JP5907882B2 - 単一発光粒子の偏光特性を観測する光分析装置、光分析方法及びそのための光分析用コンピュータプログラム - Google Patents
単一発光粒子の偏光特性を観測する光分析装置、光分析方法及びそのための光分析用コンピュータプログラム Download PDFInfo
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Description
2…光源
3…シングルモードオプティカルファイバー
4…コリメータレンズ
4a…励起光偏光素子
5…ダイクロイックミラー
6、7、11…反射ミラー
8…対物レンズ
9…マイクロプレート
10…ウェル(試料溶液容器)
12…コンデンサーレンズ
13…ピンホール
14a…偏光ビームスプリッタ
14s、p…バリアフィルター
15…マルチモードオプティカルファイバー
16s、p…光検出器
17…ミラー偏向器
17a…ステージ位置変更装置
18…コンピュータ
本発明による光分析技術は、基本的な構成に於いて、図1(A)に模式的に例示されている如き、FIDA−POが実行可能な共焦点顕微鏡の光学系と光検出器とを組み合わせてなる光分析装置により実現可能である。図1(A)を参照して、光分析装置1は、光学系2〜17と、光学系の各部の作動を制御すると共にデータを取得し解析するためのコンピュータ18とから構成される。光分析装置1の光学系は、通常の共焦点顕微鏡の光学系と同様であってよく、そこに於いて、光源2から放射されシングルモードファイバー3内を伝播したレーザー光(Ex)が、ファイバーの出射端に於いて固有のNAにて決まった角度にて発散する光となって放射され、コリメーター4によって平行光となり、偏光素子4aに於いて、予め定められた偏光方向の光となるよう調整された後(ここに於いて、典型的には、p偏光又はs偏光のいずれか一方が透過する。)、ダイクロイックミラー5、反射ミラー6、7にて反射され、対物レンズ8へ入射される。対物レンズ8の上方には、典型的には、1〜数十μLの試料溶液が分注される試料容器又はウェル10が配列されたマイクロプレート9が配置されており、対物レンズ8から出射したレーザー光は、試料容器又はウェル10内の試料溶液中で焦点を結び、光強度の強い領域(励起領域)が形成される。試料溶液中には、観測対象物である発光粒子、典型的には、蛍光色素等の発光標識が付加された分子が分散又は溶解されており、発光粒子が励起領域に進入すると、その間、発光粒子が励起され光が放出される。放出された光(Em)は、対物レンズ8、ダイクロイックミラー5を通過し、ミラー11にて反射してコンデンサーレンズ12にて集光され、ピンホール13を通過する。なお、当業者に於いて知られている如く、ピンホール13は、対物レンズ8の焦点位置と共役の位置に配置されており、これにより、図1(B)に模式的に示されている如きレーザー光の焦点領域、即ち、励起領域内から発せられた光のみがピンホール13を通過し、焦点面以外からの光は遮断される。図1(B)に例示されたレーザー光の焦点領域は、通常、1〜10fL程度の実効体積を有する本光分析装置に於ける光検出領域であり、コンフォーカル・ボリュームと称される。コンフォーカル・ボリュームに於いては、典型的には、光強度が領域の中心を頂点とするガウス型分布又はローレンツ型分布となり、その実効体積は、光強度が1/e2となる面を境界とする略楕円球体の体積である。かくして、ピンホール13を通過した光は、偏光ビームスプリッタ14aに於いて、s偏光成分とp偏光成分とに分割され、それぞれ、バリアフィルター14s、14pを透過して(ここで、特定の波長帯域の光成分のみが選択される。)、マルチモードファイバー15に導入され、対応する光検出器16s、16pに到達する。光検出器16s、16pでは、それぞれ、逐次的に到来する光が時系列の電気信号に変換されて、コンピュータ18へ入力され、後に説明される態様にて光分析のための処理が為される。光検出器16s、16pとしては、好適には、フォトンカウンティングに使用可能な超高感度の光検出器が用いられ、これにより、1つの発光粒子からの光、例えば、一個又は数個の蛍光色素分子からの微弱光が検出可能となる。かくして、上記の構成により、偏光方向別に発光粒子からの光の強度が計測されることとなる。
「発明の概要」の欄に記載されている如く、本発明の光分析技術によれば、端的に述べれば、共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光検出領域の位置を試料溶液内にて移動しながら、試料溶液中にて分散する発光粒子が光検出領域内に包含される際に放出する光を検出して発光粒子の存在を個別に検知する「走査分子計数法」に於いて、発光粒子の光の少なくとも一つの偏光成分を計測し、発光粒子の偏光特性が決定される。かかる構成によれば、試料溶液中の発光粒子の各々を個別に検出し、その偏光特性が観測されることになるので、試料溶液中の発光粒子濃度が、蛍光ゆらぎの大きさの算出のための統計的処理を要するFIDA−POで良好に測定可能な濃度よりも低い場合でも、発光粒子の偏光特性の測定が可能となる。以下、本発明による偏光特性の測定の原理について説明する。
FIDA等の分光分析技術は、従前の生化学的な分析技術に比して、必要な試料量が極めて少なく、且つ、迅速に検査が実行できる点で優れている。しかしながら、FIDA等の分光分析技術では、原理的に、発光粒子の特性は、蛍光強度のゆらぎに基づいて算定されるので、精度のよい測定結果を得るためには、試料溶液中の発光粒子の濃度又は数密度が、図7(A)に模式的に描かれているように、蛍光強度の計測中に常に一個程度の発光粒子が光検出領域CV内に存在するレベルであり、同図の右側に示されている如く、計測時間中に常に有意な光強度(フォトンカウント)が検出されることが要求される。もし発光粒子の濃度又は数密度がそれよりも低い場合、例えば、図7(B)に描かれているように、発光粒子がたまにしか光検出領域CV内へ進入しないレベルである場合には、同図の右側に例示されている如く、有意な光強度の信号(フォトンカウント)が、計測時間の一部にしか現れないこととなり、精度のよい光強度のゆらぎの算定が困難となる。また、計測中に常に一個程度の発光粒子が光検出領域内に存在するレベルよりも発光粒子の濃度が大幅に低い場合には、光強度のゆらぎの演算に於いて、バックグラウンドの影響を受けやすくなると共に、演算に十分な量の有意な光強度データを得るために計測時間が長くなる。
本発明では、特に、上記の走査分子計数法に於いて、図1に関連して説明した如く、発光粒子からの光を偏光成分に分割し、かかる偏光成分の強度を別々に測定することにより、発光粒子の偏光特性の検出が為される。かかる偏光特性の検出に於いては、典型的には、図2(C)に模式的に描かれている如く、或る方向に偏光した光が励起光Exとして発光粒子に対して与えられ、その発光粒子から放出される光のs偏光成分及びp偏光成分のそれぞれが別々に検出される。そして、検出された各偏光成分の強度、例えば、信号の積分値(図2(D)に於ける斜線領域の面積値)又はピーク強度(信号の最大値)を用いて、偏光特性を表す指標値、例えば、偏光度Pが算出される。励起光Exを吸収した発光粒子から放出される光Emは、種々の要因にて、例えば、回転ブラウン運動による粒子の自転、励起エネルギー移動などにより、その偏光方向が励起光Exとは異なるので、かかる偏光特性を表す指標値によって、発光粒子の回転ブラウン運動の速さ、励起エネルギー移動の有無等の情報が取得され、更に、それらの情報から粒子の大きさや構造、分子間相互作用(結合・解離)等の情報が得られることとなる。特に、理解されるべきことは、走査分子計数法に於いては、光検出領域を通過する単一の発光粒子からの光が測定されるので、偏光特性値も単一の発光粒子の値が個別に算出可能であるという点である。従って、FIDA−POにて良好な統計的な演算結果を得るのに必要な濃度よりも低い発光粒子濃度の試料溶液を用いても、偏光特性値が取得可能となり、粒子の大きさや構造、分子間相互作用等の情報が得られることになる。
図1(A)に例示の光分析装置1を用いた本発明による発光粒子の偏光特性の観測方法の実施形態に於いては、具体的には、(1)発光粒子を含む試料溶液の調製過程、(2)試料溶液の光強度の測定処理過程、及び(3)測定された光強度の分析処理過程が実行される。図3は、フローチャートの形式にて表した本実施形態に於ける処理過程を示している。
