基板上に蒸着材料を蒸着するための蒸発器であって、
少なくとも1つの開口ノズルの方向に蒸着材料を案内するための案内手段を備え、蒸着材料は前記開口ノズルを経由して基板に供給可能であり、
前記案内手段は、一部分の蒸着材料に対する測定出口を備え、
さらに、蒸発器は、
蒸着材料がコーティングされる位置に配置されて、蒸発器の堆積速度を示す第1の信号を生成する第1の検出器を有する、第1の測定システムと、
前記測定出口における一部分の蒸着材料に基づいて、蒸発器の堆積速度を示す第2の信号を光学的に生成する第2の測定システムと、
前記一部分の蒸着材料によるコーティング中に試験基板を保持する試験基板支持体と
を備え、
前記試験基板の一部分を、前記測定出口と前記第1の検出器との間にある位置から、前記第1の検出器がコーティングされる位置へと移動させるアクチュエータが、前記試験基板支持体に備えられる、蒸発器。 - 前記案内手段は、供給チューブおよび分配マニホルドを備え、前記少なくとも1つの開口ノズルは、前記分配マニホルド中に設けられ、および/または、前記案内手段は、供給チューブおよび分配パイプである分配マニホルドを備え、前記少なくとも1つの開口ノズルは、前記分配マニホルド中に設けられる、請求項1に記載の蒸発器。
- 前記測定出口は、前記少なくとも1つの開口ノズルの蒸発方向とは異なる蒸発方向を有し、および/または、前記第2の測定システムは、層厚さを測定する、請求項1に記載の蒸発器。
- 前記第2の測定システムに接続されて、前記第2の信号を受け取って、前記第1の測定システムを較正するコントローラ
をさらに備える、請求項1に記載の蒸発器。 - 基板上に蒸着材料を蒸着するための蒸発器であって、
少なくとも1つの開口ノズルの方向に蒸着材料を案内するための案内手段を備え、蒸着材料は前記開口ノズルを経由して基板に供給可能であり、
前記案内手段は、一部分の蒸着材料に対する測定出口を備え、
さらに、蒸発器は、
蒸着材料がコーティングされる位置に配置されて、蒸発器の堆積速度を示す第1の信号を生成する第1の検出器を有する、第1の測定システムと、
前記測定出口における一部分の蒸着材料に基づいて、蒸発器の堆積速度を示す第2の信号を光学的に生成する第2の測定システムと
を備え、
前記案内手段は、供給チューブおよび分配マニホルドを備え、前記少なくとも1つの開口ノズルは、前記分配マニホルド中に設けられ、および/または、前記案内手段は、供給チューブおよび分配パイプである分配マニホルドを備え、前記少なくとも1つの開口ノズルは、前記分配マニホルド中に設けられ、
前記測定出口は、前記供給チューブ中に設けられる、蒸発器。 - 基板上に蒸着材料を蒸着するための蒸発器であって、
少なくとも1つの開口ノズルの方向に蒸着材料を案内するための案内手段を備え、蒸着材料は前記開口ノズルを経由して基板に供給可能であり、
前記案内手段は、一部分の蒸着材料に対する測定出口を備え、
さらに、蒸発器は、
蒸着材料がコーティングされる位置に配置されて、蒸発器の堆積速度を示す第1の信号を生成する第1の検出器を有する、第1の測定システムと、
前記測定出口における一部分の蒸着材料に基づいて、蒸発器の堆積速度を示す第2の信号を光学的に生成する第2の測定システムと
を備え、
前記測定出口は、前記少なくとも1つの開口ノズルの蒸発方向とは異なる蒸発方向を有し、および/または、前記第2の測定システムは、層厚さを測定し、
前記測定出口は、供給チューブ中に設けられる、蒸発器。 - 基板上に蒸着材料を蒸着するための蒸発器であって、
少なくとも1つの開口ノズルの方向に蒸着材料を案内するための案内手段を備え、蒸着材料は前記開口ノズルを経由して基板に供給可能であり、
前記案内手段は、一部分の蒸着材料に対する測定出口を備え、
さらに、蒸発器は、
蒸着材料がコーティングされる位置に配置されて、蒸発器の堆積速度を示す第1の信号を生成する第1の検出器を有する、第1の測定システムと、
前記測定出口における一部分の蒸着材料に基づいて、蒸発器の堆積速度を示す第2の信号を光学的に生成する第2の測定システムと、
前記第2の測定システムに接続されて、前記第2の信号を受け取って、前記第1の測定システムを較正するコントローラと
を備え、
前記案内手段は、供給チューブおよび分配マニホルドを備え、
前記測定出口は、前記供給チューブ中に設けられる、蒸発器。 - 基板上に蒸着材料を蒸着するための蒸発器であって、
少なくとも1つの開口ノズルの方向に蒸着材料を案内するための案内手段を備え、蒸着材料は前記開口ノズルを経由して基板に供給可能であり、
前記案内手段は、一部分の蒸着材料に対する測定出口を備え、
さらに、蒸発器は、
蒸着材料がコーティングされる位置に配置されて、蒸発器の堆積速度を示す第1の信号を生成する第1の検出器を有する、第1の測定システムと、
前記測定出口における一部分の蒸着材料に基づいて、蒸発器の堆積速度を示す第2の信号を光学的に生成する第2の測定システムと、
前記一部分の蒸着材料によるコーティング中に試験基板を保持する試験基板支持体と
を備え、
前記案内手段は、供給チューブおよび分配マニホルドを備え、
前記測定出口は、前記供給チューブ中に設けられる、蒸発器。 - 基板上に蒸着材料を蒸着するための蒸発器であって、
少なくとも1つの開口ノズルの方向に蒸着材料を案内するための案内手段を備え、蒸着材料は前記開口ノズルを経由して基板に供給可能であり、
前記案内手段は、一部分の蒸着材料に対する測定出口を備え、
さらに、蒸発器は、
蒸着材料がコーティングされる位置に配置されて、蒸発器の堆積速度を示す第1の信号を生成する第1の検出器を有する、第1の測定システムと、
前記測定出口における一部分の蒸着材料に基づいて、蒸発器の堆積速度を示す第2の信号を光学的に生成する第2の測定システムと
を備え、
試験基板の一部分を、前記測定出口と前記第1の検出器との間にある位置から、前記第1の検出器がコーティングされる位置へと移動させるアクチュエータが、試験基板支持体に備えられ、
前記案内手段は、供給チューブおよび分配マニホルドを備え、
前記測定出口は、前記供給チューブ中に設けられる、蒸発器。 - 基板上に蒸着材料を蒸着するための蒸発器であって、
少なくとも1つの開口ノズルの方向に蒸着材料を案内するための案内手段を備え、蒸着材料は前記開口ノズルを経由して基板に供給可能であり、
前記案内手段は、一部分の蒸着材料に対する測定出口を備え、
さらに、蒸発器は、
蒸着材料がコーティングされる位置に配置されて、蒸発器の堆積速度を示す第1の信号を生成する第1の検出器を有する、第1の測定システムと、
前記測定出口における一部分の蒸着材料に基づいて、蒸発器の堆積速度を示す第2の信号を光学的に生成する第2の測定システムと、
前記一部分の蒸着材料を選択的に阻止するシャッターと
を備え、
前記案内手段は、供給チューブおよび分配マニホルドを備え、
前記測定出口は、前記供給チューブ中に設けられる、蒸発器。 - 前記第1の検出器は、少なくとも1つの振動結晶または4つ以上の振動結晶を備え、前記第2の測定システムは、電磁放射源および電磁放射検出器を備える、請求項1から10のいずれか一項に記載の蒸発器。
- 前記第2の測定システムは、電磁放射源および電磁放射検出器を備え、試験基板上の蒸着材料の層の厚さを測定する、請求項11に記載の蒸発器。
- 蒸着材料を蒸着するための蒸着装置を動作させる方法であって、
開口ノズルを経由して基板上に、蒸発された蒸着材料の第1の部分を案内することと、
測定出口を経由して第1の検出器上に、蒸発された蒸着材料の第2の部分を案内することと、
蒸発された蒸着材料の堆積速度に対応する信号が生成され得るように、前記蒸発された蒸着材料の前記第2の部分に対して第2の測定システムを位置決めすることと、
前記信号を使用して、前記第1の検出器を較正することと、
を含み、
さらに、
試験基板部分を、前記測定出口と前記第1の検出器との間に移動させて、蒸発された蒸着材料の前記第2の部分で試験基板部分を堆積することと、
前記測定出口と前記第1の検出器との間から前記試験基板部分を除去して、前記測定出口を経由して前記第1の検出器上に、蒸発された蒸着材料の前記第2の部分を再度案内することと、
前記試験基板部分上に堆積された蒸着材料の層の層厚さに対応する信号を光学的に測定することとを含む、
(A)前記第2の測定システムを位置決めすることと、
(B)蒸着材料の前記第2の部分を選択的に阻止するためにシャッターを移動させることと
を含む、方法。 - 光学的に測定することは、前記基板の移動前の層厚さと前記基板の除去後の層厚さとの層厚さの差を測定することを含む、請求項13に記載の方法。
- 光学的に測定することは、光吸収測定、干渉計測定、偏光解析測定、光反射測定、光透過測定、フォトルミネッセンス測定、400nm未満の波長を含む波長範囲での光反射測定、400nm未満の波長を含む波長範囲での光透過測定、およびそれらの組合せからなる群より選択される、請求項13または14に記載の方法。
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