JP5846931B2 - 電子顕微鏡用試料ホルダ - Google Patents
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Description
2 ガイドピン
3 ガイドカバー
4 ガイドピン穴
5 ツマミ
6 回転機構
7 粗動機構
8 コネクタ
9 ホルダ先端開口部
11、17 試料台押さえ板
12、16 押さえネジ
13、14,41,42 試料台
15 駆動用試料ステージ
18 試料ステージ
19、20 高さ調整ネジ
21 試料台駆動用ロッド
31 押さえネジ用開口部
32、33、34 試料固定箇所
43、44 保護膜
45、46 測定試料
47 スペクトルの取得領域
48、49 試料片
101 透過型電子顕微鏡
102 電子源
103 電子線
104 集束レンズ
106 対物レンズ
107 結像レンズ系
108 電子分光器
109 蛍光板
110 磁場セクタ
111、112 多重極子レンズ
113 画像検出器
114 画像表示装置
115 データ記憶装置
116 中央制御装置
117 視野制限スリット
118 試料ホルダ移動装置
119 微動機構
120 試料微動制御装置
Claims (16)
- 集束イオンビーム装置と共用可能であり、荷電粒子装置により観察される試料を支持する荷電粒子線装置用試料ホルダにおいて、
複数個の試料台を各々設置可能な複数個の試料ステージと、
前記複数個の試料ステージのうち少なくとも一つを移動可能な試料駆動部と、
前記試料ホルダの先端を回転させるための回転機構と、
試料ホルダの長軸方向に移動可能な粗動機構、及び直交した三軸方向に移動可能な微動機構と、を備え、
前記試料駆動部が、前記回転機構の回転に伴って回転することにより、集束イオンビーム装置内で前記複数個の試料台に支持された複数個の試料を加工可能とし、
当該複数個の試料から透過型電子顕微鏡像、電子回折像、スペクトル像、または走査透過型電子顕微鏡像を取得可能とし、
前記回転機構の回転に伴い、前記粗動機構、及び前記微動機構が回転することを特徴とする荷電粒子線装置用試料ホルダ。 - 請求項1に記載の荷電粒子線用試料ホルダにおいて、
前記スペクトル像は電子エネルギー損失スペクトル像であることを特徴とする荷電粒子線用試料ホルダ。 - 請求項1に記載の荷電粒子線装置用試料ホルダにおいて、
前記試料ホルダの先端には荷電粒子線を通過させるための開口部を備えることを特徴とする荷電粒子装置用試料ホルダ。 - 請求項1に記載の荷電粒子線装置用試料ホルダにおいて、
前記試料台は前記試料ステージに試料台押さえ板および押さえネジにより固定されることを特徴とする荷電粒子装置用試料ホルダ。 - 集束イオンビーム装置と共用可能である透過型電子顕微鏡用試料ホルダにおいて、
複数個の試料台を各々設置可能な複数個の試料ステージと、
前記複数個の試料ステージのうち少なくとも一つ試料台を移動可能な試料駆動部と、
前記試料ホルダの先端を回転させるための回転機構と、
試料ホルダの長軸方向に移動可能な粗動機構、及び直交した三軸方向に移動可能な微動機構と、を備え、
前記試料駆動部が、前記回転機構の回転に伴って回転することにより、透過型電子顕微鏡により観察する場合と集束イオンビーム装置により透過型電子顕微鏡用試料を作製する場合の試料の配置を回転とし、
前記回転機構の回転に伴い、前記粗動機構、及び前記微動機構が回転することを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料ホルダ。 - 請求項5に記載の透過型電子顕微鏡用試料ホルダにおいて、
前記スペクトル像は電子エネルギー損失スペクトル像であることを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料ホルダ。 - 請求項5に記載の透過型電子顕微鏡用試料ホルダにおいて、
前記試料ホルダの先端部に電子線の通過方向とは異なる方向に開放されているホルダ先端開口部を備えたことを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料ホルダ。 - 請求項7に記載の透過型電子顕微鏡用試料ホルダにおいて、
ホルダ先端開口部は電子線の通過方向に対して垂直な方向に開放されているホルダ先端開口部を備えることを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料ホルダ。 - 請求項5に記載の透過型電子顕微鏡用試料ホルダにおいて、
試料ステージに試料台の高さを可変することができる高さ調整ネジを備えることを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料ホルダ。 - 請求項5に記載の透過型電子顕微鏡用試料ホルダにおいて、
前記試料台に固定された試料は透過型電子顕微鏡に付随した電子分光器のエネルギー分散軸に直行する方向に配置されることを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料ホルダ。 - 請求項5に記載の透過型電子顕微鏡用試料ホルダにおいて、
前記試料台は前記試料ステージに試料台押さえ板および押さえネジにより固定されることを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料ホルダ。 - イオンビームにより試料を薄片化し、
前記薄片化した試料の観察や元素分析するための電子線の入射方向に対して少なくとも垂直な方向に開放されたホルダ先端開口部を有し、
複数個の試料台を設置可能な試料ホルダに固定された試料に対し、
前記試料台のうち少なくとも一つを試料駆動部により移動させて前記複数個の試料台を近接させ、
前記ホルダ先端開口部から前記複数個の試料台に支持された試料に各々前記イオンビームを照射し、
前記イオンビームの入射方向とは垂直な方向に前記複数個の試料を薄片化するステップと、
前記試料ホルダ先端開口部の回転に伴って前記試料駆動部を回転させ、前記複数個の試料の配置を回転させるステップと、
前記回転に伴い、前記試料ホルダの長軸方向に移動可能な粗動機構、及び直交した三軸方向に移動可能な微動機構を回転させるステップと、
前記複数個の試料台に支持させた状態で前記複数個の試料から前記透過型電子顕微鏡像、電子回折像、スペクトル像、または走査透過型電子顕微鏡像を得るステップを備えたことを特徴とする試料分析方法。 - 請求項12に記載の試料分析方法において、
前記スペクトル像は電子エネルギー損失スペクトル像であることを特徴とする試料分析方法。 - 請求項12に記載の試料分析方法において、
前記試料台は、前記試料ホルダの試料ステージに試料台押さえ板および押さえネジにより固定されることを特徴とする試料分析方法。 - 請求項1乃至4の荷電粒子線装置用試料ホルダを搭載した荷電粒子線装置。
- 請求項5乃至11の透過型電子顕微鏡用試料ホルダを搭載した透過型電子顕微鏡。
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