本発明に於いて観測対象となる粒子は、溶解された分子等の、試料溶液中にて分散し溶液中にてランダムに運動する粒子であれば、任意のものであってよく、例えば、タンパク質、ペプチド、核酸、脂質、糖鎖、アミノ酸若しくはこれらの凝集体などの生体分子、ウイルス、細胞、或いは、金属コロイド、その他の非生物学的粒子などであってよい(試料溶液は、典型的には水溶液であるが、これに限定されず、有機溶媒その他の任意の液体であってよい。)。また、観測対象となる粒子は、それ自体が発光する粒子であってもよく、或いは、発光標識(蛍光分子、りん光分子)が任意の態様にて付加された粒子であってよい。
本実施形態の走査分子計数法による光強度の測定処理過程では、ミラー偏向器17を駆動して、試料溶液内での光検出領域の位置の移動(試料溶液内の走査)を行いながら、光強度の測定が為される(図3−ステップ100)。操作処理に於いて、典型的には、マイクロプレート9のウェル10に試料溶液を注入して顕微鏡のステージ上に載置した後、使用者がコンピュータ18に対して、測定の開始の指示を入力すると、コンピュータ18は、記憶装置(図示せず)に記憶されたプログラム(試料溶液内に於いて光検出領域の位置を移動するべく光路を変更する手順、励起光を光検出領域に照射する手順及び光検出領域の位置の移動中に光検出領域からの光を検出する手順)に従って、試料溶液内の光検出領域に於ける励起光の照射及び光強度の計測が開始される。計測が開始されると、まず、コンピュータ18のプログラムに従った処理動作の制御下、光源2から、試料溶液中の発光粒子の励起波長の光が出射されると共に、ミラー偏向器17がミラー7(ガルバノミラー)を駆動して、ウェル10内に於いて光検出領域の位置の移動を実行し、これと同時に光検出器16s、pは、それぞれ、逐次的に検出された光を電気信号に変換してコンピュータ18へ送信し、コンピュータ18は、任意の態様にて、送信された信号から時系列の光強度データを生成して保存する。典型的には、光検出器16s、pは、一光子の到来を検出できる超高感度光検出器であるので、光の検出は、所定時間に亘って、逐次的に、所定の単位時間毎(BIN TIME)に、例えば、10μ秒毎に光検出器に到来するフォトンの数を計測する態様にて実行されるフォトンカウンティングであり、時系列の光強度のデータは、時系列のフォトンカウントデータであってよい。
(2r)2=6D・Δτ …(1)
から、
Δτ=(2r)2/6D …(2)
となるので、発光粒子がブラウン運動により移動する速度(拡散移動速度)Vdifは、概ね、
Vdif=2r/Δτ=3D/r …(3)
となる。そこで、光検出領域の位置の移動速度は、かかるVdifを参照して、それよりも十分に早い値に設定されてよい。例えば、発光粒子の拡散係数が、D=2.0×10−10m2/s程度であると予想される場合には、rが、0.62μm程度だとすると、Vdifは、1.0×10−3m/sとなるので、光検出領域の位置の移動速度は、その10倍以上の15mm/sと設定されてよい。なお、発光粒子の拡散係数が未知の場合には、光検出領域の位置の移動速度を種々設定して光強度の変化のプロファイルが、予想されるプロファイル(典型的には、励起光強度分布と略同様)となる条件を見つけるための予備実験を繰り返し実行して、好適な光検出領域の位置の移動速度が決定されてよい。
上記の処理により試料溶液中の発光粒子の時系列の光強度データが得られると、コンピュータ18に於いて、記憶装置に記憶されたプログラムに従った処理により、光強度データ上に於ける発光粒子からの光に対応する信号の検出、偏光特性値の算出が実行される。
時系列の光強度データに於いて、一つの発光粒子の光検出領域を通過する際の軌跡が、図4(B)に示されている如く略直線状である場合、その粒子に対応する信号に於ける光強度の変化は、(光学系により決定される)光検出領域内の光強度分布を反映した略釣鐘状のプロファイルを有する(図4(C)参照)。従って、走査分子計数法では、基本的には、適宜設定される閾値を超える光強度が継続する時間幅が所定の範囲にあるとき、その光強度のプロファイルを有する信号が一つの粒子が光検出領域を通過したことに対応すると判定され、一つの発光粒子の検出が為されるようになっていてよい。そして、閾値を超える光強度が継続する時間幅が所定の範囲にない信号は、ノイズ又は異物の信号として判定される。また、光検出領域の光強度分布が、ガウス分布:
I=A・exp(−2t2/a2) …(4)
であると仮定できるときには、有意な光強度のプロファイル(バックグラウンドでないと明らかに判断できるプロファイル)に対して式(4)をフィッティングして算出された強度A及び幅aが所定の範囲内にあるとき、その光強度のプロファイルが一つの粒子が光検出領域を通過したことに対応すると判定され、一つの発光粒子の検出が為されてよい。(強度A及び幅aが所定の範囲外にある信号は、ノイズ又は異物の信号として判定され、その後の分析等に於いて無視されてよい。)
かくして、s偏光成分及びp偏光成分の各々の時系列光強度データに於いて、発光粒子の信号が検出されると、発光粒子毎に、s偏光成分及びp偏光成分の光強度を用いて、偏光特性値が算出される。s偏光成分及びp偏光成分の光強度Is、Ipとしては、例えば、ステップ130〜160に於いて検出された発光粒子の信号のピーク強度、フォトンカウントの積算値、或いは、フィッティングされた釣鐘型関数の時間積分値(図2(D)の斜線領域の面積)が採用されてよい。また、偏光特性値としては、典型的には、偏光度P、即ち、
P=(Ip−Is)/(Ip+Is) …(5)
が用いられてよい。なお、その他の偏光特性を表す指標値、例えば、s偏光成分又はp偏光成分或いは或る特定の方向の偏光成分の光強度値自体、s偏光成分及びp偏光成分の光強度比、Ip/Is、蛍光(又はりん光)の異方性などであってもよい。また、偏光特性値は、検出された発光粒子のs偏光成分の光強度Isの平均値とp偏光成分の光強度Ipの平均値とを用いて算出されてもよい。
20μ秒<パルス幅<400μ秒
ピーク強度>1.0[pc/10μs] …(A)
相関係数>0.95
を満たすパルス信号のみを発光粒子に対応する信号であると判定する一方、上記の条件を満たさないパルス信号はノイズとして無視した。
Claims (26)
- 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いて試料溶液中にて分散しランダムに運動する発光粒子からの光を検出し分析する光分析装置であって、
前記光学系の光路を変更することにより前記試料溶液内に於いて前記光学系の光検出領域の位置を移動する光検出領域移動部と、
予め定められた偏光成分から成る励起光を前記光検出領域に照射する光照射部と、
前記光検出領域からの光の少なくとも一つの偏光成分の強度を検出する光検出部と、
前記試料溶液内に於いて前記光検出領域の位置を移動させながら前記光検出部にて検出された光の少なくとも一つの偏光成分の強度の時系列の光強度データを前記少なくとも一つの偏光成分毎に生成し、前記少なくとも一つの偏光成分の各々の前記時系列の光強度データに於いて、前記光検出領域内を相対的に移動する一つの発光粒子からの光に於いて想定されるプロファイルを有する光強度の時間変化を一つの発光粒子の信号として個別に検出することにより、前記発光粒子の各々からの光の信号を個別に検出し、前記検出された発光粒子の光の信号の少なくとも一つの偏光成分の強度に基づいて前記発光粒子の偏光特性値を算定する信号処理部とを含むことを特徴とする装置。 - 請求項1の装置であって、前記光検出部が前記光検出領域からの光に於けるs偏光成分とp偏光成分の強度を別々に測定し、前記偏光特性値が、前記発光粒子の光の信号の前記s偏光成分の強度と前記p偏光成分の強度とに基づいて算定されることを特徴とする装置。
- 請求項1の装置であって、前記光検出領域からの光の少なくとも一つの偏光成分が偏光ビームスプリッタを用いて前記光検出領域からの光から抽出されることを特徴とする装置。
- 請求項1の装置であって、前記偏光特性値が偏光度であることを特徴とする装置。
- 請求項1の装置であって、前記光検出部が前記光検出領域からの光に於けるs偏光成分の強度とp偏光成分の強度とを別々に測定し、前記信号処理部が、前記s偏光成分の強度の検出感度と前記p偏光成分の強度の検出感度とのずれを補正する補正値を用いて、前記発光粒子の光の信号の前記s偏光成分の強度の検出値と前記p偏光成分の強度の検出値とに基づいて前記偏光特性値を算定することを特徴とする装置。
- 請求項1の装置であって、前記信号処理部が前記発光粒子の光の信号の少なくとも一つの偏光成分の強度の時間変化に対してフィッティングされた釣鐘型関数の時間積分値を前記発光粒子の偏光特性値の算定に用いることを特徴とする装置。
- 請求項1の装置であって、前記信号処理部が前記発光粒子の光の信号の少なくとも一つの偏光成分の強度の時間積算値を前記発光粒子の偏光特性値の算定に用いることを特徴とする装置。
- 請求項1の装置であって、前記信号処理部が、前記個別に検出された発光粒子の光の信号の数を計数して前記光検出領域の位置の移動中に検出された前記発光粒子の数を計数することを特徴とする装置。
- 請求項1乃至8のいずれかの装置であって、前記光検出領域移動部が前記発光粒子の拡散移動速度よりも速い速度にて前記光検出領域の位置を移動することを特徴とする装置。
- 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いて試料溶液中にて分散しランダムに運動する発光粒子からの光を検出し分析する光分析方法であって、
前記光学系の光路を変更することにより前記試料溶液内に於いて前記光学系の光検出領域の位置を移動する過程と、
予め定められた偏光成分から成る励起光を前記光検出領域に照射する過程と、
前記試料溶液内に於いて前記光検出領域の位置を移動させながら前記光検出領域からの光の少なくとも一つの偏光成分の強度を検出し、前記検出された光の少なくとも一つの偏光成分の時系列の光強度データを前記少なくとも一つの偏光成分毎に生成する過程と、
前記少なくとも一つの偏光成分の各々の前記時系列の光強度データに於いて、前記光検出領域内を相対的に移動する一つの発光粒子からの光に於いて想定されるプロファイルを有する光強度の時間変化を一つの発光粒子の信号として個別に検出することにより、前記発光粒子の各々からの光の信号を個別に検出し、前記検出された発光粒子の光の信号の少なくとも一つの偏光成分の強度に基づいて前記発光粒子の偏光特性値を算定する過程とを含むことを特徴とする方法。 - 請求項10の方法であって、前記光検出領域からの光の少なくとも一つの偏光成分の強度を検出する過程に於いて、前記光検出領域からの光に於けるs偏光成分とp偏光成分の強度が別々に測定され、前記発光粒子の偏光特性値を算定する過程に於いて、前記偏光特性値が前記発光粒子の光の信号の前記s偏光成分の強度と前記p偏光成分の強度とに基づいて算定されることを特徴とする方法。
- 請求項10の方法であって、前記光検出領域からの光の少なくとも一つの偏光成分が偏光ビームスプリッタを用いて前記光検出領域からの光から抽出されることを特徴とする方法。
- 請求項10の方法であって、前記偏光特性値が偏光度であることを特徴とする方法。
- 請求項10の方法であって、前記光検出領域からの光の少なくとも一つの偏光成分の強度を検出する過程に於いて、前記光検出領域からの光に於けるs偏光成分の強度とp偏光成分の強度とが別々に測定され、前記発光粒子の偏光特性値を算定する過程に於いて、前記偏光特性値が、前記s偏光成分の強度の検出感度と前記p偏光成分の強度の検出感度とのずれを補正する補正値を用いて、前記発光粒子の光の信号の前記s偏光成分の強度の検出値と前記p偏光成分の強度の検出値とに基づいて算定されることを特徴とする方法。
- 請求項10の方法であって、前記発光粒子の光の信号の少なくとも一つの偏光成分の強度の時間変化に対してフィッティングされた釣鐘型関数の時間積分値が前記発光粒子の偏光特性値の算定に用いられることを特徴とする方法。
- 請求項10の方法であって、前記発光粒子の光の信号の少なくとも一つの偏光成分の強度の時間積算値が前記発光粒子の偏光特性値の算定に用いられることを特徴とする方法。
- 請求項10の方法であって、更に、前記個別に検出された発光粒子の光の信号の数を計数して前記光検出領域の位置の移動中に検出された前記発光粒子の数を計数する過程を含むことを特徴とする方法。
- 請求項10乃至17のいずれかの方法であって、前記光検出領域の位置を移動する過程に於いて、前記光検出領域の位置が前記発光粒子の拡散移動速度よりも速い速度にて移動されることを特徴とする方法。
- 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いて試料溶液中にて分散しランダムに運動する発光粒子からの光を検出し分析するための光分析用コンピュータプログラムであって、
前記試料溶液内に於いて前記光学系の光検出領域の位置を移動するべく前記光学系の光路を変更する手順と、
