JP5579180B2 - センサ装置及びその製造方法 - Google Patents

センサ装置及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5579180B2
JP5579180B2 JP2011521598A JP2011521598A JP5579180B2 JP 5579180 B2 JP5579180 B2 JP 5579180B2 JP 2011521598 A JP2011521598 A JP 2011521598A JP 2011521598 A JP2011521598 A JP 2011521598A JP 5579180 B2 JP5579180 B2 JP 5579180B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ceramic
carrier substrate
screen printing
printing paste
sensor device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011521598A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011530186A (ja
Inventor
ゲラルト クロイバー,
ハインツ シュトラルホーファー,
ノルベルト フライバーガー,
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Electronics AG
Original Assignee
Epcos AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Epcos AG filed Critical Epcos AG
Publication of JP2011530186A publication Critical patent/JP2011530186A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5579180B2 publication Critical patent/JP5579180B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/321Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by conductive adhesives
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K1/00Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
    • G01K1/02Means for indicating or recording specially adapted for thermometers
    • G01K1/026Means for indicating or recording specially adapted for thermometers arrangements for monitoring a plurality of temperatures, e.g. by multiplexing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K1/00Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
    • G01K1/14Supports; Fastening devices; Arrangements for mounting thermometers in particular locations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G01K7/22Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C7/00Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
    • H01C7/10Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material voltage responsive, i.e. varistors
    • H01C7/12Overvoltage protection resistors
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/09Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
    • H05K1/092Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10621Components characterised by their electrical contacts
    • H05K2201/10636Leadless chip, e.g. chip capacitor or resistor
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/11Treatments characterised by their effect, e.g. heating, cooling, roughening
    • H05K2203/1126Firing, i.e. heating a powder or paste above the melting temperature of at least one of its constituents
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/11Treatments characterised by their effect, e.g. heating, cooling, roughening
    • H05K2203/1131Sintering, i.e. fusing of metal particles to achieve or improve electrical conductivity
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/14Related to the order of processing steps
    • H05K2203/1453Applying the circuit pattern before another process, e.g. before filling of vias with conductive paste, before making printed resistors
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/12Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
    • H05K3/1283After-treatment of the printed patterns, e.g. sintering or curing methods
    • H05K3/1291Firing or sintering at relative high temperatures for patterns on inorganic boards, e.g. co-firing of circuits on green ceramic sheets
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49082Resistor making
    • Y10T29/49103Strain gauge making
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/49128Assembling formed circuit to base
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/4913Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc.
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24802Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.]
    • Y10T428/24926Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.] including ceramic, glass, porcelain or quartz layer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Thermistors And Varistors (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Description

