JP2007183184A - 倣いプローブの校正方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】短時間でかつ高精度に倣いプローブの校正を行う倣いプローブの校正方法を提供する。
【解決手段】半径および中心座標値が既知の真球であるマスターボール7の表面を倣い測定する測定経路として第1測定経路71と第2測定経路72とを設定する(測定経路設定工程)。次に、測定経路設定工程において設定された第1測定経路71および第2測定経路72を倣い測定する(測定工程)。測定工程における倣いプローブの検出センサの出力値を測定経路71、72上の座標値と対比して、この検出センサの出力値を補正する補正データを算出する(補正データ算出工程)。ここで、測定経路設定工程にて設定される第1測定経路71および第2測定経路72は、マスターボール7の表面において螺旋形状である。そして、2つの測定経路71、72の起点711、721は赤道上において互いに90度ずれている。
【選択図】図3
Description
図6に、倣いプローブを利用した表面倣い測定装置としての測定システムの構成を示す。
この測定システム100は、倣いプローブ2を移動させる三次元測定機1と、手動操作するジョイスティック31を有する操作部3と、三次元測定機1の動作を制御するモーションコントローラ4と、モーションコントローラ4を介して三次元測定機1を動作させるとともに三次元測定機1によって取得した測定データを処理して被測定物Wの寸法や形状などを求めるホストコンピュータ5と、を備えている。
支持部23は、互いに直交する方向に移動可能なxpスライダ、ypスライダおよびzpスライダを有するスライド機構(不図示)と、スライド機構の各軸方向の変位量を検出するとともに検出した変位量を出力するプローブセンサ24(図1参照)とを備えている。
スタイラス21はスライド機構によって支持部23に対して一定の範囲内でスライド可能に支持されている。
なお、このような倣いプローブの構成は、例えば特許文献1に記載されている。
図8は、接触部22を被測定物Wに基準押込量Δrだけ押し込んだ状態を説明する図である。まず、図8(A)は、接触部22が被測定物Wに接触した状態で、基準押込量Δrがゼロの状態を示す。
この状態では、接触部22の中心P1から被測定物Wの当接点までの距離は、接触部22の半径rに等しい。この場合、基準押込量Δrがゼロであるために、倣いプローブ2の接触部22が、被測定物Wに接触しているか否かの判断が行えない。この状態から倣いプローブ2の接触部22を被測定物Wに対して、基準押込量Δrが所定値となるまで押し込んだ状態を、図8(B)に示す。この状態においては、被測定物Wに対して接触部22が測定圧で決まる圧力で押圧されるため、スタイラス21にたわみが生じる。
このように、見かけ上の接触部中心P3が描く移動軌跡から被測定物表面方向へオフセット値Qだけ補正されると、被測定物表面の形状が求められる。
例えば、補正係数としては、(Kxp、Kyp、Kzp)が設定され、プローブセンサによる検出値(Xp、Yp、Zp)が次の式により補正される。Xd、YdおよびZdは、プローブセンサ出力値を補正係数によって補正した値である。
Yd=Kyp・Yp
Zd=Kzp・Zp
このときのサンプリングピッチについては、校正の精度に応じて適宜設定される。上述のマスターボール7の多点測定によって取得されたデータに基づいて補正係数が算出される。
なお、補正係数は、軸(Xp方向、Yp方向、Zp方向)ごとに設定されてもよく、接触部22が被測定物表面に接触する接触方向ごとに設定されてもよく、補正係数の設定の仕方は補正の精度に応じて適宜選択されるものである。
このような構成によれば、測定経路は螺旋形であるので、螺旋の起点から終点までを一連の倣い測定動作によって測定することができる。
(第1実施形態)
本発明の倣いプローブの校正方法について説明する。
まず、校正対象となる倣いプローブを備えた測定システムの構成について簡単に説明する。
図1は、測定システムの全体構成を示す図である。
図2は、接触部と被測定物との接触方向(D1〜)ごとに設定された補正係数および補正半径を格納した補正テーブルの構成を示す図である。
駆動機構12は、定盤11の両側端から定盤11に略垂直方向であるZm方向に高さを有するとともに定盤11の側端に沿ったYm軸方向へスライド可能に設けられた二本のビーム支持体121と、ビーム支持体121の上端に支持されてXm方向に長さを有するビーム122と、ビーム122にXm方向にスライド可能に設けられZm軸方向にガイドを有するコラム123と、コラム123内をZm軸方向にスライド可能に設けられ下端にて倣いプローブ2を保持するスピンドル124と、を備える。
スタイラス21の基端を一定の範囲内でXp方向、Yp方向、Zp方向にスライド可能に支持する支持部23と、を備えている。接触部22は、半径rの略真球に加工されている。支持部23は、互いに直交方向に移動可能なxpスライダ、ypスライダおよびzpスライダを有するスライド機構(不図示)と、スライド機構の各軸方向の変位量を検出するとともに検出した変位量を出力するプローブセンサ(検出センサ)24とを備えている。スタイラス21はスライド機構によって支持部23に対して一定の範囲内でスライド可能に支持されている。
駆動カウンタ411は、Ym軸センサ131からの出力を計数するYm軸カウンタ412と、Xm軸センサ132からの出力を計数するXm軸カウンタ413と、Zm軸センサ133からの出力を計数するZm軸カウンタ414と、を備えている。
プローブカウンタ415は、Xp方向センサ241からの出力を計数するXp方向カウンタ416と、Yp方向センサ242からの出力を計数するYp方向カウンタ417と、Zp方向センサ243からの出力を計数するZp方向カウンタ418と、を備えている。
駆動カウンタ411によるカウント値(Xm、Ym、Zm)およびプローブカウンタ415によるカウント値(Xp、Yp、Zp)はそれぞれホストコンピュータ5に出力される。
倣いベクトル指令部52は、例えば、メモリ51に設定された輪郭データ513に基づいて被測定物Wを倣い走査するベクトル指令を生成する。また、倣いベクトル指令部52は、プローブカウンタ415の出力に基づいて押込量を基準押込量Δrで所定範囲(基準位置範囲)にする押込方向のベクトル指令を生成する。倣いベクトル指令部52で生成されたベクトル指令は、駆動制御回路42に出力される。
なお、補正テーブル53が作成される工程については、図3〜図5を参照して後述する。
また、形状解析部54は、校正モードにおいては、測定データに基づいて測定誤差を真値に補正する補正係数および補正半径を算出する。
図3は、マスターボールの表面上に設定した校正用の測定経路を示す図である。
図4は、マスターボールを北極側(+Z方向)からみたときの測定経路を示す図である。
図5は、倣いプローブの校正方法の手順を示すフローチャートである。
マスターボール7の中心座標値および半径を決定する方法としては、例えば、予め校正された別の倣いプローブによってマスターボール7を多点測定して中心および半径を決定してもよい。あるいは、タッチ信号プローブやレーザーのドップラー効果を利用した検出器などを用いてマスターボール7を多点測定して中心および半径を求めてもよい。このようにして求められたマスターボール7の中心座標値および半径は、ホストコンピュータ5に記憶される。
なお、マスターボール7は、予め半径既知の真球に加工されているので、この設計データから半径を知ることもできる。
先のST2において決定されたマスターボール7の中心座標値および半径を用いて、マスターボール7の球面上に測定経路を設定する。
ここで、測定経路としては、図3に示されるように螺旋状の2つの経路71、72が設定される。2つの螺旋状の測定経路71、72は、起点711、721が赤道上にあり、終点73が北極点である。そして、2つの測定経路71、72の起点711、721は赤道上において互いに90度ずれている。
ここで、螺旋の巻数は特に限定されるものではないが、本実施形態においては、図4に示されるように、各経路71、72は起点711、721から終点73までで360度回転している。
また、第1測定経路71の起点を第1起点711とし、第2測定経路72の起点を第2起点721とする。
まず、ST4において、倣いプローブ2の接触部22を第1起点711に移動させる。そして、基準押込量Δrまで接触部22をマスターボール7に押し込んでいく。第1起点711から北極点にある終点73まで第1測定経路71に沿ってマスターボール7の表面を倣い測定する(ST5)。
このときのサンプリングピッチは、校正の精度に応じて適宜設定されていればよい。
ここで、マスターボール7の表面上に設定された第1測定経路71および第2測定経路72上の各測定点については、球面上に設定された螺旋上の点であるので演算によって予め座標点を求めることができる。そこで、取得した測定データと演算的に求められた各座標点とを対比して、測定データを補正する補正係数および補正半径を算出する。算出された補正係数および補正係数は、各測定データを取得した接触方向ごとに補正テーブル53に格納される(ST11)。
まず、測定に先だって測定条件を設定入力する。測定条件としては、サンプリングピッチ511、基準押込量512、被測定物の輪郭データ513などが挙げられる。次に、輪郭データ513に基づいて倣いベクトル指令部52で生成される倣いベクトル指令が駆動制御回路42に出力される。すると、駆動制御回路42から駆動機構12に制御信号が出力されて駆動機構12が駆動される。駆動機構12によって倣いプローブ2が被測定物表面に対して基準押込量Δrまで押し込まれた状態で被測定物表面に沿って倣い移動される。また、倣い走査時にプローブカウンタ415から倣いベクトル指令部52に出力されるプローブカウンタ値に基づいて、押込量が基準押込量Δrに制御される。
なお、このようなカウンタ部41でカウントされたデータは、設定されたサンプリングピッチ511で取得される。カウンタ部41(駆動カウンタ411およびプローブカウンタ415)でカウントされて取得されたカウント値は形状解析部54で解析処理されて被測定物の表面形状が求められる。
ここで、内積の絶対値とするのは、方向が逆向きである場合に対応するためである。そして、その方向(D1〜)に対応する補正係数(Kxp、Kyp、Kzp)が読み出される。
(1)第1測定経路71および第2測定経路72を螺旋形状とし、螺旋に沿って接触部22を高さ方向と周回方向とで同時に移動させることとするので、測定経路71、72の起点711、721を赤道上の点とし終点73を極とし、さらに、起点711、721から終点73までの間に一回転以上マスターボールを周回することにより、螺旋の長さをそれほど長くとらなくてもマスターボール7の半球部についてはほぼ満遍なく総ての方向から測定することができる。よって、測定経路71、72の長さを短くして、倣いプローブ2の校正にかかる時間を短くすることができる。
補正テーブル53には補正係数だけを設定しておいて、倣い走査中に押込量が正確に一定になるように制御してもよい。すると、接触部22が真球であってオフセット値を常に一定値とみなせば、接触方向に応じてオフセット値を補正する必要はない。
螺旋形状である測定経路の巻き数は1回転以上であってもよいことはもちろんであり、また、測定経路の本数も2本に限らず3以上の複数本であっても良いことはもちろんである。
例えば、測定子として、被測定物表面と静電容量結合する電極を有し、この電極の電位を一定に保った状態で被測定物表面を倣い走査する静電容量式プローブであってもよい。この場合、一例として、検出センサとしては電極の電位を検出する電位センサを利用できる。あるいは、被測定物表面に光を照射するとともに被測定物表面からの反射光を検出する光学式プローブであってもよい。例えば、被測定物表面とのギャップを光学式プローブの対物レンズの焦点距離に保って倣い走査する光学式プローブが例として挙げられる。
このような場合でも、プローブを被測定物表面に近接させていく方向によって生じる検出誤差を本発明の補正テーブルによって補正できる。
例えば、接触方向単位ベクトルに近い方向を補正テーブルの測定方向からいくつか選択して、これら選択された測定方向の補正データを内挿することによって、最適な補正データを求めてもよい。
Claims (3)
- 被測定物表面に近接あるいは当接される測定子、および、前記測定子と被測定物表面との相対位置を検出する検出センサを有し、前記測定子と前記被測定物表面との相対位置を予め設定された基準位置範囲に保って倣い走査する倣いプローブの前記検出センサから出力されるセンサ出力を補正するための補正データを作成する倣いプローブの校正方法であって、
半径および中心座標値が既知の真球であるマスターボールの表面を倣い測定する測定経路を設定する測定経路設定工程と、
前記測定経路設定工程において設定された前記測定経路を倣い測定する測定工程と、
前記測定工程における前記検出センサの出力値を前記測定経路上の座標値と対比して、この検出センサの出力値を補正する補正データを算出する補正データ算出工程と、を備え、
前記測定経路設定工程にて設定される測定経路は、前記マスターボールの表面において螺旋形状である
ことを特徴とする倣いプローブの校正方法。 - 請求項1に記載の倣いプローブの校正方法において、
前記測定経路は、赤道上の任意の点を起点とし、極を終点とする螺旋形状であって、高さ方向に前記マスターボールの半径分だけ変位する間に少なくとも360度の回転角変化がある
ことを特徴とする倣いプローブの校正方法。 - 請求項2に記載の倣いプローブの校正方法において、
前記測定経路は複数本設定され、
それぞれの測定経路の起点は、赤道上において異なる位置である
ことを特徴とする倣いプローブの校正方法。
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