予め定められた偏光成分から成る励起光を前記光検出領域に照射する手順と、
前記試料溶液内に於いて前記光検出領域の位置を移動させながら前記光検出領域からの光の少なくとも一つの偏光成分の強度を検出し、前記検出された光の少なくとも一つの偏光成分の時系列の光強度データを前記少なくとも一つの偏光成分毎に生成する手順と、
前記少なくとも一つの偏光成分の各々の前記時系列の光強度データに於いて、前記光検出領域内を相対的に移動する一つの発光粒子からの光に於いて想定されるプロファイルを有する光強度の時間変化を一つの発光粒子の信号として個別に検出することにより、前記発光粒子の各々からの信号を個別に検出し、前記検出された発光粒子の光の信号の少なくとも一つの偏光成分の強度に基づいて前記発光粒子の偏光特性値を算定する手順と
をコンピュータに実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。 - 請求項19のコンピュータプログラムであって、前記光検出領域からの光の少なくとも一つの偏光成分の強度を検出する手順に於いて、前記光検出領域からの光に於けるs偏光成分とp偏光成分の強度が別々に測定され、前記発光粒子の偏光特性値を算定する手順に於いて、前記偏光特性値が前記発光粒子の光の信号の前記s偏光成分の強度と前記p偏光成分の強度とに基づいて算定されることを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項19のコンピュータプログラムであって、前記偏光特性値が偏光度であることを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項19のコンピュータプログラムであって、前記光検出領域からの光の少なくとも一つの偏光成分の強度を検出する手順に於いて、前記光検出領域からの光に於けるs偏光成分の強度とp偏光成分の強度とが別々に測定され、前記発光粒子の偏光特性値を算定する手順に於いて、前記偏光特性値が、前記s偏光成分の強度の検出感度と前記p偏光成分の強度の検出感度とのずれを補正する補正値を用いて、前記発光粒子の光の信号の前記s偏光成分の強度の検出値と前記p偏光成分の強度の検出値とに基づいて算定されることを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項19のコンピュータプログラムであって、前記発光粒子の光の信号の少なくとも一つの偏光成分の強度の時間変化に対してフィッティングされた釣鐘型関数の時間積分値が前記発光粒子の偏光特性値の算定に用いられることを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項19のコンピュータプログラムであって、前記発光粒子の光の信号の少なくとも一つの偏光成分の強度の時間積算値が前記発光粒子の偏光特性値の算定に用いられることを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項19のコンピュータプログラムであって、更に、前記個別に検出された発光粒子の光の信号の数を計数して前記光検出領域の位置の移動中に検出された前記発光粒子の数を計数する手順を含むことを特徴とするコンピュータプログラム。
- 請求項19乃至25のいずれかのコンピュータプログラムであって、前記光学系の光路を変更する手順に於いて、前記光検出領域の位置が前記発光粒子の拡散移動速度よりも速い速度にて移動されることを特徴とするコンピュータプログラム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010234769 | 2010-10-19 | ||
JP2010234769 | 2010-10-19 | ||
PCT/JP2011/072939 WO2012053355A1 (ja) | 2010-10-19 | 2011-10-05 | 単一発光粒子の偏光特性を観測する光分析装置、光分析方法及びそのための光分析用コンピュータプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2012053355A1 JPWO2012053355A1 (ja) | 2014-02-24 |
JP5907882B2 true JP5907882B2 (ja) | 2016-04-26 |
Family
ID=45975073
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012539662A Active JP5907882B2 (ja) | 2010-10-19 | 2011-10-05 | 単一発光粒子の偏光特性を観測する光分析装置、光分析方法及びそのための光分析用コンピュータプログラム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8803106B2 (ja) |
EP (1) | EP2620763A4 (ja) |
JP (1) | JP5907882B2 (ja) |
CN (1) | CN103210302B (ja) |
WO (1) | WO2012053355A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP6010033B2 (ja) | 2011-08-26 | 2016-10-19 | オリンパス株式会社 | 光分析を用いた単一粒子検出装置、単一粒子検出方法及び単一粒子検出用コンピュータプログラム |
CN103765196B (zh) | 2011-08-26 | 2016-03-02 | 奥林巴斯株式会社 | 利用单个发光粒子检测的光分析装置及光分析方法 |
-
2011
- 2011-10-05 CN CN201180050724.1A patent/CN103210302B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2011-10-05 WO PCT/JP2011/072939 patent/WO2012053355A1/ja active Application Filing
- 2011-10-05 JP JP2012539662A patent/JP5907882B2/ja active Active
- 2011-10-05 EP EP11834195.7A patent/EP2620763A4/en not_active Withdrawn
-
2013
- 2013-04-17 US US13/864,867 patent/US8803106B2/en active Active
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WO2011108371A1 (ja) * | 2010-03-01 | 2011-09-09 | オリンパス株式会社 | 光分析装置、光分析方法並びに光分析用コンピュータプログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2620763A4 (en) | 2015-05-27 |
CN103210302A (zh) | 2013-07-17 |
EP2620763A1 (en) | 2013-07-31 |
WO2012053355A1 (ja) | 2012-04-26 |
CN103210302B (zh) | 2015-05-27 |
US20130228706A1 (en) | 2013-09-05 |
JPWO2012053355A1 (ja) | 2014-02-24 |
US8803106B2 (en) | 2014-08-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140807 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150811 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151002 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160315 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160322 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |