JP5403560B2 - 透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー - Google Patents
透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー Download PDFInfo
- Publication number
- JP5403560B2 JP5403560B2 JP2010256958A JP2010256958A JP5403560B2 JP 5403560 B2 JP5403560 B2 JP 5403560B2 JP 2010256958 A JP2010256958 A JP 2010256958A JP 2010256958 A JP2010256958 A JP 2010256958A JP 5403560 B2 JP5403560 B2 JP 5403560B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gear
- specimen
- holder
- cradle
- shaft
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims description 25
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 2
- 238000004141 dimensional analysis Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 3
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 230000013011 mating Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/26—Stages; Adjusting means therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/20—Means for supporting or positioning the object or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/202—Movement
- H01J2237/20214—Rotation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/202—Movement
- H01J2237/20221—Translation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/26—Electron or ion microscopes
- H01J2237/28—Scanning microscopes
- H01J2237/2802—Transmission microscopes
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Transmission Devices (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
(A)前記ホルダーヘッドは、ヘッド本体に穿設されたクラドル載置孔に設けられて試片を支持する上下クラドルと、前記上下クラドルの間に介装されてこれらを回転させる回転ギアと、前記回転ギアに噛合されて回転ギアを回転させる回転駆動ギアと、前記上クラドルの上部に水平に移動自在に設けられたギアカバーと、前記ギアカバーに設けられたラックギアに噛合されてラックギアを駆動させることによりギアカバーがヘッド本体の長手方向と垂直方向に移動されるようにするラック駆動ギアと、を備え、
(B)前記制御部は、前記回転駆動ギアを回転させるクラドル回転手段と、前記クラドルを水平移動させる前後および左右移動手段と、を備えてなり、前記前後および左右移動手段の駆動により前記ギアカバーを前後および左右に移動させてクラドルを水平に移動させて試料が回転軸を中心に移動できることはもとより、回転できるようにして3軸を全て観察できるようにした透過電子顕微鏡の3次元分析のための3軸駆動が可能な試片ホルダーを提供する。
1:ヘッド本体、
1a:クラドル載置孔、
1b:カバー移動孔、
1c:支持具取付溝、
1d:係合ピン摺動孔、
2、3:クラドル、
2a、3a、4a:透過孔、
4:回転ギア、
41:ベベルギアの歯、
5:回転駆動ギア、
51:ギア回転軸、
6:ギアカバー、
6a:試料通過孔、
6b:ギア取付溝、
6c:軸貫通溝、
61:ラックギア、
62:ラック駆動ギア、
62a:ギア駆動パイプ、
7:カバー支持具、
7a:スプリング固定溝、
7b:ピン貫通孔、
7c:球載置溝、
71:係止爪、
72:係合ピン、
8:スプリング、
9:球、
20:制御部、
21:クラドル回転手段、
21a:軸ギア、
21b:モーターギア、
21c、22c、23c:駆動モーター、
22:前後移動手段、
22a:ラック、
22b:ピニオン、
23:左右移動手段、
23a:軸ギア、
23b:モーターギア、
30:連結手段、
31:ホルダーコネクタ、
32:ホルダー胴体、
31a、32a:ハウジング、
31b、32b:外部チューブ、
31c、32c:内部シャフト、
Claims (8)
- 試片が装着されるホルダーヘッド(10)と、装着された試片を駆動する制御部(20)と、を備えてなり、
(A)前記ホルダーヘッド(10)は、
ヘッド本体(1)に穿設されたクラドル載置孔(1a)に設けられて試片を支持する上下クラドル(2、3)と、
前記上下クラドル(2、3)の間に介装されてこれらを回転させる回転ギア(4)と、
前記回転ギア(4)に噛合されて回転ギア(4)を回転させる回転駆動ギア(5)と、
前記上クラドル(3)の上部に水平移動自在に設けられたギアカバー(6)と、
前記ギアカバー(6)に設けられたラックギア(61)に噛合されてラックギアを駆動させることによりギアカバー(6)がヘッド本体の長手方向と垂直方向に移動されるようにするラック駆動ギア(62)と、
を備え、
(B)前記制御部(20)は、
前記回転駆動ギア(5)を回転させるクラドル回転手段(21)と、
前記クラドル(2、3)を水平移動させる前後および左右移動手段(22、23)と、
を備えてなることを特徴とする透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー。 - 前記ホルダーヘッド(10)と制御部(20)との間には連結手段(30)が介設されており、
前記連結手段(30)は、前記ヘッド本体(1)と継合されたホルダーコネクタ(31)と、前記ホルダーコネクタ(31)と制御部(20)との間に介設されたホルダー胴体(32)と、から構成され、
前記ホルダーコネクタ(31)とホルダー胴体(32)は、
ハウジング(31a、32a)の内部に配設され、前記移動手段(22、23)の軸と繋合された外部チューブ(31b、32b)と、
前記外部チューブ(31b、32b)の内部に配設され、前記クラドル回転手段(21)の軸と継合されて動力を前記回転駆動ギア(5)に伝達する内部シャフト(31c、32c)と、
から構成されることを特徴とする請求項1に記載の透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー。 - 前記ヘッド本体(1)に設けられるギアカバー(6)は、スプリング(8)により弾性的に支持されるカバー支持具(7)により支持されることを特徴とする請求項1または2に記載の透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー。
- 前記カバー支持具(7)とギアカバー(6)が相対向する端部には摩擦防止用球(9)が設けられることを特徴とする請求項3に記載の透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー。
- 前記クラドル回転手段(21)は、
前記内部シャフト(32c)の端部に設けられた軸ギア(21a)と、
前記軸ギア(21a)に噛合されるモーターギア(21b)が回転軸に設けられた駆動モーター(21c)と、
から構成されることを特徴とする請求項4に記載の透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー。 - 前記左右移動手段(23)は、
