JP5570270B2 - 熱アシスト磁気記録媒体及び磁気記憶装置 - Google Patents

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Description

本発明は熱アシスト磁気記録媒体、及びそれを用いた磁気記憶装置に関する。
媒体に近接場光等を照射して表面を局所的に加熱し、媒体の保磁力を低下させて書き込みを行う熱アシスト記録は、1Tbit/inchクラスの面記録密度を実現できる次世代記録方式として注目されている。熱アシスト記録を用いた場合、室温における保磁力が数十kOe(1Oeは約79A/m)の記録媒体でも、現状ヘッドの記録磁界により容易に書き込みを行うことができる。このため、記録層に10J/m台の高い結晶磁気異方性Kuを有する材料を使用することが可能となり、熱安定性を維持したまま、磁性粒径を6nm以下まで微細化できる。このような高Ku材料としては、L1型結晶構造を有するFePt合金(Ku〜7×10J/m)や、CoPt合金(Ku〜5×10J/m)等が知られている。
磁性層に、L1型結晶構造を有するFePt合金を用いる場合、該FePt合金は(001)配向をとっているのが望ましい。磁性層中のFePt合金の配向性は、下地層によって制御できる。例えば、特許文献1には、(100)配向したMgO下地層上に、Cr下地層を介してFePt磁性層を形成することにより、該FePt磁性層が(001)配向をとることが記載されている。また、非特許文献1には、(100)配向したCrRu合金下地層上に形成したFePtが(001)配向を示すことが記載されている。更に、非特許文献2には、B2構造を有するRuAl下地層上にPt下地層を介してFePt磁性層を形成することにより、該FePt磁性層が(001)配向を示すことが記載されている。
特開平11−353648号公報
Appl. Phys. Lett. 80, 3325 (2002) J. Appl. Phys. 97, 10H301 (2005)
熱アシスト記録媒体の磁性層には、高いKuを有するL1構造のFePt合金等を用いるのが望ましい。熱アシスト記録媒体において、媒体ノイズを低減するには、磁性結晶粒を微細化するのが望ましい。但し、磁性粒子間の交換結合が強いと、隣接磁性粒子が結合して大きな磁気クラスターを形成するため、媒体ノイズが増大する。媒体ノイズを低減するには、磁性結晶粒を微細化すると同時に、磁性粒子間の交換結合を低減してクラスターサイズを低減する必要がある。
クラスターサイズを低減するには、磁性層にSiO等の酸化物や、Cを粒界偏析材料として添加し、磁性粒子を分離することが望ましい。但し、粒界偏析材料の添加量が一定の場合、磁性粒径の微細化に伴って粒界幅が減少する。粒界幅が減少すると、隣接磁性粒子間の距離が短くなるため、局所的に強く交換結合した粒子対、もしくは粒子群が発生し、大きな磁気クラスターを形成する。これを防ぐには、粒界偏析材料の添加量を増大させる必要があるが、粒界偏析材料を過剰に添加するとL1構造を有する磁性結晶粒の規則度の低下を招く。よって、粒界偏析材料を過剰に添加することなく、磁気クラスターサイズを効果的に低減する必要がある。
上記の課題は以下の手段により解決することができる。
(1)基板と、該基板上に形成された複数の下地層と、L1構造を有する合金を主成分とする磁性層からなる磁気記録媒体において、該下地層の少なくとも一つが、MgOを主成分とし、かつ、1000℃における酸化自由エネルギーが酸素1モルあたり、−120kcal/mol O以下の元素を含有していることを特徴とする熱アシスト磁気記録媒体。
(2)1000℃における酸化自由エネルギーが酸素1モルあたり、−120kcal/mol O以下の元素が、Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Zr、Bから選択される少なくとも一種類の元素である(1)に記載の熱アシスト磁気記録媒体。
(3)1000℃における酸化自由エネルギーが酸素1モルあたり、−120kcal/mol O以下の元素の含有量が、2at%以上、40at%以下であることを特徴とする(1)または(2)に記載の熱アシスト磁気記録媒体。
(4)MgOを主成分とする下地層が、Cr、もしくはCrを主成分とするBCC構造を有する第2下地層上に形成されていることを特徴とする(1)乃至(3)の何れか1項に記載の熱アシスト磁気記録媒体。
(5)MgOを主成分とする下地層が、Ta第2下地層上に形成されていることを特徴とする(1)乃至(4)の何れか1項に記載の熱アシスト磁気記録媒体。
(6)磁性層がL1構造を有するFePt、もしくはCoPt合金を主成分とし、SiO、TiO、Cr、Al、Ta、ZrO、Y、CeO、MnO、TiO、ZnO、Cから選択される少なくとも一種類の酸化物または元素を含有していることを特徴とする(1)乃至(5)の何れか1項に記載の熱アシスト磁気記録媒体。
(7)磁性層の上に、Fe、Ni、もしくはCoを主成分とし、磁性層に用いるL1構造を有する合金よりも結晶磁気異方性が低い合金からなるキャップ層が形成されていることを特徴とする(1)乃至(6)の何れか1項に記載の熱アシスト磁気記録媒体。
(8)磁気記録媒体と、該磁気記録媒体を回転させるための駆動部と、該磁気記録媒体を加熱するためのレーザー発生部と、該レーザー発生部から発生したレーザー光をヘッド先端まで導く導波路と、ヘッド先端に取り付けられた近接場光発生部を備えた磁気ヘッドと、該磁気ヘッドを移動させるための駆動部と、記録再生信号処理系から構成さる磁気記憶装置において、該磁気記録媒体が(1)乃至(7)に記載の熱アシスト媒体であることを特徴とする磁気記憶装置。
本発明により、磁性結晶粒が均一で、かつ、磁性粒子間の交換結合が十分に弱い熱アシスト記録媒体と、これを用いた磁気記憶装置を提供することができる。
本発明の磁気記録媒体の層構成の一例を表す図 本発明の磁気記録媒体の層構成の一例を表す図 本発明に係わる磁気記憶装置の傾視図 本本発明に係わる磁気ヘッドを表す図 本発明の磁気記録媒体のSi濃度と媒体SNRの関係を表す図
本願発明の熱アシスト磁気記録媒体は、基板と、該基板上に形成された複数の下地層と、L1構造を有する合金を主成分とする磁性層からなる磁気記録媒体において、該下地層の少なくとも一つが、MgOを主成分とし、かつ、1000℃における酸化自由エネルギーが酸素1モルあたり、−120kcal/mol O以下の元素を含有していることを特徴とする。
上述のように、熱アシスト記録媒体の磁性層には、高いKuを有するL1構造のFePt合金等を用いるのが望ましい。更に、基板面垂直方向に高い磁気異方性を示す必要があるため、上記FePt合金は(001)配向をとっていることが望ましい。FePt合金の(001)配向は、該FePt合金を、(100)配向したMgO下地層上に形成することによって実現できる。MgO下地層に(100)配向をとらせるには、例えば、ガラス基板上にTa、もしくはTaを主成分とする第2下地層を形成し、該Ta第2下地層の上にMgO下地層を形成すればよい。また、加熱したガラス基板上にCr、もしくはCrを主成分とするBCC構造の合金層を形成した場合、該Cr、もしくはCr合金層は(100)配向を示す。これを第2下地層としてこの上にMgO下地層を形成することによっても、該MgO下地層に(100)配向をとらせることができる。
MgO下地層の結晶粒が例えば10nm以上と大きい場合、一つのMgO結晶粒上に複数の磁性結晶粒が成長する。同じMgO結晶粒上に成長した磁性粒子間の粒界幅は狭くなる傾向があるため、隣接粒子間の交換結合は十分に低減されない。このため、同じMgO結晶粒上に成長した磁性粒子は互いに磁気的に結合して、大きな磁気クラスターを形成する。一方、MgO下地層の結晶粒が10nmより小さい場合、一つのMgO結晶粒に概ね一つの磁性結晶粒が成長する。この場合、隣接する磁性結晶粒は互いに異なるMgO下地結晶上に成長しているため、十分に広い粒界が形成される。よって、磁性粒子間の交換結合が十分に低減され、クラスターサイズを小さくすることができる。一つの下地結晶粒上に一つの磁性結晶粒が成長する成長モードは、“One by one 成長”とも呼ばれる。
One by one 成長の頻度を高くした場合、クラスターサイズを低減できると同時に、磁性結晶粒を均一化できる。One by one 成長を促進するには、MgO下地層の粒径を微細化することが望ましい。MgO下地層の粒径は、Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Zr、B等、酸化物の生成自由エネルギーが室温において−120cal/mol% O以下の元素を添加することによって微細化できる。
1Tbit/inch以上の面記録密度を実現するには、磁性粒径を6nm以下に微細化する必要がある。よって、MgO下地層の粒径も6nm以下とすることが望ましい。但し、MgO結晶の粒径が概ね10nm以下であれば、磁性結晶粒の分離を促進する効果が得られるため、特に問題はない。MgOへの添加元素の添加量は、MgO下地層のNaCl構造と、(100)配向を大幅に劣化させない範囲内であれば特に制限はないが、概ね2at%(原子%)以上、40at%以下が望ましい。2at%を下回ると、MgO結晶粒の微細化が不十分であり、40at%を超えるとNaCl構造が劣化するため望ましくない。
L1構造を有するFePtに(001)配向をとらせるため、MgO下地層は、(100)配向をとっていることが好ましい。MgO下地層に(100)配向をとらせるには、例えば、ガラス基板上にTa第2下地層を形成し、該Ta第2下地層の上にMgO下地層を形成すればよい。また、加熱したガラス基板上にCr、もしくはCrを主成分とするBCC構造の合金層を形成した場合、該Cr、もしくはCr合金層は(100)配向を示す。これを第2下地層としてこの上にMgO下地層を形成することによっても、該MgO下地層に(100)配向をとらせることができる。
磁性層には、L1構造を有するFePt合金、もしくはCoPt合金を用いることができる。また、粒界偏析材料として、SiO、TiO、Cr、Al、Ta、ZrO、Y、CeO、MnO、TiO、ZnO、C、もしくはこれらの混合物を含有していてもよい。
磁性層の上に、キャップ層を形成してもよい。キャップ層を形成することにより、書き込み特性を改善できる。キャップ層には、Fe、Ni、もしくはCoも主成分とし、磁性層に用いるL1構造を有するFePt合金、もしくはCoPt合金よりも結晶磁気異方性が低い材料を用いるのが望ましい。
上記配向制御層以外にも、Cu、Ag、Al、もしくはこれらを主成分とする熱伝導率の高い合金材料をヒートシンク層として形成してもよい。また、書き込み特性を改善するため、CoFeTaZr、CoFeTaSi、CoFeZrSi、FeTaC、FeAlSi、NiFe合金等からなる軟磁性下地層を設けてもよい。更に、基板との密着性を改善するための密着層を形成することもできる。
(実施例1−1〜1−8、比較例1)
図1に本実施例で作製した磁気記録媒体の層構成の一例を示す。耐熱ガラス基板101上に30nmのCo−50at%Ti合金下地層102、25nmのFe−20at%Al−5at%Si合金からなる軟磁性下地層103を形成し、250℃まで加熱したのち、10nmのCr−20at%V層104を形成した。その後、MgOを主成分とする下地層105を5nm形成し、基板を420℃まで加熱した後、6nmの(Fe−55at%Pt)−14mol%TiO磁性層106、2nmのCo−10at%Ta−5at%Bキャップ層107、3nmのダイヤモンドライクカーボン(DLC)保護膜108を形成した。MgOを主成分とする下地層には、MgO−12at%Al(実施例1−1)、 MgO−8at%Si(実施例1−2)、MgO−20at%Ti(実施例1−3)、MgO−15at%V(実施例1−4)、MgO−6at%Cr(実施例1−5)、MgO−9at%Mn(実施例1−6)、MgO−16at%Zr(実施例1−7)、MgO−9at%B(実施例1−8)を使用した。また、比較例1として、酸化物を添加しないMgO下地層を使用した媒体を作製した。
本実施例媒体のX線回折測定を行ったところ、何れの媒体においても、CrV下地層からの強いBCC(200)ピークが観測された。また、磁性層からは強いL1−FePt(001)回折ピーク及び、L1−FePt(002)ピークとFCC−Fe(200)ピークの混合ピークが観測された。後者のピークに対する前者のピークの積分強度比は1.6〜1.8で、規則度の高いL1型FePt合金結晶が形成されていることがわかった。
MaO下地層の粒径を測定するため、磁性層とキャップ層を形成しないサンプルを作製し、TEM観察を行ったところ、本実施例で用いたMgO−12at%Al(実施例1−1)、MgO−8at%Si(実施例1−2)、MgO−20at%Ti(実施例1−3)、MgO−15at%V(実施例1−4)、MgO−6at%Cr(実施例1−5)、MgO−9at%Mn(実施例1−6)、MgO−16at%Zr(実施例1−7)、MgO−9at%B(実施例1−8)下地層の平均粒径は全て10nm以下であった。一方、元素添加しないMgO下地層(比較例1)の平均粒径は、30nm以上であった。
表1に本実施例媒体、及び比較例媒体の磁性層の平均粒径<D>、平均粒径で規格化した標準偏差σ/<D>、保磁力Hcをダイナミック保磁力Hcで規格化した値Hc/Hcを示す。ここで、Hcは、磁界印加速度を変化させたときのHcの変化を、Sharrockの式でフィッティングすることにより算出した。一般にHc/Hcは磁性粒子間の交換結合に反比例し、Hc/Hcが高いほど、交換結合が弱いことを示している。本実施例媒体の平均粒径は、いずれも6−7nm程度であり、σ/<D>は0.2以下であった。一方、比較例媒体の磁性層の平均粒径は、実施例とほぼ同程度であるが、σ/<D>は0.27と著しく大きかった。このことは、実施例媒体に比べて比較例媒体の粒径分散が大きいことを示している。また、本実施例媒体のHc/Hcは、いずれも0.3以上であったのに対し、比較例媒体のHc/Hcは0.22と実施例媒体に比べて著しく低かった。以上より、MgO下地層に元素を添加することにより、磁性粒径を均一化できると同時に、磁性粒子間の交換結合を低減できることが明らかになった。これは、上述のように比較例媒体に比べて実施例媒体の方がMgO下地層の粒径が微細化されており、多くの磁性結晶粒が、MgO下地結晶粒上にone−by−one成長しているためと考えられる。
Figure 0005570270
(実施例2−1〜2−10、比較例2)
図2に本実施例で作製した磁気記録媒体の層構成の一例を示す。非磁性基板201上に100nmのAgヒートシンク層202、100nmのFe−10at%Ta−12at%C軟磁性層203、10nmのTa下地層204、を順次形成した。その後、MgOを主成分とする下地層205を3nm形成し、基板を420℃まで加熱した後、10nmの(Fe−50at%Pt)−45at%C磁性層206、2nmのCo−10at%Ta−5at%Zrキャップ層207、3nmのDLC保護膜208を形成した。MgOを主成分とする下地層には、MgO−6at%Al−3at%Si(実施例2−1)、MgO−10at%Si−5at%Cr(実施例2−2)、MgO−5at%Si−5at%Zr(実施例2−3)、MgO−12at%Ti−2at%Cr(実施例2−4)、MgO−20at%Ti−2at%Zr(実施例2−5)、MgO−15at%V−2at%Cr(実施例2−6)、MgO−5at%Cr−2at%Mn(実施例2−7)、MgO−8at%Cr−5at%Zr(実施例2−8)、MgO−20at%Zr−2at%Si(実施例2−9)、MgO−6at%B−3at%Si(実施例2−10)を使用した。また、比較例2として、元素添加なしのMgO下地層を使用した媒体を作製した。
表2に本実施例媒体、及び比較例媒体の、磁性結晶粒の平均粒径<D>、平均粒径で規格化した標準偏差σ/<D>、及び、クラスターサイズDnの値を示す。ここで磁性粒径の平均粒径は、磁性層の平面TEM像より見積もった。また、クラスターサイズは、IEEE Trans. Magn., vol. 27, pp4975−4977, 1991に記載の方法を用いて室温で測定した。具体的には、マイナーループ解析から見積もった反磁界係数Ndと磁性膜tmagを用いて、Dn=tmag×√Ndとしてクラスターサイズを見積もった。
磁性粒径の平均粒径は、実施例媒体、比較例媒体共に概ね5−6nm程度であった。但し、σ/<D>の値は、本実施例媒体がいずれも0.2以下であったのに対し、比較例媒体は0.32と著しく高かった。また、本実施例媒体のクラスターは、40−60nmであったのに対し、比較例媒体のクラスターサイズは、88nmと実施例媒体に比べて著しく大きい。以上より、MgO下地層にAl、Si、Ti、V、Cr、Mn、Zrから選択される少なくとも一種類の元素を添加することにより、磁性粒径が均一化されると同時に、クラスターサイズが低減されることがわかった。
Figure 0005570270
(実施例3)
上記実施例1、実施例2で示した媒体にパーフルオルポリエーテル系の潤滑剤を塗布したのち、図3に示した磁気記憶装置に組み込んだ。本磁気記憶装置は、磁気記録媒体301と、磁気記録媒体を回転させるための駆動部302と、磁気ヘッド303と、ヘッドを移動させるための駆動部304と、記録再生信号処理系305から構成される。
図4に磁気ヘッドの構成を示す。記録用ヘッド401は、上部磁極402、下部磁極403、及び両者の間に挟まれたPSIM(Planar Solid Immersion Mirror)404から構成される。PSIMは、例えばJpn., J. Appl. Phys., Vol45, no.2B, pp1314−1320 (2006) に記載されているような構造のものを用いることができる。PSIMの先端部には、近接場光発生部405が形成されている。PSIMのGrating部406にレーザーダイオード807から波長650nm半導体レーザー408を照射し、PSIM先端部の近接場光発生部にレーザー光を集光させ、近接場光発生部から発生した近接場光409により媒体410を加熱できる。再生ヘッドは411、上部シールド412と下部シールド413で挟まれたTMR素子414で構成されている。
上記ヘッドで、本実施例媒体を加熱し、線記録密度1200kFCI(kilo Flux Changes per Inch)で記録し、電磁変換特性を測定したところ、何れの媒体も15dB以上の高い媒体SN比と良好な重ね書き特性が得られた。
上記ヘッドで、加熱用のPSIM、及びその先端部に設けられた近接場光発生部は、主磁極のLeading側に配置されているが、Trailing側に配置されていてもよい。
(実施例4)
実施例2−1で示した媒体と同一層構成で、MgOを主成分とする下地層に、Si含有量を1at%から50at%まで変化させたMgO−Siを用いた媒体を作製した。図5にMgO−Si下地層中のSi濃度と媒体SN比の関係を示す。尚、媒体SN比は、実施例3で示したヘッドを用いて評価した。
Si濃度が1at%のときは、媒体SN比は10dB以下と低かったが、2.5at%添加することにより14.5dBまで増加した。また、Si濃度が1at%の媒体のクラスターサイズは92nmと大きかった。媒体SN比が低かったのは、このためと考えられる。Si濃度を2.5at%から更に増加させると、媒体SN比はSi濃度が11at%付近で最大値をとったのち、緩やかに減少するが、Si濃度が40at%以下のときは14dB以上の高い値を維持している。但し、Si濃度が40at%を超えると、媒体SN比は急激に低下する。これは、MgO下地層のNaCl構造が劣化するためと考えられる。以上より、MgOに添加するSiの含有量を2at%以上、40at%以下とすることにより、高い媒体SN比を有する熱アシスト媒体が得られることがわかった。尚、Siの含有量が5at%以上、25at%以下のときに、媒体SN比は16dB以上の極めて高い値を示している。よって、Siの含有量を5at%以上、25at%以下とすることにより、特に高い媒体SN比を有する熱アシスト媒体が得られることがわかった。
101…ガラス基板
102…CoTi下地層
103…軟磁性下地層
104…CrV下地層
105…MgOを主成分とする下地層
106…磁性層
107…キャップ層
108…DLC保護膜
201…非磁性基板
202…ヒートシンク層
203…軟磁性下地層
204…Ta下地層
205…MgOを主成分とする下地層
206…磁性層
207…キャップ層
208…DLC保護膜
301…磁気記録媒体
302…媒体駆動部
303…磁気ヘッド
304…ヘッド駆動部
305…記録再生信号処理系
401…記録ヘッド
402…上部磁極
403…下部磁極
404…PSIM(Planar Solid Immersion Mirror)
405…近接場光発生部
406…Grating部
407…レーザー光源
408…半導体レーザー
409…近接場光
410…媒体
411…再生ヘッド
412…上部シールド
413…下部シールド
414…TMR素子

Claims (6)

  1. 基板と、該基板上に形成された複数の下地層と、L1構造を有する合金を主成分とする磁性層からなる磁気記録媒体において、該下地層の少なくとも一つが、MgOを主成分とし、かつ、1000℃における酸化自由エネルギーが酸素1モルあたり、−120kcal/mol O以下の元素として、Al、Si、Ti、V、Cr、Mn、Zr、Bから選択される少なくとも一種類の元素を、該元素の酸化物を除いて2at%以上、40at%以下で含有していることを特徴とする熱アシスト磁気記録媒体。
  2. MgOを主成分とする下地層が、Cr、もしくはCrを主成分とするBCC構造を有する第2下地層上に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の熱アシスト磁気記録媒体。
  3. MgOを主成分とする下地層が、Ta、もしくはTaを主成分とする第2下地層上に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の熱アシスト磁気記録媒体。
  4. 磁性層がL1構造を有するFePt、もしくはCoPt合金を主成分とし、SiO、TiO、Cr、Al、Ta、ZrO、Y、CeO、MnO、TiO、ZnO、Cから選択される少なくとも一種類の酸化物または元素を含有していることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の熱アシスト磁気記録媒体。
  5. 磁性層の上に、Fe、Ni、もしくはCoを主成分とし、磁性層に用いるL1構造を有する合金よりも結晶磁気異方性が低い合金からなるキャップ層が形成されていることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の熱アシスト磁気記録媒体。
  6. 磁気記録媒体と、該磁気記録媒体を回転させるための駆動部と、該磁気記録媒体を加熱するためのレーザー発生部と、該レーザー発生部から発生したレーザー光をヘッド先端まで導く導波路と、ヘッド先端に取り付けられた近接場光発生部を備えた磁気ヘッドと、該磁気ヘッドを移動させるための駆動部と、記録再生信号処理系から構成さる磁気記憶装置において、該磁気記録媒体が請求項1乃至5の何れか1項に記載の熱アシスト媒体であることを特徴とする磁気記憶装置。
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