本発明は、センサ装置及びその製造方法に関する。
特許文献1には、センサ素子が平面状に配置されたセンサ装置が開示されている。
独国特許出願公開第102006031344号明細書
達成すべき目的は、簡単且つ安定した構造を有するセンサ装置を具体化することである。
上記目的は、特許請求の範囲の請求項1に係るセンサ装置によって達成される。また、上記目的は、請求項14及び15に係るセンサ装置の製造方法によっても達成される。従属項は、センサ装置及びその製造方法の有利な改良に関連している。
セラミックキャリア基板を備え、当該セラミック基板上に少なくとも2つの導体トラックが配置されたセンサ装置が特定される。当該センサ装置は、少なくとも1つのセラミック部材を有し、当該セラミック部材はチップ状に形成され、且つセラミックキャリア基板の導体トラックに電気的に接続されている。
当該セラミック部材は温度依存性抵抗を有していることが好ましく、当該抵抗を用いることによって検出された物理的変数を電気的な信号に変換することができる。
当該セラミック部材の特徴を、1又は複数のNTC素子を一例として以下に説明する。
但し、以下の特徴は、物理的変数を電気的な測定信号に変換するのに適した他の所望のセラミック部材にも適用される。
セラミック部材は、耐熱型の温度センサであることが好ましい。1つの有利な実施態様において、セラミック部材は、NTC素子の形態をなし、NTCセラミックを含む主要部を備える。かかる場合において、NTCとは負の温度係数を意味する。当該NTC素子は、むき出しのセラミックチップの状態であることが好ましい。当該NTCセラミックは、経年変化に対して耐性を有することが好ましい。当該NTCセラミックは、測定温度に対して高い感度を有することが好ましい。当該NTCセラミックは、例えば、マンガン/ニッケルのセラミックからなり、当該マンガン/ニッケルのセラミックはスピネル型構造を有することが好ましい。
少なくとも1つのNTC素子は、焼成されて焼き付けられたスクリーン印刷ペーストを介し、センサ装置のセラミックキャリア基板の導体トラックに機械的に固定されて接続される。スクリーン印刷ペーストによるNTC素子とキャリア基板との間の機械的な接続は、半田を用いない接続を可能にし、このような接続は高い温度検出に適する。銀又は銀/白金を含むスクリーン印刷ペーストを用いることが好ましい。
半田付けによる接続は、適用範囲が限られたものとなる。比較的低い温度であっても、当該半田による接続が当該接続の固相線温度における固体と液層線温度における液体との間の遷移領域に達し、当該半田による接続は安定した接続にはもはや適さなくなる。
一実施態様において、センサ装置は互いに並列に接続された少なくも2つのNTC素子を有する。
別の実施態様として、センサ装置は互いに直列に接続された2つのNTC素子を有してもよい。
別の実施態様として、互いに並列に接続されたNTC素子、及び互いに直列に接続されたNTC素子をセンサ装置のキャリア基板上に配置することもできる。
一実施態様において、2つのNTC素子がキャリア基板の異なる導体トラック上に配置され、当該2つのNTC素子は導電性ブリッジによって互いに接続されていることが好ましい。一実施態様において、当該ブリッジは、センサ装置のキャリア基板と同一の材料から構成される。
複数のNTC素子を用いる実施態様において、例えば、複数の別個の温度、又は不均一温度場の平均温度を検出できるように、センサ装置を構成してもよい。
一実施態様において、センサ装置は少なくとも2つのNTC素子を有し、NTC素子の各々は少なくとも1つの独立した導体トラックによって接続されている。
別の実施態様として、センサ装置の少なくとも2つのNTC素子は、例えば、当該NTC素子を共同で電気的に接続するような少なくとも1つの共通の導体トラックを有している。
2つ以上のNTC素子を有するセンサ装置は、導体トラックを適切に構成することにより、異なる位置における温度を同時に測定することができる。かかる目的のために、NTC素子を直列、並列、又は独立した導体トラックを介して互いに独立させて電気的に接続してもよい。
上述したようなセンサ装置に複数のNTC素子を設けると、当該センサ装置は、特に、不均一温度場における複数の温度の測定に適する。センサ装置が少なくとも2つの素子を有する場合には、不均一温度場の複数の温度を検出することができる。
上述したセンサ装置は、1000℃までの範囲における温度検出に特に適している。1つの好ましい実施態様として、センサ装置は、300℃前後における温度検出に特に適している。セラミックキャリア基板を用いること、及び半田を用いずに当該基板にセンサを固定することより、センサ装置は1000℃までの温度検出に適する。NTCセラミックが特定の温度となった時点でドリフトし始めるので、原則として、当該センサ装置の適用分野は、使用するNTCセラミックのみによって制限を受ける。
一実施態様において、NTC素子はセラミックチップを含み、当該セラミックチップは導体トラックの少なくとも1つに直接且つ電気的に接続されていることが好ましい。別の実施態様として、セラミックチップは、少なくとも2つの導体トラックに電気的に接続されている。
一実施態様において、NTC素子のセラミックチップは、その面の全域にコンタクト領域を有している。コンタクト領域は、NTC素子において構成部材の接続領域を形成する2つの対向する表面に、導電性スクリーン印刷ペーストからなるメタライゼーションの状態で設けられることが好ましい。
別の実施態様として、導電性スクリーン印刷ペーストからなるメタライゼーションは短冊状であり、2つの対向する側方両端部に設けられるのが好ましい。これにより、非常に正確にセラミック部材の抵抗値を設定することが可能になる。当該メタライゼーションは、NTC素子の側方端部から主表面にかけて設けられていることが好ましい。当該メタライゼーションは部材の接続領域を形成し、当該領域によって部材の電気的な接続が可能になる。
別の実施態様として、NTC素子はメタライゼーションを有しない。
その両面の全域上に導電性スクリーン印刷ペーストからなるメタライゼーションを有したNTC素子は、導電性のブリッジによる直列接続に特に適している。1つのみ又は互いに並列に接続された複数のNTC素子が用いられているセンサ装置の単純な構造の場合において、NTC素子はメタライゼーションを有し、当該メタライゼーションは短冊状に形成され且つ側方端部に位置する導電性スクリーン印刷ペーストから構成されることが好ましい。
平坦なNTC素子を平面状に接続するには、NTC素子の導電性スクリーン印刷ペーストからなるメタライゼーションを短冊状にすることが好ましい。但し、別の実施態様として、NTC素子はメタライゼーションを有していなくてもよい。NTC素子がメタライゼーションを有さない実施態様においては、スクリーン印刷ペーストが焼成されて焼き付けられる際に、焼き付けられたスクリーン印刷ペーストによってNTC素子を接続する。かかる場合に、メタライゼーションを有さないNTC素子は、焼き付けられずに、導体トラックを形成しているスクリーン印刷ペースト上に配置され、その後に共通の焼き付け行程において焼き付けられる。
セラミックキャリア基板は、熱伝導性のよい材料から形成されることが好ましい。1つ又は熱的に十分に結合した複数のNTC素子を有するセンサ装置の場合には、温度場の平均温度を検出することができる。
導体トラックは、融点がセンサ装置の最高使用温度よりも高い金属材料から構成されることが好ましい。これにより、導体トラックの十分に優れた温度安定性が確保される。
一実施態様において、キャリア基板の厚さは、キャリア基板における他の寸法よりも小さい。円形のキャリア基板の直径、及び四角形のキャリア基板の長さ又は幅は、キャリア基板の厚さよりも大きいことが好ましい。一実施態様において、キャリア基板は長方形のベース面を有している。但し、キャリア基板は他の任意の形状を有してもよい。
非常に薄い厚さを有するキャリア基板と、パッケージ化されていないセラミックチップ形状のNTC素子を使用することにより、センサ装置の全高を非常に低く維持することができる。
一実施態様において、セラミックキャリア基板は広い温度範囲内において電気的な絶縁体としてみなすことが可能であるが、当該温度範囲は少なくとも上述した最高使用温度までとする。これにより、例えば、導体トラックが印刷された第1面と当該キャリア基板の反対側の第2面との間において十分に優れた電気的な絶縁性を確保することができる。
センサ装置は、当該センサ装置と外部の時間依存磁場との間の相互作用が無いものとしてみなせるような材料から構成されていることが好ましい。
センサ装置を製造するために、焼き付けにより形成可能な導電性スクリーン印刷ペーストを介し、準備されたセラミックキャリア基板上に設けられたチップ状の少なくとも1つのNTC素子を当該キャリア基板に機械的に固定して接続する方法が特定されている。
センサ装置の製造方法の第1の実施態様において、導電性スクリーン印刷ペーストは、準備されたセラミックキャリア基板に塗布され、キャリア基板上の少なくとも2つの導体トラックを形成する。少なくとも1つのNTC素子はキャリア基板上に配置され、当該NTC素子はNTC素子の少なくとも2つの接続領域を介して、印刷されたスクリーン印刷ペーストに接続される。接続領域は、NTC素子に塗布された導電性スクリーン印刷ペーストから形成される。NTC素子の少なくとも1つの第1接続領域は、スクリーン印刷ペーストと直接且つ電気的に接続されている。第2接続領域は、直接的又はその他の間接的な電気的接続によって接続されてもよく、当該その他の間接的な電気的接続としては、例えば、コンタクトブリッジ及び他のNTC素子を経由したものがある。次の方法工程において、スクリーン印刷ペーストはセラミックキャリア基板及びNTC素子に焼き付けられる。スクリーン印刷ペーストがセラミックキャリア基板及びNTC素子に焼き付けられることにより、少なくとも1つのNTC素子、キャリア基板及び焼き付けられたスクリーン印刷ペーストは、焼き付け工程中において機械的に安定した接続を形成する。
センサ装置の製造方法の別な実施態様として、スクリーン印刷ペーストは、準備されたセラミックキャリア基板に塗布され、キャリア基板上に少なくとも2つの導体トラックを形成する。第1の焼き付け工程において、スクリーン印刷ペーストはセラミックキャリア基板に焼き付けられる。次に、導体トラック上に少なくとも1つのNTC素子が配置され、NTC素子は、焼き付けられた後に塗布される導電性スクリーン印刷ペーストを介し、導体トラックに電気的に少なくとも接続される。当該少なくとも1つのNTC素子を、焼き付けられたもう1つの導体トラックに直接的又は間接的に電気的に接続することができる。第2の焼き付け工程において、少なくとも1つのNTC素子及び導体トラックに塗布されたスクリーン印刷ペーストは、焼き付け工程中において機械的に安定した接続を形成する。
セラミックキャリア基板を示す図である。 短冊状のメタライゼーションを有したNTC素子として具体化したセラミック部材の一実施形態を示す図である。 1つのNTC素子を有するセンサ装置の一実施形態を示す図である。 センサ装置の別の実施形態であって、互いに並列に接続された2つのNTC素子を有するセンサ装置を示す図である。 センサ装置の別の実施形態であって、4つのNTC素子を有し、且つそれぞれが互いに並列に接続された2つのNTC素子からなる2対のNTCを直列に接続したセンサ装置を示す図である。
上述した主題について、図及び実施例を用いて詳細に説明する。
以下で説明する図面は、正確な縮尺であると解釈すべきではない。むしろ、個々の寸法は、よりよい例示を行うために、拡大され、縮小され、又は縮尺を異ならせている場合がある。互いに同一の又は機能が等しい構成要素を、同一の参照符号を用いて示す。
図1は、センサ装置の第1の実施形態におけるセラミックキャリア基板1を示している。セラミックキャリア基板1の厚さは、取り得る範囲内において最小であることが好ましい。2つの導体トラック2a、2bは、スクリーン印刷法によってキャリア基板1に塗布され、セラミックキャリア基板1の上に配置される。導体トラック2a、2bを形成するための、例えば、銀又は銀/白金を含むスクリーン印刷ペーストをスクリーン印刷法によってキャリア基板に塗布する。
かかるスクリーン印刷ペーストは、非常に高い温度のもとで、セラミックキャリア基板1及びセラミック部材に焼成されて焼き付けられる。かかる焼き付け工程は、約700℃〜900℃の範囲内において行われることが好ましい。
かかるスクリーン印刷ペーストを焼き付けることにより、キャリア基板1の上面に導体トラック2a、2bを形成するのが好ましい。例示した実施形態において、導体トラック2a、2bは、キャリア基板1の一端側の領域にコンタクト部6を有している。コンタクト部6は、例えば、分離した接続パッドの形態、導体トラックを拡大した状態、又はその他のいくつかの形態とすることができる。コンタクト部6は、センサ装置の電気的な接続を行うために用いられる。図1に示すように、コンタクト部6に対して、キャリア基板1の同一の面側から接続可能であるのが好ましい。但し、メッキスルーホールを設けることにより、コンタクト部6のそれぞれをキャリア基板1の互いに異なる面に配置することも可能である。
1つの可能な実施形態において、少なくとも1つのセラミック部材は、キャリア基板1の上に配置されると直ちにスクリーン印刷ペーストとともに加熱される。かかるセラミック部材は、例えばNTC素子として例示されている。それに代えて、少なくとも1つのセラミック部材は、スクリーン印刷ペーストを用いた独立した後続の焼き付け工程において、導体トラック2a、2bとともに焼き付けられてもよい。
図2には、NTC素子3として具体化されたセラミック部材の1つの実施形態が示されている。NTC素子3は、むき出しのセラミックチップ状(ダイ)をなすのが好ましい。例示した実施形態において、NTC素子3は、短冊状のメタライゼーション4a、4bを有している。このメタライゼーション4a、4bは、NTC素子3の1つの面の対向した2つの側方端部において、それぞれ側方端部領域を覆って側縁部まで延設されている。短冊状のメタライゼーション4a、4bを、側縁部から更にNTC素子3の裏側の間まで延設することも可能である。短冊状のメタライゼーション4a、4bは、例えば、スクリーン印刷ペーストが焼き付けられた後に、互いに並設された2つの導体トラックにNTC素子3を電気的に接続する。
別な実施形態(図示せず)において、導電性スクリーン印刷ペーストからなるメタライゼーション4は、NTC素子の上面及び下面の全域に塗布されてもよい。この実施形態において、NTC素子3の第1の金属被覆面は、スクリーン印刷ペーストが焼き付けられた後に、導体トラックの一方に対する第1の電気的接続、又は更なる電気部材との第1の電気的接続を構成する。NTC素子3の第2の電気的接続は、NTC素子3の第2の金属被覆面を介して行われる。
図3は、1つのNTC素子3を有するセンサ装置の第1の実施形態を示している。NTC素子3は、一端側がキャリア基板1の導体トラック2a、2bに直接且つ電気的に接続される。例示した実施形態において、NTC素子3は、側方端部領域にメタライゼーションを有していることが好ましく、かかるメタライゼーションは短冊状をなし有し且つ導電性スクリーン印刷ペーストから構成される。本実施形態において、当該メタライゼーションはNTC素子の下面に配置されていることが好ましいので、図3において、当該メタライゼーションは図示されていない。NTC素子3は、耐熱性を有する方法により、機械的に固定され、電気的に導体トラック2a、2bに接続される。NTC素子3は、スクリーン印刷ペーストを介して導体トラック2a、2bに接続されている。焼き付け工程において、NTC素子3は、導体トラック2a、2bのスクリーン印刷ペーストとともに焼き付けられ、又は、すでに焼き付けられた導体トラック2a、2bに更に塗布されたスクリーン印刷ペーストとともに焼き付けられる。これにより、キャリア基板1の導体トラック2a、2bとNTC素子3との間に高い耐熱性を有した導電性の機械的に安定した接続が得られる。
図4は、互いに並列に接続された2つのNTC素子3a、3bを有するような別のセンサ装置の実施態様を示している。2つのNTC素子3a、3bは、キャリア基板1の長手方向において互いに距離を置いて配置されることが好ましい。例示した実施形態において、NTC素子3a、3bは導体トラック2a、2bを介して互いに並列に接続されている。キャリア基板1の上にNTC素子3a、3bを互いに距離を置いて配置することにより、例えば、不均一温度場の平均温度の検出が可能になる。不均一温度場の第1領域及び第2領域の温度が互いに異なる場合に、第1のNTC素子3aは不均一温度場の第1領域の温度を検出し、第2のNTC素子3bは第2領域の温度を検出する。2つのNTC素子3a、3bからの出力信号は、例えば、2つの温度領域の平均温度の測定に使用可能な電気信号を生成する。
別な実施形態(図示せず)において、例えば、2つのNTC素子は、共通のフォワード線及び独立したリターン線を有してもよい。これにより、例えば、不均一温度場における様々な温度を別々に、好ましくは同時に測定することが可能になる。
3つ以上のNTC素子を、例えば並列回路で用いることにより、不均一温度場の平均温度をより正確に測定することができる。独立したリターン線で接続を行う場合には、不均一温度場における複数の温度を測定することができる。
図5は、別の実施形態として、4つのNTC素子3a、3a’、3b、3b’を有し、直列に接続されたNTC素子3a、3a’と、直列に接続されたNTC素子3b、3b’との2組が並列に接続されたセンサ装置の別な実施態様を図示している。例示した実施態様において、NTC素子3a、3a’、3b、3b’は、導電性スクリーン印刷ペーストからなるメタライゼーションにより、その両面の全域が覆われていることが好ましい。当該メタライゼーションは、図5には図示されていない。NTC素子3a、3a’、3b、3bの接続を行うためのこれらのNTC素子の第1面は、キャリア基板1の上の2つの導体トラック2a、2bの一方に直接的に接続されていることが好ましい。第1ペアのNTC素子3a、3a’は、導電性コンタクトブリッジ5aを用い、NTC素子3a、3a’の第2面を介して、それぞれが互いに電気的に接続されている。第2ペアのNTC素子3b、3b’は、導電性コンタクトブリッジ5bによって同様に電気的に接続されている。コンタクトブリッジ5a、5bは、キャリア基板1と同一のセラミック材料から構成されることが好ましい。コンタクトブリッジ5a、5bは、少なくとも1つの導体トラックを有し、かかる導体トラックは、少なくとも2つのNTC素子3a、3a’同士、又はNTC素子3b、3b’同士を互いに電気的に接続させるために用いられる。
NTC素子3a、3a’、3b、3b’、は、両面に塗布された導電性スクリーン印刷ペーストにより、導体トラック2a、2b及び導電性コンタクトブリッジ5a、5bに機械的且つ電気的に接続されていることが好ましい。スクリーン印刷ペーストによるNTC素子3a、3a’、3b、3b’の第1面と導体トラック2a、2bとの接続も、導体トラック2a、2bとなるスクリーン印刷ペーストのセラミックキャリア基板1への焼き付けと同時に実施することができる。一実施形態において、導電性スクリーン印刷ペーストによるNTC素子3a、3a’、3b、3b’の第2面と導電性コンタクトブリッジ5a、5bの各々との接続も、導体トラック2a、2bの焼き付けの実施とともに、第1の接合焼き付け工程において実施することができる。
本発明について、好ましい実施の形態により限られた数の展開のみしか説明していないが、本発明はかかる展開に限定されない。原則として、センサ装置は、独立した導体トラックを介して接続されたNTC素子を複数有することが可能であり、この結果として、不均一温度場の様々な温度を検出することが可能になる。
本発明は、例示したいくつかの形態に限定されるものではない。
ここに述べる主題の説明は、個々の具体的な実施形態に限定されるものではなく、個々の実施形態の特徴を、技術的に有益な範囲において必要に応じ、互いに結合することができる。
1 キャリア基板
2a、2b 導体トラック
3、3a、3a’、3b、3b’ NTC素子
4、4a、4b メタライゼーション
5、5a、5b 導電性ブリッジ
6 コンタクト部

Claims (12)

  1. セラミックキャリア基板(1)と、
    前記セラミックキャリア基板(1)上に配置された少なくとも2つの導体トラック(2a、2b)と、
    セラミックチップを含み、前記導体トラック(2a、2b)に電気的に接続された少なくとも2つのセラミック部材と、を有し、
    前記少なくとも2つのセラミック部材は、焼き付けられたスクリーン印刷ペーストによって前記導体トラック(2a、2b)上に配置されるとともに機械的に接続され、導電性ブリッジ(5)によって互いに接続され、
    前記導電性ブリッジ(5)は、前記導体トラックとは異なる材料であって前記セラミックキャリア基板(1)と同一の材料が主材料であるとともに、前記少なくとも2つのセラミック部材を電気的に接続する少なくとも1つの導体トラックを有することを特徴とするセンサ装置。
  2. 前記少なくとも2つのセラミック部材は、NTC素子を備えることを特徴とする請求項1に記載のセンサ装置。
  3. 1000℃までの温度を検出するように構成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のセンサ装置。
  4. 前記センサ装置は少なくとも2つのセラミック部材を有し、
    前記少なくとも2つのセラミック部材は、前記セラミックキャリア基板(1)の長手方向において間隔を置いて配置され、且つ、それぞれが少なくとも1つの別個の前記導体トラック(2a、2b)によって互いに電気的に接続されていることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1に記載のセンサ装置。
  5. 前記少なくとも2つのセラミック部材は、少なくとも1つの共通の導体トラックにより電気的に接続されていることを特徴とする請求項に記載のセンサ装置。
  6. 前記セラミックチップは、メタライゼーションが形成されていないことを特徴とする請求項1乃至のいずれか1に記載のセンサ装置。
  7. 前記セラミック部材は、構成部材の接続領域を形成する2つの対向する表面を有し、
    前記2つの対向する表面の全域には、導電性スクリーン印刷ペーストからなるメタライゼーション(4)が形成されていることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1に記載のセンサ装置。
  8. 前記セラミック部材は、短冊状をなし導電性スクリーン印刷ペーストからなるメタライゼーション(4a、4b)を有し、
    前記メタライゼーションは、2つの対向する側方端部の領域に塗布されることを特徴とする請求項1乃至のいずれか1に記載のセンサ装置。
  9. 準備されたセラミックキャリア基板(1)上の、セラミックチップを備える少なくとも2つのセラミック部材を焼き付け可能な導電性スクリーン印刷ペーストにより、前記セラミックキャリア基板(1)に機械的に固定して接続し、前記セラミックキャリア基板(1)上に配置された少なくとも2つの導体トラック(2a、2b)を前記少なくとも2つのセラミック部材上に配置されるとともに機械的に接続された導電性ブリッジ(5)を介して電気的に接続し、
    前記導電性ブリッジ(5)は、前記少なくとも2つの導体トラックとは異なる材料であって前記セラミックキャリア基板(1)と同一の材料が主材料であるとともに、前記少なくとも2つのセラミック部材を電気的に接続する少なくとも1つの導体トラックを有することを特徴とするセンサ装置の製造方法。
  10. 焼き付け可能な前記導電性スクリーン印刷ペーストを前記セラミック部材の少なくとも1つの接続領域及び前記セラミックキャリア基板(1)に塗布し、
    前記セラミックキャリア基板(1)の前記導電性スクリーン印刷ペーストと、前記セラミック部材に塗布された前記導電性スクリーン印刷ペーストとを接続し、
    焼き付け工程を実施することを特徴とする請求項に記載の製造方法。
  11. 準備された前記セラミックキャリア基板(1)に他の導電性スクリーン印刷ペーストを塗布して前記セラミックキャリア基板(1)上に少なくとも2つの導体トラック(2a、2b)を形成し、
    前記少なくとも2つのセラミック部材を前記セラミックキャリア基板上に配置し、
    前記セラミック部材を少なくとも2つの接続領域を介して、前記セラミックキャリア基板(1)の前記導電性スクリーン印刷ペースト及び前記セラミック部材に塗布された前記導電性スクリーン印刷ペーストに接続し、
    次に、前記セラミックキャリア基板(1)の前記導電性スクリーン印刷ペーストを前記セラミックキャリア基板(1)に焼き付けるとともに、前記セラミック部材に塗布された前記導電性スクリーン印刷ペーストを前記セラミック部材に焼き付け、
    前記少なくとも2つのセラミック部材、前記セラミックキャリア基板(1)の前記導電性スクリーン印刷ペースト及び前記セラミック部材に塗布された前記導電性スクリーン印刷ペーストは、前記焼き付け工程中に機械的に安定した接続を形成することを特徴とする請求項又は10に記載の製造方法。
  12. 準備されたセラミックキャリア基板(1)に他の導電性スクリーン印刷ペーストを塗布して前記セラミックキャリア基板(1)上に少なくとも2つの導体トラック(2a、2b)を形成し、
    第1の焼き付け工程において、前記他の導電性スクリーン印刷ペーストを前記セラミックキャリア基板(1)に焼き付け、
    焼き付けられた前記導体トラック(2a、2b)に対し、前記少なくとも2つのセラミック部材を配置すると共に、追加の導電性スクリーン印刷ペーストを用いて接続し、
    前記少なくとも2つのセラミック部材及び前記追加の導電性スクリーン印刷ペーストは、その後の第2の焼き付け工程の間に機械的に安定した接続を形成することを特徴とする請求項又は10に記載の製造方法。
JP2011521598A 2008-08-07 2009-08-07 センサ装置及びその製造方法 Active JP5579180B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102008036837A DE102008036837A1 (de) 2008-08-07 2008-08-07 Sensorvorrichtung und Verfahren zur Herstellung
DE102008036837.7 2008-08-07
PCT/EP2009/060306 WO2010015717A1 (de) 2008-08-07 2009-08-07 Sensorvorrichtung und verfahren zur herstellung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011530186A JP2011530186A (ja) 2011-12-15
JP5579180B2 true JP5579180B2 (ja) 2014-08-27

Family

ID=41259498

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011521598A Active JP5579180B2 (ja) 2008-08-07 2009-08-07 センサ装置及びその製造方法

Country Status (7)

Country Link
US (2) US8705245B2 (ja)
EP (1) EP2327284B1 (ja)
JP (1) JP5579180B2 (ja)
KR (1) KR101628414B1 (ja)
CN (1) CN102113424B (ja)
DE (1) DE102008036837A1 (ja)
WO (1) WO2010015717A1 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8228160B2 (en) 2008-11-14 2012-07-24 Epcos Ag Sensor element and process for assembling a sensor element
DE102013104207A1 (de) * 2013-04-25 2014-11-13 Epcos Ag Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer elektrisch leitfähigen und mechanischen Verbindung
DE102014110553A1 (de) 2014-07-25 2016-01-28 Epcos Ag Sensorelement, Sensoranordnung und Verfahren zur Herstellung eines Sensorelements
DE102014110560A1 (de) 2014-07-25 2016-01-28 Epcos Ag Sensorelement, Sensoranordnung und Verfahren zur Herstellung eines Sensorelements und einer Sensoranordnung
JPWO2016159245A1 (ja) * 2015-03-31 2018-02-01 株式会社NejiLaw 通電路付部材及び通電路のパターニング方法、部材変化計測方法

Family Cites Families (98)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5288370A (en) * 1976-01-20 1977-07-23 Hitachi Ltd Electronic watch
US4257061A (en) * 1977-10-17 1981-03-17 John Fluke Mfg. Co., Inc. Thermally isolated monolithic semiconductor die
US4346291A (en) * 1977-10-17 1982-08-24 John Fluke Mfg. Co., Inc. Thermally isolated monolithic semiconductor die
US4242659A (en) * 1979-10-15 1980-12-30 Leeds & Northrup Company Thin film resistance thermometer detector probe assembly
US4447799A (en) * 1981-01-30 1984-05-08 General Electric Company High temperature thermistor and method of assembling the same
US4766027A (en) * 1987-01-13 1988-08-23 E. I. Du Pont De Nemours And Company Method for making a ceramic multilayer structure having internal copper conductors
US4970027A (en) * 1987-02-28 1990-11-13 Taiyo Yuden Co., Ltd. Electrical resistors, electrical resistor paste and method for making the same
EP0280819B1 (en) * 1987-02-28 1993-05-05 Taiyo Yuden Co., Ltd. Electrical resistors, electrical resistors paste and method for making the same
EP0340309A4 (en) * 1987-10-02 1992-01-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Heat-sensitive fuel quantity detector
US4841273A (en) * 1987-12-18 1989-06-20 Therm-O-Disc, Incorporated High temperature sensing apparatus
EP0360971A3 (en) * 1988-08-31 1991-07-17 Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd. Mounting substrate and its production method, and printed wiring board having connector function and its connection method
JPH0287032A (ja) * 1988-09-22 1990-03-27 Ngk Spark Plug Co Ltd 高温用サーミスタ
DE3923535C1 (ja) * 1989-07-15 1990-10-31 Heraeus Sensor Gmbh, 6450 Hanau, De
US5089071A (en) * 1989-11-03 1992-02-18 Nitto Electrical Industrial Process for producing a multilayered ceramic structure using an adhesive film
JP2898106B2 (ja) * 1990-12-28 1999-05-31 日本特殊陶業株式会社 サーミスタセラミックスセンサ及びその製造方法
US5321382A (en) * 1991-07-08 1994-06-14 Nippondenso Co., Ltd. Thermal type flow rate sensor
JP3203803B2 (ja) * 1992-09-01 2001-08-27 株式会社デンソー サーミスタ式温度センサ
US6248978B1 (en) * 1992-11-13 2001-06-19 Canon Kabushiki Kaisha Heater comprising temperature sensing element positioned on electrode
JPH0729706A (ja) * 1993-07-08 1995-01-31 Nippondenso Co Ltd 高温用温度センサ及びその製造方法
US5391604A (en) * 1993-07-30 1995-02-21 Diemat, Inc. Adhesive paste containing polymeric resin
US5600296A (en) * 1993-10-14 1997-02-04 Nippondenso Co., Ltd. Thermistor having temperature detecting sections of substantially the same composition and dimensions for detecting subtantially identical temperature ranges
JPH07111206A (ja) * 1993-10-14 1995-04-25 Nippondenso Co Ltd サーミスタ式温度センサ
JPH07220903A (ja) * 1994-01-31 1995-08-18 Nippondenso Co Ltd サーミスタ式温度センサ
JP3099640B2 (ja) * 1994-06-14 2000-10-16 株式会社村田製作所 焼結体内蔵抵抗体の製造方法及び積層セラミック電子部品の製造方法
JP3406690B2 (ja) * 1994-07-20 2003-05-12 ローム株式会社 ライン型加熱体における温度検出素子の形成方法
JPH08304447A (ja) * 1995-05-02 1996-11-22 Mitsubishi Electric Corp 半導体加速度センサおよびその製造方法
AU6238396A (en) * 1995-08-01 1997-02-26 Austria Card Plastikkarten Und Ausweissysteme Gmbh Card-shaped data carrier for contactless applications with acomponent and a transmission system for the contactless applcations, method of producing such a card-shaped data carrier and module therefor
WO1997021080A1 (en) * 1995-12-07 1997-06-12 Diasense, Inc. Array combining many photoconductive detectors in a compact package
US5726624A (en) * 1996-07-01 1998-03-10 Honeywell Inc. Temperature sensor with internal rigid substrate
US5759737A (en) * 1996-09-06 1998-06-02 International Business Machines Corporation Method of making a component carrier
JP3611160B2 (ja) * 1997-02-10 2005-01-19 株式会社村田製作所 厚膜抵抗体ペースト
JP3688429B2 (ja) * 1997-04-25 2005-08-31 株式会社東芝 電子部品実装用基板および電子部品実装基板
US6073340A (en) * 1997-05-29 2000-06-13 Denso Corporation Method of producing lamination type ceramic heater
DE19736855A1 (de) * 1997-08-23 1999-02-25 Philips Patentverwaltung Schaltungsanordnung mit einem SMD-Bauelement, insbesondere Temperatursensor und Verfahren zur Herstellung eines Temperatursensors
US6326239B1 (en) * 1998-04-07 2001-12-04 Denso Corporation Mounting structure of electronic parts and mounting method of electronic parts
JP3459174B2 (ja) * 1998-05-21 2003-10-20 松下電器産業株式会社 温度センサ素子および同素子を備えた温度センサ
US6319757B1 (en) * 1998-07-08 2001-11-20 Caldus Semiconductor, Inc. Adhesion and/or encapsulation of silicon carbide-based semiconductor devices on ceramic substrates
EP0999723B1 (en) * 1998-11-05 2006-03-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Piezoelectric speaker, method for producing the same, and speaker system including the same
US6705152B2 (en) * 2000-10-24 2004-03-16 Nanoproducts Corporation Nanostructured ceramic platform for micromachined devices and device arrays
US20020005247A1 (en) * 1999-02-08 2002-01-17 Teresita Ordonez Graham Electrically conductive paste materials and applications
JP2000330292A (ja) * 1999-05-20 2000-11-30 Sony Corp 印刷用スクリーン
JP3273773B2 (ja) * 1999-08-12 2002-04-15 イビデン株式会社 半導体製造・検査装置用セラミックヒータ、半導体製造・検査装置用静電チャックおよびウエハプローバ用チャックトップ
DE19940480C2 (de) * 1999-08-26 2001-06-13 Orga Kartensysteme Gmbh Leiterbahnträgerschicht zur Einlaminierung in eine Chipkarte, Chipkarte mit einer Leiterbahnträgerschicht und Verfahren zur Herstellung einer Chipkarte
JP2001106570A (ja) * 1999-10-07 2001-04-17 Murata Mfg Co Ltd 誘電体セラミック組成物及びセラミック電子部品
JP2001141574A (ja) * 1999-11-18 2001-05-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 表面温度センサ素子およびその製造方法並びにその素子を用いた表面温度センサ
US20040222211A1 (en) * 1999-12-28 2004-11-11 Ibiden Co., Ltd. Carbon-containing aluminum nitride sintered body, and ceramic substrate for a semiconductor producing/examining device
JP4502090B2 (ja) * 2000-01-26 2010-07-14 Tdk株式会社 電子部品及びその製造方法
JP4505925B2 (ja) * 2000-02-21 2010-07-21 株式会社村田製作所 チップ型サーミスタ素子
US6568849B1 (en) * 2000-04-07 2003-05-27 Cyntec Company Temperature probe with improved structure integrity and operation reliability over high temperature and voltage
US6404204B1 (en) * 2000-05-01 2002-06-11 ARETé ASSOCIATES Sensor and sensor system for liquid conductivity, temperature and depth
US6809299B2 (en) * 2000-07-04 2004-10-26 Ibiden Co., Ltd. Hot plate for semiconductor manufacture and testing
WO2002009171A1 (fr) * 2000-07-25 2002-01-31 Ibiden Co., Ltd. Substrat ceramique pour appareil de fabrication/inspection de semi-conducteurs, element chauffant en ceramique, dispositif de retenue electrostatique sans attache et substrat pour testeur de tranches
US6576972B1 (en) * 2000-08-24 2003-06-10 Heetronix High temperature circuit structures with expansion matched SiC, AlN and/or AlxGa1-xN(x>0.69) circuit device
EP1251551A1 (en) * 2000-08-30 2002-10-23 Ibiden Co., Ltd. Ceramic heater for semiconductor manufacturing and inspecting equipment
US7151431B2 (en) * 2001-02-16 2006-12-19 Elantech Devices Corporation Resistor element, stress sensor and method for manufacturing them
JP3949483B2 (ja) * 2001-04-27 2007-07-25 ハリソン東芝ライティング株式会社 板状ヒータおよび定着装置ならびに画像形成装置
US20050045618A1 (en) * 2001-07-09 2005-03-03 Ibiden Co., Ltd. Ceramic heater and ceramic joined article
JPWO2003021664A1 (ja) * 2001-08-31 2005-07-07 株式会社日立製作所 半導体装置、構造体及び電子装置
WO2003032334A1 (fr) * 2001-09-10 2003-04-17 Noritake Co., Limited Element en pellicule epaisse, son dispositif d'application et ses procedes de fabrication
JP3445262B2 (ja) * 2001-11-22 2003-09-08 松下電器産業株式会社 圧電体の製造方法、圧電体、超音波探触子、超音波診断装置および非破壊検査装置
US6749706B2 (en) * 2001-12-26 2004-06-15 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method of manufacturing monolithic piezoelectric ceramic device
US6875950B2 (en) * 2002-03-22 2005-04-05 Gsi Lumonics Corporation Automated laser trimming of resistors
US6787884B2 (en) * 2002-05-30 2004-09-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Circuit component, circuit component package, circuit component built-in module, circuit component package production and circuit component built-in module production
EP1547126A2 (en) * 2002-08-05 2005-06-29 The Research Foundation Of State University Of New York System and method for manufacturing embedded conformal electronics
US6960741B2 (en) * 2002-08-26 2005-11-01 Lexmark International, Inc. Large area alumina ceramic heater
JP4228677B2 (ja) * 2002-12-06 2009-02-25 パナソニック株式会社 回路基板
DE10358778B4 (de) 2003-01-15 2014-04-24 Behr Gmbh & Co. Kg Anordnung zur Temperaturmessung und Temperatursensor
US7524464B2 (en) * 2003-09-26 2009-04-28 Ahn Chong H Smart disposable plastic lab-on-a-chip for point-of-care testing
DE10347636A1 (de) * 2003-10-09 2005-05-04 Patent Treuhand Ges Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh Entladungslampe mit mindestens einer Außenelektrode und Verfahren zu ihrer Herstellung
WO2005052533A1 (ja) * 2003-11-27 2005-06-09 Kyocera Corporation 圧力センサ装置
KR100744621B1 (ko) * 2004-03-01 2007-08-01 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 절연체 세라믹 조성물, 절연성 세라믹 소결체 및 적층형세라믹 전자부품
US8345433B2 (en) * 2004-07-08 2013-01-01 Avx Corporation Heterogeneous organic laminate stack ups for high frequency applications
DE102004034185B3 (de) * 2004-07-15 2006-01-05 Zitzmann, Heinrich, Dr. Temperaturfühler und Verfahren zu dessen Herstellung
EP1770382A1 (en) * 2004-07-20 2007-04-04 Murata Manufacturing Co., Ltd. Infrared sensor and method for manufacturing same
WO2006030562A1 (ja) * 2004-09-13 2006-03-23 Murata Manufacturing Co., Ltd. チップ型電子部品内蔵型多層基板及びその製造方法
US7791150B1 (en) * 2004-09-25 2010-09-07 University Of Central Florida Research Foundation, Inc. Room temperature hydrogen sensor
JP4659421B2 (ja) * 2004-09-30 2011-03-30 株式会社トクヤマ 発光素子収納用パッケージの製造方法
DE102004047725A1 (de) 2004-09-30 2006-04-06 Epcos Ag Sensorvorrichtung
US20060088692A1 (en) * 2004-10-22 2006-04-27 Ibiden Co., Ltd. Ceramic plate for a semiconductor producing/examining device
ATE478545T1 (de) * 2004-10-29 2010-09-15 Murata Manufacturing Co Mehrschichtiges substrat mit elektronischer komponente des chiptyps und herstellungsverfahren dafür
JP2006236884A (ja) * 2005-02-28 2006-09-07 Hitachi Ltd 表示パネル
DE102005016449A1 (de) * 2005-04-11 2006-10-12 Robert Bosch Gmbh Beheizter Heißfilmluftmassenmesser
WO2006112384A1 (ja) * 2005-04-15 2006-10-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 電子部品接続用突起電極とそれを用いた電子部品実装体およびそれらの製造方法
EP1872115A1 (de) * 2005-04-20 2008-01-02 Heraeus Sensor Technology Gmbh Russsensor
JP2006339342A (ja) * 2005-06-01 2006-12-14 Shin Etsu Handotai Co Ltd 太陽電池および太陽電池の製造方法
JP5623015B2 (ja) * 2005-10-24 2014-11-12 ヘレーウス ゼンゾール テクノロジー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングHeraeus Sensor Technology GmbH 流量センサ素子および流量センサ素子の自浄作用
JP4692268B2 (ja) * 2005-12-22 2011-06-01 パナソニック株式会社 電子部品実装システムおよび電子部品実装方法
US7719401B2 (en) * 2006-04-26 2010-05-18 Northrop Grumman Corporation Temperature probe and method of making the same
JP2007335241A (ja) * 2006-06-15 2007-12-27 Canon Inc 配線基板、電子源、画像表示装置及び画像再生装置
DE102006031344A1 (de) * 2006-07-06 2008-01-10 Epcos Ag Elektrisches Bauelement mit einem Sensorelement, Verfahren zur Verkapselung eines Sensorelements und Verfahren zur Herstellung einer Plattenanordnung
US20100089620A1 (en) * 2006-11-30 2010-04-15 Richard Matz Electronic Component Module and Method for the Production Thereof
US20080224816A1 (en) * 2007-03-13 2008-09-18 Tatsuya Inoue Electrostatic discharge protection component, and electronic component module using the same
US20080225449A1 (en) * 2007-03-13 2008-09-18 Tatsuya Inoue Electrostatic discharge protection component, and electronic component module using the same
US20080224815A1 (en) * 2007-03-13 2008-09-18 Tatsuya Inoue Electrostatic discharge protection component, and electronic component module using the same
US7731868B2 (en) * 2007-04-12 2010-06-08 E.I. Du Pont De Nemours And Company Thick film conductive composition and process for use in the manufacture of semiconductor device
JP2009004454A (ja) * 2007-06-19 2009-01-08 Shinko Electric Ind Co Ltd 電極構造体及びその形成方法と電子部品及び実装基板
US20090014716A1 (en) * 2007-07-11 2009-01-15 Takumi Yamaga Organic thin-film transistor and method of manufacturing the same
US7843021B2 (en) * 2008-02-28 2010-11-30 Shandong Gettop Acoustic Co. Ltd. Double-side mountable MEMS package

