JP5545784B2 - 抵抗の温度係数(tcr)補償機能/作用を備えた抵抗器 - Google Patents
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Description
12、14:抵抗ストリップ
16、18:主端子
20、22:電圧検出端子
24、26:第1スロット
Claims (25)
- 抵抗の温度係数(TCR)の補償機能/作用をもつ抵抗器において、
第1導電性ストリップと第2導電性ストリップとの間に設けられた抵抗ストリップと、
前記第1導電性ストリップに形成された第1主端子および第1電圧検出端子と、
前記第2導電性ストリップに形成された第2主端子および第2電圧検出端子と、
前記第1電圧検出端子と前記第1主端子との間に配置された第1の精密でないTCR較正スロット、および、前記第2電圧検出端子と前記第2主端子との間に配置された第2の精密でないTCR較正スロットとを設け、
前記第1及び第2の精密でないTCR較正スロットのそれぞれが、前記第1及び第2電圧検出端子において、負の開始TCR値が観測されるように選択された深さを有し、
前記第1電圧検出端子と前記第2電圧検出端子との間に形成された精密なTCR較正スロットを設け、前記精密なTCR較正スロットが、前記第1及び第2電圧検出端子において、ゼロに近づくTCR値が観測されるように選択された深さであることを特徴とする抵抗器。
- 前記第1及び第2主端子間に形成され、かつ前記抵抗器の抵抗値を較正するように選択された深さをもつ抵抗較正スロットをさらに有する請求項1に記載の抵抗器。
- 前記第1及び第2の精密でないTCR較正スロットのそれぞれが、等しい深さをもつ請求項1に記載の抵抗器。
- 前記第1及び第2の精密でないTCR較正スロットのそれぞれが、異なる深さをもつ請求項1に記載の抵抗器。
- 前記精密なTCR較正スロットが、前記抵抗ストリップ内に形成された請求項1に記載の抵抗器。
- 前記抵抗較正スロットが、前記抵抗ストリップ内に形成された請求項2に記載の抵抗器。
- 前記第1及び第2の精密でないTCR較正スロットが、パンチ加工または機械加工によって形成された請求項1に記載の抵抗器。
- 前記精密なTCR較正スロットが、レーザートリム加工によって形成された請求項1に記載の抵抗器。
- 抵抗の温度係数(TCR)補償機能/作用をもつ抵抗器の製造方法において、
第1導電性ストリップと第2導電性ストリップとの間に抵抗ストリップを設ける工程と、
前記第1導電性ストリップに第1主端子および第1電圧検出端子を形成する工程と、
前記第2導電性ストリップに第2主端子および第2電圧検出端子を形成する工程と、
前記第1電圧検出端子と前記第1主端子との間に第1の精密でないTCR較正スロット、および、前記第2電圧検出端子と前記第2主端子との間に第2の精密でないTCR較正スロットを設ける工程とを有し、
前記第1及び第2の精密でないTCR較正スロットのそれぞれが前記第1及び第2電圧検出端子において、負の開始TCR値が観測されるように選択された深さを形成し、
前記第1電圧検出端子と前記第2電圧検出端子との間に精密なTCR較正スロットを形成する工程を有し、
前記精密なTCR較正スロットを、前記第1及び第2電圧検出端子において、ゼロに近づくTCR値が観測されるように選択された深さにすることを特徴とする抵抗器の製造方法。
- さらに、前記第1主端子と前記第2主端子との間に抵抗較正スロットを形成し、前記抵抗較正スロットが前記抵抗器の抵抗値を較正するように選択された深さにする工程を有する請求項9に記載の製造方法。
- 前記第1及び第2の精密でないTCR較正スロットそれぞれが、等しい深さを形成する工程を有する請求項9に記載の製造方法。
- 前記第1及び第2の精密でないTCR較正スロットそれぞれが、異なる深さを形成する工程を有する請求項9に記載の製造方法。
- 前記精密なTCR較正スロットが前記抵抗ストリップ内に形成される請求項9に記載の製造方法。
- 前記抵抗ストリップ内に形成された前記抵抗較正スロットである請求項10に記載の製造方法。
- さらに、前記第1及び第2の精密でないTCR較正スロットをパンチ加工または機械加工によって形成する工程を有する請求項9に記載の製造方法。
- さらに、前記精密なTCR較正スロットをレーザートリム加工によって形成する工程を有する請求項9に記載の製造方法。
- 抵抗の温度係数(TCR)の補償機能/作用をもつ抵抗器において、
それぞれが所定の内部エリアをもつ第1導電性ストリップと第2導電性ストリップとの間に設けられた抵抗ストリップと、
前記第1導電性ストリップ内に形成された第1主端子および第1電圧検出端子と、
前記第2導電性ストリップ内に形成された第2主端子および第2電圧検出端子と、
第1及び第2のTCR較正スロットを有し、それぞれが前記第1及び第2主端子の間に配置された複数のTCR較正脚部とを備え、
前記複数のTCR較正脚部のうち少なくとも一つは、前記第1及び第2電圧検出端子において、精密でないTCR値が観測されるように選択された長さを有し、かつ、前記複数のTCR較正脚部のうち少なくとも一つは、前記第1及び第2電圧検出端子において、ゼロに近づくTCR値が観測されるように選択された長さを有することを特徴とする抵抗器。
- 前記第1及び第2導電性ストリップが主電流路を画定し、
前記複数のTCR較正脚部のうちの少なくとも一つが、前記主電流路に対して直交して配置された請求項17に記載の抵抗器。
- 前記第1及び第2導電性ストリップが主電流路を画定し、
前記複数のTCR較正脚部のうちの少なくとも一つが、前記主電流路に対して平行して配置された請求項17に記載の抵抗器。
- 前記第1のTCR較正スロットの前記複数のTCR較正脚部のうちの少なくとも一つは、前記第2のTCR較正スロットの前記複数のTCR較正脚部の少なくとも一つと等しい長さをもつ請求項17に記載の抵抗器。
- 前記第1のTCR較正スロットの前記複数のTCR較正脚部のうちの少なくとも一つは、前記第2のTCR較正スロットの前記複数のTCR較正脚部のうちの少なくとも一つと異なる長さをもつ請求項17に記載の抵抗器。
- 前記複数のTCR較正脚部のそれぞれが、前記第1及び第2の電圧検出端子の位置を定める接合部を形成する請求項17に記載の抵抗器。
- さらに、前記抵抗ストリップ内に形成された抵抗較正スロットを有する請求項17に記載の抵抗器。
- 前記複数のTCR較正脚部のうちの少なくとも一つがパンチ加工または機械加工によって形成された請求項17に記載の抵抗器。
- 前記複数のTCR較正脚部のうちの少なくとも一つがレーザートリム加工によって形成された請求項17に記載の抵抗器。
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