JP6074695B2 - 高周波増幅回路 - Google Patents

高周波増幅回路 Download PDF

Info

Publication number
JP6074695B2
JP6074695B2 JP2013549664A JP2013549664A JP6074695B2 JP 6074695 B2 JP6074695 B2 JP 6074695B2 JP 2013549664 A JP2013549664 A JP 2013549664A JP 2013549664 A JP2013549664 A JP 2013549664A JP 6074695 B2 JP6074695 B2 JP 6074695B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
distributed constant
constant line
transistor
frequency amplifier
matching circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013549664A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2013175690A1 (ja
Inventor
智英 神山
智英 神山
浩 内藤
浩 内藤
高史 夘野
高史 夘野
基良 岩田
基良 岩田
八幡 和宏
和宏 八幡
光 池田
光 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Original Assignee
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd filed Critical Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority to JP2013549664A priority Critical patent/JP6074695B2/ja
Publication of JPWO2013175690A1 publication Critical patent/JPWO2013175690A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6074695B2 publication Critical patent/JP6074695B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/56Modifications of input or output impedances, not otherwise provided for
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/56Modifications of input or output impedances, not otherwise provided for
    • H03F1/565Modifications of input or output impedances, not otherwise provided for using inductive elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/66High-frequency adaptations
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/60Amplifiers in which coupling networks have distributed constants, e.g. with waveguide resonators
    • H03F3/601Amplifiers in which coupling networks have distributed constants, e.g. with waveguide resonators using FET's, e.g. GaAs FET's
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for
    • H01L2223/64Impedance arrangements
    • H01L2223/66High-frequency adaptations
    • H01L2223/6605High-frequency electrical connections
    • H01L2223/6611Wire connections
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for
    • H01L2223/64Impedance arrangements
    • H01L2223/66High-frequency adaptations
    • H01L2223/6644Packaging aspects of high-frequency amplifiers
    • H01L2223/6655Matching arrangements, e.g. arrangement of inductive and capacitive components
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance
    • H01L2924/30111Impedance matching
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/189High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers
    • H03F3/19High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/191Tuned amplifiers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Microwave Amplifiers (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Description

本発明は、高周波増幅回路に関し、特に高周波増幅回路の出力側に接続された整合回路の構造に関する。
一般に、高周波増幅回路は、高い出力を得るために単位トランジスタを並列接続した構造となる。その結果、入力および出力インピーダンスは低下し、例えば、出力が100Wを超えるような場合には、入力および出力インピーダンスが3Ω以下となることもある。よって、高周波増幅回路が接続される50Ω系の外部回路とは、インピーダンスの不整合が起こるため、高周波増幅回路の入力側および出力側に整合回路を接続することが必要である。
ここで、ほぼショート状態となる高周波増幅回路の低インピーダンスから50Ωへ整合させるための整合回路は、一例として信号経路に対して直列接続されたワイヤおよび分布定数線路による誘導性素子と、信号経路に並列接続された容量による容量性素子との組合せにより構成される。
従来の整合回路は、例えば、特許文献1および特許文献2に示されたような構造を有している。
図8は、特許文献1に記載された従来の高出力増幅器のパッケージ内部の構成を示す図である。同図に記載された高出力増幅器は、トランジスタ801と、入力側整合回路802と、出力側整合回路803とを備える。入力側整合回路802および出力側整合回路803は、それぞれ、リード端子804を有している。リード端子804は、それぞれの整合回路からパッケージ枠体805の外側へ信号を取り出す。
入力側整合回路802は、抵抗806と容量807から構成された並列回路と分布定数線路とが直列接続され、さらに、これらにリード端子が接続された構成となっている。この構成により回路の安定化が図られ、発振を防止することができる。また、容量807に対して抵抗806を複数設けた構成とすることで、ワイヤの接続箇所によって抵抗値を可変することができるため、実装後に回路特性を容易に調整することができる。
一方、出力側整合回路803は、トランジスタ801に近い方から、第1の分布定数線路、第2の分布定数線路、およびリード端子804で構成される。なお、分布定数線路を平行平板容量として動作させてもよい。
図9Aおよび図9Bは、それぞれ、特許文献2に記載された従来の高周波増幅器の構成を示す図である。図9Aに記載された高周波増幅器は、トランジスタ901と入力側整合回路902と、出力側整合回路903Aとを備える。出力側整合回路903Aは、高誘電率基板で構成された分布定数線路904および906と、当該高誘電率基板と異なる誘電率基板で構成された分布定数線路905とが、ワイヤによって従属接続された構成となっている。図8の出力側整合回路803と同様に、低インピーダンスから高インピーダンスへの変成を行うために、ワイヤと平行平板容量の機能も有する分布定数線路とを3段構成とすることで電気長を確保している。ここで、分布定数線路904および906が構成される高誘電率基板の比誘電率および厚みが同じである場合には、図9Bに示されるように、分布定数線路904および906を同一の高誘電率基板910で構成することができる。図9Aの出力側整合回路903Aの構成要素の一部を、図9Bの出力側整合回路903Bのように、同一基板上に形成することで、整合回路の構成を変更せずに長手方向のサイズを小型化することが可能となる。
国際公開第2007−119266号 特開2007−295367号公報
しかしながら、特許文献1に示された従来の高出力増幅器では、多段化された整合回路が従属接続されているために、回路サイズが大きくなる傾向があり、これに伴い収容するパッケージのサイズも大型化し、コストも高くなる。
また、特許文献2に示された従来の高周波増幅器では、複数の分布定数線路が同一基板で構成されているため小型化は可能である。しかしながら、この場合には、比誘電率と基板厚みとを同一にする必要があるため設計の自由度が低下する。また、複数の単位トランジスタが並列接続された高出力のトランジスタ901を想定し、さらに信号の流れを考えると、トランジスタ901の中央と端とに配置された単位トランジスタでは、分布定数線路904、905A、905Bおよび906での電気長が異なるため、整合が単位トランジスタごとに不均一となる。この整合の不均一さは、整合回路における伝送ロスを発生させる。図9Bにその電気長の違いの一例を点線矢印で示している。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、小型化かつインピーダンス整合のとれた高周波増幅回路を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明の一態様に係る高周波増幅回路は、高周波信号を増幅するトランジスタと入力側整合回路と出力側整合回路とをパッケージ内の実装面上に備え、前記出力側整合回路は、並列に配置された複数の第1ワイヤを介して前記トランジスタからの高周波信号が伝達される第1の分布定数線路と、並列に配置された複数の第2ワイヤを介して前記第1の分布定数線路からの高周波信号が伝達され、当該高周波信号を前記パッケージ外部へ伝送する平板状のリード端子と、一方の電極が、第3ワイヤを介して前記リード端子に接続され、他方の電極が接地された容量素子とを備え、前記リード端子の一部は、前記第1の分布定数線路が形成された誘電体基板の誘電率より低い誘電率を有する封止樹脂と接合されており、前記第1の分布定数線路および前記リード端子の並び方向と前記実装面において交差する方向に、前記容量素子および前記第1の分布定数線路が隣接して配置されていることを特徴とする。
本発明の高周波増幅回路によれば、第1の分布定数線路と容量素子との間の信号伝送は、低誘電率の樹脂に一部が覆われたリード端子によってなされる。さらにパッケージを金属製の測定治具に実装することでグランド面となるため、これにより、リード端子が低誘電率を有するマイクロストリップ型線路として機能するので、高誘電率の材料を用いた場合と比較して、第1の分布定数線路から容量素子までの電気長を低減することができる。よって、分布定数線路上に並列に存在する信号伝送経路の間での電気長のずれを低減できるので、整合回路のロスを低減することが可能となる。さらに、容量素子は、第1の分布定数線路とリード端子との並び方向と実装面において交差するように配置されるので、高周波信号の伝送方向の回路サイズが短縮され省面積化が可能となる。よって、整合回路の小型化およびデバイス性能の確保の両立が可能となる。
図1は、実施の形態1に係る高周波増幅回路の回路構成図である。 図2は、実施の形態1に係る高周波増幅回路のレイアウト図である。 図3Aは、実施の形態1に係る高周波増幅回路のY−Y’における構造断面図である。 図3Bは、実施の形態1に係る高周波増幅回路のX−X’における構造断面図である。 図4は、実施の形態1に係る整合回路のインピーダンスの変成を示したアドミタンスチャートである。 図5は、実施の形態1に係るパッケージの比誘電率と電気長および整合回路ロスとの関係を表すグラフである。 図6は、実施の形態2に係る高周波増幅回路のレイアウト図である。 図7は、実施の形態3に係る高周波増幅回路のレイアウト図である。 図8は、特許文献1に記載された従来の高周波増幅回路のパッケージ内部の構成を示す図である。 図9Aは、特許文献2に記載された従来の高周波増幅回路の第1の構成を示す図である。 図9Bは、特許文献2に記載された従来の高周波増幅回路の第2の構成を示す図である。