Also Published As

Publication number Publication date
KR20110044880A (ko) 2011-05-02
CN102113424A (zh) 2011-06-29
US9370109B2 (en) 2016-06-14
DE102008036837A1 (de) 2010-02-18
WO2010015717A1 (de) 2010-02-11
CN102113424B (zh) 2014-04-30
EP2327284A1 (de) 2011-06-01
US8705245B2 (en) 2014-04-22
KR101628414B1 (ko) 2016-06-08
JP2011530186A (ja) 2011-12-15
EP2327284B1 (de) 2016-12-28
US20110170272A1 (en) 2011-07-14
US20140137402A1 (en) 2014-05-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2649491B2 (ja) Smd構造の抵抗器、その製造方法及びこの抵抗器を取り付けたプリント回路板
US5896081A (en) Resistance temperature detector (RTD) formed with a surface-mount-device (SMD) structure
JP5579180B2 (ja) センサ装置及びその製造方法
JP2019500589A (ja) センサ構成体およびセンサ構成体を製造するための方法
JP2017112353A (ja) チップ抵抗器
JP2007093453A (ja) 表面実装型温度センサ
JP3758331B2 (ja) 半導体装置用のシャント抵抗素子およびその実装方法並びに半導体装置
US6469614B2 (en) Printed circuit boards having at least one metal layer
JP2011089859A (ja) 温度センサ
JPH0640031B2 (ja) 熱流計センサ−及びその製法
JP7288043B2 (ja) プリント基板に表面実装するための抵抗部品、および少なくとも1つの抵抗部品が配置されたプリント基板
JP7394214B2 (ja) センサ素子及びセンサ素子の製造方法
US20160155546A1 (en) Thermistor element
JP2000241257A (ja) 絶縁性基板の温度センサ装置
JP2020125966A (ja) 硫化検出抵抗器
JP2009158761A (ja) 電子部品検査装置用配線基板
JP6741521B2 (ja) 回路装置
JP2005164469A (ja) 電流検出用抵抗装置およびその製造方法
JP2006278793A (ja) 温度検出素子
JP2000299203A (ja) 抵抗器およびその製造方法
CN113660769B (zh) 电路板及电子设备
DK179268B1 (en) Mass production of small temperature sensors with flip chips
KR20190120674A (ko) 박막 서미스터 소자
US10446298B2 (en) Method for producing an electrical component
JP2007158228A (ja) 温度補償回路基板

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120619

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7426

Effective date: 20120619

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20120619

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130410

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130417

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130716

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140122

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140522

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20140530

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140625

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140708

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5579180

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250