JP5720409B2 - スイッチ付同軸コネクタ - Google Patents

Description

本発明は、相手コネクタが嵌合されることによって離間状態になされる固定コンタクト及び可動コンタクトを備えたスイッチ付同軸コネクタに関する。

一般に、携帯電話などのような電子機器又は電気機器にスイッチ付同軸コネクタが用いられている。このスイッチ付同軸コネクタは、例えば、機内に設けられた高周波回路等の各種電子回路の状態や性能を検査するための小型回路検査スイッチなどとして用いられるものであるが、下記の特許文献１に開示のものに相当する図２５及び図２６にかかる回路検査スイッチは、機器本体の電子回路を分断するように回路基板上に実装されたスイッチ付同軸コネクタ１からなるものであって、当該スイッチ付同軸コネクタ１に設けられた相手挿入穴を通して、相手コネクタとして検査用プラグコネクタのプローブ（検査針）２が、上方側（紙面垂直方向手前側）から内部に挿入される構成になされている。

このようなスイッチ付同軸コネクタ１では、絶縁ハウジング１ａの外方側に、グランド接続用の導電性シェル１ｂが取り付けられており、その導電性シェル１ｂから一体的に突出する複数の基板接続部１ｃが、図示を省略した配線基板上の導電路に半田接合されることにより実装が行われて使用される構成になされている。このときの前記絶縁ハウジング１ａの内部には、信号伝送用の可動コンタクト１ｄと固定コンタクト１ｅとからなるコンタクト対が取り付けられていて、それら一対の可動コンタクト１ｄ及び固定コンタクト１ｅが、機器本体に設けられた電子回路（図示省略）の一方側及び他方側にそれぞれ接続されている。

そして、そのスイッチ付同軸コネクタ１に対して、上方側（図２６の紙面垂直方向手前側）から挿入された検査用プラグコネクタのプローブ（検査針）２の先端部分が、略水平面内で揺動する前記可動コンタクト１ｄの自由端部分を押し開くように圧接し、それによって可動コンタクト１ｄが揺動して固定コンタクト１ｅから離間されて本来の電子回路が分断される。また、それと同時に、可動コンタクト１ｄが上記プローブ２の下端部分に接触し、それによって機器本体の他の電子回路にプローブ２が導通状態となり、当該プローブ２を通して、電子回路からの電気信号が外部に取り出されることにより、例えば適宜の検査が実行されるようになっている。

しかしながら、このようなスイッチ付同軸コネクタにおいては、絶縁ハウジングに設けられた相手挿入穴を通してゴミ等の塵埃が内部に侵入し易く、特に相手挿入穴の直下に配置された可動コンタクトに塵埃が付着し、それが固定コンタクトとの接触部に入り込んで電気的な接続の不良を発生させるおそれがある。

特開２００６−４９２７６号公報

そこで本発明は、相手挿入穴を通して内部に侵入した塵埃による電気的な接続不良の発生を、簡易な構成によって良好に防止することができるようにしたスイッチ付同軸コネクタを提供することを目的とする。

上記目的を達成するため本発明では、配線基板に実装されて使用されるものであって、固定コンタクトと、その固定コンタクトに対して接触・離間するように移動可能に設けられた可動コンタクトとが、絶縁ハウジングに設けられたコンタクト挿入開口部から前記絶縁ハウジングの内部に挿入されて取り付けられているとともに、前記絶縁ハウジングに設けられた相手挿入穴を通して挿入された相手コネクタにより前記可動コンタクトが、前記固定コンタクトから前記相手コネクタの挿入方向に離間されるように構成されたスイッチ付同軸コネクタにおいて、前記可動コンタクトは、当該可動コンタクトを前記絶縁ハウジングに固定する支持基部と、その支持基部から片持ち状に延出して前記相手コネクタの一部が接触する弾性ビームとを有し、前記弾性ビームは、前記支持基部に対して前記相手コネクタの挿入方向への下降段差部を介して連設され、当該下降段差部から前記固定コンタクトの接点部に向かって上昇する方向に傾斜して延在しているとともに、前記支持基部は、前記コンタクト挿入開口部を閉塞するように前記配線基板からの高さが前記コンタクト挿入開口部と同一の高さを有し、かつ前記可動コンタクトの前記弾性ビームには、前記相手挿入穴に対面するようにして貫通穴が両端部で閉じた細長の長穴形状で形成され、その貫通穴を挟んだ両側には、当該貫通穴を介して対面する二体の相手コネクタ接触片が、前記可動コンタクトの一部をなすように設けられた構成になされている。

このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、相手コネクタが嵌合されていないときに開放されている相手挿入穴を通して内部に進入する塵埃が、可動コンタクト上に蓄積されることなく貫通穴を通して排出されるため、相手コネクタと可動コンタクトとの電気的な導通性及び可動コンタクトと固定コンタクトとの電気的な導通性が、塵埃により妨げられるおそれが低減される。また、貫通穴を通して排出される塵埃が、可動コンタクトの可動ビームの上昇傾斜面によって固定コンタクトの接点部側に移行しなくなるため、可動コンタクトと固定コンタクトとの電気的な接続が良好に行われるとともに、絶縁ハウジングのコンタクト挿入開口部が可動コンタクトの支持基部により閉塞され、そこからの塵埃の侵入が防止される。

また、本発明における前記相手コネクタ接触片には、他方の相手コネクタ接触片に対面する壁面に、前記相手コネクタの一部に接触する傾斜面からなる接点部が設けられていることが望ましい。

このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、相手コネクタの一部が、相手コネクタ接触片の傾斜面からなる接点部に沿うように接触されるために電気的な接続が良好に行われるとともに、貫通穴を通して排出される塵埃が、相手コネクタ接触片の傾斜面により円滑に案内される。

また、本発明においては、前記貫通穴が、前記可動ビームから前記支持基部にかけて延在するように設けられていることが望ましい。

このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、貫通穴が可動コンタクトの支持基部まで延びているため、相手コネクタのプローブが可動ビームに接触した際の応力が支持基部の一部に集中することなく分散され、可動コンタクトの耐久性が向上される。

また、本発明においては、前記可動コンタクトに、前記固定コンタクトに接触する部位において二方向に分割された二股状接点部が設けられているとともに、前記固定コンタクトには、前記可動コンタクトの二股状接点部の間に入り込む突状接点部が設けられ、前記可動コンタクトの二股状接点部が、前記固定コンタクトの突状接点部に接触する傾斜面に形成されていることが望ましい。

このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、可動コンタクトの二股状接点部が固定コンタクトの突状接点部に沿うように接触されるために電気的な接続が良好に行われるとともに、内部に侵入した塵埃が、可動コンタクトの二股状接点部の傾斜面によって円滑に排出される。

また、本発明における前記固定コンタクトの突状接点部は、前記可動コンタクトの二股状接点部に対して、当該可動コンタクトの二股状接点部の間隔を押し広げるように接触する楔形状に形成されていることが望ましい。

このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、固定コンタクトの突状接点部に対して可動コンタクトの二股状接点部が接触した際に、両者が圧接状態で良好に接触されるとともに、可動コンタクトの二股状接点部の間隔が押し広げられるために、接触部分近傍に存在する塵埃が二股状接点部の間隔を通して落下され易くなる。また、固定コンタクトの突状接点部に対して、可動コンタクトの二股状接点部が接触した際に、前記二股状接点部同士の間隔が押し広げられ、前記突状接点部と前記二股状接点部が圧接状態で摺動するように接触されるため、両接点部をクリーニングする効果が発揮される。

また、本発明においては、前記絶縁ハウジングの内部であって、前記相手挿入穴に対向し、かつ前記可動コンタクトの貫通穴に対向する位置に突起が設けられていることが望ましい。

このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、絶縁ハウジングに設けた突起が、挿入された相手コネクタ（プローブ）のストッパとして働き、相手コネクタから可動コンタクトへ負荷される過度な外力を防止し、接触信頼性を向上させる。

以上述べたように本発明は、絶縁ハウジングに取り付けた可動コンタクトに相手挿入穴に対面する貫通穴を貫通形成し、その貫通穴を挟んだ両側に二体の相手コネクタ接触片を配置したことにより、相手コネクタが嵌合されていないときに開放されている相手挿入穴を通して内部に進入する塵埃を、可動コンタクト上に蓄積させることなく貫通穴を通して排出するとともに、その貫通穴を通して排出される塵埃を可動コンタクトの上昇傾斜面によって固定コンタクトの接点部側に移行させないようにし、かつ絶縁ハウジングのコンタクト挿入開口部を可動コンタクトの支持基部により閉塞することにより、相手コネクタと可動コンタクトとの電気的な導通性及び可動コンタクトと固定コンタクトとの電気的な導通性を塵埃により妨げられるおそれを低減するように構成したものであるから、相手挿入穴を通して内部に侵入した塵埃による電気的な接続不良の発生を、簡易な構成によって良好に防止することができ、スイッチ付同軸コネクタの信頼性を安価かつ大幅に高めることができる。

本発明の一実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付同軸コネクタの全体構造を平面正面側から見たときの外観斜視説明図である。 図１に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタの全体構造を平面背面から見たときの外観斜視説明図である。 図１及び図２に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタの全体構造を底面側から見たときの外観斜視説明図である。 図１乃至図３に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタの平面説明図である。 図１乃至図３に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタの正面説明図である。 図１乃至図３に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタの側面説明図である。 図１乃至図６に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタに用いられている可動コンタクトを平面正面側から見たときの外観斜視説明図である。 図１乃至図６に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタに用いられている固定コンタクトを平面正面側から見たときの外観斜視説明図である。 図１乃至図６に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタに用いられている可動コンタクトと固定コンタクトとの配置関係を平面正面側から見たときの外観斜視説明図である。 図４中の X−X 線に沿った縦断面説明図である。 図１０に相当する図であって、図示を省略した相手コネクタ（検査用プラグコネクタ）が挿入された状態を表した縦断面説明図である。 図４中の XII−XII 線に沿った縦断面説明図であって、相手コネクタ（検査用プラグコネクタ）が挿入される直前の状態を表した縦断面説明図である。 図１２に相当する図であって、相手コネクタ（検査用プラグコネクタ）が挿入された状態を表した縦断面説明図である。 可動コンタクトと固定コンタクトが接触された状態を拡大して表した図１０相当の縦断面説明図である。 可動コンタクトと固定コンタクトが離間された状態を拡大して表した図１０相当の縦断面説明図である。 図１４中の XVI−XVI 線に沿った縦断面説明図である。 図１５中の XVII−XVII 線に沿った縦断面説明図である。 図１２に相当する図であって、相手コネクタ（検査用プラグコネクタ）が挿入される直前の状態を拡大して表した縦断面説明図である。 図１３に相当する図であって、相手コネクタ（検査用プラグコネクタ）が挿入された状態を拡大して表した縦断面説明図である。 本発明の他の実施形態にかかる可動コンタクトを平面正面側から見たときの外観斜視説明図である。 図２０に表された可動コンタクトが固定コンタクトに接触された状態を拡大して表した図１６相当の縦断面説明図である。 図２０に表された可動コンタクトが固定コンタクトから離間された状態を拡大して表した図１７相当の縦断面説明図である。 本発明の他の実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタを表した図１１に相当する図であって、相手コネクタ（検査用プラグコネクタ）が挿入された状態を表した縦断面説明図である。 図２３に表した本発明の他の実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタの図１３に相当する図であって、相手コネクタ（検査用プラグコネクタ）が挿入された状態を表した縦断面説明図である。 従来のスイッチ付同軸コネクタの一例を表した外嵌斜視説明図である。 図２５に表された従来のスイッチ付同軸コネクタの構造を表した横断面説明図である。

以下、本発明にかかるスイッチ付同軸コネクタを回路検査スイッチとして採用した実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。

［回路検査スイッチの全体構造について］
まず、図１に示された本発明の第１の実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタ１０は、図示を省略した配線基板上に実装されるものであって、当該スイッチ付同軸コネクタ１０に対して、相手コネクタとしての検査用プラグコネクタ２０（図１２及び図１３参照）が上方側から嵌合され、又は上方側に向かって抜出される構成になされている。すなわち、そのスイッチ付同軸コネクタ１０の上方側に配置された検査用プラグコネクタ２０が、作業者の手で把持されながら下方側のスイッチ付同軸コネクタ１０に向かって適宜の力で押し込まれ、それによって両コネクタ同士が嵌合された装着状態になされる。また、その両コネクタの装着状態から検査用プラグコネクタ２０を把持して上方側に適宜の力で引き上げれば、当該検査用プラグコネクタがスイッチ付同軸コネクタ１０から上方に離脱して抜出が行われる。なお、検査用プラグコネクタ２０は作業者の手で挿抜されることに限らず、機械によって自動的に挿抜されてもよい。以下、この検査用プラグコネクタの挿入方向及び抜出方向を、それぞれ「下方向」及び「上方向」とする。

このような回路検査スイッチの組立体を構成しているスイッチ付同軸コネクタ１０は、例えば携帯電話等の電子機器に設けられた電子回路基板（図示省略）上に半田付けにより実装されて使用され、その電子機器に設けられた電子回路を、例えば機器本体側とアンテナ側とを分断又は接続するように配置される。

［絶縁ハウジングの構成について］
図２、図３及び図４にも示されているように、上記スイッチ付同軸コネクタ１０の本体部を構成している絶縁ハウジング１１は、プラスチック等の樹脂材を用いて例えばモールド成形されたものであって、平面略矩形状の板状部材からなるベース枠体部１１ａと、そのベース枠体部１１ａの上面中央部分に配置された挿入ガイド部１１ｂとを一体的に有している。

挿入ガイド部１１ｂは、上述したベース枠体部１１ａの上側表面から略円筒状をなして上方に立ち上がるように形成されている。この挿入ガイド部１１ｂの内周側表面は、略すり鉢状をなすように形成されており、当該挿入ガイド部１１ｂの上端縁部分に形成された円環状外縁部から、中心部分に相手挿入穴として設けられたプローブ挿入穴１１ｃの上面側開口部に向かって斜め下方に延在する傾斜ガイド面１１ｄが形成されている。この傾斜ガイド面１１ｄは、前述した検査用プラグコネクタ２０に設けられたプローブ２０ａをプローブ挿入穴１１ｃに向かって案内する機能を有するものであって、検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａがプローブ挿入穴１１ｃの真上に配置されていない場合であっても、傾斜ガイド面１１ｄの傾斜面上にプローブの先端部が当接されれば、プローブ２０ａの先端部が傾斜ガイド面１１ｄに沿って下方に滑り落ちるように移動され、プローブ挿入穴１１ｃまで円滑に案内されるようになっている。

相手挿入穴として設けられたプローブ挿入穴１１ｃは、上述したように挿入ガイド部１１ｂの上端開口部からベース枠体部１１ａの中心軸に沿って下方に延出しており、絶縁ハウジング１１の正面背面両端面に設けられたコンタクト挿入開口部１１ｅ，１１ｆまで貫通して、後述する可動コンタクト１２の上方位置に開口するように形成されている。このプローブ挿入穴１１ｃは、検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａを挿入可能とする内径を有する大きさの平面略円形状をなすように形成されていて、当該プローブ挿入穴１１ｃの上面側開口部の周囲に、挿入ガイド部１１ｂが略同心状をなすように配置されている。

［コンタクトの構成について］
一方、絶縁ハウジング１１のベース枠体部１１ａの内部には、信号伝送用の可動コンタクト１２及び固定コンタクト１３が、上述した検査用プラグコネクタ２０の挿抜方向（上下方向）に略直交する水平方向に互いに対向するように取り付けられている。これらの可動コンタクト１２及び固定コンタクト１３は、いわゆるコンタクト対を構成するものであって、絶縁ハウジング１１の正面背面両端面に設けられたコンタクト挿入開口部１１ｅ，１１ｆを通して、当該絶縁ハウジング１１の内部に挿入され、その両コンタクト１２，１３同士が互いに弾性的に接触した状態となるように絶縁ハウジング１１に取り付けられている。この両コンタクト１２，１３同士の接触状態は、後述するように検査用プラグコネクタ２０の嵌合によって解除されて離間状態になされる。

可動コンタクト１２及び固定コンタクト１３は、当該両部材１２，１３同士が対向する方向の後端部分に基板接続部１２ａ，１３ａをそれぞれ有している。それらの基板接続部１２ａ，１３ａは、絶縁ハウジング１１に圧入固定される支持基部１２ｂ，１３ｂの下端面部を構成するものであって、上述した配線基板上に設けられた信号伝送用の導電路に半田接合されて実装される。このような基板接続部１２ａ，１３ａを有する支持基部１２ｂ，１３ｂは、側面略「コ」の字状をなすように形成されていて、当該両支持基部１２ｂ，１３ｂ同士が、水平方向に互いに対向するようにして絶縁ハウジング１１に対して圧入固定されている。

より具体的には、固定コンタクト１３側に設けられた支持基部１３ｂには、当該支持基部１３ｂの上端面部を構成する固定片１３ｃが、コネクタ内方側（図１０の左方側）に向かって延出するように設けられている。その固定片１３ｃは、絶縁ハウジング１１の内壁面に圧接されていて、上述した絶縁ハウジング１１のコンタクト挿入開口部１１ｆが、支持基部１３ｂにより閉塞されている。また、その固定片１３ｃのコネクタ内方側（図１０の左方側）における先端部分には、下方に向かって略円筒状に突出する固定接点部１３ｄが形成されている。

一方、可動コンタクト１２に設けられた支持基部１２ｂの上端面部を構成している固定片１２ｃも、コネクタ内方側（図１０の右方側）に向かって延出するように設けられている。この固定片１２ｃは、絶縁ハウジング１１の内壁面に圧接されて固定状態になされており、上述した絶縁ハウジング１１のコンタクト挿入開口部１１ｅが、支持基部１３ｂにより閉塞された状態になされている。

このように本実施形態においては、可動コンタクト１２及び固定コンタクト１３に設けられた支持基部１２ｂ，１３ｂが、図示を省略した配線基板からの高さｈ１を有しており、その支持基部１２ｂ，１３ｂの高さｈ１が、絶縁ハウジングに設けられたコンタクト挿入開口部１１ｅ，１１ｆの高さｈ２と略同一の高さとなるように設定されている（ｈ１≒ｈ２）。このような構成としておけば、絶縁ハウジング１１のコンタクト挿入開口部１１ｅ，１１ｆが、可動コンタクト１２及び固定コンタクト１３の支持基部１２ｂ，１３ｂにより閉塞され、そこからの塵埃の侵入が防止される。

また、上述した可動コンタクト１２の支持基部１２ｂに設けられた固定片１２ｃには、クランク形状をなすように形成された下降段部１２ｄが、下方向への段差を形成するように連設されているとともに、その下降段部１２ｄを介して片持ち状に延出する弾性ビーム１２ｅが、上下方向に揺動自在となるように連設されている。その弾性ビーム１２ｅの根本部分を構成している下降段部１２ｄは、上述したように固定片１２ｃの先端部から斜め下方に向かって延出しており、当該下降段部１２ｄの下端部が、絶縁ハウジング１１に設けられた内壁面に当接するように配置されている。

また、その下降段部１２ｄから延出している弾性ビーム１２ｅは、帯状バネ部材から形成されており、上述した固定コンタクト１３側に向かって斜め上方に浮き上がるように配置されている。この弾性ビーム１２ｅの延出側の先端部分には可動接点部１２ｆが設けられており、その可動コンタクト１２の可動接点部１２ｆが、上述した固定コンタクト１３の固定接点部１３ｄに対して弾性ビーム１２ｅの弾性付勢力により下方側から弾性的に接触されるように構成されている。

このような可動コンタクト１２の弾性ビーム１２ｅを構成している帯状バネ部材の延在方向途中部分は、前述した相手挿入穴としてのプローブ挿入穴１１ｃの直下に配置されている。そして、特に図１２及び図１３に示されているように、前述した検査用プラグコネクタ２０が上方側から嵌合され、当該検査用プラグコネクタ２０に設けられたプローブ２０ａが、プローブ挿入穴１１ｃを通してコネクタ内部に挿入されると、当該検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａが、可動コンタクト１２の弾性ビーム１２ｅの途中部分に当接する。さらに、検査用プラグコネクタ２０が下方に押し下げられると、可動コンタクト１２側の可動接点部１２ｆが、固定コンタクト１３の固定接点部１３ｄから下方に離間される。

このとき、上述した可動コンタクト１２側に設けられた可動接点部１２ｆは、固定コンタクトの固定接点部１３ｄに接触する部位において二方向に分割された二股状接点部を構成しており、平面視において略Ｕ字状をなすように可動接点部１２ｆが形成されている。そして、その二股状接点部を構成する可動コンタクト１２側の可動接点部１２ｆに対して、固定コンタクト１３側に設けられた固定接点部１３ｄは、可動コンタクト１２の二股状接点部の間に入り込む略円筒状の突状接点部をなすように形成されている。

より具体的には、可動コンタクト１２に二股状接点部として設けられた可動接点部１２ｆは、平面略Ｕ字状をなすように形成された内周縁を有しており、その略Ｕ字状をなす内周縁には、当該内周面により画成された内側空間に向かって下降する傾斜面が形成されている。この該可動接点部１２ｆに設けられた傾斜面は、固定コンタクト１３の突状接点部としての固定接点部１３ｄの先端部分に対して面状に接触するように構成されている。

このように、可動コンタクト１２に、二股状接点部としての可動接点部１２ｆを設けておけば、固定コンタクト１３に突状接点部として設けられた固定接点部１３ｄに沿うようにして可動コンタクト１２の可動接点部１２ｆが接触されるため、電気的な接続が良好に行われるとともに、コネクタ内部に侵入した塵埃が、可動コンタクト１２の可動接点部（二股状接点部）１２ｆに設けられた傾斜面に沿って円滑に排出される。

このとき、上述した実施形態と同一の構成部材に対して同一の符号を付した図２０〜図２２にかかる他の実施形態においては、可動コンタクト１２に設けられた可動接点部１２ｆ’を構成している二股状接点部が、長めのスパンを有するように形成されているとともに、固定コンタクト１３側に突状接点部として設けられた固定接点部１３ｄ’が、更に下方に突出するように設けられ、可動コンタクト１２側の可動接点部（二股状接点部）１２ｆ’に対して楔形状をなすように形成されている。そして、可動コンタクト１２に設けられた可動接点部１２ｆ’が固定コンタクト１３の固定接点部１３ｄ’に接触した際に、当該固定コンタクト１３の楔形状をなす固定接点部１３ｄ’が、可動コンタクト１２の可動接点部１２ｆ’を構成する二股状接点部同士の間に侵入することによって、可動接点部１２ｆ’を構成する二股状接点部同士の間隔が、特に図２１に示されているように押し広げられるようになっている。

このような構成としておけば、固定コンタクト１３に設けられた固定接点部（突状接点部）１３ｄ’に対して、可動コンタクト１２の可動接点部（二股状接点部）１２ｆ’が接触した際に、両部材１２ｆ’，１３ｄ’が圧接状態で良好に接触されるとともに、可動コンタクト１２の可動接点部（二股状接点部）１２ｆ’同士の間隔が押し広げられることとなるため、両部材１２ｆ’，１３ｄ’の接触部分近傍に存在するゴミなどの塵埃が、可動コンタクト１２の可動接点部１２ｆ’の拡大された間隔部分を通して落下され易くなる。また、固定コンタクト１３に設けられた固定接点部（突状接点部）１３ｄ’に対して、可動コンタクト１２の可動接点部（二股状接点部）１２ｆ’が接触した際に、可動コンタクト１２の可動接点部（二股状接点部）１２ｆ’同士の間隔が押し広げられ、それら両部材１２ｆ’，１３ｄ’が水平方向に圧接した状態で摺動するように接触されるため、接点部をクリーニングする効果が発揮される。

さらにまた、上述した可動コンタクト１２の弾性ビーム１２ｅを構成している帯状バネ部材には、検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａとの接触位置、すなわちプローブ挿入穴（相手挿入穴）１１ｃに対面する直下位置に、スリット状をなすようにして塵埃落下穴としての貫通穴１２ｇが形成されている。この貫通穴１２ｇは、可動コンタクト１２の長手方向に沿って細長状に延在する長穴から形成されており、上述した弾性ビーム１２ｅの先端側に設けられた可動接点部１２ｆの近傍から、プローブ挿入穴１１ｃの直下位置を通って支持基部１２ｂまで延在している。

この貫通穴１２ｇが設けられた可動コンタクト１２の弾性ビーム１２ｅには、当該弾性ビーム１２ｅの板幅方向に貫通穴１２ｇを挟んだ両側部分に、二体のプローブ接触片１２ｈ，１２ｈが細幅に延在するように配置されている。すなわち、これら二体のプローブ接触片１２ｈ，１２ｈは、本発明で言う相手コネクタ接触片を構成するものであって、上述した貫通穴１２ｇを画成するように配置されたものであるとともに、相手コネクタとしての検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａに対する接触片をなすよう設けられている。

このように可動コンタクト１２の弾性ビーム１２ｅに貫通穴１２ｇを設けておけば、検査用プラグコネクタ２０が嵌合されていないときに開放状態にあるプローブ挿入穴（相手挿入穴）１１ｃを通して内部に進入するゴミ等の塵埃が、可動コンタクト１２や固定コンタクト１３の上に蓄積することなく貫通穴１２ｇを通して排出され、その結果、可動コンタクト１２と固定コンタクト１３との電気的な導通性が塵埃により妨げられるおそれが低減される。

また、このときの各プローブ接触片１２ｈにおいては、他方のプローブ接触片１２ｈに対面する壁面に、検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａに接触する検査用接点部１２ｉが、傾斜面をなすように設けられている。この検査用接点部１２ｉは、検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａの先端側部分に形成された湾曲面に対して、略接線方向に延在するように形成されており、プローブ２０ａに対して面状に当接するように形成されている。

このような傾斜面からなる検査用接点部１２ｉを、可動コンタクト１２のプローブ接触片１２ｈに設けておけば、当該プローブ接触片１２ｈの検査用接点部１２ｉに沿うようにして検査用コネクタ２０のプローブ２０ａの先端部分が可動コンタクト１２に接触されることなり、両部材１２，２０同士の電気的な接続が良好に行われるとともに、貫通穴１２ｇを通して排出される塵埃が、プローブ接触片１２ｈの傾斜面によって円滑に案内される。

さらに、本実施形態においては、上述したように可動コンタクト１２の弾性ビーム１２ｅに設けられた貫通穴１２ｇが、弾性ビーム１２ｅから後方側の支持基部１２ｂ側にかけて延在しており、当該貫通穴１２ｇの後端部分が支持基部１２ｂの上端面部を構成している固定片１２ｃに一部かかるように延長して設けられていることから、検査用コネクタ２０のプローブ２０ａが可動コンタクト１２の弾性ビーム１２ｅに接触した際の応力が、可動コンタクト１２の固定片１２ｃの一部に集中することなく分散されることとなり、可動コンタクト１２の使用耐久性が向上されるようになっている。

［導電性シェルについて］
一方、上述した絶縁ハウジング１１の上面側表面には、薄板状の導電性部材からなる導電性シェル１４が上方側から覆うようにして装着されている。この導電性シェル１４は、絶縁ハウジング１１の上面側から挿入ガイド部１１ｂの外周面の一部を覆うように装着されているが、この導電性シェル１４が絶縁ハウジング１１の上面側表面を覆っている上面基板１４ａが平面略矩形状をなすように形成されている。

その導電性シェル１４における略矩形状をなす上面基板１４ａの中央部分には、上述した絶縁ハウジング１１の挿入ガイド部１１ｂを外方側から覆うグランド端子部１４ｂが略中空円筒状をなすようにして一体に設けられている。このグランド端子部１４ｂの外周表面には、円環状をなす固定係止溝１４ｃが凹設されており、その固定係止溝１４ｃに対して、前述した検査用プラグコネクタ２０の導電性シェルに設けられた係合突部２０ｂが嵌め込まれ、それによってスイッチ付同軸コネクタ１０に検査用プラグコネクタ２０が適宜の嵌合力で連結された状態に維持されるようになっている。

また、上述した導電性シェル１４の上面基板１４ａにおける略矩形状の四隅部分には、下方に向かって垂れ下がるように延在する基板接続部１４ｄがそれぞれ連設されている。それら４体の基板接続部１４ｄのうち、前述した可動コンタクト１２と固定コンタクト１３との対向方向に隣接する２体の基板接続部１４ｄ，１４ｄ同士は、一体的に連結されていて、それら一体連結された一方側の基板接続部１４ｄ，１４ｄと、他方側の基板接続部１４ｄ，１４ｄとが、可動コンタクト１２と固定コンタクト１３とからなるコンタクト対を両側から挟むように配置されている。そして、それらの各基板接続部１４ｄが、図示を省略した配線基板上のグランド用導電路に半田接合されることによって、グランド接続が行われるとともに、スイッチ付同軸コネクタ１０の全体の保持が行われるようになっている。

このとき、それらの各基板接続部１４ｄは、上述した上面基板１４ａの端縁から下方に向かって湾曲形状をなすように延在しており、２体の基板接続部１４ｄ，１４ｄ同士の連結方向と直交する方向における横断面形状が、略Ｓ字又は略Ｚ字形状をなすように湾曲形成されている。

この導電性シェル１４に設けられた基板接続部１４ｄの形状を具体的に説明すると、当該基板接続部１４ｄは、上述した上面基板１４ａの端縁からコネクタ内方側に向かって斜め下方に窪むように延出する逆テーパ状の傾斜壁面を有しているとともに、その傾斜壁面の下端部から、再びコネクタ外方に向かって略水平に突出する水平壁面を有している。そして、その基板接続部１４ａに設けられた逆テーパ状の傾斜壁面と水平壁面とによって、前述した固定コンタクト１３及び可動コンタクト１２側に向かって窪む凹部１４ｅが画成されており、当該凹部１４ｅが、基板接続部１４ｄに窪むように設けられた構成になされている。また、上述した基板接続部１４ａの水平壁面によって、配線基板上に半田接合される半田接合片１４ｆが形成された構成になされている。

このように基板接続部１４ａに凹部１４ｅを窪ませるようにして設けておけば、導電性シェル１４の基板接続部１４ａに対して使用した半田材の余剰分やフラックスが、基板接続部１４ａや導電性シェル１４の他の壁面に沿って這い上がろうとしても、その這い上がろうとする半田材の余剰分やフラックスが凹部１４ｅの内部に蓄えられる。また、その凹部１４ｅの壁面を構成する逆テーパ状の傾斜壁面によって、半田材やフラックスの這い上がり作用力が低減されることとなる。さらに、当該凹部１４ｅの壁面が湾曲状に延在していることによって、半田材及びフラックスの這い上がり長さが延長されることとなり、いわゆる半田上がり良好に防止されて、電気的な導通状態への影響が大幅に低減される。

また、本実施形態にかかる導電性シェル１４の基板接続部１４ａには、前述したように凹部１４ｅからコネクタ外方に向かって延出する半田接合片１４ｆを有していることから、基板接続部１４ａの半田接合片１４ｆに対する半田材の接合状態が、作業者によって直ちに目視されることとなって作業効率が向上される。

このとき、本実施形態にかかる半田接合片１４ｆの先端部は、上述した導電性シェル１４の最大外形である上面基板１４ａの幅方向寸法と同一か、ややコネクタ内方側に位置している。このような構成によって、当該半田接合片１４ｆに対する半田付け作業に支障を与えることなく全体の小型化が可能となっている。

一方、前述した実施形態と同一の構成部材に対して同一の符号を付した図２３及び図２４にかかる更に他の実施形態においては、検査用プラグコネクタ（相手コネクタ）２０のプローブ２０ａに対する移動規制部材（ストッパ）としての突起１１ｇが、絶縁ハウジング１１の内部に設けられている。この移動規制部材としての突起１１ｇは、絶縁ハウジング１１のベース枠体部１１ａの底面部分から上方に突出するように形成されており、上述したプローブ挿入穴（相手挿入穴）１１ｃに対向し、かつ可動コンタクト１２の貫通穴１２ｇに対向する位置に配置されている。

このような構成としておけば、検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａがプローブ挿入穴１１ｃを通してコネクタ内部に挿入された際に、絶縁ハウジング１１の突起１１ｇがプローブ２０ａのストッパとして働き、検査用プラグコネクタ（相手コネクタ）２０から可動コンタクト１２へ負荷される過度な外力の発生が防止されることとなって接触の信頼性が向上される。

以上、本発明者によってなされた発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本実施形態は上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能であるというのはいうまでもない。

例えば上述した実施形態においては、可動コンタクト１２に貫通穴１２ｇを設けているが、全体の配置関係に応じて、固定コンタクトに貫通穴を設けるようにしても良い。

また、本発明は、上述した実施形態のような回路検査スイッチ以外の用途に用いられるスイッチ付同軸コネクタに対しても同様に適用可能である。

以上のように本発明は、各種電子・電気機器に使用される多種多様なスイッチ付同軸コネクタに対して広く適用することが可能である。

１０ スイッチ付同軸コネクタ
１１ 絶縁ハウジング
１１ａ ベース枠体部
１１ｂ 挿入ガイド部
１１ｃ プローブ挿入穴（相手挿入穴）
１１ｄ 傾斜ガイド面
１１ｅ，１１ｆ コンタクト挿入開口部
１１ｇ 突起
１２ 可動コンタクト
１２ａ 基板接続部
１２ｂ 支持基部
１２ｃ 固定片
１２ｄ 下降段部
１２ｅ 弾性ビーム
１２ｆ，１２ｆ’ 可動接点部
１２ｇ 貫通穴
１２ｈ プローブ接触片（相手コネクタ接触片）
１２ｉ 検査用接点部
１３ 固定コンタクト
１３ａ 基板接続部
１３ｂ 支持基部
１３ｃ 固定片
１３ｄ，１３ｄ’ 固定接点部
１４ 導電性シェル
１４ａ 上面基板
１４ｂ グランド端子部
１４ｃ 固定係止溝
１４ｄ 基板接続部
１４ｅ 凹部
１４ｆ 半田接合片
２０ 検査用プラグコネクタ（相手コネクタ）
２０ａ プローブ
２０ｂ 係合突部

Claims (6)

1. 配線基板に実装されて使用されるものであって、
   固定コンタクトと、その固定コンタクトに対して接触・離間するように移動可能に設けられた可動コンタクトとが、絶縁ハウジングに設けられたコンタクト挿入開口部から前記絶縁ハウジングの内部に挿入されて取り付けられているとともに、
   前記絶縁ハウジングに設けられた相手挿入穴を通して挿入された相手コネクタにより前記可動コンタクトが、前記固定コンタクトから前記相手コネクタの挿入方向に離間されるように構成されたスイッチ付同軸コネクタにおいて、
   前記可動コンタクトは、当該可動コンタクトを前記絶縁ハウジングに固定する支持基部と、その支持基部から片持ち状に延出して前記相手コネクタの一部が接触する弾性ビームと、を有し、
   前記弾性ビームは、前記支持基部に対して前記相手コネクタの挿入方向への下降段差部を介して連設され、当該下降段差部から前記固定コンタクトの接点部に向かって上昇する方向に傾斜して延在しているとともに、
   前記支持基部は、前記コンタクト挿入開口部を閉塞するように前記配線基板からの高さが前記コンタクト挿入開口部と同一の高さを有し、かつ
   前記可動コンタクトの前記弾性ビームには、前記相手挿入穴に対面するようにして貫通穴が両端部で閉じた細長の長穴形状で形成され、その貫通穴を挟んだ両側には、当該貫通穴を介して対面する二体の相手コネクタ接触片が、前記可動コンタクトの一部をなすように設けられていることを特徴とするスイッチ付同軸コネクタ。
2. 前記相手コネクタ接触片には、他方の相手コネクタ接触片に対面する壁面に、前記相手コネクタの一部に接触する傾斜面からなる接点部が設けられていることを特徴とする請求項１記載のスイッチ付同軸コネクタ。
3. 前記貫通穴が、前記弾性ビームから前記支持基部にかけて延在するように設けられていることを特徴とする請求項１記載のスイッチ付同軸コネクタ。
4. 前記可動コンタクトに、前記固定コンタクトに接触する部位において二方向に分割された二股状接点部が設けられているとともに、
   前記固定コンタクトには、前記可動コンタクトの二股状接点部の間に入り込む突状接点部が設けられ、
   前記可動コンタクトの二股状接点部が、前記固定コンタクトの突状接点部に接触する傾斜面に形成されていることを特徴とする請求項１記載のスイッチ付同軸コネクタ。
5. 前記固定コンタクトの突状接点部は、前記可動コンタクトの二股状接点部に対して、当該可動コンタクトの二股状接点部の間隔を押し広げるように接触する楔形状に形成されていることを特徴とする請求項４記載のスイッチ付同軸コネクタ。
6. 前記絶縁ハウジングの内部であって、前記相手挿入穴に対向し、かつ前記可動コンタクトの貫通穴に対向する位置に、突起が設けられていることを特徴とする請求項１記載のスイッチ付同軸コネクタ。

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