本発明の一態様に係る高周波増幅回路は、高周波信号を増幅するトランジスタと入力側整合回路と出力側整合回路とをパッケージ内の実装面上に備え、前記出力側整合回路は、並列に配置された複数の第1ワイヤを介して前記トランジスタからの高周波信号が伝達される第1の分布定数線路と、並列に配置された複数の第2ワイヤを介して前記第1の分布定数線路からの高周波信号が伝達され、当該高周波信号を前記パッケージ外部へ伝送する平板状のリード端子と、一方の電極が、第3ワイヤを介して前記リード端子に接続され、他方の電極が接地された容量素子とを備え、前記リード端子の一部は、前記第1の分布定数線路が形成された誘電体基板の誘電率より低い誘電率を有する封止樹脂と接合されており、前記第1の分布定数線路および前記リード端子の並び方向と前記実装面において交差する方向に、前記容量素子および前記第1の分布定数線路が隣接して配置されていることを特徴とする。
本態様によれば、第1の分布定数線路と容量素子との間の信号伝送は、低誘電率の樹脂が接合されたリード端子によってなされる。これにより、リード端子が低誘電率を有するマイクロストリップ型線路として機能するので、第1の分布定数線路から容量素子までの電気長を低減することができる。よって、整合回路の基板同士は、並列に配置された複数のワイヤで接続されているが、分布定数線路上に並列に存在する複数の信号伝送経路の間での電気長のずれを低減できるので、整合回路のロスを低減することが可能となる。さらに、容量素子は、第1の分布定数線路とリード端子との並び方向と実装面において交差する方向に配置されるので、高周波信号の伝送方向の回路サイズが短縮され省面積化が可能となる。よって、整合回路の小型化とデバイス性能の確保との両立が可能となる。
また、例えば、さらに、前記第1の分布定数線路と前記トランジスタとの間には、並列に配置された複数の第4ワイヤを介して前記トランジスタと接続され、かつ、前記複数の第1ワイヤを介して第1の分布定数線路と接続された第2の分布定数線路が配置されていてもよい。
本態様によれば、異なる誘電率で構成された分布定数線路を従属配置できるので、整合回路によりインピーダンス整合の自由度が向上する。
また、例えば、前記第1の分布定数線路と前記容量素子とは、連続した同一の誘電体基板で構成されていてもよい。
これにより、整合回路の基板を少なくすることができるため、実装が容易となり、製造工程のコスト低減および簡素化が可能となる。また、第1の分布定数線路と前記容量素子とは、同一の誘電体基板で構成されるので、第1の分布定数線路とリード端子との並び方向と実装面において交差する方向に、無駄な領域をあけることなく隣接して配置することが可能となる。よって、高周波信号の伝送方向だけでなく、当該伝送方向と交差する方向においても回路サイズを短縮することが可能となる。
また、例えば、前記第1の分布定数線路の前記交差する方向の両側に、対称に前記容量素子が配置されていてもよい。
これにより、容量素子を対称配置とすることで、均一動作させることができ、不要な反射を低減して整合回路のロスを低減することができる。
また、例えば、前記トランジスタは、複数個配置されており、前記トランジスタごとに設けられた、前記第1の分布定数線路と前記容量素子とで構成された単位伝送線路は、複数の前記トランジスタと前記リード端子との間に、複数個並列に配置されていてもよい。
これにより、トランジスタのチップサイズを低減することができるので、実装面における各トランジスタの反りが抑制され、当該実装面と各トランジスタとの密着性が向上する。これにより、各トランジスタの放熱性能を改善することが可能となる。よって、実装歩留まりが向上し、低コスト化を図ることができる。
また、例えば、隣接する前記単位伝送線路同士は、抵抗を介して接続されていてもよい。
これにより、並列配置された単位伝送線路の電力合成において発生することが懸念される発振を防止することが可能となる。
以下、本発明の一態様に係る高周波増幅回路について、図面を参照しながら説明する。また、以下の図面において同一の構成要素には同一の符号を用いている。
なお、以下で説明する実施の形態は、いずれも本発明の好ましい一具体例を示すものである。以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置および接続形態などは、一例であり、本発明を限定する主旨ではない。また、以下の実施の形態における構成要素のうち、本発明の最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、より好ましい形態を構成する任意の構成要素として説明される。
(実施の形態1)
図1は、実施の形態1に係る高周波増幅回路の回路構成図である。本実施の形態に係る高周波増幅回路1は、トランジスタ101と、入力側整合回路102と、出力側整合回路103とで構成されている。
トランジスタ101は、高出力を得るために単位トランジスタを並列接続した構造となっている。この結果、入力および出力インピーダンスは低く、例えば、出力が100Wを超えるような場合には、入力および出力インピーダンスが数Ω以下となることがある。よって、トランジスタ101を、50Ω系の外部回路と直接接続した場合には、インピーダンスの不整合が起こる。この不整合を解消するため、トランジスタ101の入力側および出力側に、それぞれ、入力側整合回路102および出力側整合回路103が接続された構成をとっている。トランジスタ101は、例えば、Si、GaAs、およびGaNといった材料からなる増幅器であり、トランジスタの種類も、FETやHFETなど、種類は問わない。
出力側整合回路103は、第2の分布定数線路104と、第1の分布定数線路105と、高周波増幅回路を内蔵するパッケージ112の外部へ信号を伝送するためのリード端子106と、容量素子108とで構成される。トランジスタ101の出力端子と第2の分布定数線路104の入力側とは、第4ワイヤ124により接続されている。第2の分布定数線路104の出力側と第1の分布定数線路105の入力側とは、第1ワイヤ121により接続されている。第1の分布定数線路105の出力側とリード端子106の入力側とは、第2ワイヤ122により接続されている。容量素子108の一方の電極とリード端子106の入力側とは、第3ワイヤ123により接続されている。また、容量素子108の他方の電極は接地されている。
なお、入力側整合回路102は、特に構造上の制限は無く、インピーダンス変成が行われ、トランジスタ101とリード端子106との間に配置された構成であればよい。
図2は、実施の形態1に係る高周波増幅回路のレイアウト図である。同図に示された高周波増幅回路1は、高周波信号を増幅するトランジスタ101と入力側整合回路102と出力側整合回路103とをパッケージ112内のベース基板107上に備える。また、トランジスタ101は、ベース基板107に実装する際に、放熱性向上のためAuSnやAuSiなどの導電性材料を介して接合される。本実施の形態では、トランジスタ101が実装されるパッケージ112内の実装面には、上述した導電性材料が形成されている。また、トランジスタ101が形成されるパッケージ112の実装面を含むベース基板107は、例えば、導電性金属で構成されている。
第1の分布定数線路105は、並列に配置された複数の第1ワイヤ121を介してトランジスタ101からの高周波信号が伝達される。第1の分布定数線路105は、例えば、誘電体基板131と、当該誘電体基板131上に形成された導電膜と、誘電体基板131を実装する実装面を含むベース基板とで構成されたマイクロストリップ型線路を構成している。
第2の分布定数線路104は、第1の分布定数線路105とトランジスタ101との間に配置されている。第2の分布定数線路104は、並列に配置された複数の第4ワイヤ124を介してトランジスタ101と接続され、かつ、複数の第1ワイヤ121を介して第1の分布定数線路105と接続されている。第2の分布定数線路104は、例えば、誘電体基板132と、当該誘電体基板132上に形成された導電膜と、誘電体基板132を実装するベース基板とで構成されたマイクロストリップ型線路を構成している。
本実施の形態では、第2の分布定数線路104は、トランジスタ101に近い側において、トランジスタ101と同等の線路幅を有し、第1の分布定数線路105に近い側において、第1の分布定数線路幅105と同等の線路幅を有している。しかし、トランジスタ101などの能動デバイスおよび使用する伝送線路により、第2の分布定数線路104の線路幅は、上記関係と異なっていてもよく、線路幅が両端で同一の場合、または、トランジスタ101に近い側の方において、線路幅が狭くてもよい。
出力側整合回路103のリード端子106は、平板形状であり、並列に配置された複数の第2ワイヤ122を介して第1の分布定数線路105からの高周波信号が伝達され、当該高周波信号をパッケージ112の外部へ伝送する。なお、図2では、見易さのためにリード端子106は封止樹脂110で覆われていない状態を示しているが、封止後のパッケージとしてみた場合には、リード端子106は、一部が封止樹脂110に埋没したような構造となっている。
容量素子108は、例えば、誘電体材料を平行平板で挟んだ構造となっており、一方の電極が、第3ワイヤ123を介してリード端子106に接続され、他方の電極がベース基板107に接地されている。容量素子108は、例えば、誘電体基板131と、当該誘電体基板131上に形成された導電膜と、誘電体基板131を実装するベース基板107とで構成された平行平板型のコンデンサを構成している。また、本実施の形態では、容量素子108を構成する誘電体は、第1の分布定数線路105を構成する誘電体基板131と連続した同一基板で構成されている。容量素子108は、リード端子106および第3ワイヤ123を介して第1の分布定数線路105と接続される。なお、図2では、容量素子108は、単一構造ではなく、単位容量が複数並列に接続された構成をとっているが、容量素子108の分割数は限定されない。なお、容量素子108は、第1の分布定数線路105の伝送方向と交差する方向の両側に、対称に配置されていることが好ましい。これにより、均一動作させることができ、不要な反射を低減して整合回路のロスを低減することができる。
入力側整合回路102は、第3の分布定数線路109と、高周波増幅回路を内蔵するパッケージ112の外部からの信号を伝送するためのリード端子106とで構成される。トランジスタ101の入力端子と第3の分布定数線路109の出力側とは、並列に配置された複数のワイヤにより接続されている。第3の分布定数線路109は、例えば、誘電体基板と、当該誘電体基板上に形成された導電膜と、誘電体基板を実装するベース基板とで構成されたマイクロストリップ型線路を構成している。
従来の高周波増幅回路では、第1の分布定数線路105からワイヤを介して直接容量素子108が接続された構造となるが、この場合には、信号伝送方向の回路サイズが大きくなってしまう。また、容量素子108と第1の分布定数線路105とが同一基板上に形成されており、容量素子108を、第1の分布定数線路105とリード端子106との並び方向と交差する方向に配置していたとしても、第1の分布定数線路105と容量素子108とがワイヤを介して直接接続された上記従来の構成の場合、特許文献2と同様に、電気長が異なることで整合ロスが増加するという課題が生じる。上記課題を解決するためには、第1の分布定数線路105の比誘電率を小さくすることが有効であるが、インピーダンスを変成する量が少なくなってしまい、低誘電率では変成量を得るために、さらに線路長を長くする必要がある。そのため、高インピーダンス化するための整合回路としての自由度が低下する。よって、第1の分布定数路105の比誘電率を小さくして電気長を短くすることは得策ではない。
これに対して、本実施の形態1に係る出力側整合回路103は、以下のような構成をとることより上記課題を解決している。
図2のレイアウト図に示されたように、第1の分布定数線路105と容量素子108とは、低誘電率の樹脂に覆われたリード端子106を介して電気的に接続されている。さらに、容量素子108および第1の分布定数線路105の並び方向が、第1の分布定数線路105および出力側整合回路103のリード端子106の並び方向と上記実装面において交差するように、容量素子108および第1の分布定数線路105が隣接して配置されている。これにより、第1の分布定数線路105と容量素子108との間の信号伝送経路の電気長が短くなり、かつ、高周波信号の伝送方向の回路サイズが短縮され省面積化が可能となる。よって、整合回路の小型化とデバイス性能の確保との両立が可能となる。
図3Aは、実施の形態1に係る高周波増幅回路のY−Y’における構造断面図である。また、図3Bは、実施の形態1に係る高周波増幅回路のX−X’における構造断面図である。ただし、パッケージ112だけではなく、測定治具113を併せて示している。測定治具113は、トランジスタ101からの熱を、ベース基板107を介して外部へ放射するために、低い熱抵抗であることが好ましい。よって、例えば、CuやAlといった金属材料が使用される。測定治具113は、パッケージ112を収容するための凹み部分を備えている。パッケージ112のリード端子106と、測定治具113の導体部分の接触不良を回避するために、ネジ止めや押さえ治具を使用してもよい。パッケージ112が測定治具113に実装されることで、リード端子106の封止樹脂110で覆われた領域は、測定治具113の金属がグランドとなり、マイクロストリップ型線路として動作する。一般的なセラミック製のパッケージでは、そのセラミック基板の比誘電率が10前後であり高誘電率を有するのに対して、樹脂の比誘電率は5以下であり低誘電率を有する。第1の分布定数線路105から容量素子108までの信号伝送経路に、リード端子106と低誘電率の樹脂と測定治具113のグランドとで構成されたマイクロストリップ型線路を適用することで、当該信号伝送経路が高誘電率基板で構成された場合に比べて、当該信号伝送経路の電気長は短くなる。これにより、第1の分布定数線路105から容量素子108までに発生する複数の信号伝送経路(図2におけるE1およびE2)の間の電気長のずれを低減することが可能となり、出力側整合回路103における整合ロスが低減される。なお、図3Aおよび図3Bにおいて、リード端子106と測定治具113は誘電体基板を介して接している。また、図3Aおよび図3Bの断面図では、樹脂封止された後の状態を示している。
なお、パッケージ112は、製品段階において、上記測定治具113に固定された状態ではなく、直接実装基板上に実装された状態であってもよい。この場合には、パッケージ112が実装基板のグランド上に実装されることにより、リード端子106と当該グランドとで封止樹脂110を挟んだ構造が、マイクロストリップ構造を構成する。
図4は、実施の形態1に係る整合回路のインピーダンス変成を示したアドミタンスチャートである。同図に示されたアドミタンスチャートでは、低インピーダンス側の領域(アドミタンスチャートの左側)を拡大して表している。以下、同図に記載されたアドミタンスチャートにおけるインピーダンス変成が測定された高周波増幅回路1の回路パラメータおよび構造パラメータを示し、併せてインピーダンス変成の結果を示す。
トランジスタ101には、ゲート幅Wg=48mmのGaN−HFETを使用し、動作周波数を2.14GHzと設定している。トランジスタ101の出力インピーダンスは、例えば、Zout=(1.5−j2.0)Ωである。トランジスタ101の出力から第2の分布定数線路104へは、第4ワイヤ124を介して接続されており、第4ワイヤ124と第2の分布定数線路104とは、いずれも直列接続された誘導性素子である。同様に、第2の分布定数線路104は、第1ワイヤ121を介して第1の分布定数線路105へ接続されており、第1ワイヤ121と第1の分布定数線路105とは、いずれも直列接続された誘導性素子である。よって、図1に記載されたZにおける出力インピーダンスは、図4のアドミタンスチャート上では、ZoutからZへ変成される。このとき、第2の分布定数線路104は、比誘電率が9.8、および厚みが0.5mmの誘電体基板を使用しており、線路長さは1.2mm、トランジスタ101側の線路幅は6.0mm、および、第1の分布定数線路105側の線路幅は2.5mmとしている。また、第1の分布定数線路105は、比誘電率が93、および厚みが0.5mmの誘電体基板を使用しており、線路長さは2.9mm、線路幅は2.5mmである。
さらに、第1の分布定数線路105は、リード端子106および第3ワイヤ123を介して容量素子108に接続されている。ここで、容量素子108は、第1の分布定数線路105と同一基板上に形成されている。第1の分布定数線路105と容量素子108との間隔、および、容量素子108同士の間隔は、ともに150μmである。容量素子108のパターン寸法は、500μm×750μmである。図1の回路構成図に示されるように、容量素子108は、信号経路に対して並列に接続されている。これより、図1に記載されたZにおける出力インピーダンスは、第3ワイヤ123と容量素子108により、図4で表されたZに変成される。
さらに、リード端子106は、第2ワイヤ122を介して第1の分布定数線路105へ接続されており、第3ワイヤ123を介して容量素子108へ接続されている。よって、パッケージの出力端子であるZにおける出力インピーダンスは、高インピーダンスへと変成する。本実施の形態では、結果として、出力インピーダンスは(8.1+j2.6)Ωまで変成される。
上記結果により、トランジスタ101の出力インピーダンスは、本実施の形態に係る出力側整合回路103により、例えば、(1.5−j2.0)Ωから(8.1+j2.6)Ωへと高インピーダンス化される。上記結果は、本発明の実施の形態1に係る高周波増幅回路1が、整合回路の小型化およびデバイス性能の確保の両立を達成していることを示すものである。
なお、本実施の形態では、出力側整合回路103は、第2の分布定数線路104、第1の分布定数線路105、リード端子106、第1ワイヤ121〜第4ワイヤ124、および容量素子108により構成されるとしたが、出力側整合回路103の構成はこれに限るものではない。また、上記分布定数線路の線路長および線路幅は、使用するデバイスによって適宜変更してもよい。また、第1の分布定数線路105および第2の分布定数線路104を構成する誘電体基板も、上記で例示した比誘電率以外の比誘電率を有するものを使用してもよい。例えば、誘電体基板として、高抵抗Si基板上にSiOなどの絶縁層を形成し、この上に導電層のパターンを形成してもよい。あるいは、GaAs基板などで構成してもよい。また、容量素子108は、図2のレイアウト図では、合計6つのパターンが描かれているが、数、寸法および構成は一例である。同様に、入力側整合回路102も、2段のワイヤと第3の分布定数線路109とで構成しているが、これに限るものではない。
また、樹脂で構成されたパッケージ112は、図面の見易さを考慮して、パッケージ内の回路構成が確認できるように枠体形状で示されているが、実際には、さらに樹脂をポッティングして封止する工程が追加される。このように封止方法は、インサート成型方式を使用することができる。あるいは、ベース基板107上にトランジスタ101、入力側整合回路102、および出力側整合回路103を実装しておき、上下から金型をセットした後に樹脂を金型内に注入して封止するトランスファーモールド方式を利用してもよい。
図5は、実施の形態1に係るパッケージの比誘電率と電気長および整合回路ロスとの関係を表すグラフである。同図には、リード端子106を覆う封止樹脂110の比誘電率を変化させたときの、伝送線路の電気長および出力整合回路103のロスを計算した結果を示す。なお、電気長を計算するときの条件として、伝送線路長さは3mmとしている。同図に表されたように、一般的なセラミックに近い定数である比誘電率10の場合には、電気長は23.6°となる。一方、パッケージ112の材料を、本実施の形態で使用した樹脂(比誘電率4.7)とした場合には、電気長は16.7°となり、7°程度の電気長の短縮が可能である。
上記条件で、回路シミュレータにより、出力側整合回路103の通過特性(S21)を計算した結果、比誘電率が10の場合には、整合回路ロスは0.68dBである。一方、比誘電率が4.7の場合には、整合回路ロスは0.43dBであり、本実施の形態に係る出力側整合回路103により、0.25dB前後の改善効果が得られる。さらに、トランジスタ101の入出力特性に換算すると、同じ入力電力であっても電力損失は0.25dB改善される。つまり、トランジスタ101の利得が、0.25dB増加すると考えることができる。ここで、例えば、比誘電率が10の場合に利得が15.75dB、およびドレイン効率が70%と仮定する。これを、比誘電率を4.7とすることで、利得は16.0dB、ドレイン効率は74.5%まで改善できる。同様に、比誘電率が10の場合の出力が100Wと仮定すると、比誘電率を4.7とすることで0.25dBの利得改善となり106Wまで出力が改善される。よって、上記の構造とすることで、基本波の整合回路のレイアウトを小型化した場合でも、特性劣化を起こすことがなく、デバイス性能を確保することが可能となる。
(実施の形態2)
図6は、実施の形態2に係る高周波増幅回路のレイアウト図である。本実施の形態に係る高周波増幅回路は、トランジスタ101と、入力側整合回路102と、出力側整合回路143とで構成されている。本実施の形態に係る高周波増幅回路は、実施の形態1に係る高周波増幅回路1と比較して、出力側整合回路における分布定数線路の構成のみが異なる。以下、実施の形態1に係る高周波増幅回路1と異なる点を中心に説明する。
出力側整合回路143は、第1の分布定数線路111と、高周波増幅回路を内蔵するパッケージ212の外部へ信号を伝送するためのリード端子106と、容量素子108とで構成される。トランジスタ101の出力端子と第1の分布定数線路111の入力側とは、第1ワイヤ125により接続されている。第1の分布定数線路111の出力側とリード端子106の入力側とは、第2ワイヤ122により接続されている。容量素子108の一方の電極とリード端子106の入力側とは、第3ワイヤ123により接続されている。また、容量素子108の他方の電極は接地されている。
以上の構成とすることで、ベース基板107の表面である実装面には、トランジスタ101、第3の分布定数線路109が形成された誘電体基板、第1の分布定数線路111および容量素子108が形成された誘電体基板133を実装するだけでよい。また、リード端子106は樹脂で構成された封止樹脂110と予め一体成型できるため、上記実装面への基板実装回数を減少できる。これにより、基板の実装ずれを低減することができ実装精度が向上する。また、分布定数線路同士を接続するワイヤ群も削減できる。よって小型化や整合回路の性能確保に加え、低コスト化にも貢献できる。
(実施の形態3)
本実施の形態では、誘導性を有する分布定数線路とリード端子に並列接続された容量素子とを1つの単位伝送線路として、これを複数並列に備えた整合回路を有する高周波増幅回路について説明する。
図7は、実施の形態3に係る高周波増幅回路のレイアウト図である。本実施の形態に係る高周波増幅回路は、トランジスタ101Aおよび101Bと、入力側整合回路102と、出力側整合回路153とで構成されている。本実施の形態に係る高周波増幅回路は、実施の形態2に係る高周波増幅回路と比較して、複数のトランジスタの各々に対して出力側に整合回路が配置されている点が構成として異なる。以下、実施の形態2に係る高周波増幅回路2と異なる点を中心に説明する。
図7において、出力側整合回路153は、第1の分布定数線路111Aおよび111Bと、高周波増幅回路を内蔵するパッケージ312の外部へ信号を伝送するためのリード端子106と、容量素子108とで構成される。第1の分布定数線路111Aの入力側は第1ワイヤ125Aを介してトランジスタ101Aの出力端子に接続されている。第1の分布定数線路111Aの出力側とリード端子106の入力側とは、第2ワイヤ122Aにより接続されている。容量素子108の一方の電極とリード端子106の入力側とは、第3ワイヤ123により接続されている。また、容量素子108の他方の電極は接地されている。また、第1の分布定数線路111Bの入力側は第1ワイヤ125Bを介してトランジスタ101Bの出力端子に接続されている。第1の分布定数線路111Bの出力側とリード端子106の入力側とは、第2ワイヤ122Bにより接続されている。第1の分布定数線路111Aおよび111Bは、それぞれ、トランジスタに近い側ではトランジスタ101Aおよび101B(上記例の場合はWg=24mm)の長手方向の長さと同程度の線路幅を有している。また、第1の分布定数線路111Aおよび111B、ならびに容量素子108は、同一の誘電体基板133で構成されている。
つまり、第1の分布定数線路の各々と容量素子108とで構成された単位伝送線路は、トランジスタとリード端子106との間に、複数個並列に配置されている。
例えば、ゲート幅Wgが48mmのトランジスタでは、単位ゲート長さを0.8mmとすると、トランジスタの長手方向のサイズは6mm程度となり非常に大きい。このように、サイズが大きいトランジスタ101をベース基板107へ実装する場合は、トランジスタ101の反りが発生しやすいため、ベース基板107とトランジスタ101との密着性が不十分となる可能性がある。特に高出力動作時には、トランジスタ101が高温となるため、ベース基板107との密着性が悪いと放熱が出来ずにトランジスタ101の特性不良や破壊が生じる。この対策として、1つのトランジスタでゲート幅Wg=48mmとして高い出力を得るのではなく、例えば、2つのトランジスタを並列配置した構造を採用することも考えられる。この場合、例えば、それぞれのトランジスタのゲート幅Wgを24mmとする。そして、2つのトランジスタの出力を合成する。図7に示したレイアウトでは、以上のように2チップ合成がされた出力側整合回路の一構成例である。
以上の構成により、出力側整合回路153は、1つの誘電体基板133上に形成されることとなり、実装が容易となる。さらに、トランジスタ101Aおよび101Bのチップサイズが低減したことによって、各トランジスタの反りが抑制され、ベース基板と各トランジスタとの密着性が向上する。これにより、各トランジスタの放熱性能を改善することが可能となる。よって、実装歩留まりが向上し、低コスト化を図ることができる。さらに、本実施の形態のように、トランジスタ101Aおよび101Bから離れたところで電力合成がなされる構成では、発振によりトランジスタ性能が不安定になる場合がある。上記発振を防止する構造として、第1の分布定数線路111Aと111Bとの連結部分を、抵抗114を介して接続した構造としてもよい。つまり、隣接する上記単位伝送線路同士が、抵抗114を介して接続されている構成でもよい。
なお、第1の分布定数線路111Aおよび111Bとリード端子106との接続態様、および容量素子108の分割数は、図7に記載されたレイアウトに限るものではない。例えば図2に示されたレイアウトのように、容量素子108は、外側に3個ずつ分割配置されていてもよいし、さらに多数配置されていてもよい。つまり、出力側整合回路153に要求される整合特性に応じて決定される。
以上、本発明の高周波増幅回路について、実施の形態に基づいて説明したが、本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではない。本発明の要旨を逸脱しない範囲内で当業者が思いつく各種変形を施したものも本発明の範囲内に含まれる。また、発明の趣旨を逸脱しない範囲で、複数の実施の形態における各構成要素を任意に組み合わせてもよい。
本発明の高周波増幅回路は、高周波信号を高出力で扱う移動体通信用の基地局、あるいは電子レンジなどのマイクロ波家電等に適用できる。
1 高周波増幅回路
101、101A、101B、801、901 トランジスタ
102、802、902 入力側整合回路
103、143、153、803、903A、903B 出力側整合回路
104 第2の分布定数線路
105、111、111A、111B 第1の分布定数線路
106、804 リード端子
107 ベース基板
108 容量素子
109 第3の分布定数線路
110 封止樹脂
112、212、312 パッケージ
113 測定治具
114、806 抵抗
121、125、125A、125B 第1ワイヤ
122、122A、122B 第2ワイヤ
123 第3ワイヤ
124 第4ワイヤ
131、132、133 誘電体基板
805 パッケージ枠体
807 容量
904、905A、905B、906 分布定数線路
910 高誘電率基板

Claims (6)

  1. 高周波信号を増幅するトランジスタと入力側整合回路と出力側整合回路とをパッケージ内の実装面上に備え、
    前記出力側整合回路は、
    並列に配置された複数の第1ワイヤを介して前記トランジスタからの高周波信号が伝達される第1の分布定数線路と、
    並列に配置された複数の第2ワイヤを介して前記第1の分布定数線路からの高周波信号が伝達され、当該高周波信号を前記パッケージ外部へ伝送する平板状のリード端子と、
    一方の電極が、第3ワイヤを介して前記リード端子に接続され、他方の電極が接地された容量素子とを備え、
    前記リード端子の一部は、前記第1の分布定数線路が形成された誘電体基板の誘電率より低い誘電率を有する封止樹脂と接合されており、
    前記第1の分布定数線路および前記リード端子の並び方向と前記実装面において交差する方向に、前記容量素子および前記第1の分布定数線路が隣接して配置されている
    高周波増幅回路。
  2. さらに、前記第1の分布定数線路と前記トランジスタとの間には、並列に配置された複数の第4ワイヤを介して前記トランジスタと接続され、かつ、前記複数の第1ワイヤを介して前記第1の分布定数線路と接続された第2の分布定数線路が配置されている
    請求項1に記載の高周波増幅回路。
  3. 前記第1の分布定数線路と前記容量素子とは、連続した同一の誘電体基板で構成されている
    請求項1または2に記載の高周波増幅回路。
  4. 前記第1の分布定数線路の前記交差する方向の両側に、対称に前記容量素子が配置されている
    請求項1に記載の高周波増幅回路。
  5. 前記トランジスタは、複数個配置されており、
    前記トランジスタごとに設けられた、前記第1の分布定数線路と前記容量素子とで構成された単位伝送線路は、複数の前記トランジスタと前記リード端子との間に、複数個並列に配置されている
    請求項1に記載の高周波増幅回路。
  6. 隣接する前記単位伝送線路同士は、抵抗を介して接続されている
    請求項5に記載の高周波増幅回路。
JP2013549664A 2012-05-25 2013-03-15 高周波増幅回路 Active JP6074695B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013549664A JP6074695B2 (ja) 2012-05-25 2013-03-15 高周波増幅回路

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012120094 2012-05-25
JP2012120094 2012-05-25
JP2013549664A JP6074695B2 (ja) 2012-05-25 2013-03-15 高周波増幅回路
PCT/JP2013/001754 WO2013175690A1 (ja) 2012-05-25 2013-03-15 高周波増幅回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2013175690A1 JPWO2013175690A1 (ja) 2016-01-12
JP6074695B2 true JP6074695B2 (ja) 2017-02-08

Family

ID=49623406

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013549664A Active JP6074695B2 (ja) 2012-05-25 2013-03-15 高周波増幅回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9203358B2 (ja)
JP (1) JP6074695B2 (ja)
CN (1) CN103703682B (ja)
WO (1) WO2013175690A1 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB201323159D0 (en) * 2013-12-31 2014-02-12 Diamond Microwave Devices Ltd Improved matching techniques for wide-bandgap power transistors
JP6273247B2 (ja) * 2015-12-03 2018-01-31 株式会社東芝 高周波半導体増幅器
US9960127B2 (en) 2016-05-18 2018-05-01 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. High-power amplifier package
DE102016111072A1 (de) * 2016-06-16 2017-12-21 Infineon Technologies Ag Hochfrequenzeinrichtung
US10134658B2 (en) * 2016-08-10 2018-11-20 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. High power transistors
JP6849060B2 (ja) * 2017-05-17 2021-03-24 三菱電機株式会社 増幅器
DE112017007890B4 (de) 2017-09-28 2023-05-11 Mitsubishi Electric Corporation Halbleitervorrichtung, Hochfrequenz-Leistungsverstärker und Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung
US20220392857A1 (en) * 2021-06-07 2022-12-08 Cree Inc. Packaged transistor amplifiers that include integrated passive device matching structures having distributed shunt inductances

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61237455A (ja) * 1985-04-15 1986-10-22 Sony Corp モ−ルド電気部品
JPH0319403A (ja) * 1989-06-15 1991-01-28 Matsushita Electron Corp マイクロ波集積回路素子
JPH08172306A (ja) * 1994-12-19 1996-07-02 Hitachi Ltd 高周波装置及びこれを使用した移動無線器
JP2001111364A (ja) * 1999-10-12 2001-04-20 Nec Corp マイクロ波増幅器
JP3728393B2 (ja) * 2000-02-16 2005-12-21 三菱電機株式会社 半導体装置
JP2002171144A (ja) * 2000-12-05 2002-06-14 Murata Mfg Co Ltd 高周波増幅器
JP2003008357A (ja) * 2001-06-20 2003-01-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電力増幅装置
JP2003115732A (ja) 2001-10-03 2003-04-18 Hitachi Ltd 半導体装置
JP2004228989A (ja) * 2003-01-23 2004-08-12 Renesas Technology Corp 半導体装置
JP2006122095A (ja) 2004-10-26 2006-05-18 Chest M I Inc 浴用カバーおよびこれを用いた介護用入浴装置
US7564303B2 (en) * 2005-07-26 2009-07-21 Infineon Technologies Ag Semiconductor power device and RF signal amplifier
WO2007119266A1 (ja) 2006-03-22 2007-10-25 Fujitsu Limited 高周波高出力増幅器
JP4925096B2 (ja) 2006-04-26 2012-04-25 三菱電機株式会社 高周波増幅器
US8299857B2 (en) * 2011-01-27 2012-10-30 Integra Technologies, Inc. RF power amplifier including broadband input matching network

Also Published As

Publication number Publication date
US9203358B2 (en) 2015-12-01
CN103703682A (zh) 2014-04-02
CN103703682B (zh) 2017-02-22
WO2013175690A1 (ja) 2013-11-28
JPWO2013175690A1 (ja) 2016-01-12
US20140191809A1 (en) 2014-07-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6074695B2 (ja) 高周波増幅回路
US6741144B2 (en) High-frequency semiconductor device
US8816793B2 (en) Transmission line, impedance transformer, integrated circuit mounted device, and communication device module
JP5765174B2 (ja) 電子装置
WO2013094101A1 (ja) 半導体パッケージ、その製造方法及び金型、半導体パッケージの入出力端子
JP2004228989A (ja) 半導体装置
JP6273247B2 (ja) 高周波半導体増幅器
CN112953401A (zh) 集成多路径功率放大器
JP6226143B2 (ja) 半導体デバイス
JP5812158B2 (ja) 伝送線路、インピーダンス変換器、集積回路搭載装置および通信機モジュール
JP5181424B2 (ja) 高出力増幅器
JP5203775B2 (ja) 2倍高調波抑圧回路
EP2509105A1 (en) Semiconductor device having improved performance for high RF output powers
CN115765645A (zh) 射频放大器
JP2021111793A (ja) 半導体装置
JP5800360B2 (ja) ドハティ増幅器
JP5720261B2 (ja) 電子回路及び送受信システム
JP2015052574A (ja) 高周波特性測定治具装置
US11569788B2 (en) Doherty amplifier device
TWI675447B (zh) 轉換結構及高頻封裝
JP2001345606A (ja) Mmic増幅器
JP2018107387A (ja) 半導体装置
JP3438726B2 (ja) パッケージ
JP2012099609A (ja) 高周波半導体装置
JP2008228347A (ja) 高周波電力増幅器モジュール

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160927

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161102

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20161206

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20161214

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6074695

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

SZ03 Written request for cancellation of trust registration

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313Z03

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250