JP5523995B2 - 測定装置 - Google Patents
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Description
このような時間的なずれが生じると、測定処理を実施するための処理時間が長くなるという問題や、スケールカウンタのラッチタイミングと、タッチカウンタのラッチタイミングとが異なるため、座標読取の値の信頼性が低下する場合があるという問題があった。
ここで、タッチカウンタおよびスケールカウンタは、制御回路基板の1つの集積回路内に組み込まれている。このため、例えばソフトウェアによりラッチ制御を行う場合、それぞれのレジスタに対するラッチ制御を省略でき、タッチカウンタのカウント値のラッチおよびスケールカウンタのカウント値のラッチを同タイミングで実施することができる。したがって、測定処理速度を向上させることができ、かつ、測定子が被測定対象物に接触したタイミングでのプローブの位置座標を測定することができ、測定精度を向上させることができる。
このような構成の本発明では、プローブを他の種類のプローブに交換した場合でも、交換後のプローブの信号形式に対応したコネクタにプローブを接続することで、制御回路基板にタッチ信号を出力することができる。また、制御回路基板の集積回路では、複数の信号形式に対応して複数のタッチカウンタが設けられているため、プローブを交換した場合でも、集積回路を交換したりすることなく、タッチ信号を処理することができる。このため、測定装置のプローブ交換に伴う作業を軽減させることができる。
以下、本発明に係る一実施形態について、図面に基づいて説明する。
図1は、本発明に係る一実施形態の産業機械である三次元測定機の概略構成を示す図である。図2は、本実施形態の装置本体に組み込まれた制御回路基板の概略構成を示すブロック図である。
制御装置は、装置本体2の動作を制御するモーションコントローラーや、測定結果の集計などの各種処理を実施するホストコンピューターなどにより構成されている。モーションコントローラーは、利用者により操作されることで操作信号が入力される操作手段を備え、操作手段から入力された操作信号やホストコンピューターから入力された制御信号に基づいて装置本体2の駆動を制御する。ホストコンピューターは、装置本体2で測定された測定結果データに基づいて、データの集計を行ったり、測定結果データから被測定対象物10の画像データを生成したりする。
また、このプローブ21は、移動機構22に着脱自在に設けられており、例えば被測定対象物10の種別や測定箇所などに応じて交換することができる。ここで、交換可能なプローブ21としては、例えばネジ深さ計測用のプローブ、スタイラス長が他より長いプローブ、低測定圧プローブなどがある。また、接触検出センサー212から出力されるタッチ信号の信号形式が異なるプローブにも交換することが可能である。このように、タッチ信号の信号形式が異なる場合、プローブ21と制御回路基板26との接続コネクタ形状も異なるが、制御回路基板26には、複数のタッチ信号の信号形式に対応した複数のコネクタが設けられており、対応するコネクタにプローブを接続することで制御回路基板26にタッチ信号を入力可能となる。本実施形態では、タッチ信号の信号形式の違いにより、SP系プローブおよびMPP系プローブを例示し、制御回路基板26には、SP系プローブを接続するためのSPコネクタ272A、およびMPP系プローブを接続するためのMPPコネクタ272Bが設けられる例を示す。
これらの駆動機構は、それぞれ、図示略の駆動モーター(駆動源)、および駆動モーターから供給される駆動力をスライド機構24に伝達する駆動伝達機構を備えており、駆動モーターの駆動力により、コラム241、スライダ243、ラム244をスライド移動させる。
スケールコネクタ271は、X軸スケールセンサーが接続されるXコネクタ271X、Y軸スケールセンサーが接続されるYコネクタ271Y、およびZ軸スケールセンサーが接続されるZコネクタ271Zを備えている。そして、Xコネクタ271Xには、XスケールセンサーからX座標検出信号が入力され、Yコネクタ271Yには、YスケールセンサーからY座標検出信号が入力され、Zコネクタ271Zには、ZスケールセンサーからZ座標検出信号が入力される。これらの入力された座標検出信号は、FPGA28に組み込まれるスケールカウンタ282に入力される。
SPコネクタ272Aは、SP系プローブ21が移動機構22装着された際に、そのコネクタが接続される部分であり、SP系プローブ21の接触検出センサー212から出力されたタッチ信号が入力される。
MPPコネクタ272Bは、MPP系プローブ21が移動機構22に装着された際に、そのコネクタが接続される部分であり、MPP系プローブ21の接触検出センサー212から出力されたタッチ信号が入力される。
タッチカウンタ281は、SPコネクタ272Aから入力されたタッチ信号をA/D変換してその値をラッチするSPプローブ用タッチレジスタ281Aと、MPPコネクタ272Bから入力されたタッチ信号をカウントするMPPプローブ用タッチカウンタ281Bとを備えている。
スケールカウンタ282は、Xスケールセンサー25X、Yスケールセンサー25Y、およびZスケールセンサー25Zから、スケールコネクタ271を介して入力された座標検出信号をカウントする。
図3は、本実施形態のタッチカウンタのラッチタイミング、およびスケールカウンタのラッチタイミングを示す図である。
ラッチ制御部29は、タッチ信号のレベル値が予め設定された規定値以上となった場合に、タッチカウンタ281のカウント値、およびスケールカウンタ282のカウント値を同タイミングでラッチする。
ここで、例えば、タッチカウンタが設けられる回路基板と、スケールカウンタが設けられる回路基板とが別基板であり、ソフトウェアのラッチ制御部29によりラッチを制御する場合では、ラッチ制御部29は、各回路基板を制御するためのレジスタをそれぞれ読み込んだ後、ラッチ制御を行う必要がある。この場合、図4に示したように、レジスタの読み込み処理の時間分だけ、タッチカウンタのラッチタイミングと、スケールカウンタのラッチタイミングとにずれが生じてしまう。
これに対して、本実施形態では、タッチカウンタ281およびスケールカウンタ282が、1つの集積回路28内に組み込まれているため、レジスタの読み込み時間の差によるラッチタイミングのずれがなくなる。したがって、図3に示すように、タッチカウンタ281のラッチタイミングと、スケールカウンタ282のラッチタイミングとを同期させることができる。すなわち、測定子211が被測定対象物10に規定値以上の接触圧で接触したタイミングで、プローブ21の位置座標を読み込むことができる。
上述したように、上記実施形態の三次元測定機1の装置本体2は、測定子211、および測定子211が被測定対象物10に接触した際に、接触圧に応じたタッチ信号を出力する接触検出センサー212を備えたプローブ21と、プローブ21をXYZ軸方向に沿って移動させる移動機構22と、プローブ21のXYZ軸方向への移動位置を検出する各スケールセンサー(25X,25Y,25Z)を備えている。そして、装置本体2の制御回路基板26には、接触検出センサー212から入力されるタッチ信号をカウントするタッチカウンタ281、および各スケールセンサー(25X,25Y,25Z)から入力される座標検出信号をカウントするスケールカウンタ282が組み込まれた集積回路28が設けられている。そして、ラッチ制御部29は、この集積回路28に組み込まれたタッチカウンタ281のカウント値およびスケールカウンタ282のカウント値を同タイミングでラッチする。
このような構成では、ラッチ制御部29は、タッチ信号のレベルが規定値以上となったタイミングで、タッチカウンタ281のカウント値およびスケールカウンタ282のカウント値をラッチする。このため、ラッチタイミングが同期しているため、測定子211が被測定対象物10に接触したタイミングでのプローブの位置座標を正確に測定することができ、測定精度を向上させることができる。また、集積回路28内にタッチカウンタ281およびスケールカウンタ282が組み込まれているため、それぞれのレジスタをラッチする時間を短くできるので、測定処理に係る時間を短縮することができ、迅速な測定処理を実施することができる。
このため、プローブ21を例えばSP系プローブからMPP系プローブに交換した場合であっても、タッチカウンタや集積回路28、制御回路基板26等を交換することなく、交換したプローブ21と、対応したコネクタ272A,272Bとを接続するだけで容易にプローブ21の交換作業を行うことができる。
なお、本発明は、上述した一実施の形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲で以下に示される変形をも含むものである。
Claims (2)
- 被測定対象物に対して接触可能な測定子、および前記測定子の前記被測定対象物への接触を検出してタッチ信号を出力する接触検出手段を有するプローブと、
前記プローブを互いに直交する3軸方向に沿って移動させる移動手段と、
前記プローブの位置座標を検出して座標検出信号を出力する座標検出手段と、
前記タッチ信号をカウントするタッチカウンタ、および座標検出信号をカウントするスケールカウンタが組み込まれた集積回路を有する制御回路基板と、
前記タッチカウンタの値、および前記スケールカウンタの値を同タイミングでラッチするラッチ手段と、を具備した
ことを特徴とする測定装置。 - 請求項1に記載の測定装置において、
前記プローブは、前記接触検出手段から出力される前記タッチ信号の信号形式が異なる他のプローブに交換可能に設けられ、
前記制御回路基板は、信号形式が異なる複数のタッチ信号に対応して、これらのタッチ信号がそれぞれ入力可能な複数のコネクタを備え、
前記集積回路は、信号形式が異なる複数のタッチ信号に対応した複数のタッチカウンタを有する
ことを特徴とする測定装置。
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