前記外部チューブ(32b)の一方の端部に設けられた軸ギア(23a)と、
前記軸ギアと噛合されるモーターギア(23b)が設けられた駆動モーター(23c)と、
から構成されることを特徴とする請求項5に記載の透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー。 - 前記前後移動手段(22)は、
前記外部チューブ(32b)の一方の端部に外部チューブの長手方向に設けられたラック(22a)と、
前記ラックの歯と噛合されるピニオン(22b)が設けられた駆動モーター(22c)と、
から構成されることを特徴とする請求項6に記載の透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー。 - 前記前後移動手段(22)は、前記外部チューブ(32b)の一方の端部に設けられ供給される電気により伸縮されて外部チューブを移動させる圧電アクチュエータであることを特徴とする請求項6に記載の透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010256958A JP5403560B2 (ja) | 2010-11-17 | 2010-11-17 | 透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー |
US12/957,102 US8581207B2 (en) | 2010-11-17 | 2010-11-30 | Specimen holder with 3-axis movement for TEM 3D analysis |
GB1113651.2A GB2485631B (en) | 2010-11-17 | 2011-08-08 | Specimen holder with 3-axis movement for TEM 3-D analysis |
DE102011081410A DE102011081410A1 (de) | 2010-11-17 | 2011-08-23 | Probenhalter mit einer dreiachsigen Beweglichkeit zur dreidimensionalen Analyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop |
NL2007649A NL2007649C2 (en) | 2010-11-17 | 2011-10-25 | Specimen holder with 3-axis movement for tem 3d analysis. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010256958A JP5403560B2 (ja) | 2010-11-17 | 2010-11-17 | 透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012109115A JP2012109115A (ja) | 2012-06-07 |
JP5403560B2 true JP5403560B2 (ja) | 2014-01-29 |
Family
ID=44735603
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010256958A Expired - Fee Related JP5403560B2 (ja) | 2010-11-17 | 2010-11-17 | 透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8581207B2 (ja) |
JP (1) | JP5403560B2 (ja) |
DE (1) | DE102011081410A1 (ja) |
GB (1) | GB2485631B (ja) |
NL (1) | NL2007649C2 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI457599B (zh) * | 2010-12-27 | 2014-10-21 | Ind Tech Res Inst | 載具及其操作方法 |
JP5846931B2 (ja) * | 2012-01-25 | 2016-01-20 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 電子顕微鏡用試料ホルダ |
KR101383118B1 (ko) * | 2012-06-26 | 2014-04-09 | 한국기초과학지원연구원 | 투과전자현미경에서 고온상태로 3차원 분석이 가능한 3축 구동 tr―홀더 |
KR101457109B1 (ko) | 2012-10-04 | 2014-11-03 | 서울대학교산학협력단 | 전자현미경용 홀더장치 |
JP6308904B2 (ja) * | 2014-07-28 | 2018-04-11 | 株式会社日立製作所 | 試料ホルダ、荷電粒子線装置および観察方法 |
US9791387B2 (en) * | 2014-09-26 | 2017-10-17 | Test Research, Inc. | Inspection system and method for controlling the same |
KR101714623B1 (ko) | 2015-09-30 | 2017-03-10 | 한국기초과학지원연구원 | 전자현미경 경통에 장착되는 일체형 시료 제어장치 |
US10103000B2 (en) * | 2016-04-17 | 2018-10-16 | Beijing University Of Technology | Double-tilt sample holder for transmission electron microscope |
CN107315020B (zh) * | 2017-07-31 | 2023-08-04 | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 | 一种透射电子显微镜样品杆的原位芯片固定结构 |
CN107576823A (zh) * | 2017-09-05 | 2018-01-12 | 浙江大学 | 用于透射电镜样品杆的纳米定位器 |
CN111257597B (zh) * | 2018-11-30 | 2021-06-29 | 浙江大学 | 具有自定位作用的多自由度样品杆 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1304944A (ja) * | 1970-06-29 | 1973-01-31 | ||
JPS4830860A (ja) | 1971-08-25 | 1973-04-23 | ||
US3778621A (en) * | 1972-06-13 | 1973-12-11 | Jeol Ltd | Specimen tilting device for an electron optical device |
JPS59196549A (ja) * | 1983-04-22 | 1984-11-07 | Jeol Ltd | 電子線装置等用試料装置 |
JPS62177844A (ja) * | 1986-01-31 | 1987-08-04 | Hitachi Ltd | 5軸マニピユレ−タ |
JP2966474B2 (ja) | 1990-05-09 | 1999-10-25 | 株式会社日立製作所 | 電子線ホログラフィ装置 |
US5153434A (en) | 1990-05-18 | 1992-10-06 | Hitachi, Ltd. | Electron microscope and method for observing microscopic image |
JPH0513033A (ja) * | 1990-05-18 | 1993-01-22 | Hitachi Ltd | 電子顕微鏡及びそれを用いた顕微像観察方法 |
JP2984083B2 (ja) | 1991-04-04 | 1999-11-29 | 日本電子株式会社 | 電子顕微鏡用試料駆動装置 |
JPH11233056A (ja) * | 1998-02-10 | 1999-08-27 | Jeol Ltd | 電子顕微鏡等の試料移動装置及び試料移動方法 |
US6388262B1 (en) * | 1998-08-12 | 2002-05-14 | Gatan, Inc. | Double tilt and rotate specimen holder for a transmission electron microscope |
JP4534273B2 (ja) | 1999-08-31 | 2010-09-01 | 株式会社日立製作所 | 試料作成装置 |
US6410925B1 (en) | 2000-07-31 | 2002-06-25 | Gatan, Inc. | Single tilt rotation cryotransfer holder for electron microscopes |
JP3986778B2 (ja) * | 2001-08-10 | 2007-10-03 | 日本電子株式会社 | ホルダ支持装置 |
JP2005174808A (ja) * | 2003-12-12 | 2005-06-30 | Jeol Ltd | 試料ホルダ及び荷電粒子線装置 |
JP2007179805A (ja) | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Toyota Motor Corp | 透過型電子顕微鏡の試料ホルダー |
JP5268324B2 (ja) | 2007-10-29 | 2013-08-21 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線顕微装置及び顕微方法 |
DE102009001587A1 (de) * | 2009-01-06 | 2010-07-08 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Verfahren zur Einstellung eines Betriebsparameters eines Teilchenstrahlgeräts sowie Probenhalter zur Durchführung des Verfahrens |
-
2010
- 2010-11-17 JP JP2010256958A patent/JP5403560B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2010-11-30 US US12/957,102 patent/US8581207B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-08-08 GB GB1113651.2A patent/GB2485631B/en not_active Expired - Fee Related
- 2011-08-23 DE DE102011081410A patent/DE102011081410A1/de not_active Withdrawn
- 2011-10-25 NL NL2007649A patent/NL2007649C2/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2485631A (en) | 2012-05-23 |
NL2007649A (en) | 2012-05-22 |
GB201113651D0 (en) | 2011-09-21 |
GB2485631B (en) | 2013-09-25 |
JP2012109115A (ja) | 2012-06-07 |
US8581207B2 (en) | 2013-11-12 |
DE102011081410A1 (de) | 2012-05-24 |
US20120119109A1 (en) | 2012-05-17 |
NL2007649C2 (en) | 2013-03-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5403560B2 (ja) | 透過電子顕微鏡の、3方向以上から試片を観察し分析するための3軸駆動が可能な試片ホルダー | |
EP1023653B1 (en) | Robotic manipulator | |
US20120310252A1 (en) | Surgical device | |
EP1975974A2 (en) | Specimen stage-moving device for charged-particle beam system | |
CN111789565B (zh) | 内窥镜 | |
US20060074316A1 (en) | Ultrasonic probe | |
JPWO2012117781A1 (ja) | 多軸駆動装置 | |
JP2020514836A (ja) | カメラ制御方法及び装置 | |
JP6728187B2 (ja) | 医療用観察装置および医療用観察システム | |
US11069506B2 (en) | Driver of sample holder for electron microscope and stage comprising same | |
JP5351074B2 (ja) | 試料ホルダおよび走査型透過電子顕微鏡 | |
US9987750B2 (en) | Rotating device for vehicle part test device | |
US9773640B2 (en) | Sample holder, charged particle beam apparatus, and observation method | |
JP2010264580A (ja) | デファレンシャルギア組立装置および方法 | |
JP6055639B2 (ja) | 内視鏡用光源装置における回転チョッパ駆動装置、及び、内視鏡用光源装置における回転チョッパ駆動装置の組立方法 | |
JP4679279B2 (ja) | トップエントリ式試料ステージ傾斜装置 | |
JP2014039696A (ja) | 内視鏡用光源装置における回転チョッパ駆動装置 | |
CN217390860U (zh) | 防抖的器械驱动组件以及机器人手术系统 | |
CN111024733A (zh) | 一种透射电子显微镜双倾样品杆 | |
WO2011158739A1 (ja) | 荷電粒子装置 | |
JPH0722037Y2 (ja) | 走査型電子顕微鏡 | |
CN217219191U (zh) | 防抖的器械驱动组件以及机器人手术系统 | |
JP2007237315A (ja) | ロボット及びロボットのベースの製造方法 | |
JP2022040672A (ja) | 保持アーム | |
JP2000315471A (ja) | 試料ホルダ支持装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121003 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121016 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130115 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130129 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130215 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130227 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130315 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130404 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130611 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130822 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130924 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20131022 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |